CN112098420B - 曲面屏检测装置 - Google Patents

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Abstract

本申请提出了一种曲面屏检测装置，包括：图像采集设备；第一反射镜，处于待检测曲面屏的第一侧面；第一棱镜，处于所述图像采集设备和所述第一反射镜之间；其中，第一反射镜用于，将曲面屏的第一曲面部的光线反射至所述第一棱镜；所述第一棱镜用于将所述第一曲面部的光线折射至所述图像采集设备的镜头，以使得所述第一曲面部与所述曲面屏的平面部共成像物面。

Description

曲面屏检测装置
技术领域
本申请涉及机器视觉技术领域，特别涉及曲面屏检测装置。
背景技术
在显示屏检测等应用场景中，需要图像采集设备对显示屏进行图像采集，并根据采集到的图像检测显示屏的缺陷。
目前，在针对曲面屏检测时，检测设备可以对曲面屏的平面部进行清晰成像，无法对曲面屏的侧面部进行清晰成像。检测设备无法对曲面屏的侧面部进行检测。
因此，如何对曲面屏的曲面部进行检测是需要解决的技术问题。
发明内容
本申请提出了曲面屏检测装置，能够对曲面屏的曲面部进行检测。
根据本申请一个方面，提供一种曲面屏检测装置，包括：
图像采集设备；
第一反射镜，处于待检测曲面屏的第一侧面；
第一棱镜，处于所述图像采集设备和所述第一反射镜之间；
其中，第一反射镜用于，将曲面屏的第一曲面部的光线反射至所述第一棱镜；所述第一棱镜用于将所述第一曲面部的光线折射至所述图像采集设备的镜头，以使得所述第一曲面部与所述曲面屏的平面部共成像物面。
在一些实施例中，曲面屏检测装置进一步包括：
第二反射镜，处于曲面屏的第二侧面；
第二棱镜，处于所述图像采集设备和所述第二反射镜之间；
其中，第二反射镜用于，将曲面屏的第二曲面部的光线反射至所述第二棱镜；所述第二棱镜用于将所述第二曲面部的光线折射至所述图像采集设备的镜头，以使得所述第二曲面部与所述曲面屏的平面部共成像物面；所述第一反射镜的面积大于等于所述第一曲面部的面积，所述第二反射镜的面积大于等于所述第二曲面部的面积。
在一些实施例中，所述第一棱镜的出射面与所述成像物面平行；
所述第一棱镜的入射面上任一个入射点到出射面的厚度，取决于：该入射点对应的物点的光程差、第一棱镜的折射率与空气折射率，所述物点的光程差为：所述物点在所述第一反射镜中的虚像点到所述物点的虚拟物点的距离，所述虚拟物点为所述虚像点到所述镜头的光心的连线、与所述成像物面的交点。
在一些实施例中，所述第一棱镜的入射面上任一个入射点到出射面的厚度为：该入射点对应的物点的光程差与棱镜参数之间的比值，所述棱镜参数为第一棱镜的折射率与空气折射率之差，所述物点的光程差为：所述物点在所述第一反射镜中的虚像点到所述物点的虚拟物点的距离，所述虚拟物点为所述虚像点到所述镜头的光心的连线、与所述成像物面的交点。
在一些实施例中，所述第一棱镜的出射面与所述成像物面平行；
所述第一棱镜的横截面，满足：
在所述横截面纵切等分为预定数量的子区域，以及第一曲面部的横切外缘等高度采样预定数量的采样点时，子区域的外接长方形的高度取决于：第一棱镜的折射率、空气折射率以及子区域对应的采样点的光程差，子区域对应的采样点表示：在所述曲面屏的第一曲面部上光线能够入射该子区域的物点；所述采样点的光程差为：所述采样点在所述第一反射镜中的虚像点到所述采样点的虚拟采样点的距离，所述虚拟采样点为：所述采样点在所述第一反射镜中的虚像点到所述镜头的光心的连线、与所述成像物面的交点；
所述子区域的宽度取决于：曲面屏的厚度、第一棱镜的安装高度和图像采集设备的工作距离。
在一些实施例中，子区域的外接长方形的高度为：该子区域对应的采样点的光程差与棱镜参数之间的比值，所述棱镜参数为第一棱镜的折射率与空气折射率之差；
所述子区域的宽度为第一值与第二值的比值，第一值为曲面屏的厚度与第一棱镜的安装高度之积，第二值为图像采集设备的工作距离与预定数量之积。在一些实施例中，所述虚像点到所述采样点的虚拟物点的距离取决于曲面屏厚度、第一反射镜的安装距离、采样点的高度，所述第一反射镜的安装距离为第一曲面部的外边缘与第一反射镜的距离。
在一些实施例中，所述虚像点到所述采样点的虚拟物点的距离为：曲面屏厚度、第一反射镜的安装距离的二倍值、和采样点的高度之和，所述第一反射镜的安装距离为第一曲面部的外边缘与第一反射镜的距离。
在一些实施例中，所述第一棱镜的第一侧边缘贴靠于所述平面部的第一侧边缘与所述镜头的光心所处的平面。
在一些实施例中，在所述第一曲面部与所述第二曲面部镜像对称时，第二反射镜与第一反射镜镜像对称，第二反射镜与第一反射镜的对称面为通过曲面屏的中心线的平面，并且该平面垂直于曲面部，第一棱镜和第二棱镜镜像对称，第一棱镜和第二棱镜的对称面与、第二反射镜与第一反射镜的对称面一致。
在一些实施例中，上述装置进一步包括：光源，用于对所述曲面屏进行照明。
在一些实施例中，控制设备，用于：从所述图像采集设备获取图像，并基于图像进行缺陷检测；在检测曲面屏表面缺陷时，控制所述光源进行照明。
综上，曲面屏检测装置能够通过第一反射镜和第一棱镜的组合，使得曲面屏的第一曲面部和平面部共成像物面。换言之，曲面屏检测装置可以对曲面屏的第一曲面部和平面部同时进行清晰成像。在此基础上，本申请的曲面屏检测装置可以基于包含第一曲面部和平面部的清晰图像，对曲面屏进行检测。曲面屏检测装置能够方便于同时对第一曲面部和平面部进行自动化检测。
附图说明
图1示出了根据本申请一些实施例的图像采集设备的成像示意图；
图2示出了根据本申请一些实施例的图像采集设备对曲面屏成像的示意图；
图3示出了根据本申请一些实施例的曲面屏检测装置的示意图；
图4示出了根据本申请一些实施例的光程补偿的示意图；
图5示出了根据本申请一些实施例的曲面屏检测装置的示意图；
图6示出了根据本申请一些实施例的曲面屏检测装置的光路示意图；
图7示出了根据本申请一些实施例的曲面屏中采样点的示意图；
图8示出了根据本申请一些实施例的第一棱镜的横截面的示意图；
图9示出了根据本申请一些实施例的第一棱镜的示意图；
图10示出了根据本申请一些实施例的曲面屏检测装置的示意图；
图11示出了根据本申请一些实施例的控制设备的示意图。
具体实施方式
为使本申请的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下参照附图并举实施例，对本申请进一步详细说明。
在一些应用场景中，显示屏检测是一个关键检测环节。图像采集设备能够对一个平面清晰成像。例如，图1示出了图像采集设备的成像示意图。图像采集设备的镜头111可以对成像物面101上物点进行清晰成像。镜头111的像面为102。图像采集设备的图像传感器处于像面102位置处。
图像采集设备的像面102和成像物面101均为平面。因此，图像采集设备无法直接对曲面屏两侧的曲面清晰成像。例如，图2示出了图像采集设备对曲面屏成像的示意图。如图2所示，图像采集设备110的成像物面为101，即曲面屏200的平面部所处的平面。图像采集设备110可以对成像物面101进行清晰成像，而无法对曲面屏200的第一曲面部201和第二曲面部202进行清晰成像。这里，图像采集设备110无法对第一曲面部201和第二曲面部202进行清晰成像的原因包括：曲面屏200的曲面部(即第一曲面部201和第二曲面部202)未处于成像物面，曲面部的光程比平面部的光程大。
本申请实施例提出了一种曲面屏检测装置，能够对曲面屏的平面部和曲面部进行清晰成像，以便得到包含曲面部和平面部的图像，并利用图像对曲面屏进行缺陷检测。图3示出了根据本申请一些实施例的曲面屏检测装置的示意图。
如图3所示，曲面屏检测装置包括：图像采集设备110、第一反射镜121和第一棱镜131。图像采集设备110例如为大靶面工业相机等成像设备。第一反射镜121处于待检测曲面屏200的第一侧面。第一棱镜131处于图像采集设备110和第一反射镜121之间。其中，第一反射镜121用于，将曲面屏200的第一曲面部201的光线反射至第一棱镜131。第一棱镜131用于将第一曲面部201的光线折射至图像采集设备110的镜头，以使得第一曲面部201与曲面屏的平面部203共成像物面。这里，成像物面例如为平面部203所处的平面。
这里，第一棱镜131可以对第一曲面部201进行光程补偿，以便第一曲面部201能够在图像采集设备110中清晰成像。光程为介质折射率乘以光在介质中传播的路程。下面结合图4对光程补偿进行说明。
如图4所示，透明介质401为折射率超过空气的介质。在未采用透明介质401时，图像采集设备对在第一成像物面402上物点进行成像。在采用透明介质401的场景中，透明介质401可以进行光程补偿。具体而言，透明介质可以使得比第一成像物面401更远的物点(即光程比第一成像物面401上物点的光程更大的物点)能够在图像采集设备中清晰成像。例如，图4中采用透明介质401后的第二成像物面403上物点可以在图像采集设备中清晰成像。第二成像物面403比第一成像物面402的光程更大。这里，图4中透明介质401使得光线经过透明介质401后的第二成像物面403的光程比未采用透明介质401时的第一成像物面的光程更长的结果，可以称为光程补偿的结果。
综上，曲面屏检测装置能够通过第一反射镜和第一棱镜的组合，使得曲面屏的第一曲面部和平面部共成像物面。换言之，曲面屏检测装置可以对曲面屏的第一曲面部和平面部同时进行清晰成像。在此基础上，本申请的曲面屏检测装置可以基于包含第一曲面部和平面部的清晰图像，对曲面屏进行检测。曲面屏检测装置能够方便于同时对第一曲面部和平面部进行自动化检测。
图5示出了根据本申请一些实施例的曲面屏检测装置的示意图。
如图5所示，曲面屏检测装置包括：图像采集设备110、第一反射镜121、第二反射镜122、第一棱镜131和第二棱镜132。第一反射镜121处于曲面屏200的第一侧面。第一棱镜131处于图像采集设备110和第一反射镜121之间。其中，第一反射镜121用于，将曲面屏200的第一曲面部201的光线反射至第一棱镜131。第一棱镜131用于将第一曲面部201的光线折射至图像采集设备110的镜头，以使得第一曲面部201与曲面屏200的平面部203共成像物面。
第二反射镜122处于曲面屏200的第二侧面。第二棱镜132处于图像采集设备110和第二反射镜122之间。第二反射镜122用于将曲面屏200的第二曲面部202的光线反射至第二棱镜132。第二棱镜132用于将第二曲面部202的光线折射至图像采集设备110的镜头，以使得第二曲面部202与曲面屏200的平面部203共成像物面。
第一反射镜121的面积大于等于第一曲面部201的面积。这样，第一曲面部201的表面可以全部在在第一反射镜121中成像。类似的，第二反射镜122的面积大于等于第二曲面部202的面积。第二曲面部202的表面可以全部在在第二反射镜122中成像。
综上，曲面屏检测装置能够通过第一反射镜和第一棱镜的组合，以及第二反射镜和第二棱镜的组合，使得曲面屏的曲面部和平面部共成像物面。换言之，曲面屏检测装置可以对曲面屏的曲面部和平面部进行清晰成像。在此基础上，本申请的曲面屏检测装置可以通过包含曲面部和平面部的清晰图像，对曲面屏进行检测。
在一些实施例中，第一曲面部201和第二曲面部202镜像对称。第二反射镜122与第一反射镜121结构相同且镜像对称。第二反射镜122与第一反射镜121的对称面为通过曲面屏的中心线的平面，并且该平面垂直于曲面部。第一棱镜131和第二棱镜132结构相同且镜像对称。第一棱镜131和第二棱镜132的对称面与、第二反射镜122与第一反射镜121的对称面一致。这样，根据本申请的曲面屏检测装置通过部署镜像对称的第一光学模组(即，第一反射镜121和第一棱镜131的组合)与第二光学模组(即，第二反射镜和第二棱镜的组合)，能够避免第一侧面部的成像与第二侧面部的成像出现形状不一致的情况或者尺寸不一致的情况。
由于第一棱镜131与第二棱镜132的结构相同，下面以第一棱镜131为例进行说明。
在一些实施例中，第一棱镜131的出射面133为平面。出射面133与成像物面平行。
第一棱镜131的入射面134为曲面。入射面134上任一个入射点到出射面133的厚度(即入射点到出射面的距离)取决于：该入射点对应的物点的光程差、第一棱镜的折射率与空气折射率。入射点对应的物点是指第一曲面部201上的表面点。入射点对应的物点满足：该物点的光线经过第一反射镜121反射后，从相应的入射点进入第一棱镜131，并从第一棱镜131的出射面133离开，最终进入到图像采集设备110的镜头。一个物点的光程差为：该物点在第一反射镜121中的虚像点到物点的虚拟物点的距离。虚拟物点为：虚像点与镜头的光心之间的连线与成像物面的交点。
在一些实施例中，入射面134上任一个入射点到出射面133的厚为：该入射点对应的物点的光程差与棱镜参数之间的比值。棱镜参数为棱镜的折射率与空气折射率(近似为1)之差。
如图5所示，d表示入射面134上一个入射点。入射点d对应的物点为c。物点c的光线经过第一反射镜121的反射后，从相应的入射点d进入第一棱镜131。
入射点d到出射面的厚度为：物点c的光程差与棱镜参数的比值。如图6所示，物点c的光程差为：物点c在第一反射镜131中的虚像点e到物点c的虚拟物点f的距离。虚拟物点f为：虚像点e与镜头的光心之间的连线与成像物面101的交点。
在一些实施例中，第一棱镜131的结构可以通过下述方式限定。
第一棱镜131的出射面133与成像物面101平行。另外，第一棱镜131的横截面，满足：在横截面纵切等分为预定数量的子区域，以及第一曲面部的横切外缘等高度采样预定数量的采样点时，子区域的外接长方形的高度取决于：第一棱镜的折射率、空气折射率以及子区域对应的采样点的光程差。其中，采样点的光程差为：采样点在反射镜中的虚像点到采样点的虚拟采样点的距离。虚拟采样点为：采样点在反射镜中的虚像点到镜头的光心的连线、与成像物面的交点。子区域的宽度取决于：曲面屏的厚度、第一棱镜的安装高度和图像采集设备的工作距离。
在一些实施例中，子区域的外接长方形的高度为：该子区域对应的采样点的光程差与棱镜参数之间的比值。
在一些实施例中，当采样点足够多时，虚像点到镜头的光心之间的连线与曲面屏的厚度方向(即成像物面101的法向)夹角较小。因此，一个物点的虚像点到虚拟物点的距离可以大致认为是曲面屏厚度、第一反射镜的安装距离的二倍值、和采样点的高度之和。其中，第一反射镜的安装距离为第一曲面部的外边缘与第一反射镜的距离。
另外，第一棱镜的横截面，还满足：子区域的宽度为第一值与第二值的比值，第一值为曲面屏的厚度与棱镜安装高度之积，第二值为图像采集设备的工作距离与预定数量之积。下面结合图7至图9进行更形象说明。
曲面屏200的第一曲面部201上选取有多个采样点。例如，图7示出了采样点a1’,a2’,a3’,......an’。这些采样点在第一反射镜121上的虚像点为a1,a2,a3,....an。
采样点与虚像点相对于第一反射镜的镜面对称。图7中采样点在曲面屏的厚度方向(即图7的竖直方向)上等间隔。虚像点a1,a2,a3,....an到光心的连线与成像平面101的交点(即虚拟物点)为b1,b2,b3......bn。采样点a1’,a2’,a3’,......an’各自对应的光程差为a1b1,a2b2,....anbn。这里，假设曲面屏200的厚度为h，采样点的预定数量为n。相邻采样点的厚度差为k，k＝h/(n-1)。
一个采样点的虚像点到虚拟物点的距离，可以表示为下述公式：
aibi＝2h-(i-1)k+2Ql
其中，aibi表示虚像点ai到虚拟物点bi的距离，i取值范围为1至n。Ql表示第一反射镜的安装距离，h-(i-1)k表示采样点的高度，即采样点到曲面屏底部平面204的距离。
另外，第一棱镜的安装高度为H1，即第一棱镜的出射面133与成像物面101的高度差。图像采集设备的工作距离为H2，即图像采集设备的光心到曲面屏上表面(即曲面屏的平面部)的距离。Wn表示采样点数量为n时单个子区域的宽度。子区域的宽度满足下述公式：
WL＝H1*h/(H2*n)
如图8所示，采样点a1’,a2’,a3’,......an’分别对应的子区域的宽度为W1、W2、W3、...、Wn。其中，W1＝W2＝W3＝Wn＝WL。
在一些实施例中，第一棱镜131的结构确定过程可以是：首先确定采样点的预定数量；在确定每个采样点对应的子区域的高度和子区域的宽度之后，对多个采样点的子区域拼成的图形(即子区域左右贴靠，并且顶部对其而得到的图形)的底部进行曲线拟合(例如对每个子区域底部左侧的顶点进行曲线拟合)，而得到第一棱镜131的入射面134的横截曲线。在此基础上，对横截面进行纵向(即垂直于横截面的方向)拉伸得到第一棱镜131的结构。图9示出了拉伸得到的第一棱镜131的示意图。
在一些实施例中，在水平方向上，第一棱镜131的第一侧边缘(即靠近第二棱镜132的边缘)贴靠于平面部203的第一侧边缘进入镜头的光线。
在一些实施例中，第一反射镜121的镜面与成像物面之间角度可以按照设计需求确定。角度的范围例如为20-70度。例如，第一反射镜121的镜面与成像物面之间成30、45或者60度角。
在一些实施例中，曲面屏检测装置还可以包括光源300和控制设备400。光源300例如为环形光源或方框形光源，用于对曲面屏200进行照明。光源300主要为检测显示屏表面划痕，脏污等缺陷时，提供高对比度的照明补光环境。控制设备400可以从图像采集设备获取图像，并基于图像进行缺陷检测，即对显示屏的成像进行缺陷检测。在检测曲面屏表面缺陷(例如，划痕，脏污、破损、亮点、暗点等)时，控制设备400控制光源进行照明。在检测曲面屏的显示单元缺陷时，如果曲面屏显示单元能够自发光，控制设备400控制照明系统关闭。另外，曲面屏检测装置还可以包括支架，支架用于保持图像采集设备110、第一反射镜121、第二反射镜122、第一棱镜131和第二棱镜132的安装位置。
图11示出了根据本申请一些实施例的控制设备的示意图。如图11所示，该控制设备包括一个或者多个处理器(CPU)1102、通信模块1104、存储器1106、用户接口1110，以及用于互联这些组件的通信总线1108。
处理器1102可通过通信模块1104接收和发送数据以实现网络通信和/或本地通信。
用户接口1110包括一个或多个输出设备1112，其包括一个或多个扬声器和/或一个或多个可视化显示器。用户接口1110也包括一个或多个输入设备1114。用户接口1110例如可以接收遥控器的指令，但不限于此。
存储器1106可以是高速随机存取存储器，诸如DRAM、SRAM、DDR RAM、或其他随机存取固态存储设备；或者非易失性存储器，诸如一个或多个磁盘存储设备、光盘存储设备、闪存设备，或其他非易失性固态存储设备。
存储器1106存储处理器1102可执行的指令集，包括：
操作系统1116，包括用于处理各种基本系统服务和用于执行硬件相关任务的程序；
应用1118，包括用于实现曲面屏的缺陷检测各种程序，这种程序能够实现上述各实例中的处理流程，比如可以包括从图像采集设备获取图像，并对曲面屏的成像进行检测。
另外，本申请的每一个实施例可以通过由数据处理设备如计算机执行的数据处理程序来实现。显然，数据处理程序构成了本发明。此外，通常存储在一个存储介质中的数据处理程序通过直接将程序读取出存储介质或者通过将程序安装或复制到数据处理设备的存储设备(如硬盘和或内存)中执行。因此，这样的存储介质也构成了本发明。存储介质可以使用任何类型的记录方式，例如纸张存储介质(如纸带等)、磁存储介质(如软盘、硬盘、闪存等)、光存储介质(如CD-ROM等)、磁光存储介质(如MO等)等。
因此本申请还公开了一种非易失性存储介质，其中存储有程序。该程序包括指令，所述指令当由处理器执行时，使得控制设备执行根据本申请的从图像采集设备获取图像，并对曲面屏的成像进行缺陷检测的方法。
另外，本申请所述的方法步骤除了可以用数据处理程序来实现，还可以由硬件来实现，例如，可以由逻辑门、开关、专用集成电路(ASIC)、可编程逻辑控制器和嵌微控制器等来实现。因此这种可以实现本申请所述方法的硬件也可以构成本申请。
以上所述仅为本申请的较佳实施例而已，并不用以限制本申请，凡在申请的精神和原则之内，所做的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本申请保护的范围之内。

Claims (10)

1.一种曲面屏检测装置，其特征在于，包括：
图像采集设备；
第一反射镜，处于待检测曲面屏的第一侧面；
第一棱镜，处于所述图像采集设备和所述第一反射镜之间；
其中，第一反射镜用于，将曲面屏的第一曲面部的光线反射至所述第一棱镜；所述第一棱镜用于将所述第一曲面部的光线折射至所述图像采集设备的镜头，以使得所述第一曲面部与所述曲面屏的平面部共成像物面；
所述第一棱镜的出射面与所述成像物面平行；
所述第一棱镜的横截面，满足：
在所述横截面纵切等分为预定数量的子区域，以及第一曲面部的横切外缘等高度采样预定数量的采样点时，子区域的外接长方形的高度为：该子区域对应的采样点的光程差与棱镜参数之间的比值，所述棱镜参数为第一棱镜的折射率与空气折射率之差；
所述子区域的宽度为第一值与第二值的比值，第一值为曲面屏的厚度与第一棱镜的安装高度之积，第二值为图像采集设备的工作距离与预定数量之积，Wn表示采样点为n时单个子区域的宽度，子区域的宽度满足：Wn＝H1*h/(H2*n)，其中，h为曲面屏的厚度，H1为第一棱镜的安装高度，H2为图像采集设备的工作距离，n为预定数量；
其中，子区域对应的采样点表示：在所述曲面屏的第一曲面部上光线能够入射该子区域的物点；所述采样点的光程差为：所述采样点在所述第一反射镜中的虚像点到所述采样点的虚拟采样点的距离，所述虚拟采样点为：所述采样点在所述第一反射镜中的虚像点到所述镜头的光心的连线、与所述成像物面的交点；所述第一棱镜的安装高度为所述第一棱镜的出射面与所述成像物面的高度差，所述图像采集设备的工作距离为所述图像采集设备的光心与所述曲面屏的平面部的距离。
2.如权利要求1所述的曲面屏检测装置，其特征在于，进一步包括：
第二反射镜，处于曲面屏的第二侧面；
第二棱镜，处于所述图像采集设备和所述第二反射镜之间；
其中，第二反射镜用于，将曲面屏的第二曲面部的光线反射至所述第二棱镜；所述第二棱镜用于将所述第二曲面部的光线折射至所述图像采集设备的镜头，以使得所述第二曲面部与所述曲面屏的平面部共成像物面；
所述第一反射镜的面积大于等于所述第一曲面部的面积，所述第二反射镜的面积大于等于所述第二曲面部的面积。
3.如权利要求1所述的曲面屏检测装置，其特征在于，
所述第一棱镜的出射面与所述成像物面平行；
所述第一棱镜的入射面上任一个入射点到出射面的厚度，取决于：该入射点对应的物点的光程差、第一棱镜的折射率与空气折射率，所述物点的光程差为：所述物点在所述第一反射镜中的虚像点到所述物点的虚拟物点的距离，所述虚拟物点为所述虚像点到所述镜头的光心的连线、与所述成像物面的交点。
4.如权利要求1所述的曲面屏检测装置，其特征在于，所述第一棱镜的入射面上任一个入射点到出射面的厚度为：该入射点对应的物点的光程差与棱镜参数之间的比值，所述棱镜参数为第一棱镜的折射率与空气折射率之差，所述物点的光程差为：所述物点在所述第一反射镜中的虚像点到所述物点的虚拟物点的距离，所述虚拟物点为所述虚像点到所述镜头的光心的连线、与所述成像物面的交点。
5.如权利要求1所述的曲面屏检测装置，其特征在于，
所述虚像点到所述采样点的虚拟物点的距离取决于曲面屏厚度、第一反射镜的安装距离、采样点的高度，所述第一反射镜的安装距离为第一曲面部的外边缘与第一反射镜的距离。
6.如权利要求5所述的曲面屏检测装置，其特征在于，所述虚像点到所述采样点的虚拟物点的距离为：曲面屏厚度、第一反射镜的安装距离的二倍值、和采样点的高度之和，所述第一反射镜的安装距离为第一曲面部的外边缘与第一反射镜的距离。
7.如权利要求1所述的曲面屏检测装置，其特征在于，所述第一棱镜的第一侧边缘贴靠于所述平面部的第一侧边缘与所述镜头的光心所处的平面。
8.如权利要求2所述的曲面屏检测装置，其特征在于，
在所述第一曲面部与所述第二曲面部镜像对称时，第二反射镜与第一反射镜镜像对称，第二反射镜与第一反射镜的对称面为通过曲面屏的中心线的平面，并且该平面垂直于曲面部，第一棱镜和第二棱镜镜像对称，第一棱镜和第二棱镜的对称面与、第二反射镜与第一反射镜的对称面一致。
9.如权利要求1所述的曲面屏检测装置，其特征在于，进一步包括：光源，用于对所述曲面屏进行照明。
10.如权利要求9所述的曲面屏检测装置，其特征在于，进一步包括：控制设备，用于：
从所述图像采集设备获取图像，并基于图像进行缺陷检测；
在检测曲面屏表面缺陷时，控制所述光源进行照明。
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