CN112149380A - 一种标准单元库的指标分析方法及装置 - Google Patents

一种标准单元库的指标分析方法及装置 Download PDF

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Abstract

本申请提供一种标准单元库的指标分析方法及装置。方法包括获取待分析的标准单元库对应的属性信息文件和第一使用统计信息；待分析的标准单元库包括多个类型的标准单元；第一使用统计信息包括各标准单元对应的数量占比、布局布线后的面积使用率和目标路径对应的逻辑级数；对属性信息文件进行特征提取，获得各标准单元对应的多个第一属性信息；根据各标准单元对应的第一属性信息和第一使用统计信息对待分析的标准单元库进行分析，获得待分析的标准单元库对应的第一指标特征。本申请实施例通过在设计阶段，根据第一指标特征反映待分析的标准单元库的指标，不需要生产出对应的产品，从而缩短了研发的周期，提高了研发的效率。

Description

一种标准单元库的指标分析方法及装置
技术领域
本申请涉及集成电路技术领域，具体而言，涉及一种标准单元库的指标分析方法及装置。
背景技术
标准单元库是支持数字集成电路设计自动化流程的基础数据之一，标准单元库从前端功能仿真到后端版图实现支撑着整个集成电路自动化设计流程。
在集成电路设计中，在产品的初期研发阶段，需要对新研发的标准单元库的相关指标进行评估，以分析产品在生产出来后可能具备的性能、功耗和面积等情况。现有技术中，往往是在将产品生产出来后，利用测试用例对产品进行测试，从而获得对应的指标。如果指标没有达到预期，则需要重新返回至设计阶段，重新对标准单元库进行设计，直至测试获得生产出的产品的指标符合预期为止。因此，若要获得合格的产品，则至少需要经过设计、生产、测试三个阶段，这将导致研发周期长、研发效率低的问题。
发明内容
本申请实施例的目的在于提供一种标准单元库的指标分析方法及装置，用以解决现有技术中研发周期长、研发效率低的问题。
第一方面，本申请实施例提供一种标准单元库的指标分析方法，包括：获取待分析的标准单元库对应的属性信息文件和第一使用统计信息；其中，所述待分析的标准单元库包括多个类型的标准单元；所述第一使用统计信息包括各标准单元对应的数量占比、布局布线后的面积使用率和目标路径对应的逻辑级数；对所述属性信息文件进行特征提取，获得各标准单元对应的多个第一属性信息；根据各标准单元对应的第一属性信息和第一使用统计信息对待分析的标准单元库进行分析，获得所述待分析的标准单元库对应的第一指标特征；所述第一指标特征包括第一面积指标特征、第一功耗指标特征和第一性能指标特征。
本申请实施例通过在设计阶段，根据各标准单元对应的第一属性信息和第一使用统计信息对待分析的标准单元库进行分析，获得待分析的标准单元库对应的第一指标特征，从而根据第一指标特征反映待分析的标准单元库的指标，不需要生产出对应的产品，从而缩短了研发的周期，提高了研发的效率。
进一步地，所述第一属性信息包括标准单元对应的面积；根据各标准单元对应的第一属性信息和对应的第一使用统计信息对待分析的标准单元库进行分析，获得所述待分析的标准单元库对应的第一面积指标特征，包括：根据所述标准单元对应的面积、所述标准单元对应的数量占比和布局布线后的面积使用率，获得所述待分析的标准单元库对应的第一面积指标特征。
本申请实施例中，由于集成电路中，面积越小、实现的功能越多表征该集成电路的集成度越高，因此，通过利用标准单元对应的面积以及面积使用率计算获得待分析的标准单元库对应的第一面积指标，可以用来反映出待分析的标准单元库的面积占用情况。
进一步地，所述根据所述标准单元对应的面积、所述标准单元对应的数量占比和布局布线后的面积使用率，获得所述待分析的标准单元库对应的第一面积指标特征，包括：根据公式
Figure BDA0002710826800000021
计算获得待分析的标准单元库对应的第一面积指标特征；其中，Area为所述待分析的标准单元库对应的第一面积指标特征；
Figure BDA0002710826800000031
为第i个标准单元对应的面积；ki为第i个标准单元对应的数量占比；n为标准单元的类型总数，n和i为均正整数，且1≤i≤n；PA为布局布线后的面积使用率。
进一步地，所述第一属性信息包括标准单元对应的功耗和输入pin的电容；根据各标准单元对应的第一属性信息和对应的第一使用统计信息对待分析的标准单元库进行分析，获得所述待分析的标准单元库对应的第一功耗指标特征，包括：根据所述标准单元对应的功耗和输入pin的电容、所述标准单元对应的数量占比，获得所述待分析的标准单元库对应的第一功耗指标特征。
本申请实施例通过各个标准单元的功耗、输入pin的电容和各标准单元的数量占比，可以获得用来评价标准单元库的耗电情况的第一功耗指标特征。
进一步地，所述根据所述标准单元对应的功耗和输入pin的电容、所述标准单元对应的数量占比，获得所述待分析的标准单元库对应的第一功耗指标特征，包括：根据公式
Figure BDA0002710826800000032
计算获得待分析的标准单元库对应的第一功耗指标特征；其中，Power为所述待分析的标准单元库对应的第一功耗指标特征；
Figure BDA0002710826800000033
为第i个标准单元对应的功耗；
Figure BDA0002710826800000034
为第i个标准单元对应的输入pin的电容；V为输入电压；ki为第i个标准单元对应的数量占比；n为标准单元的类型总数，n和i为均正整数，且1≤i≤n。
进一步地，所述第一属性信息包括延迟值和建立时间；根据各标准单元对应的第一属性信息和对应的第一使用统计信息对待分析的标准单元库进行分析，获得所述待分析的标准单元库对应的第一性能指标特征，包括：根据目标路径对应的逻辑级数、各标准单元对应的延迟值和建立时间，获得所述待分析的标准单元库对应的第一性能指标特征。
本申请实施例通过目标路径对应的逻辑级数、各标准单元对应的延迟值和建立时间，获得待分析的标准单元库对应的第一性能指标特征，以实现对标准单元库性能的分析。
进一步地，所述待分析的标准单元库包括触发器，所述根据目标路径对应的逻辑级数、各标准单元对应的延迟值和建立时间，获得所述待分析的标准单元库对应的第一性能指标特征，包括：根据公式
Figure BDA0002710826800000041
计算获得待分析的标准单元库对应的第一性能指标特征；其中，Pform为待分析的标准单元库对应的第一性能指标特征；
Figure BDA0002710826800000042
为第个标准单元对应的延迟值；ki为第i个标准单元对应的数量占比；NUM为目标路径对应的逻辑级数；DDFF为所述触发器对应的延迟值；SDFF为所述触发器对应的建立时间；n为标准单元的类型总数，n和i为均正整数，且1≤i≤n。
进一步地，在获得所述待分析的标准单元库对应的指标之后，所述方法还包括：利用测试用例对对比标准单元库进行测试，获得所述对比标准单元库对应的指标数据；获取所述对比标准单元库中各对比标准单元的第二属性信息和第二使用统计信息；根据所述第二属性信息和所述第二使用统计信息获得所述对比标准单元库对应的第二指标特征；根据所述第一指标特征、所述第二指标特征和所述对比标准单元库对应的指标数据，获得所述待分析的标准单元库对应的指标数据。
进一步地，所述指标数据包括面积指标数据、功耗指标数据和性能指标数据；所述第二指标特征包括第二面积指标特征、第二功耗指标特征和第二性能指标特征；所述根据所述第一指标特征、所述第二指标特征和所述对比标准单元库对应的指标数据，获得所述待分析的标准单元库对应的指标数据，包括：根据所述第一面积指标特征、对比标准单元库的第二面积指标特征和面积指标数据计算获得所述待分析的标准单元库对应的面积指标数据；根据所述第一功耗指标特征、对比标准单元库的第二功耗指标特征和功耗指标数据计算获得所述待分析的标准单元库对应的功耗指标数据；根据所述第一性能指标特征、对比标准单元库的第二性能指标特征和性能指标数据计算获得所述待分析的标准单元库对应的性能指标数据。
本申请实施例通过利用对比标准单元库的指标数据、对比标准单元库的第二指标特征和待分析的标准单元库的第一指标特征可以获得对待分析的标准单元库的指标数据，可以用于产品研发早起阶段对指标的预测。
第二方面，本申请实施例提供一种标准单元库的指标分析装置，包括：信息获取模块，用于获取待分析的标准单元库对应的属性信息文件和第一使用统计信息；其中，所述待分析的标准单元库包括多个类型的标准单元；所述第一使用统计信息包括各标准单元对应的数量占比、布局布线后的面积使用率和目标路径对应的逻辑级数；提取模块，用于对所述属性信息文件进行特征提取，获得各标准单元对应的多个第一属性信息；分析模块，用于根据各标准单元对应的第一属性信息和第一使用统计信息对待分析的标准单元库进行分析，获得所述待分析的标准单元库对应的第一指标特征；所述第一指标特征包括第一面积指标特征、第一功耗指标特征和第一性能指标特征。
第三方面，本申请实施例提供一种电子设备，包括：处理器、存储器和总线，其中，所述处理器和所述存储器通过所述总线完成相互间的通信；所述存储器存储有可被所述处理器执行的程序指令，所述处理器调用所述程序指令能够执行第一方面的方法。
第四方面，本申请实施例提供一种非暂态计算机可读存储介质，包括：所述非暂态计算机可读存储介质存储计算机指令，所述计算机指令使所述计算机执行第一方面的方法。
本申请的其他特征和优点将在随后的说明书阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本申请实施例了解。本申请的目的和其他优点可通过在所写的说明书、权利要求书、以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例的技术方案，下面将对本申请实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本申请的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。
图1为本申请实施例提供的一种指标分析方法流程示意图；
图2为本申请实施例提供的路径示意图；
图3为本申请实施例提供的指标数据计算流程示意图；
图4为本申请实施例提供的分析装置结构示意图；
图5为本申请实施例提供的电子设备实体结构示意图。
具体实施方式
下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行描述。
为了便于理解本申请的技术方案，下面将对涉及到的相关概念进行解释。
标准单元，包括反相器、与门、寄存器、选择器、全加器等多种基本单元，每一个标准单元对应着多个不同尺寸(W/L)、不同驱动能力的单元电路，而且不同驱动强度电路都是基本尺寸或最小尺寸的整数倍。
标准单元库，包括版图库、符号库、电路逻辑库等。包含了组合逻辑、时序逻辑、功能单元和特殊类型单元。是集成电路芯片后端设计过程中的基础部分。运用预先设计好的优化的库单元进行自动逻辑综合和版图布局布线，可以极大地提高设计效率，加快产品进入市场的时间。一般每个工艺厂商在每个工艺下都会提供相应的标准单元。
图1为本申请实施例提供的一种指标分析方法流程示意图，如图1所示，可以理解的是，本申请实施例提供的分析方法可以应用于电子设备，其中电子设备具体可以为智能手机、平板电脑、计算机、个人数字助理(Personal Digital Assitant，PDA)等，该方法包括：
步骤101：获取待分析的标准单元库对应的属性信息文件和第一使用统计信息；其中，所述待分析的标准单元库包括多个类型的标准单元；所述第一使用统计信息包括各标准单元对应的数量占比、布局布线后的面积使用率和目标路径对应的逻辑级数；
步骤102：对所述属性信息文件进行特征提取，获得各标准单元对应的多个第一属性信息；
步骤103：根据各标准单元对应的第一属性信息和第一使用统计信息对待分析的标准单元库进行分析，获得所述待分析的标准单元库对应的第一指标特征；所述第一指标特征包括第一面积指标特征、第一功耗指标特征和第一性能指标特征。
在步骤101中，待分析的标准单元库是指在产品生产之前，新设计获得的标准单元库，由于标准单元库是新设计出来的，所以需要对该标准单元库的相关指标进行分析，以判断新设计获得的标准单元库的各个指标是否满足要求，因此，将新设计的标准单元库称为待分析的标准单元库。
在设计标准单元库时，研发人员还是基于设计的标准单元库撰写对应的技术文档，该技术文档中记录了待分析的标准单元库中所包括的所有的标准单元的属性参数，其中，待分析的标准单元库中包括多个类型的标准单元，每个类型的标准单元又包括多个具体参数有差异的标准单元。例如：对于反向器，可以有输入电压为1.0V的反相器，也可以有输入电压为1.5V的反相器。不同的标准单元对应的属性参数不同，以反相器为例，该技术文档中包括的反相器的属性参数包括：反相器的延迟值、面积、功耗、输入电容等。本申请实施例将该技术文档称为属性信息文件。
第一使用统计信息是指对待分析的标准单元库中各个类型的标准单元的数量占比、以及完成布局布线后的面积和目标路径上的逻辑级数。其中，标准单元的数量占比是指标准单元的数量占待分析的标准单元库中标准单元总数量的比值。例如：反相器(INV)的数量占比为22％，2输入与非门(NAND2)的数量占比为35％，2输入或非门(NOR2)的数量占比为20％，触发器(DFF)的数量占比为10％。布局布线后的面积使用率是指将标准单元库中的标准单元进行布局布线后，标准单元的面积占整个布局布线后的集成电路的面积的比值，即：标准单元面积/总面积。目标路径对应的逻辑级数是指布局布线后从输入到输出会有多条路径，将延迟最大的路径作为目标路径。以图2为例，从输入到输出包括两条路径，即：路径1：1-2和路径2：1-3-2，由于每个标准单元在运行时都会产生一定的延迟，因此，可以得知1-3-2这条路径的延迟相对较大，因此，将该路径作为目标路径。逻辑级数是指目标路径中包括标准单元的个数，上述的目标径路对应的逻辑级数为3。可以理解的是，图2只是一种示例，在具体的布局布线中，目标路径要比图2中所述的复杂，相应的，逻辑级数也更大。
可以理解的是，第一使用统计信息中的数量占比，面积使用率和逻辑级数也可以是通过统计现有的标准单元库的信息，然后选择平均数作为待分析的标准单元库的数量占比、面积使用率和逻辑级数。另外，第一使用统计信息还可以包括其他信息，例如：不同阈值、不同沟道长度标准单元的数量占比信息等。
在步骤102中，属性信息文件中包括了各个标准单元对应的参数信息，本申请实施例在对标准单元库进行指标分析时，可能只需要众多参数信息中的几种。为了能够快速从属性信息文件中获取到所需的各个标准单元对应的第一属性信息，可以预先构建正则表达式，通过正则表达式对属性信息文件中的文本进行匹配，从而实现第一属性信息的抽取。可以理解的是，除了使用正则表达式从属性信息文件中抽取第一属性信息外，还可以通过其他方式进行信息的抽取，例如：可以是正则加规则的方式、TextRank算法、插值算法等。
在步骤103中，第一指标特征为用于对待分析的标准单元库工作性能进行量化表示，包括第一面积指标特征、第一功耗指标特征和第一性能指标特征。其中，第一面积指标特征为用于表征待分析的标准单元库对应的面积大小的指标特征，其并不是表征标准单元库实际占用的面积。第一功耗指标特征为用于表征待分析的标准单元库对应的能耗大小的指标特征，例如：第一功耗指标特征越大，表征待分析的标准单元库的能耗越大，当然，也可以是第一功耗指标特征越大，表征待分析的标准单元库的能耗越小。具体根据实际的第一功耗指标特征的计算方法确定，本申请实施例对此不作具体限定。第一性能指标特征为表征待分析的标准单元库执行指令的快慢，可以通过延迟值来评估。
本申请实施例通过在设计阶段，根据各标准单元对应的第一属性信息和第一使用统计信息对待分析的标准单元库进行分析，获得待分析的标准单元库对应的第一指标特征，从而根据第一指标特征反映待分析的标准单元库的指标，不需要生产出对应的产品，从而缩短了研发的周期，提高了研发的效率。
在上述实施例的基础上，所述第一属性信息包括标准单元对应的面积；根据各标准单元对应的第一属性信息和对应的第一使用统计信息对待分析的标准单元库进行分析，获得所述待分析的标准单元库对应的第一面积指标特征，包括：
根据所述标准单元对应的面积、所述标准单元对应的数量占比和布局布线后的面积使用率，获得所述待分析的标准单元库对应的第一面积指标特征。
在具体的实施过程中，根据公式
Figure BDA0002710826800000101
计算获得待分析的标准单元库对应的第一面积指标特征；
其中，Area为标准单元库对应的第一面积指标特征；
Figure BDA0002710826800000102
为第i个标准单元对应的面积；xi表示第i个标准单元；ki为第i个标准单元对应的数量占比；n为标准单元的类型总数，n和i为均正整数，且1≤i≤n；PA为布局布线后的面积使用率。
以待分析的标准单元库中包括反相器、2输入与非门、2输入或非门和触发器为例，其中，反相器的数量占待分析的标准单元库的总数量22％，2输入与非门的数量占待分析的标准单元库的总数量35％，2输入或非门的数量占待分析的标准单元库的总数量20％，触发器的数量占待分析的标准单元库的总数量10％。那么，待分析的标准单元库的第一面积指标特征＝(AINV*0.22+ANAND2*0.35+ANOR2*0.2+ADFF*0.1)/面积使用率。其中，AINV为反相器的面积，ANAND2为2输入与非门的面积，ANOR2为2输入或非门的面积，ADFF为触发器的面积。
本申请实施例中，由于集成电路中，面积越小、实现的功能越多表征该集成电路的集成度越高，因此，通过利用标准单元对应的面积以及面积使用率计算获得待分析的标准单元库对应的第一面积指标，可以用来反映出待分析的标准单元库的面积占用情况。
在上述实施例的基础上，所述第一属性信息包括标准单元对应的功耗和输入pin的电容；根据各标准单元对应的第一属性信息和对应的第一使用统计信息对待分析的标准单元库进行分析，获得所述待分析的标准单元库对应的第一功耗指标特征，包括：
根据所述标准单元对应的功耗和输入pin的电容、所述标准单元对应的数量占比，获得所述待分析的标准单元库对应的第一功耗指标特征。
在具体的实施过程中，根据公式
Figure BDA0002710826800000111
计算获得待分析的标准单元库对应的第一功耗指标特征；其中，Power为标准单元库对应的第一功耗指标特征；
Figure BDA0002710826800000112
为第i个标准单元对应的功耗；
Figure BDA0002710826800000113
为第i个标准单元对应的输入pin的电容；xi表示第i个标准单元；V为输入电压；ki为第i个标准单元对应的数量占比；n为标准单元的类型总数，n和i为均正整数，且1≤i≤n。
仍以待分析的标准单元库中包括反相器、2输入与非门、2输入或非门和触发器为例，其中，反相器的数量占待分析的标准单元库的总数量22％，2输入与非门的数量占待分析的标准单元库的总数量35％，2输入或非门的数量占待分析的标准单元库的总数量20％，触发器的数量占待分析的标准单元库的总数量10％。那么，第一功耗指标特征＝(PINV+1/2CinINV*V2)*0.22+(PNAND2+1/2CinNAND2*V2)*0.35+(PNOR2+1/2CinNOR2*V2)*0.2+(PDFF+1/2CinDFF*V2)*0.1。其中，PINV为反相器的功耗，CinINV为反相器的输入pin的电容；PNAND2为2输入与非门的功耗，CinNAND2为2输入与非门的输入pin的电容；PNOR2为2输入或非门的功耗，CinNOR2为2输入或非门的输入pin的电容；PDFF为触发器的功耗，CinDFF为触发器的输入pin的电容；V为输入电压。
本申请实施例通过各个标准单元的功耗、输入pin的电容和各标准单元的数量占比，可以获得用来评价标准单元库的耗电情况的第一功耗指标特征。
在上述实施例的基础上，所述第一属性信息包括延迟值和建立时间；根据各标准单元对应的第一属性信息和对应的第一使用统计信息对待分析的标准单元库进行分析，获得所述待分析的标准单元库对应的第一性能指标特征，包括：
根据目标路径对应的逻辑级数、各标准单元对应的延迟值和建立时间，获得所述待分析的标准单元库对应的第一性能指标特征。
在具体的实施过程中，根据公式
Figure BDA0002710826800000121
计算获得待分析的标准单元库对应的第一性能指标特征；
其中，Pform为待分析的标准单元库对应的第一性能指标特征；
Figure BDA0002710826800000122
为第个标准单元对应的延迟值；ki为第i个标准单元对应的数量占比；NUM为目标路径对应的逻辑级数；DDFF为所述触发器对应的延迟值；SDFF为所述触发器对应的建立时间；n为标准单元的类型总数，n和i为均正整数，且1≤i≤n。
仍以待分析的标准单元库中包括反相器、2输入与非门、2输入或非门和触发器为例，其中，反相器的数量占待分析的标准单元库的总数量22％，2输入与非门的数量占待分析的标准单元库的总数量35％，2输入或非门的数量占待分析的标准单元库的总数量20％，触发器的数量占待分析的标准单元库的总数量10％。那么，第一性能指标特征＝(DINV*0.22+DNAND2*0.35+DNOR2*0.2+DDFF*0.1)*NUM+DDFF+SDFF。其中，DINV为反相器的延迟值，DNAND2为2输入与非门的延迟值，DNOR2为2输入或非门的延迟值，DDFF为触发器的延迟值，NUM为目标路径对应的逻辑级数，SDFF为触发器的建立时间。
本申请实施例通过目标路径对应的逻辑级数、各标准单元对应的延迟值和建立时间，获得待分析的标准单元库对应的第一性能指标特征，以实现对标准单元库性能的分析。
在上述实施例的基础上，在获得所述待分析的标准单元库对应的指标之后，所述方法还包括：
利用测试用例对对比标准单元库进行测试，获得所述对比标准单元库对应的指标数据；
获取所述对比标准单元库中各对比标准单元的第二属性信息和第二使用统计信息；
根据所述第二属性信息和所述第二使用统计信息获得所述对比标准单元库对应的第二指标特征；
根据所述第一指标特征、所述第二指标特征和所述对比标准单元库对应的指标数据，获得所述待分析的标准单元库对应的指标数据。
在具体的实施过程中，对比标准单元库是指现有的标准单元库，可以是正在被生产并使用的标准单元库，也可以是生产未使用的标准单元库。在电子设备中预先存储有对对比标准单元库进行测试的测试用例，该测试用例用于向对比标准单元库输入激励，使得对比标准单元库中尽可能多的标准单元处于工作状态，从而通过该测试用例实现对对比标准单元库的测试，获得对比标准单元库对应的指标数据，可以理解的是，该指标数据为该对比标准单元真实的指标。
对比标准单元库对应的各对比标准单元的第二属性信息的获取，可以与上述实施例中待分析的标准单元库中各标准单元的第一属性信息的获取方式一致，此处不再赘述。第二使用统计信息与上述实施例中第一使用统计信息的获得方式一致，此处不再赘述。
并且，根据所述第二属性信息和所述第二使用统计信息获得所述对比标准单元库对应的第二指标特征的方式与上述实施例中计算第一指标特征的方式一致，此处不再赘述。可以理解的是，第二指标特征是对比标准单元库对应的指标的特征值，并不是真实的指标数据。
在获得了第一指标特征、第二指标特征和对比标准单元库对应的指标数据之后，可以基于以上信息计算获得待分析的标准单元库对应的指标数据。
具体的计算方法如图3所示，包括：
步骤301：对对比标准单元库进行测试；利用测试用于对对比标准单元库进行测试，获得对比标准单元库的指标数据；
步骤302：获取第二属性信息；对比标准单元库中各对比标准单元的第二属性信息获取方式与上述实施例一致，此处不再赘述；
步骤303：获取产品的统计信息；统计对比标准单元库对应的第二使用统计信息，另外，还可以统计待分析的标准单元库的第一使用统计信息，也可以将其他现有的标准单元库的统计信息作为第一使用统计信息和第二使用统计信息。
步骤304：计算对比标准单元库的第二指标特征；利用对第一指标特征进行计算的方式计算第二指标特征；
步骤305：获取第一属性信息；获取第一属性信息的方式与上述实施例一致，此处不再赘述；
步骤306：计算待分析的标准单元库的第一指标特征；待分析的标准单元库的第一指标特征的计算方法与上述实施例一致，此处不再赘述；
步骤307：指标特征对比；由于第一指标特征包括第一面积指标特征、第一功耗指标特征和第一性能指标特征，第二指标特征包括第二面积指标特征、第二功耗指标特征和第二性能指标特征。指标特征对比包括第一面积指标特征与第二面积指标特征的比值、第一功耗指标特征和第二功耗指标特征的比值、第一性能指标特征和第二性能指标特征的比值。
步骤308：获得待分析的标准单元库的指标数据；将第一面积指标特征与第二面积指标特征的比值与对比标准的单元库的面积指标数据的乘积作为待分析的标准单元库的面积指标数据；将第一功耗指标特征和第二功耗指标特征的比值与对比标准的单元库的功耗指标数据的乘积作为待分析的标准单元库的功耗指标数据；将第一性能指标特征和第二性能指标特征的比值与对比标准的单元库的性能指标数据的乘积作为待分析的标准单元库的性能指标数据。
应当说明的是，上述实施例中的步骤301-步骤308的执行顺序只是一种示例，在具体实施过程中，可以根据实际情况确定执行顺序，本申请实施例对此不做具体限定。
本申请实施例通过利用对比标准单元库的指标数据、对比标准单元库的第二指标特征和待分析的标准单元库的第一指标特征可以获得对待分析的标准单元库的指标数据，可以用于产品研发早起阶段对指标的预测。
图4为本申请实施例提供的分析装置结构示意图，该装置可以是电子设备上的模块、程序段或代码。应理解，该装置与上述图1方法实施例对应，能够执行图1方法实施例涉及的各个步骤，该装置具体的功能可以参见上文中的描述，为避免重复，此处适当省略详细描述。该装置包括：信息获取模块401、提取模块402和分析模块403，其中：
信息获取模块401用于获取待分析的标准单元库对应的属性信息文件和第一使用统计信息；其中，所述待分析的标准单元库包括多个类型的标准单元；所述第一使用统计信息包括各标准单元对应的数量占比、布局布线后的面积使用率和目标路径对应的逻辑级数；提取模块402用于对所述属性信息文件进行特征提取，获得各标准单元对应的多个第一属性信息；分析模块403用于根据各标准单元对应的第一属性信息和第一使用统计信息对待分析的标准单元库进行分析，获得所述待分析的标准单元库对应的第一指标特征；所述第一指标特征包括第一面积指标特征、第一功耗指标特征和第一性能指标特征。
在上述实施例的基础上，所述第一属性信息包括标准单元对应的面积；分析模块403具体用于：
根据所述标准单元对应的面积、所述标准单元对应的数量占比和布局布线后的面积使用率，获得所述待分析的标准单元库对应的第一面积指标特征。
在上述实施例的基础上，分析模块403具体用于：
根据公式
Figure BDA0002710826800000161
计算获得待分析的标准单元库对应的第一面积指标特征；
其中，Area为所述待分析的标准单元库对应的第一面积指标特征；
Figure BDA0002710826800000162
为第i个标准单元对应的面积；ki为第i个标准单元对应的数量占比；n为标准单元的类型总数，n和i为均正整数，且1≤i≤n；PA为布局布线后的面积使用率。
在上述实施例的基础上，第一属性信息包括标准单元对应的功耗和输入pin的电容；分析模块403具体用于：
根据所述标准单元对应的功耗和输入pin的电容、所述标准单元对应的数量占比，获得所述待分析的标准单元库对应的第一功耗指标特征。
在上述实施例的基础上，分析模块403具体用于：
根据公式
Figure BDA0002710826800000163
计算获得待分析的标准单元库对应的第一功耗指标特征；
其中，Power为所述待分析的标准单元库对应的第一功耗指标特征；
Figure BDA0002710826800000164
为第i个标准单元对应的功耗；
Figure BDA0002710826800000165
为第i个标准单元对应的输入pin的电容；V为输入电压；ki为第i个标准单元对应的数量占比；n为标准单元的类型总数，n和i为均正整数，且1≤i≤n。
在上述实施例的基础上，第一属性信息包括延迟值和建立时间；分析模块403具体用于：
根据目标路径对应的逻辑级数、各标准单元对应的延迟值和建立时间，获得所述待分析的标准单元库对应的第一性能指标特征。
在上述实施例的基础上，分析模块403具体用于：
根据公式
Figure BDA0002710826800000171
计算获得待分析的标准单元库对应的第一性能指标特征；
其中，Pform为待分析的标准单元库对应的第一性能指标特征；
Figure BDA0002710826800000172
为第个标准单元对应的延迟值；ki为第i个标准单元对应的数量占比；NUM为目标路径对应的逻辑级数；DDFF为所述触发器对应的延迟值；SDFF为所述触发器对应的建立时间；n为标准单元的类型总数，n和i为均正整数，且1≤i≤n。
在上述实施例的基础上，该分析装置还包括指标数据计算模块，用于：
利用测试用例对对比标准单元库进行测试，获得所述对比标准单元库对应的指标数据；
获取所述对比标准单元库中各对比标准单元的第二属性信息和第二使用统计信息；
根据所述第二属性信息和所述第二使用统计信息获得所述对比标准单元库对应的第二指标特征；
根据所述第一指标特征、所述第二指标特征和所述对比标准单元库对应的指标数据，获得所述待分析的标准单元库对应的指标数据。
在上述实施例的基础上，指标数据包括面积指标数据、功耗指标数据和性能指标数据；所述第二指标特征包括第二面积指标特征、第二功耗指标特征和第二性能指标特征；指标数据计算模块具体用于：
根据所述第一面积指标特征、对比标准单元库的第二面积指标特征和面积指标数据计算获得所述待分析的标准单元库对应的面积指标数据；
根据所述第一功耗指标特征、对比标准单元库的第二功耗指标特征和功耗指标数据计算获得所述待分析的标准单元库对应的功耗指标数据；
根据所述第一性能指标特征、对比标准单元库的第二性能指标特征和性能指标数据计算获得所述待分析的标准单元库对应的性能指标数据。
图5为本申请实施例提供的电子设备实体结构示意图，如图5所示，所述电子设备，包括：处理器(processor)501、存储器(memory)502和总线503；其中，
所述处理器501和存储器502通过所述总线503完成相互间的通信；
所述处理器501用于调用所述存储器502中的程序指令，以执行上述各方法实施例所提供的方法，例如包括：获取待分析的标准单元库对应的属性信息文件和第一使用统计信息；其中，所述待分析的标准单元库包括多个类型的标准单元；所述第一使用统计信息包括各标准单元对应的数量占比、布局布线后的面积使用率和目标路径对应的逻辑级数；对所述属性信息文件进行特征提取，获得各标准单元对应的多个第一属性信息；根据各标准单元对应的第一属性信息和第一使用统计信息对待分析的标准单元库进行分析，获得所述待分析的标准单元库对应的第一指标特征；所述第一指标特征包括第一面积指标特征、第一功耗指标特征和第一性能指标特征。
处理器501可以是一种集成电路芯片，具有信号处理能力。上述处理器501可以是通用处理器，包括中央处理器(Central Processing Unit，CPU)、网络处理器(NetworkProcessor，NP)等；还可以是数字信号处理器(DSP)、专用集成电路(ASIC)、现成可编程门阵列(FPGA)或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件。其可以实现或者执行本申请实施例中公开的各种方法、步骤及逻辑框图。通用处理器可以是微处理器或者该处理器也可以是任何常规的处理器等。
存储器502可以包括但不限于随机存取存储器(Random Access Memory，RAM)，只读存储器(Read Only Memory，ROM)，可编程只读存储器(Programmable Read-OnlyMemory，PROM)，可擦除只读存储器(Erasable Programmable Read-Only Memory，EPROM)，电可擦除只读存储器(Electrically Erasable Programmable Read-Only Memory，EEPROM)等。
本实施例公开一种计算机程序产品，所述计算机程序产品包括存储在非暂态计算机可读存储介质上的计算机程序，所述计算机程序包括程序指令，当所述程序指令被计算机执行时，计算机能够执行上述各方法实施例所提供的方法，例如包括：获取待分析的标准单元库对应的属性信息文件和第一使用统计信息；其中，所述待分析的标准单元库包括多个类型的标准单元；所述第一使用统计信息包括各标准单元对应的数量占比、布局布线后的面积使用率和目标路径对应的逻辑级数；对所述属性信息文件进行特征提取，获得各标准单元对应的多个第一属性信息；根据各标准单元对应的第一属性信息和第一使用统计信息对待分析的标准单元库进行分析，获得所述待分析的标准单元库对应的第一指标特征；所述第一指标特征包括第一面积指标特征、第一功耗指标特征和第一性能指标特征。
本实施例提供一种非暂态计算机可读存储介质，所述非暂态计算机可读存储介质存储计算机指令，所述计算机指令使所述计算机执行上述各方法实施例所提供的方法，例如包括：获取待分析的标准单元库对应的属性信息文件和第一使用统计信息；其中，所述待分析的标准单元库包括多个类型的标准单元；所述第一使用统计信息包括各标准单元对应的数量占比、布局布线后的面积使用率和目标路径对应的逻辑级数；对所述属性信息文件进行特征提取，获得各标准单元对应的多个第一属性信息；根据各标准单元对应的第一属性信息和第一使用统计信息对待分析的标准单元库进行分析，获得所述待分析的标准单元库对应的第一指标特征；所述第一指标特征包括第一面积指标特征、第一功耗指标特征和第一性能指标特征。
在本申请所提供的实施例中，应该理解到，所揭露装置和方法，可以通过其它的方式实现。以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如，所述单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，又例如，多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些通信接口，装置或单元的间接耦合或通信连接，可以是电性，机械或其它的形式。
另外，作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。
再者，在本申请各个实施例中的各功能模块可以集成在一起形成一个独立的部分，也可以是各个模块单独存在，也可以两个或两个以上模块集成形成一个独立的部分。
在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。
以上所述仅为本申请的实施例而已，并不用于限制本申请的保护范围，对于本领域的技术人员来说，本申请可以有各种更改和变化。凡在本申请的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本申请的保护范围之内。

Claims (12)

1.一种标准单元库的指标分析方法，其特征在于，包括：
获取待分析的标准单元库对应的属性信息文件和第一使用统计信息；其中，所述待分析的标准单元库包括多个类型的标准单元；所述第一使用统计信息包括各标准单元对应的数量占比、布局布线后的面积使用率和目标路径对应的逻辑级数；
对所述属性信息文件进行特征提取，获得各标准单元对应的多个第一属性信息；
根据各标准单元对应的第一属性信息和第一使用统计信息对待分析的标准单元库进行分析，获得所述待分析的标准单元库对应的第一指标特征；所述第一指标特征包括第一面积指标特征、第一功耗指标特征和第一性能指标特征。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一属性信息包括标准单元对应的面积；根据各标准单元对应的第一属性信息和对应的第一使用统计信息对待分析的标准单元库进行分析，获得所述待分析的标准单元库对应的第一面积指标特征，包括：
根据所述标准单元对应的面积、所述标准单元对应的数量占比和布局布线后的面积使用率，获得所述待分析的标准单元库对应的第一面积指标特征。
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述标准单元对应的面积、所述标准单元对应的数量占比和布局布线后的面积使用率，获得所述待分析的标准单元库对应的第一面积指标特征，包括：
根据公式
Figure FDA0002710826790000011
计算获得待分析的标准单元库对应的第一面积指标特征；
其中，Area为所述待分析的标准单元库对应的第一面积指标特征；
Figure FDA0002710826790000021
为第i个标准单元对应的面积；ki为第i个标准单元对应的数量占比；n为标准单元的类型总数，n和i为均正整数，且1≤i≤n；PA为布局布线后的面积使用率。
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一属性信息包括标准单元对应的功耗和输入pin的电容；根据各标准单元对应的第一属性信息和对应的第一使用统计信息对待分析的标准单元库进行分析，获得所述待分析的标准单元库对应的第一功耗指标特征，包括：
根据所述标准单元对应的功耗和输入pin的电容、所述标准单元对应的数量占比，获得所述待分析的标准单元库对应的第一功耗指标特征。
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述根据所述标准单元对应的功耗和输入pin的电容、所述标准单元对应的数量占比，获得所述待分析的标准单元库对应的第一功耗指标特征，包括：
根据公式
Figure FDA0002710826790000022
计算获得待分析的标准单元库对应的第一功耗指标特征；
其中，Power为所述待分析的标准单元库对应的第一功耗指标特征；
Figure FDA0002710826790000023
为第i个标准单元对应的功耗；
Figure FDA0002710826790000024
为第i个标准单元对应的输入pin的电容；V为输入电压；ki为第i个标准单元对应的数量占比；n为标准单元的类型总数，n和i为均正整数，且1≤i≤n。
6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一属性信息包括延迟值和建立时间；根据各标准单元对应的第一属性信息和对应的第一使用统计信息对待分析的标准单元库进行分析，获得所述待分析的标准单元库对应的第一性能指标特征，包括：
根据目标路径对应的逻辑级数、各标准单元对应的延迟值和建立时间，获得所述待分析的标准单元库对应的第一性能指标特征。
7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述待分析的标准单元库包括触发器，所述根据目标路径对应的逻辑级数、各标准单元对应的延迟值和建立时间，获得所述待分析的标准单元库对应的第一性能指标特征，包括：
根据公式
Figure FDA0002710826790000031
计算获得待分析的标准单元库对应的第一性能指标特征；
其中，Pform为待分析的标准单元库对应的第一性能指标特征；
Figure FDA0002710826790000032
为第个标准单元对应的延迟值；ki为第i个标准单元对应的数量占比；NUM为目标路径对应的逻辑级数；DDFF为所述触发器对应的延迟值；SDFF为所述触发器对应的建立时间；n为标准单元的类型总数，n和i为均正整数，且1≤i≤n。
8.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在获得所述待分析的标准单元库对应的指标之后，所述方法还包括：
利用测试用例对对比标准单元库进行测试，获得所述对比标准单元库对应的指标数据；
获取所述对比标准单元库中各对比标准单元的第二属性信息和第二使用统计信息；
根据所述第二属性信息和所述第二使用统计信息获得所述对比标准单元库对应的第二指标特征；
根据所述第一指标特征、所述第二指标特征和所述对比标准单元库对应的指标数据，获得所述待分析的标准单元库对应的指标数据。
9.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，所述指标数据包括面积指标数据、功耗指标数据和性能指标数据；所述第二指标特征包括第二面积指标特征、第二功耗指标特征和第二性能指标特征；
所述根据所述第一指标特征、所述第二指标特征和所述对比标准单元库对应的指标数据，获得所述待分析的标准单元库对应的指标数据，包括：
根据所述第一面积指标特征、对比标准单元库的第二面积指标特征和面积指标数据计算获得所述待分析的标准单元库对应的面积指标数据；
根据所述第一功耗指标特征、对比标准单元库的第二功耗指标特征和功耗指标数据计算获得所述待分析的标准单元库对应的功耗指标数据；
根据所述第一性能指标特征、对比标准单元库的第二性能指标特征和性能指标数据计算获得所述待分析的标准单元库对应的性能指标数据。
10.一种标准单元库的指标分析装置，其特征在于，包括：
信息获取模块，用于获取待分析的标准单元库对应的属性信息文件和第一使用统计信息；其中，所述待分析的标准单元库包括多个类型的标准单元；所述第一使用统计信息包括各标准单元对应的数量占比、布局布线后的面积使用率和目标路径对应的逻辑级数；
提取模块，用于对所述属性信息文件进行特征提取，获得各标准单元对应的多个第一属性信息；
分析模块，用于根据各标准单元对应的第一属性信息和第一使用统计信息对待分析的标准单元库进行分析，获得所述待分析的标准单元库对应的第一指标特征；所述第一指标特征包括第一面积指标特征、第一功耗指标特征和第一性能指标特征。
11.一种电子设备，其特征在于，包括：处理器、存储器和总线，其中，
所述处理器和所述存储器通过所述总线完成相互间的通信；
所述存储器存储有可被所述处理器执行的程序指令，所述处理器调用所述程序指令能够执行如权利要求1-9任一项所述的方法。
12.一种非暂态计算机可读存储介质，其特征在于，所述非暂态计算机可读存储介质存储计算机指令，所述计算机指令被计算机运行时，使所述计算机执行如权利要求1-9任一项所述的方法。
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