CN112134048B - 一种能够正面观测校验的过pcb板式连接器 - Google Patents

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Abstract

本发明涉及一种能够正面观测校验的过PCB板式连接器，包括PCB板、倒U型母端子和公端子，其中PCB板上设有插接孔；倒U型母端子两端固定连接于所述PCB板上，所述倒U型母端子上开设有连接孔；公端子包括带有尖端的柱状连接针，所述连接针先穿过插接孔后穿过连接孔，所述连接针的外壁面与所述连接孔构成4区段接触结构，同时能够从倒U型母端子的正面实现4区段接触结构的正向观测校验。与现有技术相比，本发明通过倒U型母端子和PCB板构成的连接结构实现了4区段接触结构，同时能够从倒U型母端子的正面实现4区段接触结构的正向观测校验，可通过图像采集设备获得清晰的接触区域的照片，以此实现工业机器人的快速机检。

Description

一种能够正面观测校验的过PCB板式连接器
技术领域
本发明涉及一种连接器，尤其是涉及一种能够正面观测校验的过PCB板式连接器。
背景技术
连接器端子包括公端子和母端子，公端子具有插接舌部和公端连接部，公端连接部与插接舌部连接。母端子具有母端基部和母端连接部，母端连接部和母端基部连接。在使用时，公端子的插接舌部插入于母端子的母端插接槽内。
然而，连接器在使用时，由于公端子的插接舌部与母端子的母端插接槽为单面单次接触，接触面积较小，接触阻抗值比较大，发热较大，散热效果差，给带来了安全隐患。
现有技术中，电连接器的公端和母端之间，要么采用导线连接，这种连接十分麻烦，而且存在连接不牢固的缺陷，要么采用公母对接式连接，仔细分析现有电连接器的端子结构，不难发现公端子和母端子大都是在相互接触的位置直接形成单个凸起的弹片触点，弹片弹性弱，触点接触紧密度差，电连接不稳定，可靠性差，实有改进必要。
目前计算机视觉算法的兴起为连接器的连接稳定性校验提供了新的思路，可通过算法对连接区域进行视觉识别，通过边界轮廓的分析实现接触位点紧密度的分析，但目前连接器的公端子和母端子接触位置均在连接结构内部，这对于图片的采集造成了障碍。
发明内容
本发明的目的就是为了克服上述现有技术存在的缺陷而提供一种能够正面观测校验的过PCB板式连接器，通过倒U型母端子和PCB板构成的连接结构实现了4区段接触结构，同时能够从倒U型母端子的正面实现4区段接触结构的正向观测校验。
本发明的目的可以通过以下技术方案来实现：
本发中明能够正面观测校验的过PCB板式连接器包括PCB板、倒U型母端子和公端子，其中具体地：
PCB板上设有插接孔；
倒U型母端子两端固定连接于所述PCB板上，所述倒U型母端子上开设有连接孔；
公端子包括带有尖端的柱状连接针，所述连接针先穿过插接孔后穿过连接孔，所述连接针的外壁面与所述连接孔构成4区段接触结构，同时能够从倒U型母端子的正面实现4区段接触结构的正向观测校验。
进一步地，所述倒U型母端子包括一体成型的连接段、连接臂和连接爪。
进一步地，所述连接孔开设于所述连接段上；
所述连接臂对称地设于连接段两侧；
所述连接爪焊接于所述PCB板上。
进一步地，所述连接爪上设有触角，所述触角贯穿所述PCB板，实现倒U型母端子在PCB板上的定位。
进一步地，所述连接段、连接臂的中部构成连贯的镂空区域，并与连接孔连通，使得连接段、连接臂共同构成弹性双臂结构，实现对公端子的夹持。
进一步地，所述连接孔由连接段上的两个卡块构成。
进一步地，所述倒U型母端子背面的连接孔周围设有与所述4区段接触结构对应的4区段倒角，以此导向公端子的背向插接。
进一步地，4区段倒角包括开设于所述连接段背面的一对弧形面倒角和设于卡块背面的一对斜面倒角。
进一步地，连接孔内侧对应4区段倒角分别设有一对接触弧形面和一对接触平面，接触弧形面与所述公端子构成面接触连接，接触平面与所述公端子构成线接触连接。
进一步地，通过倒U型母端子的正面的照片进行识别分析，实现对4区段接触结构的正向观测校验。
与现有技术相比，本发明具有以下技术优势：
1)通过倒U型母端子和PCB板构成的连接结构实现了4区段接触结构，包括连接孔内侧对应4区段倒角分别设有一对接触弧形面和一对接触平面，接触弧形面与所述公端子构成面接触连接，接触平面与所述公端子构成线接触连接，同时借助连接段、连接臂共同构成弹性双臂结构，实现对公端子的夹持，同时显著减少了制造过程的金属材料消耗，整体构成4区段接触-双弹性臂连接结构，显著地提升了连接稳定性，适用于大电流的传输。
2)同时能够从倒U型母端子的正面实现4区段接触结构的正向观测校验，可通过图像采集设备获得清晰的接触区域的照片，以此实现工业机器人的快速机检。
附图说明
图1为本技术方案中过PCB板式连接器的立体结构示意图；
图2为本技术方案中倒U型母端子的正面结构示意图；
图3为本技术方案中倒U型母端子的背面结构示意图。
图中：1、PCB板，11、插接孔，2、倒U型母端子，21、连接孔，22、连接段，23、连接臂，24、连接爪，25、触角，211、卡块，2111、斜面倒角，22、连接段，221、弧形面倒角，23、连接臂，24、连接爪，25、触角。
具体实施方式
下面结合附图和具体实施例对本发明进行详细说明。
实施例
本发明能够正面观测校验的过PCB板式连接器，包括PCB板1、倒U型母端子2和公端子3，参见图1与图2。PCB板1上设有插接孔11；倒U型母端子2两端固定连接于所述PCB板1上，所述倒U型母端子2上开设有连接孔21；公端子3包括带有尖端的柱状连接针31，所述连接针31先穿过插接孔11后穿过连接孔21，所述连接针31的外壁面与所述连接孔21构成4区段接触结构，同时能够从倒U型母端子2的正面实现4区段接触结构的正向观测校验。
倒U型母端子2包括一体成型的连接段22、连接臂23和连接爪24。连接孔21开设于所述连接段22上；连接臂23对称地设于连接段22两侧；连接爪24焊接于所述PCB板1上。连接爪24上设有触角25，所述触角25贯穿所述PCB板1，实现倒U型母端子2在PCB板1上的定位。连接段22、连接臂23的中部构成连贯的镂空区域，并与连接孔21连通，使得连接段22、连接臂23共同构成弹性双臂结构，实现对公端子3的夹持。具体选材时倒U型母端子2优选富有一定弹性的导体金属，实现与弹性双臂结构配合实现更优的加持效果。
连接孔21由连接段22上的两个卡块211构成。U型母端子2背面的连接孔21周围设有与所述4区段接触结构对应的4区段倒角，以此导向公端子3的背向插接。4区段倒角包括开设于所述连接段22背面的一对弧形面倒角221和设于卡块211背面的一对斜面倒角2111，参见图3。连接孔21内侧对应4区段倒角分别设有一对接触弧形面和一对接触平面，接触弧形面与所述公端子3构成面接触连接，接触平面与所述公端子3构成线接触连接。通过倒U型母端子2和PCB板1构成的连接结构实现了4区段接触结构，包括连接孔21内侧对应4区段倒角分别设有一对接触弧形面和一对接触平面，接触弧形面与所述公端子3构成面接触连接，接触平面与所述公端子3构成线接触连接，同时借助连接段22、连接臂23共同构成弹性双臂结构，实现对公端子3的夹持，整体构成4区段接触-双弹性臂连接结构，显著地提升了连接稳定性，适用于大电流的传输。
具体通过工业机器人的快速机检时，能够从倒U型母端子2的正面获取4区段接触结构的正向观测校验图片，即通过图像采集设备获得清晰的接触区域的照片，通过算法对连接区域进行视觉识别，通过边界轮廓的分析实现接触位点紧密度的分析，实现对4区段接触结构的正向观测校验，显著提升连接稳定性的校验效率。
上述的对实施例的描述是为便于该技术领域的普通技术人员能理解和使用发明。熟悉本领域技术的人员显然可以容易地对这些实施例做出各种修改，并把在此说明的一般原理应用到其他实施例中而不必经过创造性的劳动。因此，本发明不限于上述实施例，本领域技术人员根据本发明的揭示，不脱离本发明范畴所做出的改进和修改都应该在本发明的保护范围之内。

Claims (1)

1.一种能够正面观测校验的过PCB板式连接器，其特征在于，包括：
PCB板（1），其上设有插接孔（11）；
倒U型母端子（2），其两端固定连接于所述PCB板（1）上，所述倒U型母端子（2）上开设有连接孔（21）；
公端子（3），包括带有尖端的柱状连接针（31），所述连接针（31）先穿过插接孔（11）后穿过连接孔（21），所述连接针（31）的外壁面与所述连接孔（21）构成4区段接触结构，同时能够从倒U型母端子（2）的正面实现4区段接触结构的正向观测校验；
所述倒U型母端子（2）包括一体成型的连接段（22）、连接臂（23）和连接爪（24）；
所述连接段（22）、连接臂（23）的中部构成连贯的镂空区域，并与连接孔（21）连通，使得连接段（22）、连接臂（23）共同构成弹性双臂结构，实现对公端子（3）的夹持；
所述连接孔（21）由连接段（22）上的两个卡块（211）构成；
所述倒U型母端子（2）背面的连接孔（21）周围设有与所述4区段接触结构对应的4区段倒角，以此导向公端子（3）的背向插接；
所述连接孔（21）开设于所述连接段（22）上；
所述连接臂（23）对称地设于连接段（22）两侧；
所述连接爪（24）焊接于所述PCB板（1）上；
所述连接爪（24）上设有触角（25），所述触角（25）贯穿所述PCB板（1），实现倒U型母端子（2）在PCB板（1）上的定位；
4区段倒角包括开设于所述连接段（22）背面的一对弧形面倒角（221）和设于卡块（211）背面的一对斜面倒角（2111）；
连接孔（21）内侧对应4区段倒角分别设有一对接触弧形面和一对接触平面，接触弧形面与所述公端子（3）构成面接触连接，接触平面与所述公端子（3）构成线接触连接；
通过倒U型母端子（2）的正面的照片进行识别分析，实现对4区段接触结构的正向观测校验。
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