CN112051442A - 一种微波峰值功率测量中提高时间参数测量速度的方法 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种微波峰值功率测量中提高时间参数测量速度的方法,公开了一种峰值功率测量领域。微波峰值功率测量中提高时间参数测量速度的方法,通过基于FPGA的数字触发技术和软件的插值算法快速的处理采样数据,并对处理后的数据采用统计算法求取时间参数,采用该方法可以将时间参数的测量速度缩短为10ms以为,从而满足了用户对时间参数快速测量的需求。一个测量周期就可以完成所有时间参数的测量,与随机取样的方法相比较,测量速度由原先的2s多,缩短到10ms以内,提高了200倍,测量速度更快。

Description

一种微波峰值功率测量中提高时间参数测量速度的方法
技术领域
本发明公开了一种峰值功率测量领域,具体涉及一种微波峰值功率测量中提高时间参数测量速度的方法。
背景技术
在进行峰值功率测量时,需要测量各种时间参数,为了保证时间参数测量的精度和准确度,要通过一定的技术重建信号,与本发明最接近的方案是采用硬件电路的随机取样技术来重建信号,最后软件上再对重建的信号进行各种运算来求取时间参数。
由于随机取样是通过多个重复的脉冲信号恢复出真实的测量波形,这就导致了要完全重现脉冲包络信号需要N个测量周期,测量时间太长,最差的情况超过了2s。
发明内容
本发明的目的是针对上述不足,提出了一种基于FPGA的数字触发和软件的插值算法实现时间参数的快速测量的微波峰值功率测量中提高时间参数测量速度的方法。
本发明具体采用如下技术方案:
一种微波峰值功率测量中提高时间参数测量速度的方法,包括以下步骤:
(1)基于FPGA的数字触发捕捉脉冲包络信号沿;
(2)基于软件的插值算法重建脉冲包络信号沿。
优选地,基于FPGA的数字触发捕捉脉冲包络信号沿时,首先在FPGA内部建立数字比较器,将采样ADC数据与设置的标准触发电平对应的ADC进行比较;
当采样ADC值大于标准触发电平对应的ADC值时,脉冲时间计数器和脉冲周期计数器开始对采样时钟进行计数;
当采样ADC值小于触发电平对应的ADC值时,脉冲时间计数器停止计数,进而得到脉冲宽度N1;
当采样ADC再次大于触发电平对应的ADC值时,脉冲周期计数器停止计数,进而得到脉冲周期N2。
优选地,重建脉冲包络信号沿采用取样函数插值法或线性插值法。
优选地,基于取样函数插值法重建脉冲包络信号沿时,当采样频率小于波形数据点频率时,通过数字内插,在原始采样点的基础上,进行插值处理来还原测量波形。
优选地,当待插数据的点数小于200时,采用取样函数插值法,包括以下步骤:
在上升沿的触发位置前后各取10个采样数据,总计21个数据点,在数据点之间分别插入24个数据,总计501个数据点,即可重建信号的上升沿;
同理,重建信号的下降沿,通过取样函数插值算法,重现脉冲包络整个沿的信息,然后通过统计算法对脉冲沿进行处理,去除掉由于采样时钟与信号时钟不具有相关性而引起的误差。
优选地,当待插数据的点数大于200时,采用线性插值法重建脉冲包络信号沿。
本发明具有如下有益效果:
本发明采用基于FPGA的数字触发和插值算法实现时间参数的快速测量,一个测量周期就可以完成所有时间参数的测量,与随机取样的方法相比较,测量速度由原先的2s多,缩短到10ms以内,提高了200倍,测量速度更快。
附图说明
图1为数字触发过程示意图;
图2为数字内插过程示意图;(a)是通过AD采样芯片得到的ADC采样数据,时间间隔为T1;(b)是按照一定的插值算法,插入所需点数,生成新的时间间隔T2的波形数据;
图3为内插算法重建沿示意图。
具体实施方式
下面结合附图和具体实施例对本发明的具体实施方式做进一步说明:
微波峰值功率测量中提高时间参数测量速度的方法,包括以下步骤:
(1)基于FPGA的数字触发捕捉脉冲包络信号沿。
首先在FPGA内部建立数字比较器,如图1所示,将采样ADC数据与设置的标准触发电平对应的ADC进行比较。
当采样ADC值大于标准触发电平对应的ADC值时,脉冲时间计数器和脉冲周期计数器开始对采样时钟进行计数(Start)。
当采样ADC值小于触发电平对应的ADC值时,脉冲时间计数器停止计数(Stop1),进而得到脉冲宽度N1;
当采样ADC再次大于触发电平对应的ADC值时,脉冲周期计数器停止计数(Stop2),进而得到脉冲周期N2。
由图1可以看出通过FPGA数字触发方式计算得到的脉冲宽度N1和脉冲周期N2与真实的脉冲宽度和周期相比都产生了偏差,主要是因为采样时钟与信号时钟不具有相关性,所以在沿位置的采样点有可能比标准电平对应的ADC大,也可能比其小,这就导致了时间参数的测量准确度和采样时钟密切相关,测量准确度只能大于等于1个采样周期,要想进一步提升测量的准确度,要进行下面的进一步处理。
(2)基于软件的插值算法重建脉冲包络信号沿。
重建脉冲包络信号沿采用取样函数插值法或线性插值法。
基于取样函数插值法重建脉冲包络信号沿时,当采样频率小于波形数据点频率时,通过数字内插,在原始采样点的基础上,进行插值处理来还原测量波形。具体过程如图2所示:图(a)是通过AD采样芯片得到的ADC采样数据,时间间隔为T1,图(b)是按照一定的插值算法,插入所需点数,生成新的时间间隔T2的波形数据。
综合考虑内插速度和重建信号的质量,当待插数据的点数小于200时,采用取样函数(即sinc函数)插值法,包括以下步骤:
在上升沿的触发位置前后各取10个采样数据,总计21个数据点,在数据点之间分别插入24个数据,总计501个数据点,即可重建信号的上升沿;
同理,重建信号的下降沿,如图3所示,通过取样函数插值算法,可以完整的重现脉冲包络整个沿的信息,然后通过统计算法对脉冲沿进行处理,去除掉由于采样时钟与信号时钟不具有相关性而引起的误差,进一步提升了时间参数的测量准确度。
当待插数据的点数大于200时,采用线性插值法重建脉冲包络信号沿。
整个处理过程都是在1个测量周期完成的,在保证了测量准确度的前提下,大大的加快了测量速度。
当然,上述说明并非是对本发明的限制,本发明也并不仅限于上述举例,本技术领域的技术人员在本发明的实质范围内所做出的变化、改型、添加或替换,也应属于本发明的保护范围。

Claims (6)

1.一种微波峰值功率测量中提高时间参数测量速度的方法,其特征在于,包括以下步骤:
(1)基于FPGA的数字触发捕捉脉冲包络信号沿;
(2)基于软件的插值算法重建脉冲包络信号沿。
2.如权利要求1所述的一种微波峰值功率测量中提高时间参数测量速度的方法,其特征在于,基于FPGA的数字触发捕捉脉冲包络信号沿时,首先在FPGA内部建立数字比较器,将采样ADC数据与设置的标准触发电平对应的ADC进行比较;
当采样ADC值大于标准触发电平对应的ADC值时,脉冲时间计数器和脉冲周期计数器开始对采样时钟进行计数;
当采样ADC值小于触发电平对应的ADC值时,脉冲时间计数器停止计数,进而得到脉冲宽度N1;
当采样ADC再次大于触发电平对应的ADC值时,脉冲周期计数器停止计数,进而得到脉冲周期N2。
3.如权利要求1所述的一种微波峰值功率测量中提高时间参数测量速度的方法,其特征在于,重建脉冲包络信号沿采用取样函数插值法或线性插值法。
4.如权利要求1所述的一种微波峰值功率测量中提高时间参数测量速度的方法,其特征在于,基于插值法重建脉冲包络信号沿时,当采样频率小于波形数据点频率时,通过数字内插,在原始采样点的基础上,进行插值处理来还原测量波形。
5.如权利要求4所述的一种微波峰值功率测量中提高时间参数测量速度的方法,其特征在于,当待插数据的点数小于200时,采用取样函数插值法,包括以下步骤:
在上升沿的触发位置前后各取10个采样数据,总计21个数据点,在数据点之间分别插入24个数据,总计501个数据点,即可重建信号的上升沿;
同理,重建信号的下降沿,通过取样函数插值算法,重现脉冲包络整个沿的信息,然后通过统计算法对脉冲沿进行处理,去除掉由于采样时钟与信号时钟不具有相关性而引起的误差。
6.如权利要求3所述的一种微波峰值功率测量中提高时间参数测量速度的方法,其特征在于,当待插数据的点数大于200时,采用线性插值法重建脉冲包络信号沿。
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