CN112162189A - 测试主板的上电控制电路、测试治具、测试系统以及方法 - Google Patents

测试主板的上电控制电路、测试治具、测试系统以及方法 Download PDF

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Abstract

本发明公开了一种测试主板的上电控制电路、测试治具、测试系统以及方法，该测试主板的上电控制电路包括输入端、输出端、控制端以及开关电路，输入端、输出端以及控制端均与开关电路电连接；输入端用于输入供电电源；控制端用于接收表征测试主板的放置方向是否正确的检测信号，并根据检测信号控制开关电路的导通与断开；输出端用于在开关电路导通时向测试主板供电。本发明能够解决测试主板放置方向错误时，直接上电会烧毁测试主板的问题，只有在测试主板放置方向正确时，才会对测试主板供电，从而防止方向放置错误的误操作所造成的损坏。

Description

测试主板的上电控制电路、测试治具、测试系统以及方法
技术领域
本发明涉及电子技术领域，尤其涉及一种测试主板的上电控制电路、测试治具、测试系统以及方法。
背景技术
电子设备的主板在生产测试环节，需要配合使用测试治具，并且仅当测试主板方向正确地放置在测试治具上，才能够保证测试主板的正常测试。然而，现有的测试主板多为结构上对称分布的正方形或者矩形，放置时即使方向错误，例如，与正确放置方向错位了180°，仍然可以放入测试治具，由此，如果不对测试主板的放置方向进行检测，直接对测试主板上电存在导致测试主板被烧毁的可能。
针对上述问题，现有的检测装置大多采用光电传感器对测试主板进行检测，但是该方案灵敏度较低。并且，当测试主板与测试探针平面存在倾角而没有完全放置在测试底座时，光电传感器无法检测出测试主板是否存在异常此外，光电传感器也无法检测出测试主板在测试底座上是否放置方向错误。
发明内容
本发明要解决的技术问题是为了克服现有技术中测试主板放置方向错误时，直接上电会损坏测试主板的缺陷，提供一种测试主板的上电控制电路、测试治具、测试系统以及方法。
本发明是通过下述技术方案来解决上述技术问题：
第一方面，本发明提供一种测试主板的上电控制电路，所述上电控制电路包括：输入端、输出端、控制端以及开关电路；其中，
所述输入端、所述输出端以及所述控制端均与所述开关电路电连接；
所述输入端用于输入供电电源；
所述控制端用于接收表征所述测试主板的放置方向是否正确的检测信号，并根据所述检测信号控制所述开关电路的导通与断开；
所述输出端用于在所述开关电路导通时向所述测试主板供电。
较佳地，所述开关电路包括MOS管以及MOS管控制电路，所述MOS管的漏极与所述上电控制电路的输出端电连接，所述MOS管的源极与所述上电控制电路的输入端电连接，所述MOS管的栅极与所述MOS管控制电路电连接，所述MOS管控制电路用于根据所述输入端以及所述控制端的输入信号控制所述MOS管的导通与断开。
较佳地，所述MOS管控制电路包括：第一三极管、第二三极管、第一电阻、第二电阻以及第三电阻；
所述第一三极管的基极与所述控制端电连接，所述第一三极管的基极同时连接所述第一电阻的一端；所述第一三极管的集电极与所述第二三极管的基极连接，所述第一三极管的集电极同时连接所述第二电阻的一端；所述第一三极管的发射极接地；
所述第二三极管的集电极与所述第三电阻的一端连接，所述第二三极管的发射极接地，所述第二三极管的集电极与MOS管的栅极电连接；
所述第一电阻、所述第二电阻以及所述第三电阻的另一端与所述输入端电连接。
较佳地，所述第一三极管和所述第二三极管采用NPN型三极管。
较佳地，所述MOS管采用PMOS管。
较佳地，所述控制端具体用于根据低电平的检测信号控制所述开关电路导通，根据高电平的检测信号控制开关电路断开。
第二方面，本发明还提供一种测试治具，包括：测试底座以及第一方面所述的测试主板的上电控制电路；
所述测试底座包括检测探针，所述检测探针与所述上电控制电路的控制端电连接并用于检测所述测试主板的放置方向是否正确。
较佳地，所述测试治具还包括测试电路，所述测试电路与所述测试主板电连接并用于测试上电的所述测试主板。
第三方面，本发明还提供一种测试系统，包括：测试主板以及第二方面所述的测试治具，所述测试主板的背面开设有与检测探针对应的裸露铜点；其中，
测试底座用于放置所述测试主板；
所述检测探针与所述裸露铜点接触时，输出表征所述测试主板的放置方向正确的检测信号；
所述检测探针与所述裸露铜点未接触时，输出表征所述测试主板的放置方向错误的检测信号。
第四方面，本发明还提供一种测试方法，应用于第三方面所述的测试系统，所述测试方法包括：
在测试底座的表面的第一目标位置处设置检测探针；
在测试主板的背面的第二目标位置处形成裸露铜点；其中，所述第二目标位置与所述第一目标位置对应；
将所述测试主板放置到所述测试底座上，对所述测试主板的放置方向进行检测。
本发明的积极进步效果在于：提供一种测试主板的上电控制电路、测试治具、测试系统以及方法，采用输入端、输出端、控制端以及开关电路来控制测试主板进行通电或者断电，该控制端用于接收表征测试主板的放置方向是否正确的检测信号，并根据检测信号控制开关电路的导通与断开，在测试主板放置方向错误时，有效防止了直接上电对测试主板造成的损坏。
附图说明
图1为本发明实施例1的测试主板的上电控制电路的工作原理示意图。
图2为本发明实施例1的测试主板的上电控制电路的开关电路的结构示意图。
图3为本发明实施例2的测试治具的结构示意图。
图4为本发明实施例3的测试系统的结构示意图。
图5为本发明实施例4的测试方法的流程图。
具体实施方式
下面通过实施例的方式进一步说明本发明，但并不因此将本发明限制在所述的实施例范围之中。
实施例1
本实施例提供一种测试主板的上电控制电路，参照图1，该上电控制电路包括：输入端101、输出端102、控制端103以及开关电路104；其中，
输入端101、输出端102以及控制端103均与开关电路104电连接；
输入端101用于输入供电电源；
控制端103用于接收表征测试主板的放置方向是否正确的检测信号，并根据检测信号控制开关电路104的导通与断开；
输出端102用于在开关电路104导通时向测试主板供电。
根据本实施例的测试主板的上电控制电路，输入端101可以持续的输入固定的供电电压，也可以为可调控的供电电压，该供电电压的具体电压值是可以根据实际应用自定义设置的。例如，供电电压可以为4.2V，也可以为4.5V。当控制端103接收到表征测试主板方向错误的放置在测试治具底座上的第一检测信号时，控制端103控制开关电路104断开，从而不会向测试主板供电，当控制端103接收到表征测试主板方向正确的放置在测试治具底座上的第二检测信号时，控制端103控制开关电路104导通，以向测试主板供电。
需要说明的是，检测信号可以包括第一检测信号以及第二检测信号，例如，第一检测信号表征测试主板放置方向是正确的，第二检测信号表征测试主板放置方向是错误的。
图2为开关电路104的一种实施方式的具体电路图，根据图1所示的上电控制电路的工作原理示意图和图2所示的上电控制电路的开关电路的结构示意图中相同的器件，使用相同的附图标记。
开关电路104包括MOS管201以及MOS管控制电路202，该MOS管201的漏极与上电控制电路的输出端102电连接，该MOS管201的源极与上电控制电路的输入端101电连接，该MOS管201的栅极与MOS管控制电路202电连接，MOS管控制电路202用于根据输入端101以及控制端103的输入信号控制MOS管201的导通与断开。
作为一种可选的实施方式，该MOS管201采用PMOS管。
MOS管控制电路202包括：第一三极管301、第二三极管302、第一电阻303、第二电阻304以及第三电阻305；
作为一种可选的实施方式，第一三极管301和第二三极管302采用NPN型三极管。
第一三极管301的基极与控制端103电连接，第一三极管301的基极同时连接第一电阻303的一端；第一三极管301的集电极与第二三极管302的基极连接，第一三极管301的集电极同时连接第二电阻304的一端；第一三极管301的发射极接地；
第二三极管302的集电极与第三电阻305的一端连接，第二三极管302的发射极接地，第二三极管302的集电极与MOS管201的栅极电连接；
第一电阻303、第二电阻304以及第三电阻305的另一端与输入端101电连接。
作为一种可选的实施方式，控制端103用于根据低电平的检测信号控制开关电路104导通，根据高电平的检测信号控制开关电路104断开。
本实施例中，该开关电路104的工作原理是：当测试主板方向错误的放入测试治具底座时，第一三极管301的基极为高电平，第一三极管301为导通状态，而第二三极管302的基极被拉低。此时，第二三极管302为断开状态，MOS管201的栅极为高电压，则MOS管201处于断开状态，输入端101输入的供电电源被MOS管201隔开，造成输出端102没有电压，无法向测试主板供电。因为测试主板没有通电，所以测试主板不会被烧毁。
当测试主板方向正确的放入测试治具底座时，第一三极管301的基极为低电平，此时，第一三极管301为断开状态，而第二三极管302的基极被拉高，此时，第二三极管302为导通状态。MOS管201的栅极为低电压，则MOS管201的源极和漏极导通，输入端101输入的供电电源通过MOS管201传递给了输出端102。也即，开关电路104导通，输出端102向测试主板供电。
上述开关电路104在实现的过程中，可以对上述电路图进行各种变换，还可以在上述电路图中增加新的器件，例如，三极管以及电阻，本发明对开关电路104的连接方式不做具体限制。
需要说明的是，开关电路104中的第一电阻303、第二电阻304、以及第三电阻305可以根据输入端101的供电电压大小以及开关电路104的相关性能参数进行设置，本实施例对此不作具体限定。
也即，测试主板的上电控制电路通过控制端103控制开关电路104的导通或者断开，而开关电路104的通断可以控制输出端102处是否向所述测试主板供电。
本实施例中，一种测试主板的上电控制电路，通过开关电路实现了对测试主板放置方向正确或者错误的检测，避免了测试主板放置方向错误时，直接上电损坏测试主板。
实施例2
在实施例1的基础上，参见图3，本实施例提供一种测试治具，包括：测试底座401以及实施例1中的测试主板的上电控制电路，该测试底座401包括检测探针402，该检测探针402与上电控制电路的控制端102电连接并用于检测测试主板的放置方向是否正确。
该测试治具还包括测试电路，该测试电路与测试主板电连接并用于测试上电的测试主板。
本实施例中，测试底座401可以包括至少N个探针，N≥1且N取整数；从中选择1个探针作为检测探针402，当该检测探针402发生损毁时，可以选择另一个探针作为检测探针402，以保证测试治具的正常使用。检测探针402的长度可以为预设长度，其中，预设长度的具体值可以根据实际具体设定，此处就不作限制。
需要说明的是，测试电路可以设置于测试底座401的内部，测试电路可以与实施例1中的测试底座401内的上电控制电路的输出端102电连接，测试电路用于对上电的测试主板进行测试。
本实施例中，一种测试治具，利用检测探针检测测试主板放置方向是否正确，有效的防止了测试主板放置方向错误时，直接上电对测试主板造成损坏。
实施例3
参见图4，本实施例提供一种测试系统，包括测试主板以及实施例2的测试治具，该测试主板501的背面开设有与检测探针402对应的裸露铜点502，其中，测试底座401用于放置测试主板501，检测探针402与裸露铜点502接触时，输出表征测试主板501的放置方向正确的检测信号，检测探针402与裸露铜点502未接触时，例如，图4中的测试主板501旋转180°之后放置在测试底座401上时，输出表征测试主板501的放置方向错误的检测信号。
需要说明的是，裸露铜点502的位置以及面积大小可以根据检测探针的实际情况而设定，本实施例对此不作具体限制。裸露铜点502为“地”信号点，当检测探针402接触到该“地”信号时，则表明测试主板501的放置方向是正确的，当检测探针402未接触到该“地”信号时，则表明测试主板501的放置方向是错误的。
本实施例中，一种测试系统，通过检测探针能否与裸露铜点接触对测试主板的放置方向进行检测，根据测试主板的放置方向是否正确输出不同的检测信号，有效的防止了测试主板放置方向错误时，直接上电对测试主板造成的损坏。
实施例4
在实施例3的基础上，参见图5，本实施例提供一种测试方法，应用于实施例3的测试系统，该测试方法包括：
步骤S1、在测试底座的表面的第一目标位置处设置检测探针；
步骤S2、在测试主板的背面的第二目标位置处形成裸露铜点；其中，
该第二目标位置与该第一目标位置对应；
步骤S3、将测试主板放置到测试底座上，对测试主板的放置方向进行检测。
检测探针的第一端适于与裸露铜点接触，检测探针的第二端适于与测试底座的表面的第一目标位置接触。将测试主板放置在测试底座后，测试主板和测试底座之间会形成容置检测探针的空腔。也即，测试主板的形状、尺寸与测试底座的形状、尺寸相对应。
示例性地，当测试主板未放置在测试底座时，检测探针与裸露铜点未相互接触；当测试主板的放置方向正确时，检测探针与裸露铜点相互接触，输出表征测试主板的放置方向正确的检测信号；当测试主板放置方向错误时，检测探针与裸露铜点未相互接触，输出表征测试主板的放置方向错误的检测信号。
本实施例中，一种测试方法，通过在测试底座上设置检测探针，在测试主板背面上对应设置裸露铜点，将测试主板放置于测试底座上，简单便捷地实现了对测试主板放置方向的检测，有效地防止了测试主板放置方向错误时，直接上电对测试主板造成的损坏。
虽然以上描述了本发明的具体实施方式，但是本领域的技术人员应当理解，这仅是举例说明，本发明的保护范围是由所附权利要求书限定的。本领域的技术人员在不背离本发明的原理和实质的前提下，可以对这些实施方式做出多种变更或修改，但这些变更和修改均落入本发明的保护范围。

Claims (10)

1.一种测试主板的上电控制电路，其特征在于，所述上电控制电路包括：输入端、输出端、控制端以及开关电路；其中，
所述输入端、所述输出端以及所述控制端均与所述开关电路电连接；
所述输入端用于输入供电电源；
所述控制端用于接收表征所述测试主板的放置方向是否正确的检测信号，并根据所述检测信号控制所述开关电路的导通与断开；
所述输出端用于在所述开关电路导通时向所述测试主板供电。
2.如权利要求1所述的测试主板的上电控制电路，其特征在于，所述开关电路包括MOS管以及MOS管控制电路，所述MOS管的漏极与所述上电控制电路的输出端电连接，所述MOS管的源极与所述上电控制电路的输入端电连接，所述MOS管的栅极与所述MOS管控制电路电连接，所述MOS管控制电路用于根据所述输入端以及所述控制端的输入信号控制所述MOS管的导通与断开。
3.如权利要求2所述的测试主板的上电控制电路，其特征在于，所述MOS管控制电路包括：第一三极管、第二三极管、第一电阻、第二电阻以及第三电阻；
所述第一三极管的基极与所述控制端电连接，所述第一三极管的基极同时连接所述第一电阻的一端；所述第一三极管的集电极与所述第二三极管的基极连接，所述第一三极管的集电极同时连接所述第二电阻的一端；所述第一三极管的发射极接地；
所述第二三极管的集电极与所述第三电阻的一端连接，所述第二三极管的发射极接地，所述第二三极管的集电极与MOS管的栅极电连接；
所述第一电阻、所述第二电阻以及所述第三电阻的另一端与所述输入端电连接。
4.如权利要求3所述的测试主板的上电控制电路，其特征在于，所述第一三极管和所述第二三极管采用NPN型三极管。
5.如权利要求2所述的测试主板的上电控制电路，其特征在于，所述MOS管采用PMOS管。
6.如权利要求1所述的测试主板的上电控制电路，其特征在于，所述控制端具体用于根据低电平的检测信号控制所述开关电路导通，根据高电平的检测信号控制开关电路断开。
7.一种测试治具，其特征在于，包括：测试底座以及如权利要求1-6任一项所述的测试主板的上电控制电路；
所述测试底座包括检测探针，所述检测探针与所述上电控制电路的控制端电连接并用于检测所述测试主板的放置方向是否正确。
8.如权利要求7所述测试治具，其特征在于，所述测试治具还包括测试电路，所述测试电路与所述测试主板电连接并用于测试上电的所述测试主板。
9.一种测试系统，其特征在于，包括：测试主板以及如权利要求7所述的测试治具，所述测试主板的背面开设有与检测探针对应的裸露铜点；其中，
测试底座用于放置所述测试主板；
所述检测探针与所述裸露铜点接触时，输出表征所述测试主板的放置方向正确的检测信号；
所述检测探针与所述裸露铜点未接触时，输出表征所述测试主板的放置方向错误的检测信号。
10.一种测试方法，其特征在于，应用于如权利要求9所述的测试系统，所述测试方法包括：
在测试底座的表面的第一目标位置处设置检测探针；
在测试主板的背面的第二目标位置处形成裸露铜点；其中，所述第二目标位置与所述第一目标位置对应；
将所述测试主板放置到所述测试底座上，对所述测试主板的放置方向进行检测。
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