CN112326410A - 一种用于消除试验机框架变形干扰的装置 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种用于消除试验机框架变形干扰的装置，包括多功能支架，所述多功能支架包括第一连接板、第二连接板和多个竖板，所述第一连接板固设在试验机框架的上横梁上，所述第二连接板固设在试验机工作台处的试验机框架上，每个所述竖板的顶端均与所述第一连接板，所述竖板的底端固设有与所述第二连接板滑动配合的自调节螺钉，所述自调节螺钉上套设有两个分别位于所述第二连接板两侧的弹簧；其中一个所述竖板上固设有竖直的标尺光栅，试验机的活动横梁上通过连接架连接有用于读取所述标尺光栅上的刻度的光栅读数头。本发明用于消除试验机框架变形干扰的装置的结构简单，操作方便。

Description

一种用于消除试验机框架变形干扰的装置
技术领域
本发明涉及金属检测设备技术领域，特别是涉及一种用于消除试验机框架变形干扰的装置。
背景技术
材料试验机是对材料施加变形的常用设备之一，为了便于安装和测试单向拉伸或者压缩试件，试验机多采用较宽两柱框架结构，宽结构带来了充足的安装空间，但也会带来一定的非线性框架变形问题，进而影响测试试件的加载精度。另外伺服电机通过两级同步带减速，利用滚珠丝杠将转动转换为活动横梁的平移运动。因为同步带和滚珠丝杠都会存在运动间隙，利用伺服电机通过较长的传动链精确控制试样变形是非常困难的。同时加上框架的非线性变形，直接利用伺服电机的控制精度保证试样的变形精度是几乎不能实现的。
针对上述问题，现行的方法大多采用在测试试样上加装独立的高精度位移传感器的方法测量试样变形，但是在试样上加装独立位移传感器对试样几何和结构形状都有一定的要求，如果要进行热变形实验，加装独立传感器就更加复杂，如果再安装温度、图像等传感器，空间结构极其受限。
发明内容
本发明的目的是提供一种用于消除试验机框架变形干扰的装置，以解决上述现有技术存在的问题，消除消除试验机框架变形对测量带来的影响。
为实现上述目的，本发明提供了如下方案：
本发明提供了一种用于消除试验机框架变形干扰的装置，包括多功能支架，所述多功能支架包括第一连接板、第二连接板和多个竖板，所述第一连接板固设在试验机框架的上横梁上，所述第二连接板固设在试验机工作台处的试验机框架上，每个所述竖板的顶端均与所述第一连接板，所述竖板的底端固设有与所述第二连接板滑动配合的自调节螺钉，所述自调节螺钉上套设有两个分别位于所述第二连接板两侧的弹簧；其中一个所述竖板上固设有竖直的标尺光栅，试验机的活动横梁上通过连接架连接有用于读取所述标尺光栅上的刻度的光栅读数头。
优选的，所述第一连接板和所述第二连接板均水平，所述第一连接板的形状和所述第二连接板的形状分别与各自连接处的试验机框架的形状相匹配。
优选的，所述第一连接板和所述第二连接板均呈凹字型。
优选的，所述第一连接板和所述第二连接板分别通过第三紧固螺钉与所述试验机框架固连。
优选的，所述标尺光栅通过第一紧固螺钉与所述竖板固连，所述竖板的顶端通过第二紧固螺钉与所述第一连接板连接。
优选的，所述竖板为铝型材。
本发明相对于现有技术取得了以下技术效果：
本发明的用于消除试验机框架变形干扰的装置的结构简单，操作方便。本发明的用于消除试验机框架变形干扰的装置中的标尺光栅能够随着拉伸试验机框架的变形而自适应浮动，进而解决由框架的变形引起的监测到的试件位移数据不能真实反映试件变形的问题，通过简单连接件将标尺光栅固定在上横梁，随着上横梁弹性变形，标尺光栅自适应的消除了位移数据中上横梁变形引起的位移偏差。本发明的用于消除试验机框架变形干扰的装置中的多功能支架还可以为温度，图像等传感器提供灵活的安装位置，只需设计简单的连接件，将铝型材固定在上横梁以及工作台上，通过加装在铝型材其他功能性设备可以实现多功能实时监测试件加工过程，为进行多功能试验提供便利。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明用于消除试验机框架变形干扰的装置的结构示意图；
图2为本发明用于消除试验机框架变形干扰的装置中多功能支架的结构示意图；
图3为本发明用于消除试验机框架变形干扰的装置的部分结构示意图；
其中：1、自调节螺钉；2、第二连接板；3、弹簧；4、光栅读数头；5、竖板；6、标尺光栅；7、第一紧固螺钉；8、第二紧固螺钉；9、上横梁；10、试验机框架；11、活动横梁；12、连接架；13、第三紧固螺钉；14、工作台；15、第一连接板。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有付出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
本发明的目的是提供一种用于消除试验机框架变形干扰的装置，以解决上述现有技术存在的问题，消除消除试验机框架变形对测量带来的影响。
为使本发明的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图和具体实施方式对本发明作进一步详细的说明。
如图1至图3所示：本实施例提供了一种用于消除试验机框架10变形干扰的装置，包括多功能支架，多功能支架包括第一连接板15、第二连接板2和多个竖板5，第一连接板15固设在试验机框架10的上横梁9上，第二连接板2固设在试验机工作台14处的试验机框架10上，每个竖板5的顶端均与第一连接板15，竖板5的底端固设有与第二连接板2滑动配合的自调节螺钉1，自调节螺钉1上套设有两个分别位于第二连接板2两侧的弹簧3；其中一个竖板5上固设有竖直的标尺光栅6，试验机的活动横梁11上通过连接架12连接有用于读取标尺光栅6上的刻度的光栅读数头4。
在本实施例中，竖板5采用铝型材，第一连接板15和第二连接板2均水平，第一连接板15和第二连接板2均呈凹字型。在具体应用时，应注意使第一连接板15的形状和第二连接板2的形状分别与各自连接处的试验机框架10的形状相匹配。
第一连接板15和第二连接板2分别通过第三紧固螺钉13与试验机框架10固连。标尺光栅6通过第一紧固螺钉7与竖板5固连，竖板5的顶端通过第二紧固螺钉8与第一连接板15连接。
本实施例用于消除试验机框架10变形干扰的装置的具体使用方法如下：
当拉伸试验机对试件进行拉伸或者压缩加载时，上横梁9会产生弹性变形，由于传统的标尺光栅6固定在试验机的框架上，而测量试件真实形变时，应该是上横梁9一端完全固定，光栅读数头4一端随着活动横梁11移动，这样监测到的位移才能真实反映试件形变，因此上横梁9与光栅读数头4之间的距离由于上横梁9的弹性变形不能真实反映试件的形变。本实施例将固定有标尺光栅6的竖板5通过连接板连接在上横梁9上，随着试件被压缩或者拉伸，上横梁9产生上下浮动的弹性变形，与上横梁9连接的标尺光栅6随之浮动，进而可以自适应的消除上横梁9弹性变形引起的位移数据监测不准问题，本实施例能够保证上横梁9与光栅读数头4之间的距离真实反映试件的形变，同时实施例以在铝竖板5上加装感应加热装置、工业摄像头、振动传感器，实现试件自由温拉伸或者试件弯曲、试件断裂监测等功能，进一步为线上实时获取与处理材料性能数据提供实验基础。
在本发明的描述中，需要说明的是，术语“顶”、“底”、“竖直”、“水平”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。此外，术语“第一”、“笫二”等仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。
本说明书中应用了具体个例对本发明的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本发明的方法及其核心思想；同时，对于本领域的一般技术人员，依据本发明的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处。综上所述，本说明书内容不应理解为对本发明的限制。

Claims (6)

1.一种用于消除试验机框架变形干扰的装置，其特征在于：包括多功能支架，所述多功能支架包括第一连接板、第二连接板和多个竖板，所述第一连接板固设在试验机框架的上横梁上，所述第二连接板固设在试验机工作台处的试验机框架上，每个所述竖板的顶端均与所述第一连接板，所述竖板的底端固设有与所述第二连接板滑动配合的自调节螺钉，所述自调节螺钉上套设有两个分别位于所述第二连接板两侧的弹簧；其中一个所述竖板上固设有竖直的标尺光栅，试验机的活动横梁上通过连接架连接有用于读取所述标尺光栅上的刻度的光栅读数头。
2.根据权利要求1所述的用于消除试验机框架变形干扰的装置，其特征在于：所述第一连接板和所述第二连接板均水平，所述第一连接板的形状和所述第二连接板的形状分别与各自连接处的试验机框架的形状相匹配。
3.根据权利要求2所述的用于消除试验机框架变形干扰的装置，其特征在于：所述第一连接板和所述第二连接板均呈凹字型。
4.根据权利要求1所述的用于消除试验机框架变形干扰的装置，其特征在于：所述第一连接板和所述第二连接板分别通过第三紧固螺钉与所述试验机框架固连。
5.根据权利要求1所述的用于消除试验机框架变形干扰的装置，其特征在于：所述标尺光栅通过第一紧固螺钉与所述竖板固连，所述竖板的顶端通过第二紧固螺钉与所述第一连接板连接。
6.根据权利要求1所述的用于消除试验机框架变形干扰的装置，其特征在于：所述竖板为铝型材。
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