CN112229798A - 一种分光光度计通用样品架 - Google Patents

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舒众众
张晓东
陈习旬
张叶
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Bengbu Zhongguangdian Technology Co Ltd
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Abstract

本发明公开一种分光光度计通用样品架，包括底板，底板设有与分光光度计形成配合的安装螺孔；底板顶面竖直设有方筒与挡板，方筒的四个侧面分别设有通光孔，各通光孔的位置相同；挡板的板面设有透光孔，挡板贴合于方筒的其中一个侧面，通光孔与透光孔相对应；通光孔及透光孔与分光光度计的检测光路在同一轴线上；挡板的外板面还设有两根夹杆，待测玻璃成品样品可被夹持于夹杆与挡板之间；所述方筒内可由上至下插入比色皿，比色皿用于填装待测玻璃液；该样品架能够适应对玻璃透过率以及含铁量的检测，无需反复更换样品架，使用方便，提高检测效率以及检测结果的稳定性。

Description

一种分光光度计通用样品架
技术领域
本发明涉玻璃基板性能检测设备技术领域，具体是一种分光光度计通用样品架。
背景技术
随着液晶显示器件行业的飞速发展，玻璃基板作为液晶显示器件不可或缺的基本部件，需求量与日俱增。在玻璃基板生产过程中，无论料方调整、或者熔化工艺调整，都或多或少的带来玻璃基板性能的变化。当不能确定采用何种料方或者工艺会对玻璃产生性能何种影响时，需要增加玻璃基板性能检测的频率。
在现有设备检测中，玻璃基板透过率和含铁量检测两者为了统一分析结果，往往使用分光光度计进行检测。然而在检测过程中，由于透过率检测使用玻璃成品样品，含铁量检测则使用熔融玻璃样片后配置的液体，这就需要反复更换样品架来完成实验，因此给实验带来许多不稳定因素，影响测试结果的稳定性。
发明内容
本发明的目的在于提供一种分光光度计通用样品架，该样品架能够适应对玻璃透过率以及含铁量的检测，无需反复更换样品架，使用方便，提高检测效率以及检测结果的稳定性。
本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：
一种分光光度计通用样品架，包括底板，底板设有与分光光度计形成配合的安装螺孔；底板顶面竖直设有方筒与挡板，方筒的四个侧面分别设有通光孔，，各通光孔的位置相同；挡板的板面设有透光孔，挡板贴合于方筒的其中一个侧面，通光孔与透光孔相对应；通光孔及透光孔与分光光度计的检测光路在同一轴线上；挡板的外板面还设有两根夹杆，待测玻璃成品样品可被夹持于夹杆与挡板之间；所述方筒内可由上至下插入比色皿，比色皿用于填装待测玻璃液。
本发明的有益效果是，采用方筒与挡板相结合的结构，当需要检测玻璃的透过率时，将待测玻璃成品样品通过夹杆进行夹持；当需要检测玻璃的含铁量时，将装有待测玻璃液的比色皿插入方筒内；从而使样品架适应对玻璃透过率以及含铁量的检测，无需反复更换样品架，使用方便，提高检测效率以及检测结果的稳定性，通用性强。
附图说明
下面结合附图和实施例对本发明进一步说明：
图1是本发明的结构示意图；
图2是本发明挡板的示意图；
图3是本发明检测含铁量时的使用状态示意图。
具体实施方式
如图1所示，本发明提供一种分光光度计通用样品架，包括底板1，底板1设有与分光光度计形成配合的安装螺孔2；底板1顶面竖直设有方筒3与挡板4，方筒的四个侧面分别设有通光孔5，，各通光孔的位置相同；挡板4的板面设有透光孔6，挡板4贴合于方筒的其中一个侧面，通光孔5与透光孔6相对应；通光孔及透光孔与分光光度计的检测光路在同一轴线上；挡板4的外板面还设有两根夹杆7，待测玻璃成品样品8可被夹持于夹杆与挡板之间；所述方筒内可由上至下插入比色皿9，比色皿用于填装待测玻璃液。
采用方筒与挡板相结合的结构，当需要检测玻璃的透过率时，将待测玻璃成品样品通过夹杆进行夹持；当需要检测玻璃的含铁量时，将装有待测玻璃液的比色皿插入方筒内；从而使样品架适应对玻璃透过率以及含铁量的检测，无需反复更换样品架，使用方便，提高检测效率以及检测结果的稳定性，通用性强。
以上所述，仅是本发明的较佳实施例而已，并非对本发明作任何形式上的限制；任何熟悉本领域的技术人员，在不脱离本发明技术方案范围情况下，都可利用上述揭示的方法和技术内容对本发明技术方案做出许多可能的变动和修饰，或修改为等同变化的等效实施例。因此，凡是未脱离本发明技术方案的内容，依据本发明的技术实质对以上实施例所做的任何简单修改、等同替换、等效变化及修饰，均仍属于本发明技术方案保护的范围内。

Claims (1)

1.一种分光光度计通用样品架，其特征在于，包括底板，底板设有与分光光度计形成配合的安装螺孔；底板顶面竖直设有方筒与挡板，方筒的四个侧面分别设有通光孔，各通光孔的位置相同；挡板的板面设有透光孔，挡板贴合于方筒的其中一个侧面，通光孔与透光孔相对应；通光孔及透光孔与分光光度计的检测光路在同一轴线上；挡板的外板面还设有两根夹杆，待测玻璃成品样品可被夹持于夹杆与挡板之间；所述方筒内可由上至下插入比色皿，比色皿用于填装待测玻璃液。
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RJ01 Rejection of invention patent application after publication
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