CN112037701B - 一种显示屏的老化方法和显示屏老化处理装置 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种显示屏的老化方法和显示屏老化处理装置。显示屏的处理方法包括以下步骤：老化电流冲击，对所述显示屏施加冲击电流，所述冲击电流呈多阶段阶梯式递增。通过老化电流冲击，使显示屏微短路处持续承受电流冲击发热，直至完全烧断，使微短路的情况得到恢复。冲击电流阶梯式递增，使得冲击电流只对微短路点进行冲击，修复微短路点过程中不会破坏显示屏。

Description

一种显示屏的老化方法和显示屏老化处理装置

技术领域

本发明涉及显示屏质量控制领域，具体涉及一种显示屏的老化方法和显示屏老化处理装置。

背景技术

发光显示屏中，若像素的发光器件生产过程中因环境因素造成导电微尘残留于发光膜层中，会造成导电微尘所在的像素的阴极和阳极之间发生微短路或完全短路。微短路的像素存在不稳定性，使用一段时间后易发生漏过电流，导致该像素无法驱动点亮，造成显示屏出现亮线不良。

因此需要对微短路的像素进行处理，使显示屏能够恢复正常显示。

发明内容

针对上述问题，本发明提供一种显示屏的老化方法和显示屏老化处理装置，以解决发光显示屏因微短路造成亮线不良的风险问题且不会破坏显示屏。

本发明提供一种显示屏的老化方法，包括以下步骤：老化电流冲击，对所述显示屏施加冲击电流，所述冲击电流呈多阶段阶梯式递增。

可选的，所述冲击电流在每一阶段中为脉冲式电流。

可选的，显示屏的老化方法还包括以下步骤：在进行所述老化电流冲击之前，选择测试显示屏，并对测试显示屏进行击穿电流测试，以获取反向击穿电流；进行老化电流冲击之前，对所述显示屏进行前期漏电流测试，根据所述前期漏电流测试的结果，对待老化的显示屏的不良风险等级进行分类；根据所述反向击穿电流和所述不良风险等级确定初始冲击方案。

可选的，根据所述反向击穿电流和所述不良风险等级确定初始冲击方案中的冲击电流峰值，所述冲击电流峰值小于所述反向击穿电流；根据所述不良风险等级确定初始冲击方案中的冲击电流的时间。

可选的，不良风险等级越高，冲击电流峰值越大；不良风险等级越高，老化电流冲击的时间越长。

可选的，显示屏的老化方法还包括以下步骤：所述冲击电流呈多阶段阶梯式递增的过程包括第一阶段电流冲击至第N阶段电流冲击；依据所述初始冲击方案施加第一阶段电流冲击的冲击电流；第一阶段电流冲击至第N阶段电流冲击之间，对所述显示屏进行冲击中漏电流测试；判定冲击中漏电流测试的漏电流是否小于阈值；若漏电流测试的漏电流大于阈值，则依据所述冲击中漏电流测试的结果，修正所述初始冲击方案，以得到修正冲击方案；根据所述修正冲击方案执行第一阶段电流冲击之后的老化电流冲击，直至冲击中漏电流测试的漏电流小于阈值。

本发明还提供一种显示屏老化处理装置，包括老化电流冲击部件，所述电流冲击部件适于对所述显示屏施加多阶段阶梯式递增的冲击电流。

可选的，显示屏老化处理装置还包括：击穿电流测试部件，所述击穿电流部件适于对测试显示屏进行击穿电流测试，以获取反向击穿电流；漏电流测试部件，所述漏电流测试部件适于对显示屏进行前期漏电流测试；分类模块，分类模块适于根据所述前期漏电流测试的结果对待老化的显示屏的不良风险等级进行分类；控制部件，分别连接所述电流冲击部件、漏电流测试部件和击穿电流测试部件，所述控制部件适于控制所述击穿电流测试部件进行击穿电流测试，所述控制部件适于控制所述漏电流测试部件进行前期漏电流测试；方案获取模块，所述方案获取模块适于根据所述反向击穿电流和所述不良风险等级确定所述老化电流冲击部件的初始冲击方案。

可选的，漏电流测试部件还适于对显示屏进行冲击中漏电流测试；所述方案获取模块还适于依据所述冲击中漏电流测试的漏电流，修正所述初始冲击方案，以得到所述老化电流冲击的修正冲击方案；所述显示屏老化处理装置还包括判断模块，所述判断模块适于判断所述冲击中漏电流测试的漏电流是否小于阈值。

可选的，所述方案获取模块适于根据所述反向击穿电流和所述不良风险等级确定初始冲击方案中的冲击电流峰值，所述冲击电流峰值小于所述反向击穿电流；所述方案获取模块适于根据所述不良风险等级确定初始冲击方案中的冲击电流的时间。

本发明的有益效果在于：

1.本发明提供的显示屏的老化方法，包括老化电流冲击步骤，对所述显示屏施加冲击电流，所述冲击电流呈多阶段阶梯式递增。通过老化电流冲击，使显示屏微短路处持续承受电流冲击发热，直至完全烧断，使微短路的情况得到恢复。冲击电流阶梯式递增，使得冲击电流只对微短路点进行冲击，冲击电流阶梯式递增可以避免在初始阶段给显示屏施加过大的电流，修复微短路点过程中不会破坏显示器。

2.本发明提供的显示屏的老化方法，所述冲击电流在每一阶段中为脉冲式电流，可对微短路点多次重复冲击，确保微短路点能够烧断，同时避免微短路点持续承受较大电流造成短路点周围烧伤损坏。

3.本发明提供的显示屏的老化方法，在进行所述老化电流冲击之前，选择测试显示屏，并对测试显示屏进行击穿电流测试，以获取反向击穿电流；进行老化电流冲击之前，对所述显示屏进行前期漏电流测试，根据所述前期漏电流测试的结果，对待老化的显示屏的不良风险等级进行分类；根据所述反向击穿电流和所述不良风险等级确定初始冲击方案。具体的，根据所述反向击穿电流和所述不良风险等级确定初始冲击方案中的冲击电流峰值，所述冲击电流峰值小于所述反向击穿电流；根据所述不良风险等级确定初始冲击方案中的冲击电流的时间。具体的，不良风险等级越高，冲击电流峰值越大；不良风险等级越高，老化电流冲击的时间越长。在施加所述冲击电流前，先获得反向击穿电流和不良风险等级，根据所述反向击穿电流和所述不良风险等级确定初始冲击方案，通过不良风险等级分类和反向击穿电流值，针对不同不良风险等级的显示屏制定针对性的初始冲击方案，一方面可避免高风险显示屏冲击不足无法烧断仍然发生亮线不良，另一方面可避免风险低显示屏冲击过量造成损坏。此外限定所述冲击电流峰值小于所述反向击穿电流，保证冲击电流不会击穿显示屏，避免电流冲击导致显示屏损坏。

4.本发明提供的显示屏的老化方法中，呈多阶段阶梯式递增的所述冲击电流包括第一阶段电流冲击至第N阶段电流冲击；依据所述初始冲击方案施加第一阶段电流冲击的冲击电流；第一阶段电流冲击至第N阶段电流冲击之间，对所述显示屏进行冲击中漏电流测试；判定冲击中漏电流测试的漏电流是否小于阈值；若漏电流测试的漏电流大于阈值，则依据所述冲击中漏电流测试的结果，修正所述初始冲击方案，以得到修正冲击方案；根据所述修正冲击方案执行第一阶段电流冲击之后的老化电流冲击，直至冲击中漏电流测试的漏电流小于阈值。增加冲击中漏电流测试，可监控冲击过程中的显示屏状况，根据冲击中漏电流测试的结果修正冲击方案，优化所述初始冲击方案，使得所述修正冲击方案的参数更加适于对显示屏的老化，确保电流冲击可以烧断微短路处，且保证不会损坏显示屏。

5.本发明提供的老化处理装置，包括老化电流冲击部件，所述电流冲击部件适于对所述显示屏施加多阶段阶梯式递增的冲击电流。通过老化电流冲击部件对显示屏施加多阶段阶梯式的冲击电流，使显示屏微短路处持续承受电流冲击发热，直至完全烧断，使微短路的情况得到恢复。冲击电流阶梯式递增，使得冲击电流只对微短路点进行冲击，冲击电流阶梯式递增可以避免在初始阶段给显示屏施加过大的电流，修复微短路点过程中不会破坏显示屏。

6.本发明提供的老化处理装置，还包括：击穿电流测试部件，所述击穿电流部件适于对测试显示屏进行击穿电流测试，以获取反向击穿电流；漏电流测试部件，所述漏电流测试部件适于对显示屏进行前期漏电流测试；分类模块，分类模块适于根据所述前期漏电流测试的结果对待老化的显示屏的不良风险等级进行分类；控制部件，分别连接所述电流冲击部件、漏电流测试部件和击穿电流测试部件，所述控制部件适于控制所述击穿电流测试部件进行击穿电流测试，所述控制部件适于控制所述漏电流测试部件进行前期漏电流测试；方案获取模块，所述方案获取模块适于根据所述反向击穿电流和所述不良风险等级确定所述老化电流冲击部件的初始冲击方案。通过这样的设置，使得装置能够在施加所述冲击电流前，先获得反向击穿电流和进行不良风险等级分类。根据所述反向击穿电流和所述不良风险等级确定初始冲击方案，通过不良风险等级分类和反向击穿电流值，针对不同不良风险等级的显示屏制定针对性的初始冲击方案，一方面可避免高风险显示屏冲击不足无法烧断仍然发生亮线不良，另一方面可避免风险低显示屏冲击过量造成损坏。此外限定所述冲击电流峰值小于所述反向击穿电流，保证冲击电流不会击穿显示屏，避免电流冲击导致显示屏损坏。

7.本发明提供的老化处理装置，漏电流测试部件还适于对显示屏进行冲击中漏电流测试；所述方案获取模块还适于依据所述冲击中漏电流测试的漏电流，修正所述初始冲击方案，以得到所述老化电流冲击的修正冲击方案；显示屏老化处理装置还包括判断模块，所述判断模块适于判断所述冲击中漏电流测试的漏电流是否小于阈值。这样的设置，可监控冲击过程中的显示屏状况，可根据漏电流测试的结果修正冲击方案，优化所述修正冲击方案，使得所述修正冲击方案的参数更加适于对显示屏的老化，确保电流冲击可以烧断微短路处，且保证不会损坏显示屏。

附图说明

为了更清楚地说明本发明具体实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发明的一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明的一种显示屏的老化方法的一实施例的流程图。

具体实施方式

下面将结合附图对本发明的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

在本发明的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。此外，术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。

在本发明的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，还可以是两个元件内部的连通，可以是无线连接，也可以是有线连接。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。

此外，下面所描述的本发明不同实施方式中所涉及的技术特征只要彼此之间未构成冲突就可以相互结合。

实施例1

本实施例公开一种显示屏的老化方法，参见图1，图1为本实施例的一种显示屏的老化方法流程图。如图1所示，本实施例的一种显示屏的老化方法包括以下步骤：

S3：老化电流冲击，对显示屏施加冲击电流，冲击电流呈多阶段阶梯式递增。

通过老化电流冲击，使显示屏微短路处持续承受电流冲击发热，直至完全烧断，使微短路的情况得到恢复。冲击电流阶梯式递增，使得冲击电流只对微短路点进行冲击，冲击电流阶梯式递增可以避免在初始阶段给显示屏施加过大的电流，修复微短路点过程中不会破坏显示器。

所述显示器包括OLED显示器。

例如，如图1所示，老化电流冲击步骤S3可以包括第一阶段电流冲击S31、第二阶段电流冲击S34和第三阶段电流冲击S37，三个阶段的冲击电流阶梯式递增。具体的，进行第一阶段电流冲击，使用第一冲击电流I₁进行冲击；冲击一段时间后停止，调整电流提升至第二冲击电流I₂；进行第二阶段电流冲击，使用第二冲击电流I₂进行冲击；冲击一段时间后停止，调整电流提升至第三冲击电流I₃；进行过第三阶段电流冲击，使用第三冲击电流I₃进行冲击。第一冲击电流I₁、第二冲击电流I₂、第三冲击电流I₃呈阶梯式梯式递增。

在本实施例中，冲击电流在每一阶段中为脉冲式电流。也就是说，第一阶段电流冲击、第二阶段电流冲击和第三阶段电流冲击采用的电流均为脉冲式电流。

冲击电流在每一阶段中为脉冲式电流，可对微短路点多次重复冲击，确保微短路点能够烧断，同时避免微短路点持续承受较大电流造成短路点周围烧伤损坏。

例如，设定单次电流冲击时间为12.5ms，在第一阶段电流冲击时，使用第一冲击电流I₁冲击40000次；在第二阶段电流冲击时，使用第二冲击电流I₂冲击70000次；在第三阶段电流冲击时间，使用第三冲击电流I₃冲击100000次。以上单次电流冲击时间和电流冲击次数仅仅为举例，本领域技术人员可根据实际需要，确定所需的单次电流冲击时间和电流冲击次数。

在本实施例中，在进行老化电流冲击之前，选择测试显示屏，并对测试显示屏进行击穿电流测试，以获取反向击穿电流。

如图1所示，在老化电流冲击步骤S3之前进行击穿电流测试S11，具体的步骤为：对待进行老化电流冲击的该批次的显示屏进行抽样，被抽样获取的显示屏作为测试显示屏；对所述测试显示屏进行击穿电流测试，得到每个抽样的显示屏的反向击穿电流，将得到的全部反向击穿电流取平均值，将该平均值确定为该批次的显示屏的反向击穿电流。

根据所述击穿电流测试的结果(获取的该批次的显示屏的反向击穿电流)确定冲击电流峰值，使所述冲击电流峰值小于所述反向击穿电流(如本实施例中，第三冲击电流I₃小于步骤S1中测得的该批次的显示屏的反向击穿电流)。

在本实施例中，进行老化电流冲击S3之前，对显示屏进行前期漏电流测试S12，根据前期漏电流测试S12的结果，对待老化的显示屏的不良风险等级进行分类。

具体的，前期漏电流测试为，对显示屏施加与点亮该显示屏所需的驱动电流等值反向的测试电流，测试该测试电流通过显示屏后的漏过电流的电流值。

依据前期漏电流测试S12的结果，可以将显示屏分为：

A级(低风险)：漏过电流为10^-3A～10^-4A；

B级(中风险)：漏过电流为10^-5A～10^-6A；

C级(高风险)：漏过电流为10^-8A～10^-9A；

此处的漏过电流数值仅为示例，本领域技术人员可根据实际情况，针对不同风险的显示屏，选择合适的分组方式并制定相应的冲击方案。

确定不良风险等级分类后，根据反向击穿电流和不良风险等级确定初始冲击方案；具体的，根据反向击穿电流和不良风险等级确定初始冲击方案中的冲击电流峰值，根据不良风险等级确定初始冲击方案中的冲击电流的时间。

初始冲击方案包括：冲击电流峰值、冲击电流阶段数、每阶段冲击电流值、每阶段电流持续冲击时间和每阶段电流冲击次数。本领域技术人员可针对不同风险等级的显示屏，调整不同的上述条件参数。

通过前期漏电流测试结果可判定显示屏稳定性风险高低，结合击穿电流测试的结果，针对不同稳定性风险的漏电流的显示屏制定初始冲击方案，一方面可避免高风险显示屏冲击不足无法烧断仍然发生亮线不良，另一方面可避免风险低显示屏冲击过量造成损坏。

在本实施例中，不良风险等级越高，冲击电流峰值越大；不良风险等级越高，老化电流冲击的时间越长。

在本实施例中，冲击电流的峰值可以为反向击穿电流的0.6倍。在其他一些实施例中，可以根据不同风险级别确定不同的峰值，例如，中风险级低风险级可以采用峰值为反向击穿电流的0.6倍，低风险级可以采用峰值为反向击穿电流的0.4倍，高风险级可以采用峰值为反向击穿电流的0.7倍。

在本实施例中，冲击电流呈多阶段阶梯式递增的过程包括第一阶段电流冲击至第N阶段电流冲击。

依据所述初始冲击方案施加第一阶段电流冲击的冲击电流。

第一阶段电流冲击至第N阶段电流冲击之间，对所述显示屏进行冲击中漏电流测试；判定冲击中漏电流测试的漏电流是否小于阈值；若漏电流测试的漏电流大于阈值，则依据所述冲击中漏电流测试的结果，修正所述初始冲击方案，以得到修正冲击方案；根据所述修正冲击方案执行第一阶段电流冲击之后的老化电流冲击，直至冲击中漏电流测试的漏电流小于阈值。

第一阶段电流冲击至第N阶段电流冲击之间，对所述显示屏进行冲击中漏电流测试；判定冲击中漏电流测试的漏电流是否小于阈值；若漏电流测试的漏电流大于阈值，则依据所述冲击中漏电流测试的结果，修正所述初始冲击方案，以得到修正冲击方案；根据所述修正冲击方案执行第一阶段电流冲击之后的老化电流冲击，直至冲击中漏电流测试的漏电流小于阈值。

例如，如图1所示，在电流冲击步骤S3中，分别增加第一次冲击中漏电流测试S32、第二次冲击中漏电流测试S35，并相应的分别根据第一次冲击中漏电流测试S32的结果和第二次冲击中漏电流测试S35的结果进行第一次冲击方案修正S33和第二次冲击方案修正S36，分别在之后的第二阶段电流冲击S34和第三阶段电流冲击S37中，使用修正后的冲击方案进行电流冲击。直至在第三阶段电流冲击S37后，进行第三次冲击中漏电流测试，测得的漏电流小于阈值。

以上仅为举例，实际应用中，冲击中漏电流测试不限于如上所述的三次，可以为更少或更多的次数；相应的冲击方案修正，和电流冲击的阶段次数，也可以为更少或更多的次数，以最后一次冲击中漏电流测试时测得的漏电流小于阈值为准。

增加冲击中漏电流测试，可监控冲击过程中的显示屏状况，根据漏电流测试的结果修正冲击方案，优化初始冲击方案，使得所述修正冲击方案的参数更加适于对显示屏的老化，确保电流冲击可以烧断微短路处，且保证不会损坏显示屏。

实施例2

本实施例提供一种显示屏老化处理装置，包括：

老化电流冲击部件，所述电流冲击部件适于对所述显示屏施加多阶段阶梯式递增的冲击电流。

通过老化电流冲击部件对显示屏施加多阶段阶梯式的冲击电流，使显示屏微短路处持续承受电流冲击发热，直至完全烧断，使微短路的情况得到恢复。冲击电流阶梯式递增，使得冲击电流只对微短路点进行冲击，修复微短路点过程中不会破坏显示屏。

在本实施例中，显示屏老化处理装置还包括击穿电流测试部件、漏电流测试部件、分类模块、控制部件和方案获取模块。

击穿电流部件适于对测试显示屏进行击穿电流测试，以获取反向击穿电流。

漏电流测试部件适于对显示屏进行前期漏电流测试。

分类模块适于根据前期漏电流测试的结果对待老化的显示屏的不良风险等级进行分类。

控制部件分别连接电流冲击部件、漏电流测试部件和击穿电流测试部件，控制部件适于控制击穿电流测试部件进行击穿电流测试，控制部件适于控制漏电流测试部件进行前期漏电流测试。

方案获取模块适于根据反向击穿电流和不良风险等级确定老化电流冲击部件的初始冲击方案。

具体的，方案获取模块可适于根据反向击穿电流和所述不良风险等级确定初始冲击方案中的冲击电流峰值，冲击电流峰值小于所述反向击穿电流。方案获取模块还适于根据所述不良风险等级确定初始冲击方案中的冲击电流的时间。

通过这样的设置，使得装置能够在施加所述冲击电流前，先获得反向击穿电流和进行不良风险等级分类。根据所述反向击穿电流和所述不良风险等级确定初始冲击方案，通过不良风险等级分类和反向击穿电流值，针对不同不良风险等级的显示屏制定针对性冲击方案，一方面可避免高风险显示屏冲击不足无法烧断仍然发生亮线不良，另一方面可避免风险低显示屏冲击过量造成损坏。此外限定所述冲击电流峰值小于所述反向击穿电流，保证冲击电流不会击穿显示屏，避免电流冲击导致显示屏损坏。

在本实施例中，漏电流测试部件的功能和电流冲击部件的功能可以由同一设备提供，例如Keithley 2400型参数测试仪。

在本实施例中，上述分类模块的功能和方案获取模块的功能可以均由控制部件实现。在其他一些实施例中，分类模块的功能和方案获取模块的功能可以由其他部件实现，也可以由操作人员人工实现。

在本实施例中，控制部件可以为运算控制器、微型计算机、工控主机等。

本实施例的显示屏老化处理装置，漏电流测试部件还适于对显示屏进行冲击中漏电流测试。方案获取模块还适于依据冲击中漏电流测试的结果，修正初始冲击方案，以得到老化电流冲击的修正冲击方案。显示屏老化处理装置还包括判断模块，判断模块适于判断冲击中漏电流测试的漏电流是否小于阈值。通过这样的设置，使得老化处理装置可以在冲击过程中增加漏电流测试，可监控老化电流冲击过程中的显示屏状况，可根据漏电流测试结果修正冲击方案，确保电流冲击可以烧断微短路处，且保证不会损坏显示屏。

显然，上述实施例仅仅是为清楚地说明所作的举例，而并非对实施方式的限定。对于所属领域的普通技术人员来说，在上述说明的基础上还可以做出其它不同形式的变化或变动。这里无需也无法对所有的实施方式予以穷举。而由此所引伸出的显而易见的变化或变动仍处于本发明创造的保护范围之中。

Claims (8)

1.一种显示屏的老化方法，其特征在于，包括以下步骤：

老化电流冲击，对所述显示屏施加冲击电流，所述冲击电流呈多阶段阶梯式递增；

在进行所述老化电流冲击之前，选择测试显示屏，并对测试显示屏进行击穿电流测试，以获取反向击穿电流；

进行老化电流冲击之前，对所述显示屏进行前期漏电流测试，根据所述前期漏电流测试的结果，对待老化的显示屏的不良风险等级进行分类；

根据所述反向击穿电流和所述不良风险等级确定初始冲击方案。

2.根据权利要求1所述的显示屏的老化方法，其特征在于，

所述冲击电流在每一阶段中为脉冲式电流。

3.根据权利要求1所述的显示屏的老化方法，其特征在于，根据所述反向击穿电流和所述不良风险等级确定初始冲击方案中的冲击电流峰值，所述冲击电流峰值小于所述反向击穿电流；根据所述不良风险等级确定初始冲击方案中的冲击电流的时间。

4.根据权利要求3所述的显示屏的老化方法，其特征在于，不良风险等级越高，冲击电流峰值越大；不良风险等级越高，老化电流冲击的时间越长。

5.根据权利要求1所述的显示屏的老化方法，其特征在于，

所述冲击电流呈多阶段阶梯式递增的过程包括第一阶段电流冲击至第N阶段电流冲击；

依据所述初始冲击方案施加第一阶段电流冲击的冲击电流；

第一阶段电流冲击至第N阶段电流冲击之间，对所述显示屏进行冲击中漏电流测试；判定冲击中漏电流测试的漏电流是否小于阈值；若漏电流测试的漏电流大于阈值，则依据所述冲击中漏电流测试的结果，修正所述初始冲击方案，以得到修正冲击方案；根据所述修正冲击方案执行第一阶段电流冲击之后的老化电流冲击，直至冲击中漏电流测试的漏电流小于阈值。

6.一种显示屏老化处理装置，其特征在于，包括：

老化电流冲击部件，所述电流冲击部件适于对所述显示屏施加多阶段阶梯式递增的冲击电流；

击穿电流测试部件，所述击穿电流部件适于对测试显示屏进行击穿电流测试，以获取反向击穿电流；

漏电流测试部件，所述漏电流测试部件适于对显示屏进行前期漏电流测试；

分类模块，分类模块适于根据所述前期漏电流测试的结果对待老化的显示屏的不良风险等级进行分类；

控制部件，分别连接所述电流冲击部件、所述漏电流测试部件和所述击穿电流测试部件，所述控制部件适于控制所述击穿电流测试部件进行击穿电流测试，所述控制部件适于控制所述漏电流测试部件进行前期漏电流测试；

方案获取模块，所述方案获取模块适于根据所述反向击穿电流和所述不良风险等级确定所述老化电流冲击部件的初始冲击方案。

7.根据权利要求6所述的显示屏老化处理装置，其特征在于，漏电流测试部件还适于对显示屏进行冲击中漏电流测试；

所述方案获取模块还适于依据所述冲击中漏电流测试的漏电流，修正所述初始冲击方案，以得到所述老化电流冲击的修正冲击方案；

所述显示屏老化处理装置还包括判断模块，所述判断模块适于判断所述冲击中漏电流测试的漏电流是否小于阈值。

8.根据权利要求6所述的显示屏老化处理装置，其特征在于，所述方案获取模块适于根据所述反向击穿电流和所述不良风险等级确定初始冲击方案中的冲击电流峰值，所述冲击电流峰值小于所述反向击穿电流；所述方案获取模块适于根据所述不良风险等级确定初始冲击方案中的冲击电流的时间。

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