CN112146601B - 基于剂量场检测的辐射成像方法及装置 - Google Patents

Abstract

本公开公开了一种基于剂量场检测的辐射成像方法及装置。其中，基于剂量场检测的辐射成像方法包括：获取采用X射线扫描待检测物体时待检测物体在X射线对应的辐照能量下的质量厚度数据；根据待检测物体对应的质量厚度分类条件，对质量厚度数据中的各个质量厚度值进行分类；其中，质量厚度分类条件根据待检测物体对应的质量厚度值和电子束辐照剂量分布数据的映射关系数据确定；根据各个质量厚度值及其所属分类、电子束辐照剂量分布数据，生成用于显示待检测物体的质量厚度和电子束辐照剂量分布数据的辐射图像。根据本公开实施例，使得测试人员能够直观地根据辐射图像确定剂量不均匀度是否符合要求，提高测试效率、降低测试成本。

Description

基于剂量场检测的辐射成像方法及装置

技术领域

本公开属于辐照加工技术领域，尤其涉及一种基于剂量场检测的辐射成像方法及装置。

背景技术

辐照加工是利用物质在受到射线照射时所产生的物理效应、化学效应和生物效应，达到预定的目标效果，可以用于食品保鲜、医疗保健品消毒灭菌、包装材料消毒灭菌、化妆品灭菌、及材料改性等。

随着电子技术、加速器技术的进展，高能电子加速器辐照装置日趋成熟。由于加速器辐照具有高效快速、工艺转化便捷的优点，以及关机无射线、无放射性废源处理的优势，受到各个行业和用户的欢迎，近年来发展迅速。

然而，采用加速器电子束进行辐照加工时，由于电子束穿透力有限，对于有相当厚度的货物而言，货物内部的剂量分布和控制尤为重要，一旦货物包装尺寸和装载方式与电子束穿透能力不匹配，很容易出现穿不透、剂量场不达标的辐照质量事故。因此，在利用加速器电子束进行辐照加工时，货物中的剂量分布(剂量最大值、剂量最小值、剂量不均匀度)是辐照加工工艺、生产方案、质量控制的关键。

为了使剂量不均匀度符合要求，从而使电子束能够穿透被照射的货物，目前国内外通行的方法是通过货物开箱检查，将剂量计埋入货物内来测试其剂量不均匀度，导致测试效率低、成本高，同时，对测试人员的技术要求也很高。

发明内容

本公开实施例提供一种基于剂量场检测的辐射成像方法及装置，使得测试人员能够直观地根据辐射图像确定剂量不均匀度是否符合要求，提高测试效率、降低测试成本。

一方面，本公开实施例提供一种基于剂量场检测的辐射成像方法，包括：

获取采用X射线扫描待检测物体时待检测物体在X射线对应的辐照能量下的质量厚度数据；

根据待检测物体对应的质量厚度分类条件，对质量厚度数据中的各个质量厚度值进行分类；其中，质量厚度分类条件根据待检测物体对应的质量厚度值和电子束辐照剂量分布数据的映射关系数据确定；

根据各个质量厚度值及其所属分类、电子束辐照剂量分布数据，生成用于显示待检测物体的质量厚度和电子束辐照剂量分布数据的辐射图像。

进一步地，确定质量厚度分类条件的方法包括：

根据映射关系数据，确定各个质量厚度值对应的剂量不均匀度值；

根据各个质量厚度值及其对应的剂量不均匀度值，建立映射关系曲线；

在映射关系曲线中确定多个临界点，并根据多个临界点将质量厚度值分为多类。

进一步地，在映射关系曲线中确定多个临界点包括：

若为单面辐照，根据预设的不均匀度最大值，在映射关系曲线中确定多个临界点；

若为双面辐照，根据预设的不均匀度最大值和映射关系曲线的谷值，在映射关系曲线中确定多个临界点。

进一步地，根据各个质量厚度值及其所属分类、电子束辐照剂量分布数据，生成用于显示待检测物体的质量厚度和电子束辐照剂量分布数据的辐射图像，包括：

根据各个质量厚度值及其所属分类，分别赋予各个质量厚度值对应的显示图案；

根据各个质量厚度值对应的显示图案，生成待检测物体的辐射图像。

进一步地，根据各个质量厚度值及其所属分类、电子束辐照剂量分布数据，生成用于显示待检测物体的质量厚度和电子束辐照剂量分布数据的辐射图像，还包括：

获取辐射图像中的目标像素点或目标区域对应的质量厚度值；

在映射关系数据中查询质量厚度值对应的电子束辐照剂量分布数据；

在目标区域显示电子束辐照剂量分布数据。

进一步地，根据各个质量厚度值及其所属分类、电子束辐照剂量分布数据，生成用于显示待检测物体的质量厚度和电子束辐照剂量分布数据的辐射图像，还包括：

根据质量厚度值对应的电子束辐照剂量分布数据，确定目标像素点或目标区域对应的剂量不均匀度值；

根据剂量不均匀度值与预设的不均匀度最大值的比较结果，确定辐照效果；

在目标区域显示剂量不均匀度值和所述辐照效果。

另一方面，本公开实施例提供了一种基于剂量场检测的辐射成像装置，装置包括：

数据获取单元，其配置为获取采用X射线扫描待检测物体时待检测物体在X射线对应的辐照能量下的质量厚度数据；

数据分类单元，其配置为根据待检测物体对应的质量厚度分类条件，对质量厚度数据中的各个质量厚度值进行分类；其中，质量厚度分类条件根据待检测物体对应的质量厚度值和电子束辐照剂量分布数据的映射关系数据确定；

图像生成单元，其配置为根据各个质量厚度值及其所属分类、电子束辐照剂量分布数据，生成用于显示待检测物体的质量厚度和电子束辐照剂量分布数据的辐射图像。

本公开实施例的基于剂量场检测的辐射成像方法及装置，能够获取待检测物体的质量厚度数据，并且直接利用与电子束辐照剂量分布数据相关的质量厚度分类条件对待检测物体的质量厚度数据进行分类，然后根据各个质量厚度值及其所属分类、电子束辐照剂量分布数据生成辐射图像，使得测试人员能够直观地根据辐射图像确定剂量不均匀度是否符合要求，提高测试效率、降低测试成本。

附图说明

为了更清楚地说明本公开实施例的技术方案，下面将对本公开实施例中所需要使用的附图作简单的介绍，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本公开一个实施例提供的辐射成像方法的流程示意图；

图2是本公开一个实施例提供的映射关系数据的获取方法的流程示意图；

图3是本公开一个实施例提供的确定质量厚度分类条件的方法的流程示意图；

图4是本公开实施例中双面辐照的映射关系曲线图；

图5是本公开实施例中单面辐照的映射关系曲线图；

图6是本公开一个实施例提供的生成待检测物体的辐射图像的方法的流程示意图；

图7是本公开另一个实施例提供的生成待检测物体的辐射图像的方法的流程示意图；

图8是本公开一个实施例的辐射图像和目标区域的位置关系图；

图9是本公开又一个实施例提供的生成待检测物体的辐射图像的方法的流程示意图；

图10是本公开一个实施例提供的辐射成像装置的结构示意图。

具体实施方式

下面将详细描述本公开的各个方面的特征和示例性实施例，为了使本公开的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及具体实施例，对本公开进行进一步详细描述。应理解，此处所描述的具体实施例仅被配置为解释本公开，并不被配置为限定本公开。对于本领域技术人员来说，本公开可以在不需要这些具体细节中的一些细节的情况下实施。下面对实施例的描述仅仅是为了通过示出本公开的示例来提供对本公开更好的理解。

需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。

为了解决现有技术问题，本公开实施例提供了一种基于剂量场检测的辐射成像方法及装置。下面首先对本公开实施例所提供的基于剂量场检测的辐射成像方法进行介绍。

图1示出了本公开一个实施例提供的辐射成像方法的流程示意图。如图1所示，该辐射成像方法包括：

S110：获取采用X射线扫描待检测物体时待检测物体在X射线对应的辐照能量下的质量厚度数据；

S120：根据待检测物体对应的质量厚度分类条件，对质量厚度数据中的各个质量厚度值进行分类；其中，质量厚度分类条件根据待检测物体对应的质量厚度值和电子束辐照剂量分布数据的映射关系数据确定；

S130：根据各个质量厚度值及其所属分类、电子束辐照剂量分布数据，生成用于显示待检测物体的质量厚度和电子束辐照剂量分布数据的辐射图像。

因此，本公开实施例能够获取待检测物体的质量厚度数据，并且直接利用与电子束辐照剂量分布数据相关的质量厚度分类条件对待检测物体的质量厚度数据进行分类，然后根据各个质量厚度值及其所属分类、电子束辐照剂量分布数据生成辐射图像，使得测试人员能够直观地根据辐射图像确定剂量不均匀度是否符合要求，提高测试效率、降低测试成本。在本公开实施例中，辐射图像例如包括待检测物体的质量厚度分布图。

在本公开实施例的步骤S110中，可以采用X射线设备作为扫描装置，X射线设备发射与进行辐照加工的电子束具有相同辐照能量的X射线扫描待检测物体，得到辐射成像转化数据，并根据辐射成像转换数据与质量厚度数据的转化算法，计算到待检测物体的质量厚度数据。其中，质量厚度数据包括待检测物体的X射线照射面的各个位置对应的质量厚度值。

图2示出了本公开一个实施例提供的映射关系数据的获取方法的流程示意图。如图2所示，映射关系数据的获取方法可以包括：

S210：获取待检测物体对应的质量厚度值和电子束辐照剂量分布数据的理论数据；

S220：利用待检测物体对应的质量厚度值和电子束辐照剂量分布数据的测量数据修正理论数据，获得映射关系数据。

在本公开实施例的步骤S210中，可以采用蒙卡算法，获取利用与进行辐照加工的电子束具有相同辐照能量的电子束照射待检测物体对应的模拟材料时，待检测物体对应的质量厚度值和电子束辐照剂量分布数据的理论数据。其中，进行辐照加工的电子束的辐照能量可以在1～20MeV的范围之间。

在本公开实施例中，电子束辐照剂量分布数据可以包括剂量最大值与表面剂量的比值、剂量最小值与表面剂量的比值、剂量不均匀度等数据。

在本公开实施例的步骤S220中，获取利用与进行辐照加工的电子束具有相同辐照能量的电子束照射待检测物体对应的实际产品时，待检测物体对应的质量厚度值和电子束辐照剂量分布数据的测量数据。然后，将理论数据和测量数据采用Excel或者MATLAB数据处理软件中进行拟合，得出拟合公式，利用拟合公式修正理论数据，修正后的数据即为映射关系数据。具体地，拟合公式可以为多项式拟合，如线性拟合、指数拟合、幂拟合、对数拟合。

图3示出了本公开一个实施例提供的确定质量厚度分类条件的方法的流程示意图。如图3所示，确定质量厚度分类条件的方法包括：

S310：根据映射关系数据，确定各个质量厚度值对应的剂量不均匀度值；

S320：根据各个质量厚度值及其对应的剂量不均匀度值，建立映射关系曲线；

S330：在映射关系曲线中确定多个临界点，并根据多个临界点将质量厚度值分为多类。

在本公开实施例的步骤S310中，可以利用各个质量厚度值对应的电子束辐照剂量分布数据中的剂量最大值与表面剂量的比值除以剂量最小值与表面剂量的比值，得到各个质量厚度值对应的剂量不均匀度值。

在本公开实施例的步骤S320中，可以将质量厚度值作为横坐标，剂量不均匀度值作为纵坐标，根据各个质量厚度值及其对应的剂量不均匀度值拟合得到映射关系曲线(质量厚度-剂量不均匀度曲线)。如图4所示，为在双面辐照时的映射关系曲线。如图5所示，为在单面辐照时的映射关系曲线。

在本公开实施例的步骤S330中，在映射关系曲线中确定多个临界点包括：

若为单面辐照，根据预设的不均匀度最大值，在映射关系曲线中确定多个临界点；

若为双面辐照，根据预设的不均匀度最大值和映射关系曲线的谷值，在映射关系曲线中确定多个临界点。

下面，将根据双面辐照和单面辐照两种情况对确定临界点的具体方法进行详细说明。

第一种情况(双面辐照)

在此种情况中，可以首先将预设的不均匀度最大值对应的质量厚度值分别确定为临界点At、Bt、Dt，然后确定临界点Bt和临界点Dt之间的谷值作为临界点Ct。

由于临界点Ct的具体位置为：映射关系曲线由单调上升到最高点后，开始单调下降，下降到最低点后，最低点前后有一小段数值变化不大的区域，该段区域的最末尾对应的质量厚度即可选为临界点Ct。在临界点Ct以后，映射关系曲线又呈现快速单调上升形态。因此，临界点Ct的具体确定方法为：找到映射关系曲线中单调下降的剂量不均匀度值的最小值后，其后的相邻各点的剂量不均匀度值互相作减法，当出现差值绝对值≧0.01时，该剂量不均匀度值对应的质量厚度值就是临界点Ct。

第二种情况(单面辐照)

在此种情况中，可以首先将预设的不均匀度最大值对应的质量厚度值分别确定为临界点Dt，然后将临界点Dt之前的质量厚度值等分得到三个等分点，这三个等分点即为临界点At、Bt、Ct。

在本公开实施例的步骤S330中，可以根据临界点At、Bt、Ct、Dt将质量厚度值分为A、B、C、D、E五类质量厚度。其中，A类质量厚度包括0至临界点At之间的质量厚度值，B类质量厚度包括临界点At至临界点Bt之间的质量厚度值，C类质量厚度包括临界点Bt至临界点Ct之间的质量厚度值，D类质量厚度包括临界点Ct至临界点Dt之间的质量厚度值，E类质量厚度包括质量厚度值大于临界点Dt的质量厚度值。

当待检测物体接受单面辐照时，仅有E类质量厚度的剂量不均匀度值不符合要求，电子束无法照透待检测物体。当待检测物体接受双面辐照时，A类质量厚度可用于双面辐照且可以减少单次表面剂量的辐照，B类质量厚度可双面照透但剂量不均匀度偏高，C类质量厚度为双面辐照较佳的质量厚度范围；D类质量厚度为双面辐照可行的质量厚度范围，E类质量厚度为剂量不均匀度值不符合要求，电子束无法照透待检测物体。

图6示出了本公开一个实施例提供的生成待检测物体的辐射图像的方法的流程示意图。如图6所示，步骤S130：根据各个质量厚度值及其所属分类、电子束辐照剂量分布数据，生成用于显示待检测物体的质量厚度和电子束辐照剂量分布数据的辐射图像，包括：

S131：根据各个质量厚度值及其所属分类，分别赋予各个质量厚度值对应的显示图案；

S132：根据各个质量厚度值对应的显示图案，生成待检测物体的辐射图像。

在本公开实施例的步骤S131中，可以根据各个质量厚度值及其所属分类，分别赋予各个质量厚度值对应的颜色和色彩深度。例如，A类质量厚度的颜色为绿色，B类质量厚度的颜色为蓝色，C类质量厚度的颜色为黄色，D类质量厚度的颜色为红色，E类质量厚度的颜色为黑色。同时，在每一类质量厚度中，数值越大的质量厚度值对应的色彩深度越深，数值越小的质量厚度值对应的色彩深度越浅。

在本公开实施例的步骤S132中，根据步骤S131中确定的颜色和色彩深度越深，生成待检测物体的辐射图像。

图7示出了本公开另一个实施例提供的生成待检测物体的辐射图像的方法的流程示意图。如图7所示，步骤S130：根据各个质量厚度值及其所属分类、电子束辐照剂量分布数据，生成用于显示待检测物体的质量厚度和电子束辐照剂量分布数据的辐射图像，还包括：

S133：获取辐射图像中的目标像素点或目标区域对应的质量厚度值；

S134：在映射关系数据中查询质量厚度值对应的电子束辐照剂量分布数据；

S135：在目标区域显示电子束辐照剂量分布数据。

在本公开实施例中，测试人员可以选择辐射图像中想要查看详细数据的目标像素点或目标区域，在确定了目标像素点或目标区域的质量厚度值后，可以在映射关系数据中查询质量厚度值对应的剂量最大值与表面剂量的比值、剂量最小值与表面剂量的比值、剂量不均匀度等电子束辐照剂量分布数据，然后在目标区域中显示。

在本公开实施例中，目标区域和辐射图像的相对位置可以如图8所示，且电子束辐照剂量分布数据以表格形式展示。在另一个实施例中，目标区域还可以设置于辐射图像的边缘，并且不遮挡辐射图像。在本公开其它实施例中，目标区域还可以设置于辐射图像内部。

图9示出了本公开又一个实施例提供的生成待检测物体的辐射图像的方法的流程示意图。如图9所示，步骤S130：根据各个质量厚度值及其所属分类、电子束辐照剂量分布数据，生成用于显示待检测物体的质量厚度和电子束辐照剂量分布数据的辐射图像，还包括：

S136：根据质量厚度值对应的电子束辐照剂量分布数据，确定目标像素点或目标区域对应的剂量不均匀度值；

S137：根据剂量不均匀度值与预设的不均匀度最大值的比较结果，确定辐照效果；

S138：在目标区域显示剂量不均匀度值和所述辐照效果。

在本公开实施例中，利用辐射成像方法对货物进行辐射成像的具体流程包括：

第一步：准备好货物，货物可以是货箱或散装物品；

第二步：将货物放入X射线设备内进行扫描；

第三步：利用辐射成像方法生成辐射图像；

第四步：显示辐射图像；

第五步：显示目标像素点的电子束辐照剂量分布数据。

图10示出了本公开一个实施例提供的辐射成像装置的结构示意图。如图10所示，该辐射成像装置包括：

数据获取单元410，其配置为获取采用X射线扫描待检测物体时待检测物体在X射线对应的辐照能量下的质量厚度数据；

数据分类单元420，其配置为根据待检测物体对应的质量厚度分类条件，对质量厚度数据中的各个质量厚度值进行分类；其中，质量厚度分类条件根据待检测物体对应的质量厚度值和电子束辐照剂量分布数据的映射关系数据确定；

图像生成单元430，其配置为根据各个质量厚度值及其所属分类、电子束辐照剂量分布数据，生成用于显示待检测物体的质量厚度和电子束辐照剂量分布数据的辐射图像。

因此，本公开实施例能够获取待检测物体的质量厚度数据，并且直接利用与电子束辐照剂量分布数据相关的质量厚度分类条件对待检测物体的质量厚度数据进行分类，然后根据各个质量厚度值及其所属分类、电子束辐照剂量分布数据生成辐射图像，使得测试人员能够直观地根据辐射图像确定剂量不均匀度是否符合要求，提高测试效率、降低测试成本。

在本公开实施例中，辐射成像装置还包括条件确定单元，条件确定单元被配置为根据待检测物体对应的质量厚度值和电子束辐照剂量分布数据的映射关系数据确定质量厚度分类条件。

在本公开实施例中，条件确定单元被进一步配置为获取待检测物体对应的质量厚度值和电子束辐照剂量分布数据的理论数据，利用待检测物体对应的质量厚度值和电子束辐照剂量分布数据的测量数据修正理论数据，获得映射关系数据。

在本公开实施例中，条件确定单元被进一步配置为根据映射关系数据，确定各个质量厚度值对应的剂量不均匀度值，根据各个质量厚度值及其对应的剂量不均匀度值，建立映射关系曲线，在映射关系曲线中确定多个临界点，并根据多个临界点将质量厚度值分为多类。

在本公开实施例中，图像生成单元430被进一步配置为根据各个质量厚度值及其所属分类，分别赋予各个质量厚度值对应的显示图案，根据各个质量厚度值对应的显示图案，生成待检测物体的辐射图像。

在本公开实施例中，图像生成单元430被进一步配置为获取辐射图像中的目标像素点或目标区域对应的质量厚度值，在映射关系数据中查询质量厚度值对应的电子束辐照剂量分布数据，在目标区域显示电子束辐照剂量分布数据。

在本公开实施例中，图像生成单元430被进一步配置为根据质量厚度值对应的电子束辐照剂量分布数据，确定目标像素点或目标区域对应的剂量不均匀度值，根据剂量不均匀度值与预设的不均匀度最大值的比较结果，确定辐照效果，在目标区域显示剂量不均匀度值和所述辐照效果。

需要明确的是，本公开并不局限于上文所描述并在图中示出的特定配置和处理。为了简明起见，这里省略了对已知方法的详细描述。在上述实施例中，描述和示出了若干具体的步骤作为示例。但是，本公开的方法过程并不限于所描述和示出的具体步骤，本领域的技术人员可以在领会本公开的精神后，作出各种改变、修改和添加，或者改变步骤之间的顺序。

以上所述的结构框图中所示的功能块可以实现为硬件、软件、固件或者它们的组合。当以硬件方式实现时，其可以例如是电子电路、专用集成电路(ASIC)、适当的固件、插件、功能卡等等。当以软件方式实现时，本公开的元素是被用于执行所需任务的程序或者代码段。程序或者代码段可以存储在机器可读介质中，或者通过载波中携带的数据信号在传输介质或者通信链路上传送。“机器可读介质”可以包括能够存储或传输信息的任何介质。机器可读介质的例子包括电子电路、半导体存储器设备、ROM、闪存、可擦除ROM(EROM)、软盘、CD-ROM、光盘、硬盘、光纤介质、射频(RF)链路，等等。代码段可以经由诸如因特网、内联网等的计算机网络被下载。

还需要说明的是，本公开中提及的示例性实施例，基于一系列的步骤或者装置描述一些方法或系统。但是，本公开不局限于上述步骤的顺序，也就是说，可以按照实施例中提及的顺序执行步骤，也可以不同于实施例中的顺序，或者若干步骤同时执行。

以上所述，仅为本公开的具体实施方式，所属领域的技术人员可以清楚地了解到，为了描述的方便和简洁，上述描述的系统、模块和单元的具体工作过程，可以参考前述方法实施例中的对应过程，在此不再赘述。应理解，本公开的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本公开揭露的技术范围内，可轻易想到各种等效的修改或替换，这些修改或替换都应涵盖在本公开的保护范围之内。

Claims (6)

1.一种基于剂量场检测的辐射成像方法，其特征在于，包括：

获取采用X射线扫描待检测物体时所述待检测物体在所述X射线对应的辐照能量下的质量厚度数据；

根据所述待检测物体对应的质量厚度分类条件，对所述质量厚度数据中的各个质量厚度值进行分类；其中，所述质量厚度分类条件根据所述待检测物体对应的质量厚度值和电子束辐照剂量分布数据的映射关系数据确定；

根据各个质量厚度值及其所属分类、电子束辐照剂量分布数据，生成用于显示所述待检测物体的质量厚度和电子束辐照剂量分布数据的辐射图像；

确定所述质量厚度分类条件的方法包括：

根据所述映射关系数据，确定各个质量厚度值对应的剂量不均匀度值；

根据各个质量厚度值及其对应的剂量不均匀度值，建立映射关系曲线；

在所述映射关系曲线中确定多个临界点，并根据所述多个临界点将质量厚度值分为多类。

2.根据权利要求1所述的基于剂量场检测的辐射成像方法，其特征在于，所述在所述映射关系曲线中确定多个临界点包括：

若为单面辐照，根据预设的不均匀度最大值，在所述映射关系曲线中确定多个临界点；

若为双面辐照，根据预设的不均匀度最大值和所述映射关系曲线的谷值，在所述映射关系曲线中确定多个临界点。

3.根据权利要求1所述的基于剂量场检测的辐射成像方法，其特征在于，所述根据各个质量厚度值及其所属分类、电子束辐照剂量分布数据，生成用于显示所述待检测物体的质量厚度和电子束辐照剂量分布数据的辐射图像，包括：

根据各个质量厚度值及其所属分类，分别赋予各个质量厚度值对应的显示图案；

根据各个质量厚度值对应的显示图案，生成所述待检测物体的辐射图像。

4.根据权利要求3所述的基于剂量场检测的辐射成像方法，其特征在于，所述根据各个质量厚度值及其所属分类、电子束辐照剂量分布数据，生成用于显示所述待检测物体的质量厚度和电子束辐照剂量分布数据的辐射图像，还包括：

获取所述辐射图像中的目标像素点或目标区域对应的质量厚度值；

在所述映射关系数据中查询所述质量厚度值对应的电子束辐照剂量分布数据；

在目标区域显示所述电子束辐照剂量分布数据。

5.根据权利要求4所述的基于剂量场检测的辐射成像方法，其特征在于，所述根据各个质量厚度值及其所属分类、电子束辐照剂量分布数据，生成用于显示所述待检测物体的质量厚度和电子束辐照剂量分布数据的辐射图像，还包括：

根据所述质量厚度值对应的电子束辐照剂量分布数据，确定所述目标像素点或目标区域对应的剂量不均匀度值；

根据所述剂量不均匀度值与预设的不均匀度最大值的比较结果，确定辐照效果；

在所述目标区域显示所述剂量不均匀度值和所述辐照效果。

6.一种基于剂量场检测的辐射成像装置，其特征在于，所述装置包括：

数据获取单元，其配置为获取采用X射线扫描待检测物体时所述待检测物体在所述X射线对应的辐照能量下的质量厚度数据；

数据分类单元，其配置为根据所述待检测物体对应的质量厚度分类条件，对所述质量厚度数据中的各个质量厚度值进行分类；其中，所述质量厚度分类条件根据所述待检测物体对应的质量厚度值和电子束辐照剂量分布数据的映射关系数据确定；

图像生成单元，其配置为根据各个质量厚度值及其所属分类、电子束辐照剂量分布数据，生成用于显示所述待检测物体的质量厚度和电子束辐照剂量分布数据的辐射图像；

所述装置还包括条件确定单元，其配置为根据所述映射关系数据，确定各个质量厚度值对应的剂量不均匀度值；

根据各个质量厚度值及其对应的剂量不均匀度值，建立映射关系曲线；

在所述映射关系曲线中确定多个临界点，并根据所述多个临界点将质量厚度值分为多类。

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