CN112313486B - 试样容器保持具以及电子天平 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种试样容器保持具以及电子天平。试样容器保持具(5)包括：第一铅直板(51)、第二铅直板(52)、第三铅直板(53)及第四铅直板(54)。在利用试样容器保持具(5)来保持试样容器(10的状态下，试样容器(10)的头部(102)由第四铅直板(54)来支撑，且试样容器(10)的底部(101)由第一铅直板(51)、第二铅直板(52)及第三铅直板(53)来分别支撑。此时，试样容器(10)是以其轴方向相对于铅直方向而倾斜的状态，保持于试样容器保持具(5)。因此，当利用试样容器保持具(5)来保持试样容器(10)时，能够将试样容器(10)以稳定的状态来保持。

Description

试样容器保持具以及电子天平

技术领域

本发明涉及一种用以将电子天平中的计量所使用的试样容器加以保持的试样容器保持具、以及包括收纳该试样容器保持具的称量室的电子天平。

背景技术

以前，利用包括形成有称量室的本体、以及配置于此称量室的称量皿的电子天平。电子天平中，在称量皿载置试样，在称量室稳定的状态下进行试样的计量(例如，参照下述专利文献1)。

如上所述的电子天平中，称量皿通常经由支撑轴等而连接于配置于本体内的称重传感器。而且，若在称量皿载置试样，则对称重传感器施加力。称重传感器基于所施加的力的大小来算出(计量)试样的质量。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本专利特开2017-58204号公报

发明内容

[发明所要解决的问题]

作为使用所述现有的电子天平的情况，有时对粉状、或液体状的试样进行计量。在此情况下，通过将专用的容器载置于称量皿，在此容器中加入试样，来进行试样的计量。另外，通常，用户使用各种种类的容器。因此，现有的电子天平中，根据容器的形状，会产生难以将容器以稳定的状态载置于称量皿的不良情况。另外，也考虑根据容器来准备专用的保持具，但如此一来，则需要对每个容器改变保持具，用户的作业变得繁琐。

进而，有时容器会以带有静电的状态载置于称量皿，会产生计量的精度下降的不良情况。在此情况下，通过使设置于电子天平的除静电装置运行，而对容器进行除静电，但根据容器的形状，会产生无法顺利进行容器的除静电的不良情况。例如，在容器的底面为平坦的状态的情况下，容器的底面成为与称量皿密接的状态，因此除静电装置中产生的离子不会到达底面，难以顺利地进行容器的底面的除静电。具体而言，在容器接触称量皿的状态下，会产生除静电装置中产生的离子未抵达容器底面的静电而无法除静电的不良情况。另外，容器底面的静电在皿中缓缓流动而不断减少，在此情况下，至静电减少的时间延长，会产生计量值不稳定的不良情况。

本发明是鉴于所述实情而形成，目的在于提供一种能够将各种试样容器以稳定的状态来保持的试样容器保持具及电子天平。

另外，本发明的目的在于提供一种能够高精度地进行试样的计量的试样容器保持具及电子天平。

[解决问题的技术手段]

(1)本发明的试样容器保持具是用以将电子天平中的计量所使用的各种试样容器加以保持的试样容器保持具。所述试样容器保持具包括：基体构件、第一保持构件、及第二保持构件。所述第一保持构件自所述基体构件向上方侧延伸，在其前端边缘保持试样容器的第一部分。所述第二保持构件自所述基体构件向上方侧延伸，并且与所述第一保持构件隔开间隔而配置，在其前端边缘保持试样容器的第二部分。所述试样容器保持具中，所述第二保持构件的上下方向的尺寸大于所述第一保持构件的上下方向的尺寸。所述试样容器保持具中，水平方向上的所述第一保持构件的投影面积成为最小的方向、与水平方向上的所述第二保持构件的投影面积成为最小的方向基本一致。

根据如上所述的结构，在使用试样容器保持具来保持试样容器的情况下，利用第一保持构件来保持试样容器的第一部分，且利用第二保持构件来保持试样容器的第二部分。另外，第二保持构件的上下方向的尺寸大于第一保持构件的上下方向的尺寸，因此试样容器保持具将试样容器以倾斜的状态来保持。

因此，当利用试样容器保持具来保持各种试样容器时，能够将试样容器以稳定的状态来保持，能够提高操作性。即，能够以容易进行计量作业的状态来稳定地保持试样容器。

另外，试样容器是以底部浮起的状态，利用试样容器保持具来保持。

因此，在以利用试样容器保持具来保持试样容器的状态下，将试样容器保持具及试样容器设置于电子天平的本体内的情况下，能够在试样容器的底部与电子天平的本体的设置面之间形成一定的空间。

其结果为，在电子天平的本体内产生除静电用的离子等情况下，能够使所述离子到达试样容器的底面，能够对试样容器的整个面进行除静电。

即，由于能够在电子天平的本体的设置面与试样容器的底部之间确保间隙，故而能够使除静电器中产生的离子抵达试样容器的底部。

另外，在试样容器保持具中，水平方向上的第一保持构件的投影面积成为最小的方向、与水平方向上的第二保持构件的投影面积成为最小的方向基本一致，因此若以这些方向与来自除静电器的离子的供给方向基本一致的方式来设置试样容器保持具，则能够抑制离子的移动被第一保持构件及第二保持构件所阻碍。

因此，能够顺利地进行试样容器的除静电。而且，在电子天平中，能够高精度地进行试样的计量。

(2)另外，所述试样容器保持具可还包括第三保持构件。

所述第三保持构件自所述基体构件向上方侧延伸，且配置于所述第一保持构件与所述第二保持构件之间，在其前端边缘保持试样容器的第三部分。所述第三保持构件的上下方向的尺寸也可小于所述第一保持构件的上下方向的尺寸。

根据如上所述的结构，由于利用第三保持构件来保持试样容器的第三部分，故而能够将试样容器保持为更稳定的状态。

(3)另外，所述第三保持构件也可支撑试样容器的底部。

根据如上所述的结构，能够利用第三保持构件，自下方支撑试样容器。

因此，能够将试样容器保持为更稳定的状态。

(4)另外，所述第三保持构件的水平方向上的宽度也可小于所述第一保持构件的水平方向上的宽度。

根据如上所述的结构，能够利用试样容器保持具，来更稳定地保持各种尺寸或形状的试样容器。

(5)另外，所述第一保持构件、所述第二保持构件及所述第三保持构件中的至少一个也可形成为板状。

根据如上所述的结构，试样容器保持具中，能够简易地构成第一保持构件、第二保持构件及第三保持构件中的每一个。

(6)另外，所述第一保持构件、所述第二保持构件及所述第三保持构件中，在形成为板状的构件的前端边缘也可形成凹部。

根据如上所述的结构，当利用试样容器保持具来保持试样容器时，能够利用形成于第一保持构件、第二保持构件及第三保持构件的凹部，以两点来支撑(两点支撑)试样容器。

因此，能够利用试样容器保持具，将试样容器以更稳定的状态来保持。

(7)另外，所述第一保持构件、所述第二保持构件、所述第三保持构件及所述基体构件也可由一片板状构件所形成。

根据如上所述的结构，由于由一片板状构件来形成试样容器保持具，故而能够以低成本来制造，且能够与多种类的容器对应。进而，能够提高作业性。

(8)另外，所述第一保持构件、所述第二保持构件及所述第三保持构件中的至少一个也可形成为棒状。

根据如上所述的结构，在试样容器保持具中，能够将保持试样容器的构件的强度增大。

(9)另外，本发明的电子天平包括所述试样容器保持具、本体、及除静电装置。在所述本体，形成有收纳所述试样容器保持具的称量室。所述除静电装置设置于所述本体，通过向所述称量室内供给离子来对该称量室内进行除静电。在来自所述除静电装置的离子的供给方向上看时，所述第一保持构件的投影面积成为最小，且所述第二保持构件的投影面积成为最小。

根据如上所述的结构，能够抑制自除静电装置供给的离子的移动被第一保持构件及第二保持构件所阻碍。

因此，能够使自除静电装置供给的离子，在试样容器的底部与电子天平内的设置面之间顺利地移动。

其结果为，能够利用除静电装置来顺利地进行试样容器的除静电。

[发明的效果]

根据本发明，当利用试样容器保持具来保持各种试样容器时，能够将试样容器以稳定的状态来保持，能够提高操作性。即，能够以容易进行计量作业的状态来稳定地保持试样容器。另外，试样容器是以底部浮起的状态，利用试样容器保持具来保持。因此，在以利用试样容器保持具来保持试样容器的状态下，将试样容器保持具及试样容器设置于电子天平的本体内的情况下，能够在试样容器的底部与电子天平的本体的设置面之间形成一定的空间。其结果为，在电子天平的本体内产生除静电用的离子等情况下，能够使所述离子到达试样容器的底面，能够对试样容器的整个面进行除静电。即，能够在电子天平的本体的设置面与试样容器的底部之间确保间隙，故而能够使除静电器中产生的离子抵达试样容器的底部。另外，试样容器保持具中，水平方向上的第一保持构件的投影面积成为最小的方向、与水平方向上的第二保持构件的投影面积成为最小的方向基本一致，因此若以这些方向与来自除静电器的离子的供给方向基本一致的方式来设置试样容器保持具，则能够抑制离子的移动被第一保持构件及第二保持构件所阻碍。因此，能够顺利地进行试样容器的除静电。而且，在电子天平中，能够高精度地进行试样的计量。

附图说明

图1是表示本发明的第一实施方式的电子天平的结构的立体图。

图2是表示本发明的第一实施方式的试样容器保持具的结构的立体图。

图3是试样容器保持具的侧视图。

图4是表示在试样容器保持具载置有试样容器的状态的立体图。

图5是表示在试样容器保持具载置有试样容器的状态的侧视图。

图6是表示在利用试样容器保持具来试样容器的状态下，将试样容器保持具及试样容器配置于本体内来进行除静电的情况下的试样容器的带电量，以及在仅将试样容器配置于本体内来进行除静电的情况下的试样容器的带电量的图表。

图7是表示本发明的第二实施方式的试样容器保持具的结构的立体图。

[符号的说明]

1：电子天平

2：本体

3：除静电装置

5：试样容器保持具

10：试样容器

24：称量室

51：第一铅直板

51A：凹部

52：第二铅直板

52A：凹部

53：第三铅直板

53A：凹部

54：第四铅直板

54A：凹部

101：底部

102：头部

103：管状部

541：铅直部

542：倾斜部

具体实施方式

1.电子天平的整体结构

图1是表示本发明的第一实施方式的电子天平1的结构的立体图。

电子天平1例如为电磁平衡式，能够以0.1mg以下的最小表示来高精度地进行计量。但，电子天平1并不限定为电磁平衡式，能够使用负荷传感器式等其他的任意方式的电子天平。

电子天平1包括本体2、除静电装置3、及称量皿4。另外，图1中虽未示出，但电子天平1包括后述的试样容器保持具5。试样容器保持具5在计量时载置于称量皿4上。试样容器保持具5的详细结构如后述。

本体2构成电子天平1的筐体，将称量室24形成于内部。本体2包括：下部箱21、背面箱22、及防风箱23。

下部箱21设置于本体2的下部(底部)。

背面箱22载置于下部箱21的后部。背面箱22形成为在上下方向延伸的长方体状。

防风箱23载置于下部箱21的中央部，且配置于背面箱22的近前侧。防风箱23形成为后方及下方打开的中空状的长方体形状。防风箱23例如包含玻璃材料，形成为透明或半透明。防风箱23的后端部抵接于背面箱22的前端部。防风箱23的下端部抵接于下部箱21的上端部。

通过如上所述的结构，在本体2内，由下部箱21、背面箱22及防风箱23来形成称量室24。

除静电装置3设置于背面箱22。除静电装置3的前表面自背面箱22中露出，且与称量室24相向。除静电装置3是以朝向称量室24的中央供给离子的方式来构成。除静电装置3根据由用户对操作部(未图示)进行操作而运行。

称量皿4设置于称量室24内。具体而言，称量皿4在称量室24内，设置于前后方向中央部且宽度方向中央部。称量皿4包含金属材料，形成为圆板状。称量皿4的上表面构成设置面。虽未图示，在下部箱21，设置有计量部(重量传感器)。另外，在此计量部载置有用以支撑称量皿4的皿接收构件。而且，称量皿4载置于此皿接收构件。

虽未图示，但防风箱23的侧面成为启闭门，能够通过将此启闭门滑动来开闭称量室24。电子天平1中，在进行试样的计量的情况下，用户首先将防风箱23的启闭门(侧面)滑动来打开称量室24，将试样容器保持具5(后述)载置于称量皿4上(称量皿4的上表面)。而且，用户在称量皿4上的试样容器保持具5放入试样。另外，用户将防风箱23的启闭门滑动来关闭称量室24，在称量室24内稳定的状态下，对操作部(未图示)进行操作，开始试样的计量。然后，用户对显示于显示部(未图示)的数值(计量内容)进行确认。

此时，用户对显示部的显示进行确认，在显示于表示部的数值变动的情况下，判断为在称量室24内产生静电。在此情况下，用户通过使除静电装置3运行来进行除静电。

2.试样容器保持具的结构

图2是表示试样容器保持具5的结构的立体图。图3是试样容器保持具5的侧视图。

试样容器保持具5用以将电子天平1中的计量所使用的试样容器加以保持。试样容器保持具5是包括多个屈曲部分的板状构件，包含金属材料。试样容器保持具5包括：底板50、第一铅直板51、第二铅直板52、第三铅直板53、第四铅直板54、及突出板55。

底板50形成为俯视矩形状的平板状。具体而言，底板50形成为俯视长方形状。底板50构成基体构件的一例。此外，以下，将沿着底板50的长边的方向(图3中的左右方向)设为长边方向，将沿着底板50的短边的方向(与长边方向正交的方向)设为正交方向来进行说明。

在底板50形成有长孔50A。长孔50A设置于底板50的中央部。长孔50A形成为沿着长边方向而延伸的椭圆状。如后所述，长孔50A作为螺母用的孔来发挥功能。

第一铅直板51形成为正视矩形状的平板状，自底板50的中央部向上方(上方侧)延伸。第一铅直板51配置于第二铅直板52及第三铅直板53、与第四铅直板54之间。在第一铅直板51的上端边缘(前端边缘)形成有凹部51A。具体而言，凹部51A形成于第一铅直板51的上端边缘中央部。凹部51A形成为正视V字状，自第一铅直板51的上端边缘向下方凹陷。第一铅直板51构成第三保持构件的一例。

第二铅直板52自底板50中的长边方向一方侧(图3中的左方侧)的部分向上方(上方侧)延伸。第二铅直板52形成为正视矩形状的平板状，且在其一部分形成有开口。第二铅直板52与第一铅直板51相向，位于较第一铅直板51更长边方向一方侧(图3中的左方侧)。在第二铅直板52的上端边缘(前端边缘)形成有凹部52A。具体而言，凹部52A形成于第二铅直板52的上端边缘中央部。凹部52A形成为正视V字状，自第二铅直板52的上端边缘向下方凹陷。

第三铅直板53自底板50中的长边方向一方侧的边缘部(图3中的左方侧的边缘部)向上方(上方侧)延伸。第三铅直板53形成为正视矩形状的平板状，且在其一部分形成有开口。第三铅直板53与第二铅直板52相向，位于较第二铅直板52更长边方向一方侧(图3中的左方侧)。在第三铅直板53的上端边缘(前端边缘)形成有凹部53A。具体而言，凹部53A形成于第三铅直板53的上端边缘中央部。凹部53A形成为正视V字状，自第三铅直板53的上端边缘向下方凹陷。第二铅直板52及第三铅直板53构成第一保持构件的一例。

第一铅直板51、第二铅直板52及第三铅直板53是以相互平行的状态，且以与正交方向(图2中将右侧上方与左侧下方连结的方向)平行的状态，自底板50向上方延伸。

第一铅直板51的正交方向的尺寸小于第二铅直板52的正交方向的尺寸。第二铅直板52的正交方向的尺寸小于第三铅直板53的正交方向的尺寸。另外，第一铅直板51的上下方向的尺寸小于第二铅直板52的上下方向的尺寸。第二铅直板52的上下方向的尺寸小于第三铅直板53的上下方向的尺寸。

即，第一铅直板51、第二铅直板52及第三铅直板53小至在长边方向位于中央侧的板的程度(上下方向的尺寸、以及正交方向的尺寸减小)。

第四铅直板54自底板50中的长边方向另一侧的边缘部(图3中的右方侧的边缘部)向上方(上方侧)延伸。第四铅直板54包括铅直部541、及倾斜部542。

铅直部541形成为平板状，沿着上下方向及正交方向而延伸。铅直部541在其一部分形成有开口。铅直部541形成为其下端部朝向上方而前端变细的锥状，自其中央部至上端部为止的部分形成为在上下方向延伸的矩形状。

倾斜部542形成为平板状，自铅直部541的上端边缘，以倾斜的状态向上方延伸。具体而言，倾斜部542是以自铅直部541的上端边缘，随着朝向上方而朝向长边方向中央侧的方式倾斜。在倾斜部542的上端边缘(前端边缘)形成有凹部54A。具体而言，凹部54A形成于倾斜部542的上端边缘中央部。凹部54A形成为正视V字状，自第四铅直板54的上端边缘朝向下方(铅直部541侧)而凹陷。

第四铅直板54的上下方向的尺寸大于第一铅直板51、第二铅直板52及第三铅直板53的各自的上下方向的尺寸。具体而言，第四铅直板54的上下方向的尺寸为第三铅直板53的上下方向的尺寸的约两倍。另外，第四铅直板54的正交方向的尺寸(水平方向上的宽度)大于第一铅直板51的正交方向的尺寸(水平方向上的宽度)。第四铅直板54构成第二保持构件的一例。

突出板55自底板50中的长边方向另一侧(图3中的右方侧)的边缘部朝向长边方向另一侧而突出。突出板55为俯视三角形状，是以随着朝向长边方向另一侧而前端变细的方式来形成。

试样容器保持具5中，第一铅直板51、第二铅直板52、第三铅直板53及第四铅直板54是以相互平行的状态，且沿着正交方向而自底板50朝向上方延伸。即，如图3所示，在水平方向，第一铅直板51、第二铅直板52及第三铅直板53的投影面积成为最小的方向为正交方向(图3中与纸面正交的方向)。另外，在水平方向，第四铅直板54的投影面积成为最小的方向为正交方向。因此，在水平方向，第一铅直板51、第二铅直板52及第三铅直板53的投影面积成为最小的方向、与第四铅直板54的投影面积成为最小的方向一致。

以所述方式构成的试样容器保持具5是由一片板状构件所形成。具体而言，通过将一片板状构件(金属板)适当切断，实施弯曲加工，能够形成所述构成的试样容器保持具5。此外，在试样容器保持具5中，第一铅直板51、第二铅直板52及第三铅直板53的投影面积成为最小的方向、与第四铅直板54的投影面积成为最小的方向也可稍微错开。即，只要是第一铅直板51、第二铅直板52及第三铅直板53的投影面积成为最小的方向、与第四铅直板54的投影面积成为最小的方向在水平方向上基本一致的结构即可。

3.试样容器保持具及试样容器的设置

以下，使用图4及图5，对试样容器保持具5及试样容器10相对于电子天平1的设置进行说明。

图4是表示在试样容器保持具5载置有试样容器10的状态的立体图。图5是表示在试样容器保持具5载置有试样容器10的状态的侧视图。

此例中，例如，读取0.1mg，使用烧瓶(量瓶)来作为试样容器10。此例中，使用作为烧瓶的试样容器10，来作为载置于试样容器保持具5的容器，也可将试验管等烧瓶以外的容器载置于试样容器保持具5。另外，在0.1mg以上的计量中，也能够通过根据试样容器的大小，改变试样容器保持具5的形状来应对。

试样容器10包括：底部101、头部102、及管状部103。底部101形成为球状。底部101的下表面(底面)形成为平面状。头部102形成为管状，且连接于底部101的上端部。头部102是以随着朝向上方而尖端变细的方式来形成。管状部103形成为管状，其以一定的直径自头部102的上端部向上方延伸。管状部103的上端部的内部空间形成有用以导入试样的导入口。试样容器10的头部102构成第二部分的一例。另外，试样容器10的底部101中的长边方向一方侧(图5中的左方侧)的部分构成第一部分的一例。另外，试样容器10的底部101中的长边方向另一侧(图5中的右方侧)的部分(最下部近旁的部分)构成第三部分的一例。

当将试样容器保持具5及试样容器10设置于本体2内时，首先，用户将防风箱23的启闭门(本体2的侧面)滑动而打开称量室24，在称量皿4上载置试样容器保持具5。

此时，用户如图5所示，使试样容器保持具5的底板50密接于称量皿4的上表面，在称量皿4上设置试样容器保持具5。另外，用户以试样容器保持具5中的正交方向(第一铅直板51、第二铅直板52、第三铅直板53及第四铅直板54延伸的方向)、和除静电装置3与试样容器保持具5的相向方向一致的方式，将试样容器保持具5载置于称量皿4上。即，第一铅直板51、第二铅直板52、第三铅直板53及第四铅直板54分别以相对于来自除静电装置3的离子的供给方向而平行地延伸的方式(一致的方式)，载置于称量皿4上。换言之，在来自除静电装置3的离子的供给方向上看时，第一铅直板51、第二铅直板52、第三铅直板53及第四铅直板54的各自的投影面积成为最小。

另外，虽未图示，但在称量皿4的中央部形成有螺孔。用户如上所述，以一边调整试样容器保持具5的位置，一边使称量皿4的螺孔、与试样容器保持具5的长孔50A在上下方向重叠的方式，配置试样容器保持具5。而且，在试样容器保持具5的长孔50A、以及称量皿4的螺孔中嵌入螺钉，将试样容器保持具5相对于称量皿4而固定。此外，试样容器保持具5也可以不相对于称量皿4固定(未螺钉固定)的状态，配置于称量皿4上。在此状态下，突出板55发挥防止试样容器保持具5倒下的防倒功能。

而且，用户对于载置于称量皿4的试样容器保持具5，载置试样容器10。

具体而言，用户是以底部101中的长边方向一方侧(图5中的左方侧)的部分由第二铅直板52及第三铅直板53来支撑，底部101中的长边方向另一侧(图5中的右方侧)的部分由第一铅直板51来支撑，且头部102由第四铅直板54来支撑的方式，将试样容器10载置于试样容器保持具5。

此时，试样容器10以其轴方向相对于铅直方向而倾斜的状态，保持于试样容器保持具5。另外，试样容器10的管状部103的导入口位于电子天平1的防风箱23的启闭门(本体2的侧面)的近旁。另外，试样容器10的底部101成为自称量皿4的上表面(设置面)浮起的状态(在上方隔开间隔的状态)。

另外，试样容器10的头部102是由第四铅直板54的凹部54A来两点支撑，试样容器10的底部101是由第一铅直板51的凹部51A、第二铅直板52的凹部52A、以及第三铅直板53的凹部53A分别来两点支撑。

在如上所述，试样容器10载置于试样容器保持具5上的状态下，用户将试样自试样容器10的管状部103的上端部(导入口)导入至试样容器10内。如上所述，由于试样容器10的导入口位于电子天平1的防风箱23的启闭门(本体2的侧面)的近旁(导入口接近于用户侧)，故而用户能够向试样容器10内容易地导入试样。

当以在试样容器10内导入有试样的状态来进行计量时，在显示于显示部(未图示)的数值变动的情况下，用户判断为在称量室24内产生静电。在此情况下，用户对操作部(未图示)进行操作而使除静电装置3运行。

如此一来，自除静电装置3向试样容器10供给离子。如上所述，在来自除静电装置3的离子的供给方向上看时，第一铅直板51、第二铅直板52、第三铅直板53及第四铅直板54的各自的投影面积成为最小。因此，抑制由第一铅直板51、第二铅直板52、第三铅直板53及第四铅直板54分别阻碍离子的移动。来自除静电装置3的离子在试样容器10的底部101与称量皿4之间通过。另外，此时，来自除静电装置3的离子以沿着第一铅直板51、第二铅直板52及第三铅直板53的表面的方式移动。如上所述，自除静电装置3供给的离子在试样容器10的底部101与称量皿4之间顺利地移动。

此外，在仅以除静电为目的的情况下，也能够以与所述配置不同的方式，将试样容器保持具5放置于称量皿4。在进行计量作业的情况下，优选为试样容器10的导入口位于电子天平1的防风箱23的启闭门(本体2的侧面)的近旁(相向)。

4.设置有试样容器保持具的情况下的除静电效果

图6是表示在以利用试样容器保持具5来保持试样容器10的状态，将试样容器保持具5及试样容器10配置于本体2内来进行除静电的情况下的试样容器10的带电，以及仅将试样容器10配置于本体2内来进行除静电的情况下的试样容器10的带电量的图表。

图6中，A表示在以利用试样容器保持具5来保持试样容器10的状态，将试样容器保持具5及试样容器10配置于本体2内来进行除静电的情况下的试样容器10的带电量，B表示在仅将试样容器10配置于本体2内来进行除静电的情况下的试样容器10的带电量。另外，图6中，横轴表示进行除静电动作之前的带电量，纵轴表示进行除静电动作之后的带电量。

根据图6可知，以利用试样容器保持具5来保持试样容器10的状态，将试样容器保持具5及试样容器10配置于本体2内来除静电的情况较仅将试样容器10配置于本体2内来进行除静电的情况而言，除静电效果高。

5.作用效果

(1)根据本实施方式，如图5所示，试样容器保持具5包括：第一铅直板51、第二铅直板52及第四铅直板54。在使用试样容器保持具5来保持试样容器10时，利用第二铅直板52及第三铅直板53来保持底部101中的长边方向一方侧(图5中的左方侧)的部分，且利用第四铅直板54来保持头部102。另外，第四铅直板54的上下方向的尺寸大于第二铅直板52及第三铅直板53的上下方向的尺寸，因此试样容器保持具5将试样容器10以倾斜的状态来保持。

因此，当利用试样容器保持具5来保持各种试样容器10时，能够将试样容器10以稳定的状态来保持，能够提高操作性。即，能够以容易进行计量作业的状态来稳定地保持试样容器10。

另外，试样容器10是以底部101浮起的状态，利用试样容器保持具5来保持。

因此，在以利用试样容器保持具5来保持试样容器10的状态，将试样容器保持具5及试样容器10设置于电子天平1的本体2内的情况下，能够在试样容器10的底部101与称量皿4之间形成一定的空间。

其结果为，在电子天平1的本体2内产生除静电用的离子的情况下，能够使所述离子到达试样容器10的底部101(底面)，能够对试样容器10的整个面进行除静电。

即，能够在称量皿4与试样容器10的底部101之间确保间隙，因此能够使除静电装置3中产生的离子抵达试样容器10的底部101。

另外，试样容器保持具5中，水平方向上的第二铅直板52及第三铅直板53的投影面积成为最小的方向、与水平方向上的第四铅直板54的投影面积成为最小的方向基本一致。而且，电子天平1中，以这些方向与来自除静电装置3的离子的供给方向基本一致的方式设置试样容器保持具5。即，电子天平1中，在来自除静电装置3的离子的供给方向上来看时，第二铅直板52及第三铅直板53的投影面积成为最小，且第四铅直板54的投影面积成为最小。

因此，能够抑制自除静电装置3供给的离子的移动由第二铅直板52、第三铅直板53及第四铅直板54所阻碍。

其结果为，能够使自除静电装置3供给的离子在试样容器10的底部101与称量皿4之间顺利地移动。

因此，能够利用除静电装置3来顺利地进行试样容器10的除静电。而且，电子天平1中，能够高精度地进行试样的计量。

(2)另外，根据本实施方式，如图5所示，试样容器保持具5包括第一铅直板51。第一铅直板51配置于第二铅直板52及第三铅直板53、与第四铅直板54之间，且在其前端边缘保持(支撑)试样容器10的底部101。第一铅直板51的上下方向的尺寸小于第二铅直板52及第三铅直板53的上下方向的尺寸。

因此，能够将试样容器10保持为更稳定的状态。

另外，能够利用第一铅直板51，自下方支撑试样容器10，因此能够将试样容器10保持为更稳定的状态。

(3)另外，根据本实施方式，如图2所示，第一铅直板51的水平方向上的宽度小于第二铅直板52及第三铅直板53的水平方向上的宽度。

因此，能够利用试样容器保持具5，来更稳定地保持各种尺寸或形状的试样容器10。

(4)另外，根据本实施方式，如图2所示，试样容器保持具5中，第一铅直板51、第二铅直板52、第三铅直板53及第四铅直板54分别形成为板状(平板状)。

因此，试样容器保持具5中，能够简易地构成第一铅直板51、第二铅直板52、第三铅直板53及第四铅直板54中的每一个。

(5)另外，根据本实施方式，如图2所示，试样容器保持具5中，在第一铅直板51的前端边缘形成有凹部51A，在第二铅直板52的前端边缘形成有凹部52A，在第三铅直板53的前端边缘形成有凹部53A，且在第四铅直板54的前端边缘形成有凹部54A。

而且，在利用试样容器保持具5来保持试样容器10的状态下，试样容器10的底部101是由第一铅直板51的凹部51A、第二铅直板52的凹部52A及第三铅直板53的凹部53A分别来两点支撑，试样容器10的头部102是由第四铅直板54的凹部54A来两点支撑。

因此，能够利用试样容器保持具5，将试样容器10以更稳定的状态来保持。

(6)另外，根据本实施方式，试样容器保持具5是由一片板状构件所形成。即，第一铅直板51、第二铅直板52、第三铅直板53、第四铅直板54及底板50是由一片板状构件所形成。

由于由一片板状构件来形成试样容器保持具5，故而能够以低成本来制造，且能够与多种类的容器对应。进而，能够提高作业性。

6.第二实施方式

以下，使用图7，对本发明的第二实施方式进行说明。此外，关于与所述第一实施方式相同的结构，通过使用与所述相同的符号来省略说明。

图7是表示本发明的第二实施方式的试样容器保持具5的结构的立体图。

所述第一实施方式中，自底板50向上方延伸的构件(第一铅直板51、第二铅直板52、第三铅直板53及第四铅直板54)形成为板状。与此相对，第二实施方式中，自底板50向上方延伸的构件形成为棒状。

具体而言，第二实施方式中，设置第一棒状体61来代替第一铅直板51，设置第二棒状体62来代替第二铅直板52，设置第三棒状体63来代替第三铅直板53，且设置第四棒状体64来代替第四铅直板54。

第一棒状体61形成为棒状，自底板50的中央部向上方(上方侧)延伸。第一棒状体61是以在正交方向上隔开间隔的方式设置有两个。

第二棒状体62形成为棒状，自底板50中的长边方向一方侧(图7中的左上方侧)的部分向上方(上方侧)延伸。第二棒状体62位于较第一棒状体61更长边方向一方侧。第一棒状体61是以在正交方向上隔开间隔的方式设置有两个。

第三棒状体63形成为棒状，自底板50中的长边方向一方侧的边缘部(图7中的左上方侧的边缘部)向上方(上方侧)延伸。第三棒状体63位于较第二棒状体62更长边方向一方侧。第三棒状体63是以在正交方向上隔开间隔的方式设置有两个。

第四棒状体64形成为棒状，自底板50中的长边方向另一侧的边缘部(图7中的右下方侧的边缘部)向上方(上方侧)延伸。第四棒状体64是以在正交方向上隔开间隔的方式设置有两个。

第一棒状体61的上下方向的尺寸小于第二棒状体62的上下方向的尺寸。第二棒状体62的上下方向的尺寸小于第三棒状体63的上下方向的尺寸。第三棒状体63的上下方向的尺寸小于第四棒状体64的上下方向的尺寸。

当利用此试样容器保持具5来保持试样容器10时，试样容器10的底部101是由两个第一棒状体61、两个第二棒状体62以及两个第三棒状体63来两点支撑，试样容器10的头部102是由两个第四棒状体64来两点支撑。

如上所述，第二实施方式中，如图7所示，试样容器保持具5中，自底板50向上方延伸的构件(第一棒状体61、第二棒状体62、第三棒状体63及第四棒状体64)形成为棒状。

因此，试样容器保持具5中，能够使保持试样容器10的构件的强度增大。

7.变形例

所述第一实施方式中，设为第一铅直板51、第二铅直板52、第三铅直板53及第四铅直板54自底板50向上方延伸来进行说明。另外，所述第二实施方式中，设为第一棒状体61、第二棒状体62、第三棒状体63及第四棒状体64自底板50向上方延伸来进行说明。但是，这些构件只要是自底板50向上方侧延伸的结构即可。即，这些构件也可以相对于上下方向而倾斜的状态，自底板50向上方侧延伸。

另外，所述第一实施方式中，设为自底板50向上方延伸的构件全部为板状来进行说明。另外，所述第二实施方式中，设为自底板50向上方延伸的构件全部为棒状来进行说明。但是，自底板50向上方延伸的构件中，也可混合有板状的构件与棒状的构件。

另外，所述实施方式中，能够将自底板50向上方侧延伸的各构件的片数(个数)任意变更。

另外，所述实施方式中，设为试样容器保持具5设置于称量皿4上来进行说明。但是，也可将称量皿4自皿接收构件上拆除，而在此皿接收构件上安装试样容器保持具5。在此情况下，皿接收构件的上表面成为设置面。

进而，试样容器保持具5也可在电子天平1内，以悬挂于专用的机构的方式(不设置于称量皿4上)来使用。在此情况下，沿着试样容器保持具5的底板50的平面的方向成为水平方向。

Claims (9)

1.一种试样容器保持具，用以将电子天平中的计量所使用的试样容器加以保持，其特征在于包括：

基体构件；

第一保持构件，自所述基体构件向上方侧延伸，在其前端边缘保持试样容器的第一部分；以及

第二保持构件，自所述基体构件向上方侧延伸，并且与所述第一保持构件隔开间隔而配置，在其前端边缘保持试样容器的第二部分，

所述第二保持构件的上下方向的尺寸大于所述第一保持构件的上下方向的尺寸，

水平方向上的所述第一保持构件的投影面积成为最小的方向、与水平方向上的所述第二保持构件的投影面积成为最小的方向一致，并且

所述试样容器保持具以所述试样容器的底部浮起且与所述电子天平的本体的设置面之间在上方隔开间隔、形成一定的空间的状态且所述试样容器以所述试样容器的轴方向相对于铅直方向而倾斜的状态保持所述试样容器。

2.根据权利要求1所述的试样容器保持具，其特征在于还包括：

第三保持构件，自所述基体构件向上方侧延伸，且配置于所述第一保持构件与所述第二保持构件之间，在其前端边缘保持试样容器的第三部分，并且

所述第三保持构件的上下方向的尺寸小于所述第一保持构件的上下方向的尺寸。

3.根据权利要求2所述的试样容器保持具，其特征在于，

所述第三保持构件支撑试样容器的底部。

4.根据权利要求2所述的试样容器保持具，其特征在于，

所述第三保持构件的水平方向上的宽度小于所述第一保持构件的水平方向上的宽度。

5.根据权利要求2所述的试样容器保持具，其特征在于，

所述第一保持构件、所述第二保持构件及所述第三保持构件中的至少一个形成为板状。

6.根据权利要求5所述的试样容器保持具，其特征在于，

所述第一保持构件、所述第二保持构件及所述第三保持构件中，在形成为板状的构件的前端边缘形成有凹部。

7.根据权利要求5所述的试样容器保持具，其特征在于，

所述第一保持构件、所述第二保持构件、所述第三保持构件及所述基体构件是由一片板状构件所形成。

8.根据权利要求2所述的试样容器保持具，其特征在于，

所述第一保持构件、所述第二保持构件及所述第三保持构件中的至少一个形成为棒状。

9.一种电子天平，其特征在于包括：

根据权利要求1所述的试样容器保持具；

本体，形成有收纳所述试样容器保持具的称量室；以及

除静电装置，设置于所述本体，用于通过向所述称量室内供给离子来对该称量室内进行除静电，并且

在来自所述除静电装置的离子的供给方向上看时，所述第一保持构件的投影面积成为最小，且所述第二保持构件的投影面积成为最小。

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