CN112085135B - 相控阵天线检测方法、装置、计算机设备和可读存储介质 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种相控阵天线检测方法、装置、计算机设备和可读存储介质，本发明涉及天线检测技术领域，相控阵天线检测方法包括：发送第一检测指令至波控板，以使波控板基于第一检测指令将预先生成的检测数据发送至目标芯片，目标芯片为多个芯片中的任一个；发送第二检测指令至波控板，以使波控板基于第二检测指令将反馈数据回读至计算机设备，反馈数据是目标芯片根据检测数据确定的；根据检测数据和反馈数据对目标芯片进行读写功能检测，得到目标芯片的读写功能检测结果；重复上述步骤，对每个芯片均进行读写功能检测，直至得到每个芯片的读写功能检测结果，能够便捷地实现对相控阵天线的检测。

Description

相控阵天线检测方法、装置、计算机设备和可读存储介质

技术领域

本发明涉及天线检测技术领域，具体而言，涉及一种相控阵天线检测方法、装置、计算机设备和可读存储介质。

背景技术

目前，为了天线是否能够正常工作，会对天线对应的芯片进行读写操作，以此来验证芯片是否具备正常的读写功能，且芯片对应的通道是否正常。而相控阵天线的天线通道数量较多，现有对单个通道进行测试的方案并不能满足拥有多通道的相控阵天线，想要实现相控阵天线的检测十分的不便。

有鉴于此，如何提供一种便捷地相控阵天线检测检测方案，是本领域技术人员需要解决的。

发明内容

本发明提供了一种相控阵天线检测方法、装置、计算机设备和可读存储介质。

本发明的实施例可以这样实现：

第一方面，本发明实施例提供一种相控阵天线检测方法，应用于计算机设备，所述计算机设备与波控板和多个芯片均通信连接，所述波控板与每个所述芯片均通信连接；

所述方法包括：

发送第一检测指令至所述波控板，以使所述波控板基于所述第一检测指令将预先生成的检测数据发送至目标芯片，所述目标芯片为所述多个芯片中的任一个；

发送第二检测指令至所述波控板，以使所述波控板基于第二检测指令将反馈数据回读至所述计算机设备，所述反馈数据是所述目标芯片根据所述检测数据确定的；

根据所述检测数据和所述反馈数据对所述目标芯片进行读写功能检测，得到目标芯片的读写功能检测结果；

重复上述步骤，基于所述解算参数对每个所述芯片均进行读写功能检测，直至得到所述解算参数配置下每个所述芯片的读写功能检测结果。

在可选的实施方式中，所述第一检测指令包括单通道寄存器写指令，每个所述芯片均包括寄存器，所述检测数据为第一随机数；

所述发送第一检测指令至所述波控板，以使所述波控板基于所述第一检测指令将预先生成的检测数据发送至目标芯片的步骤，包括：

发送所述单通道寄存器写指令至所述波控板，以使所述波控板基于所述单通道寄存器写指令将预先生成的第一随机数发送至目标芯片，并将所述第一随机数写入所述目标芯片的寄存器中。

在可选的实施方式中，所述第二检测指令包括单通道回读寄存器指令，所述反馈数据为第二随机数；

所述发送第二检测指令至所述波控板，以使所述波控板将反馈数据回读至所述计算机设备的步骤，包括：

发送所述单通道回读寄存器指令至所述波控板，以使所述波控板从所述目标芯片的寄存器中将基于所述第一随机数下发的所述第二随机数回读至所述计算机设备。

在可选的实施方式中，所述波控板和每个所述芯片通过每个所述芯片各自的通道进行通信连接；

所述根据所述检测数据和所述反馈数据对所述目标芯片进行读写功能检测，得到目标芯片的读写功能检测结果的步骤，包括：

判断所述第一随机数和所述第二随机数是否相同；

若是，则确定所述目标芯片的通道正常；

若否，则将所述第一随机数和所述第二随机数进行记录，并发出通道报错提示，所述通道报错提示用于表征所述目标芯片的通道异常。

在可选的实施方式中，在每个所述芯片均进行读写功能检测之后，所述方法还包括：

获取解算参数，所述解算参数为所述计算机设备和所述波控板进行解算操作的原始数据集；

根据所述解算参数计算得到每个所述芯片对应的标准检测结果；

将所述解算参数发送至所述波控板，以使所述波控板根据所述解算参数计算得到每个所述芯片对应的对比检测结果，并将所述目标芯片的对比检测结果发送至所述目标芯片的寄存器；

根据每个所述芯片对应的标准检测结果和所述目标芯片的对比检测结果对所述目标芯片进行解算功能检测，得到所述目标芯片的解算功能检测结果；

重复上述步骤，基于所述解算参数对每个所述芯片均进行解算功能检测，直至得到所述解算参数配置下每个所述芯片的解算功能检测结果。

在可选的实施方式中，每个所述芯片的通道均有对应的通道标记，每个所述芯片的通道标记与每个所述芯片的标准检测结果有对应关系；

所述根据每个所述芯片对应的标准检测结果和所述目标芯片的对比检测结果对所述目标芯片进行解算功能检测，得到所述目标芯片的解算功能检测结果的步骤，包括：

获取所述目标芯片的通道对应的通道标记；

根据所述目标芯片的通道对应的通道标记，确定所述目标芯片的标准检测结果；

判断所述目标芯片的标准检测结果与所述目标芯片的对比检测结果是否相同；

若是，则确定所述目标芯片的通道正常；

若否，则将所述目标芯片的标准检测结果与所述目标芯片的对比检测结果进行记录，并发出通道报错提示，所述通道报错提示用于表征所述目标芯片的通道异常。

在可选的实施方式中，所述解算参数包括数据库文件，所述标准检测结果为上位机幅相码，所述对比检测结果为波控板回读幅相码；

所述根据所述解算参数计算得到每个所述芯片对应的标准检测结果的步骤，包括：

根据预设的频率等级和加权等级对所述数据库文件进行解算，得到每个所述芯片的通道对应的所述上位机幅相数据；

分别对每个所述芯片的通道对应的上位机幅相数据进行量化编码，得到每个所述芯片对应的上位机幅相码；

所述判断所述目标芯片的标准检测结果与所述目标芯片的对比检测结果是否相同的步骤，包括：

判断所述目标芯片的上位机幅相码与所述目标芯片的波控板回读幅相码的差值是否在量化误差范围内；

若是，则判定所述目标芯片的标准检测结果与所述目标芯片的对比检测结果相同；

若否，则判定所述目标芯片的标准检测结果与所述目标芯片的对比检测结果不相同。

第二方面，本发明实施例提供一种相控阵天线检测装置，应用于计算机设备，所述计算机设备与波控板和多个芯片均通信连接，所述波控板与每个所述芯片均通信连接；

所述装置包括：

发送模块，用于发送第一检测指令至所述波控板，以使所述波控板基于所述第一检测指令将预先生成的检测数据发送至目标芯片，所述目标芯片为所述多个芯片中的任一个；发送第二检测指令至所述波控板，以使所述波控板基于第二检测指令将反馈数据回读至所述计算机设备，所述反馈数据是所述目标芯片根据所述检测数据确定的；

检测模块，用于根据所述检测数据和所述反馈数据对所述目标芯片进行读写功能检测，得到目标芯片的读写功能检测结果；重复上述步骤，对每个所述芯片均进行读写功能检测，直至得到每个所述芯片的读写功能检测结果。

第三方面，本发明实施例提供一种计算机设备，所述计算机设备包括处理器及存储有计算机指令的非易失性存储器，所述计算机指令被所述处理器执行时，所述计算机设备执行前述实施方式中任意一项所述的相控阵天线检测方法。

第四方面，本发明实施例提供一种可读存储介质，所述可读存储介质包括计算机程序，所述计算机程序运行时控制所述可读存储介质所在计算机设备执行前述实施方式中任意一项所述的相控阵天线检测方法。

本发明实施例的有益效果包括，例如：本申请实施例采取一种相控阵天线检测方法、装置、计算机设备和可读存储介质，应用于计算机设备，所述计算机设备与波控板和多个芯片均通信连接，所述波控板与每个所述芯片均通信连接；所述方法包括：通过发送第一检测指令至所述波控板，以使所述波控板基于所述第一检测指令将预先生成的检测数据发送至目标芯片，所述目标芯片为所述多个芯片中的任一个；并且发送第二检测指令至所述波控板，以使所述波控板基于第二检测指令将反馈数据回读至所述计算机设备，所述反馈数据是所述目标芯片根据所述检测数据确定的；然后根据所述检测数据和所述反馈数据对所述目标芯片进行读写功能检测，得到目标芯片的读写功能检测结果；最终重复上述步骤，对每个所述芯片均进行读写功能检测，直至得到每个所述芯片的读写功能检测结果，通过对计算机设备和波控板进行巧妙地设置，能够便捷地实现对相控阵天线的检测。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本发明的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。

图1本申请实施例提供的相控阵检测系统的交互示意图；

图2为本申请实施例提供的相控阵检测方法的一种步骤流程示意图；

图3为本申请实施例提供的相控阵检测方法的另一种步骤流程示意图；

图4为本申请实施例提供的相控阵检测装置的结构示意图；

图5为本申请实施例提供的计算机设备的结构示意图。

具体实施方式

为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本发明实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。

因此，以下对在附图中提供的本发明的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本发明的范围，而是仅仅表示本发明的选定实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。

在本发明的描述中，需要说明的是，若出现术语“上”、“下”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，或者是该发明产品使用时惯常摆放的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。

此外，若出现术语“第一”、“第二”等仅用于区分描述，而不能理解为指示或暗示相对重要性。

需要说明的是，在不冲突的情况下，本发明的实施例中的特征可以相互结合。

目前，对于单个天线通道的检测，一般可以采取对指定通道的芯片进行读写操作来验证该芯片的读写功能正常以及对应通道的正常。而然，对于相控阵天线来说，其拥有数目庞大的天线通道，采用现有技术进行单个通道的检测，无法满足相控阵天线的检测需求，基于此，请参考图1，图1为本申请实施例提供的相控阵天线检测系统10的交互示意图，相控阵天线检测系统10可以包括计算机设备100以及与计算机设备100通信连接的波控板200和多个芯片300，波控板200和多个芯片300之间也为通信连接。在本申请实施例的其他实施方式中，相控天线检测系统也可以由更少或者更多的部分组成，在此不做限制。

为了能够解决前述提出的技术问题，请参考图2，图2为本申请实施例提供的相控阵天线检测方法的步骤流程示意图，该相控阵天线检测方法由图1中的计算机设备100执行实施。下面对相控阵天线检测方法进行详细的描述。

步骤201，发送第一检测指令至波控板200，以使波控板200基于第一检测指令将预先生成的检测数据发送至目标芯片300。

其中，目标芯片300为多个芯片300中的任一个。

步骤202，发送第二检测指令至波控板200，以使波控板200基于第二检测指令将反馈数据回读至计算机设备100。

其中，反馈数据是目标芯片300根据检测数据确定的。

步骤203，根据检测数据和反馈数据对目标芯片300进行读写功能检测，得到目标芯片300的读写功能检测结果。

步骤204，重复上述步骤201至步骤203，对每个芯片300均进行读写功能检测，直至得到每个芯片300的读写功能检测结果。

在本申请实施例中，计算机设备100可以是上位机，用于对波控板200发送对应的控制信号，以实现由波控板200根据接收的信号对芯片300进行控制。具体的，在本申请实施例中，天线使用的芯片300可以是MMIC(Monolithic Microwave Integrated Circuit，简称单片微波集成电路)芯片300。通过上述步骤，能够将相控阵天线包括的多个芯片300遍历处理，不会遗漏，也不需要人工过多的操作。应当理解的是，前述步骤在检测出目标芯片300是否具备良好的读写功能的同时，也检测出了每个芯片300对应的通道是否正常工作，具备通信数据传输的功能。

在此基础上，第一检测指令包括单通道寄存器写指令，每个芯片300均包括寄存器，检测数据为第一随机数。作为一种可替换的实施方式，前述步骤201可以由以下的具体实施方式实现。

子步骤201-1，发送单通道寄存器写指令至波控板200，以使波控板200基于单通道寄存器写指令将预先生成的第一随机数发送至目标芯片300，并将第一随机数写入目标芯片300的寄存器中。

在本发明实施例中，计算机设备100发出的第一检测指令可以是单通道寄存器写指令，预先生成的第一随机数为计算机设备100生成，暂存于内存中，波控板200接收到单通道寄存器写指令后可以将第一随机数发送至目标芯片300的寄存器中存储，具体的，可以是目标芯片300的幅度和相位寄存器。通过上述步骤，实现了计算机设备100对目标芯片300写入数据的目的。

在前述基础上，第二检测指令包括单通道回读寄存器指令，反馈数据为第二随机数。为了能够更加清楚地对前述方案进行描述，前述步骤202可以由以下子步骤完成。

子步骤202-1，发送单通道回读寄存器指令至波控板200，以使波控板200从目标芯片300的寄存器中将基于第一随机数下发的第二随机数回读至计算机设备100。

为了验证目标芯片300的读写功能是否正常，对应向目标芯片300写入数据，可以将由计算机设备100向波控板200发送第二检测指令，第二检测指令可以为单通道回读寄存器指令，以此来触发波控板对目标芯片300的寄存器中的第二随机数进行回读操作，即实现前述对目标芯片300写入数据操作对应的对目标芯片300读取数据的操作。应当理解的是，第二随机数据是由第一随机数确定的，即第一随机数在被写入目标芯片300的寄存器后作为第二随机数。

前述基础上，波控板200和每个芯片300通过每个芯片300各自的通道进行通信连接。前述步骤203可以通过以下具体的实施方式确定。

子步骤203-1，判断第一随机数和第二随机数是否相同。

若是，则执行子步骤203-2。

若否，则执行子步骤203-3。

子步骤203-2，确定目标芯片300的通道正常。

子步骤203-3，将第一随机数和第二随机数进行记录，并发出通道报错提示。

其中，通道报错提示用于表征目标芯片300的通道异常。

具体的，可以认为波控板200在计算机设备100的控制下生成了第一随机数，且将第一随机数写入目标芯片300的寄存器中，再由计算机设备100控制波控板200对目标芯片300的寄存器进行回读，从目标芯片300的寄存器获取第二随机数。

当计算机设备100对目标芯片300的读写功能正常，且目标芯片300的通道能够正常工作的情况下，第一随机数和第二随机数应该是不变的，因此在第一随机数和第二随机数相等的情况下，可以认为目标芯片300的通道正常。

在第一随机数和第二随机数不一样时，则可以认为目标芯片300的读写功能出现异常，也即目标芯片300的通道也发生了异常。可以将写入目标芯片300寄存器的第一随机数和从目标芯片300的寄存器回读的第二随机数获取，发出报错提示至计算机设备100。

通过上述步骤，能够帮助客户对相控阵天线的所有芯片300进行检测，同时可以将检测出芯片300的读写功能出现异常时，将异常的第一随机数和第二随机数进行保存，以供用户后续在进行检修时不仅能知道具体出现异常的通道和芯片300，还能够根据保存的第一随机数和第二随机数进行分析，可以更快的找出异常原因。

为了能够更加清楚的对前述芯片300读写功能检测过程进行描述，下面提供一种更加详细的具体实施过程。

可以由用户启动计算机设备100的检测功能，可以在计算机设备100启动检测功能的同时发送一个触发信号给波控机，以使波控机获取预先生成的第一随机数，也可以在计算机设备100给波控机发送单通道寄存器写指令时触发波控机获取预先生成的第一随机数，在此不做限制。在下发了单通道寄存器写指令后，波控板200会将第一随机数写入目标芯片300的寄存器中，具体可以是目标芯片300的幅度和相位寄存器，而后波控板200可以根据计算机设备100发出单通道回读寄存器指令，将目标芯片300的寄存器中的第二随机数发送至计算机设备100中。

应当理解的是，若写入的是目标芯片300的幅度和相位寄存器，对应的第一随机数和第二随机数为幅相数据。计算机设备100将回读到的幅相数据(即第二随机数)和之前写入的幅相数据(即第一随机数)进行比较，判断数据是否相同，若相同，则可以认为目标芯片300的通道测试成功，即计算机设备100能够对目标芯片300进行读写操作，可以将测试成功的结果进行保存记录，同时在计算机设备100上发出测试成功提示。

若不相同，则可以认为目标芯片300的通道测试失败，即计算机设备100无法对目标芯片300进行读写操作。可以发出通道报错提示，同时记录写入操作和回读操作是目标芯片300的幅度和相位寄存器中的数据(即第一随机数和第二随机数)。用户可以选择终止测试，以对该异常的通道进行检修。也可以继续进行测试，遍历每个芯片300重复上述操作，直至得到每个芯片300的检测结果。每个芯片300的检测结果，不论是测试成功还是测试异常，都可以记录在测试报告中，以供用户后续查看。

除了对每个芯片300进行前述读写功能检测测试通道是否正常运行，芯片300的读写功能是否均能够使用，本申请实施例还提供了如下的检测方案。下面对相控阵天线的解算相关功能的检测过程进行详细的描述，请参考图3，图3为本申请实施例提供的相控阵天线检测方法的另一步骤流程示意图。

步骤301，获取解算参数。

其中，解算参数为计算机设备100和波控板200进行解算操作的原始数据集。

步骤302，根据解算参数计算得到每个芯片300对应的标准检测结果。

步骤303，将解算参数发送至波控板200，以使波控板200根据解算参数计算得到每个芯片300对应的对比检测结果，并将目标芯片300的对比检测结果发送至目标芯片300的寄存器。

步骤304，根据每个芯片300对应的标准检测结果和目标芯片300的对比检测结果对目标芯片300进行解算功能检测，得到目标芯片300的解算功能检测结果。

步骤305，重复上述步骤301至步骤304，基于解算参数对每个芯片300均进行解算功能检测，直至得到所述解算参数配置下每个芯片300的解算功能检测结果。

对于天线芯片300来说，读写功能是相对基础的功能，要实现天线信号的收发等其他功能，对芯片300的解算功能的检测也是十分必要的。具体的，用户可以预先设置或者输入解算参数，解算参数可以用于波控算法的各种输入数据，是存储在数据库中并根据不同参数检索得到。应当理解的是，对于目标芯片300的解算相关检测，需在前述对目标芯片300的读写功能检测完毕的基础下进行。

具体的，可以由计算机设备100根据输入的解算参数进行解算，得到每个芯片300对应的标准检测结果，而波控板200也会对解算参数进行解算，得到每个芯片300对应的对比检测结果。值得说明的是，波控板200解算解算参数的解算速度远比计算机设备100对基础解算数据进行解算的速度快，因此不论是计算机设备100和波控板200是否同步进行解算还是计算机设备100先进行解算，波控板200均能够在计算机设备100解算得到标准检测结果时解算得到对比检测结果。更进一步的，解算参数可以包括角度值，通过上述步骤，能够使得计算机设备100根据角度值确定的步进角度进行前述指令的下发，以实现波控板200在确定的步进角度下对每个芯片300的解算功能进行检测，能够更进一步地对相控阵天线进行检测。

在此基础上，每个芯片300的通道均有对应的通道标记，每个芯片300的通道标记与每个芯片300的标准检测结果有对应关系。作为一种可替换的具体实施方式，前述步骤304可以通过以下的具体实施方式实现。

子步骤304-1，获取目标芯片300的通道对应的通道标记。

子步骤304-2，根据目标芯片300的通道对应的通道标记，确定目标芯片300的标准检测结果。

子步骤304-3，判断目标芯片300的标准检测结果与目标芯片300的对比检测结果是否相同。

若是，则执行子步骤304-5。

若否，则执行子步骤304-6。

子步骤304-5，确定目标芯片300的通道正常。

子步骤304-6，将目标芯片300的标准检测结果与目标芯片300的对比检测结果进行记录，并发出通道报错提示。

其中，通道报错提示用于表征目标芯片300的通道异常。

每个芯片300各自与其他元件进行通信交互的通道都设置有对应的通道标记，通道标记可以是通道号。基于此，在计算机设备100解算得到每个芯片300的标准检测结果后，可以根据通道号来确定目标芯片300的标准检测结果，进而判断目标芯片300的标准检测结果和目标芯片300的对比检测结果是否一致，在波控板200对目标芯片300的解算功能正常，且目标芯片300的通道也不存在异常的情况下，计算机设备100解算得到的标准检测结果与波控板200解算得到的对比检测结果是相同的。

在目标芯片300的标准检测结果与目标芯片300的对比检测结果相同时，则认为目标芯片300的通道正常，且波控板200对目标芯片300的解算功能正常。若计算机设备100和波控板200解算得到的目标芯片300的标准检测结果和对比检测结果不相同，可以将目标芯片300的标准检测结果和对比检测结果记录，同时将目标芯片300对应的通道号进行记录，发出通道报错提示。

通过上述步骤，能够利用波控板200对相控阵天线的每个芯片300进行解读功能相关检测，同时在解读功能检测过程中出现异常时，能够帮助用户根据记录的通道号确定异常发生的位置，然后可以根据记录的该通道号对应的标准检测结果和对比检测结果判断出现了何种故障，能够提高用户对相控阵天线的检测效率，解决了现有技术中仅能知道是否出现故障，而不能快速判断故障位置和类型的技术问题。

在前述基础上，解算参数包括数据库文件，标准检测结果为上位机幅相码，对比检测结果为波控板200回读幅相码。前述步骤302可以有以下的具体实施方式。

子步骤302-1，根据预设的频率等级和加权等级对数据库文件进行解算，得到每个芯片300的通道对应的上位机幅相数据。

子步骤302-2，分别对每个芯片300的通道对应的上位机幅相数据进行量化编码，得到每个芯片300对应的上位机幅相码。

在前述基础上，解算参数包括大量原始数据，可以依照预设的频率等级和加权等级对解算参数进行解算，得到芯片300的通道对应的上位机幅相数据，可以对每个芯片300的通道的上位机幅相数据进行量化编码，得到每个芯片300对应的上位机幅相码。通过上述步骤，能够从解算参数中依照预设条件拿到需求的数据，在本申请实施例的其他实施方式中，预设条件除了是预设的频率等级和加权等级之外，还能够设置其他预设条件，以从解算参数中获取对应的数据，实施较为灵活。

相应的，前述子步骤304-3，具体可以由以下步骤实现。

(1)判断目标芯片300的上位机幅相码与目标芯片300的波控板200回读幅相码的差值是否在量化误差范围内。

(2)若是，则判定目标芯片300的标准检测结果与目标芯片300的对比检测结果相同。

(3)若否，则判定目标芯片300的标准检测结果与目标芯片300的对比检测结果不相同。

在前述基础上，判断标准检测结果和对比检测结果是否相同的依据可以是判断目标芯片300的上位机幅相码与目标芯片300的波控板200回读幅相码的差值是否在量化误差范围内。具体的，当目标芯片300的上位机幅相码与目标芯片300的波控板200回读幅相码的差值小于预设差值阈值时，则认为目标芯片300的标准检测结果与目标芯片300的对比检测结果相同，反之，则认为目标芯片300的标准检测结果与目标芯片300的对比检测结果不相同。

为了能够更加清楚地对波控板200对每个芯片300的解算功能的检测，下面提供一种更为详尽的具体实施方式，以供参考。

可以由计算机设备100加载解算参数，解算参数可以是预先存储在计算机设备100中的，可以利用用户提供的数据库文件，解算参数中得到波控板200解算所需的原始数据。具体的，可以根据预先设置的遍历步进、角度、频率和加权等参数对解算参数进行解算。

可以同时进行计算机设备100根据前述预先设置的条件对解算参数进行解算以及波控板200根据前述预先设置的条件对解算参数进行解算。计算机设备100解算得到每个通道的幅相数据可以都进行量化编码的操作，得到每个通道的幅相码，同时记录每个通道的幅相码与通道的对应关系(例如通道号)，上述计算机设备100计算得到的每个通道的幅相码无需下发至每个芯片300，仅需缓存在计算机设备100的内存中即可。而波控板200解算得到的幅相码则正常发送至每个芯片300的寄存器中。计算机设备100可以以通道号为索引将计算机设备100解算得到的目标芯片300的幅相码和波控板200解算得到的目标芯片300的幅相码进行比较。

可以进行过滤量化误差的方式进行比较，即计算机设备100解算得到的目标芯片300的幅相码和波控板200解算得到的目标芯片300的幅相码之间的差值小于预设差值阈值时可以认为二者相同。反之则认为二者不同。当计算机设备100解算得到的目标芯片300的幅相码和波控板200解算得到的目标芯片300的幅相码判定为相同时，可以认为目标芯片300的通道正常，即波控板200能够正常的对目标芯片300进行解算。反之，则记录计算机设备100解算得到的目标芯片300的幅相码和波控板200解算得到的目标芯片300的幅相码，同时记录测试失败的通道号，用户可以终端测试进行检修，也可以在每个芯片300都通过上述步骤得到测试结果后在统一进行检测，上述对解算功能的检测结果也可以存在测试报告中展示给用户。

本申请实施了提供一种相控阵天线检测装置110，应用于计算机设备100，计算机设备100与波控板200和多个芯片300均通信连接，波控板200与每个芯片300均通信连接。结合参考图4，相控阵天线检测装置110包括：

发送模块1101，用于发送第一检测指令至波控板200，以使波控板200基于第一检测指令将预先生成的检测数据发送至目标芯片300，目标芯片300为多个芯片300中的任一个；发送第二检测指令至波控板200，以使波控板200基于第二检测指令将反馈数据回读至计算机设备100，反馈数据是目标芯片300根据检测数据确定的。

检测模块1102，用于根据检测数据和反馈数据对目标芯片300进行读写功能检测，得到目标芯片300的读写功能检测结果；重复上述步骤，对每个芯片300均进行读写功能检测，直至得到每个芯片300的读写功能检测结果。

进一步地，第一检测指令包括单通道寄存器写指令，每个芯片300均包括寄存器，检测数据为第一随机数。发送模块1101具体用于：

发送单通道寄存器写指令至波控板200，以使波控板200基于单通道寄存器写指令将预先生成的第一随机数发送至目标芯片300，并将第一随机数写入目标芯片300的寄存器中。

进一步地，第二检测指令包括单通道回读寄存器指令，反馈数据为第二随机数。发送模块1101具体还用于：

发送单通道回读寄存器指令至波控板200，以使波控板200从目标芯片300的寄存器中将基于第一随机数下发的第二随机数回读至计算机设备100。

进一步地，波控板200和每个芯片300通过每个芯片300各自的通道进行通信连接。检测模块1102具体用于：

判断第一随机数和第二随机数是否相同；若是，则确定目标芯片300的通道正常；若否，则将第一随机数和第二随机数进行记录，并发出通道报错提示，通道报错提示用于表征目标芯片300的通道异常。

进一步地，检测模块1102还用于：

获取解算参数，解算参数为计算机设备100和波控板200进行解算操作的原始数据集；根据解算参数计算得到每个芯片300对应的标准检测结果；将解算参数发送至波控板200，以使波控板200根据解算参数计算得到每个芯片300对应的对比检测结果，并将目标芯片300的对比检测结果发送至目标芯片300的寄存器；根据每个芯片300对应的标准检测结果和目标芯片300的对比检测结果对目标芯片300进行解算功能检测，得到目标芯片300的解算功能检测结果；重复上述步骤，基于解算参数对每个芯片300均进行解算功能检测，直至得到解算参数配置下每个芯片300的解算功能检测结果。

进一步地，每个芯片300的通道均有对应的通道标记，每个芯片300的通道标记与每个芯片300的标准检测结果有对应关系。检测模块1102具体还用于：

获取目标芯片300的通道对应的通道标记；根据目标芯片300的通道对应的通道标记，确定目标芯片300的标准检测结果；判断目标芯片300的标准检测结果与目标芯片300的对比检测结果是否相同；若是，则确定目标芯片300的通道正常；若否，则将目标芯片300的标准检测结果与目标芯片300的对比检测结果进行记录，并发出通道报错提示，通道报错提示用于表征目标芯片300的通道异常。

进一步地，解算参数包括数据库文件，标准检测结果为上位机幅相码，对比检测结果为波控板200回读幅相码。检测模块1102进一步具体用于：

根据预设的频率等级和加权等级对数据库文件进行解算，得到每个芯片300的通道对应的上位机幅相数据；分别对每个芯片300的通道对应的上位机幅相数据进行量化编码，得到每个芯片300对应的上位机幅相码。

相应的，检测模块1102具体还用于：

判断目标芯片300的上位机幅相码与目标芯片300的波控板200回读幅相码的差值是否在量化误差范围内；若是，则判定目标芯片300的标准检测结果与目标芯片300的对比检测结果相同；若否，则判定目标芯片300的标准检测结果与目标芯片300的对比检测结果不相同。

本申请实施例提供一种计算机设备100，计算机设备100包括处理器及存储有计算机指令的非易失性存储器，计算机指令被处理器执行时，计算机设备100执行前述的相控阵天线检测方法。如图5所示，图5为本申请实施例提供的计算机设备100的结构框图。计算机设备100包括相控阵天线检测装置110、存储器111、处理器112及通信单元113。

存储器111、处理器112以及通信单元113各元件相互之间直接或间接地电性连接，以实现数据的传输或交互。例如，这些元件相互之间可通过一条或多条通讯总线或信号线实现电性连接。相控阵天线检测装置110包括至少一个可以软件或固件(firmware)的形式存储于存储器111中或固化在计算机设备100的操作系统(operating system，OS)中的软件功能模块。处理器112用于执行存储器111中存储的可执行模块，例如相控阵天线检测装置110所包括的软件功能模块及计算机程序等。

其中，存储器111可以是，但不限于，随机存取存储器(Random Access Memory，RAM)，只读存储器(Read Only Memory，ROM)，可编程只读存储器(Programmable Read-OnlyMemory，PROM)，可擦除只读存储器(Erasable Programmable Read-Only Memory，EPROM)，电可擦除只读存储器(Electric Erasable Programmable Read-Only Memory，EEPROM)等。

本申请实施例提供一种可读存储介质，可读存储介质包括计算机程序，计算机程序运行时控制可读存储介质所在计算机设备执行前述的相控阵天线检测方法。

综上所述，本发明实施例提供了本申请实施例采取一种相控阵天线检测方法、装置、计算机设备和可读存储介质，能够实现对相控阵天线故障的定位，同时能够提供故障排查的参考数据，以便用户能够快速地对具体故障进行处理，提高了检测故障的便捷度和解决故障的效率。

以上所述，仅为本发明的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到的变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。

Claims (6)

1.一种相控阵天线检测方法，其特征在于，应用于计算机设备，所述计算机设备与波控板和多个芯片均通信连接，所述波控板与每个所述芯片均通信连接；

所述方法包括：

发送第一检测指令至所述波控板，以使所述波控板基于所述第一检测指令将预先生成的检测数据发送至目标芯片，并将所述检测数据发送至目标芯片，所述目标芯片为所述多个芯片中的任一个；

发送第二检测指令至所述波控板，以使所述波控板基于第二检测指令将反馈数据回读至所述计算机设备，所述反馈数据是所述目标芯片根据所述检测数据确定的；

根据所述检测数据和所述反馈数据对所述目标芯片进行读写功能检测，得到目标芯片的读写功能检测结果；

重复上述步骤，对每个所述芯片均进行读写功能检测，直至得到每个所述芯片的读写功能检测结果；

所述第一检测指令包括单通道寄存器写指令，每个所述芯片均包括寄存器，所述检测数据为第一随机数；

所述发送第一检测指令至所述波控板，以使所述波控板基于所述第一检测指令将预先生成的检测数据发送至目标芯片的步骤，包括：

发送所述单通道寄存器写指令至所述波控板，以使所述波控板基于所述单通道寄存器写指令将预先生成的第一随机数发送至目标芯片，并将所述第一随机数写入所述目标芯片的寄存器中；

在每个所述芯片均进行读写功能检测之后，所述方法还包括：

获取解算参数，所述解算参数为所述计算机设备和所述波控板进行解算操作的原始数据集；

根据所述解算参数计算得到每个所述芯片对应的标准检测结果；

将所述解算参数发送至所述波控板，以使所述波控板根据所述解算参数计算得到每个所述芯片对应的对比检测结果，并将所述目标芯片的对比检测结果发送至所述目标芯片的寄存器；

根据每个所述芯片对应的标准检测结果和所述目标芯片的对比检测结果对所述目标芯片进行解算功能检测，得到所述目标芯片的解算功能检测结果；

重复上述步骤，基于所述解算参数对每个所述芯片均进行解算功能检测，直至得到所述解算参数配置下每个所述芯片的解算功能检测结果；

每个所述芯片的通道均有对应的通道标记，每个所述芯片的通道标记与每个所述芯片的标准检测结果有对应关系；

所述根据每个所述芯片对应的标准检测结果和所述目标芯片的对比检测结果对所述目标芯片进行解算功能检测，得到所述目标芯片的解算功能检测结果的步骤，包括：

获取所述目标芯片的通道对应的通道标记；

根据所述目标芯片的通道对应的通道标记，确定所述目标芯片的标准检测结果；

判断所述目标芯片的标准检测结果与所述目标芯片的对比检测结果是否相同；

若是，则确定所述目标芯片的通道正常；

若否，则将所述目标芯片的标准检测结果与所述目标芯片的对比检测结果进行记录，并发出通道报错提示，所述通道报错提示用于表征所述目标芯片的通道异常；

所述解算参数包括数据库文件，所述标准检测结果为上位机幅相码，所述对比检测结果为波控板回读幅相码；

所述根据所述解算参数计算得到每个所述芯片对应的标准检测结果的步骤，包括：

根据预设的频率等级和加权等级对所述数据库文件进行解算，得到每个所述芯片的通道对应的上位机幅相数据；

分别对每个所述芯片的通道对应的上位机幅相数据进行量化编码，得到每个所述芯片对应的上位机幅相码；

所述判断所述目标芯片的标准检测结果与所述目标芯片的对比检测结果是否相同的步骤，包括：

判断所述目标芯片的上位机幅相码与所述目标芯片的波控板回读幅相码的差值是否在量化误差范围内；

若是，则判定所述目标芯片的标准检测结果与所述目标芯片的对比检测结果相同；

若否，则判定所述目标芯片的标准检测结果与所述目标芯片的对比检测结果不相同。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第二检测指令包括单通道回读寄存器指令，所述反馈数据为第二随机数；

所述发送第二检测指令至所述波控板，以使所述波控板将反馈数据回读至所述计算机设备的步骤，包括：

发送所述单通道回读寄存器指令至所述波控板，以使所述波控板从所述目标芯片的寄存器中将基于所述第一随机数下发的所述第二随机数回读至所述计算机设备。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述波控板和每个所述芯片通过每个所述芯片各自的通道进行通信连接；

所述根据所述检测数据和所述反馈数据对所述目标芯片进行读写功能检测，得到目标芯片的读写功能检测结果的步骤，包括：

判断所述第一随机数和所述第二随机数是否相同；

若是，则确定所述目标芯片的通道正常；

若否，则将所述第一随机数和所述第二随机数进行记录，并发出通道报错提示，所述通道报错提示用于表征所述目标芯片的通道异常。

4.一种相控阵天线检测装置，其特征在于，应用于计算机设备，所述计算机设备与波控板和多个芯片均通信连接，所述波控板与每个所述芯片均通信连接；

所述装置包括：

发送模块，用于发送第一检测指令至所述波控板，以使所述波控板基于所述第一检测指令将预先生成的检测数据发送至目标芯片，所述目标芯片为所述多个芯片中的任一个；发送第二检测指令至所述波控板，以使所述波控板基于第二检测指令将反馈数据回读至所述计算机设备，所述反馈数据是所述目标芯片根据所述检测数据确定的；

检测模块，用于根据所述检测数据和所述反馈数据对所述目标芯片进行读写功能检测，得到目标芯片的读写功能检测结果；重复步骤，对每个所述芯片均进行读写功能检测，直至得到每个所述芯片的读写功能检测结果；

所述第一检测指令包括单通道寄存器写指令，每个所述芯片均包括寄存器，所述检测数据为第一随机数；

发送第一检测指令至所述波控板，以使所述波控板基于所述第一检测指令将预先生成的检测数据发送至目标芯片，包括：

发送所述单通道寄存器写指令至所述波控板，以使所述波控板基于所述单通道寄存器写指令将预先生成的第一随机数发送至目标芯片，并将所述第一随机数写入所述目标芯片的寄存器中；

在每个所述芯片均进行读写功能检测之后，方法还包括：

获取解算参数，所述解算参数为所述计算机设备和所述波控板进行解算操作的原始数据集；

根据所述解算参数计算得到每个所述芯片对应的标准检测结果；

将所述解算参数发送至所述波控板，以使所述波控板根据所述解算参数计算得到每个所述芯片对应的对比检测结果，并将所述目标芯片的对比检测结果发送至所述目标芯片的寄存器；

根据每个所述芯片对应的标准检测结果和所述目标芯片的对比检测结果对所述目标芯片进行解算功能检测，得到所述目标芯片的解算功能检测结果；

重复上述步骤，基于所述解算参数对每个所述芯片均进行解算功能检测，直至得到所述解算参数配置下每个所述芯片的解算功能检测结果；

每个所述芯片的通道均有对应的通道标记，每个所述芯片的通道标记与每个所述芯片的标准检测结果有对应关系；

根据每个所述芯片对应的标准检测结果和所述目标芯片的对比检测结果对所述目标芯片进行解算功能检测，得到所述目标芯片的解算功能检测结果，包括：

获取所述目标芯片的通道对应的通道标记；

根据所述目标芯片的通道对应的通道标记，确定所述目标芯片的标准检测结果；

判断所述目标芯片的标准检测结果与所述目标芯片的对比检测结果是否相同；

若是，则确定所述目标芯片的通道正常；

若否，则将所述目标芯片的标准检测结果与所述目标芯片的对比检测结果进行记录，并发出通道报错提示，所述通道报错提示用于表征所述目标芯片的通道异常；

所述解算参数包括数据库文件，所述标准检测结果为上位机幅相码，所述对比检测结果为波控板回读幅相码；

根据所述解算参数计算得到每个所述芯片对应的标准检测结果，包括：

根据预设的频率等级和加权等级对所述数据库文件进行解算，得到每个所述芯片的通道对应的上位机幅相数据；

分别对每个所述芯片的通道对应的上位机幅相数据进行量化编码，得到每个所述芯片对应的上位机幅相码；

判断所述目标芯片的标准检测结果与所述目标芯片的对比检测结果是否相同，包括：

判断所述目标芯片的上位机幅相码与所述目标芯片的波控板回读幅相码的差值是否在量化误差范围内；

若是，则判定所述目标芯片的标准检测结果与所述目标芯片的对比检测结果相同；

若否，则判定所述目标芯片的标准检测结果与所述目标芯片的对比检测结果不相同。

5.一种计算机设备，其特征在于，所述计算机设备包括处理器及存储有计算机指令的非易失性存储器，所述计算机指令被所述处理器执行时，所述计算机设备执行权利要求1-3中任意一项所述的相控阵天线检测方法。

6.一种可读存储介质，其特征在于，所述可读存储介质包括计算机程序，所述计算机程序运行时控制所述可读存储介质所在计算机设备执行权利要求1-3中任意一项所述的相控阵天线检测方法。

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