CN112033548A - 一种装置内部表面温度的测量方法及测量设备 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种装置内部表面温度的测量方法及测量设备，先通过标准光窗完成对红外测温仪的透过率参数的校准，再通过增加标准测温片完成红外测温仪的发射率的校准，保持发射率、透过率、标准光窗以及标准测温片不变，维持装置内部探测点恒定温度，进行待测表面的温度测量，红外测温仪的测量温度就是待测表面的温度，此为标准式测量，更换相近的实际测温片，此时维持装置内部探点温度不变，则实际测温片表面温度应和原标准测温片红外测量温度基本接近，此为近似式测量；两种非接触式测温标定方法考虑了测量精度、测试距离、辐射过程传输介质、测量过程发射率变化，及实际测量条件等因素的影响，提高了测量精度及测量效率。
Description
技术领域
本发明涉及红外测温技术领域，更具体的说是涉及一种装置内部表面温度的测量方法及测量设备。
背景技术
温度测量通常分为接触式和非接触式测量两种。较为传统的温度测量一般采用接触式测温方式，主要手段有利用介质热胀冷缩的水银温度计、压力式温度计等、利用物体电气参数随温度变化的如热电偶法、热电阻法等，及利用随温度而颜色发生变化的贴纸等，这几种测温技技术已经成熟，且已在各行各业得到应用。在某些应用场合，接触式测温受制约，非接触式测温具有明显的优势，比如如机器不停、人不接触或温度传感无法接触情况下，对生产设备或装置进行温度测量；在产品不被损坏或污染情况下，对高温产品进行温度测量等。红外测温技术就是一种非接触式测温技术，由于其具有惯性小、响应速度快、测温范围宽、不改变被测物体温度场、能远距离非接触测量的优点，使其在医学、军事、工业等多个领域得到广泛应用。
红外测温技术，有两个问题需要解决，一是准确测量来自被测物体表面的辐射能量；二是辐射能量如何准确表示被测表面的真实温度；另外，还需考虑测量精度、测试距离、工作动态范围、被测目标大小、辐射过程传输介质以及测量过程发射率变化等，这些因素都影响红外测温的准确性和可靠性。
中国专利公布号为CN 109959454 A公开了“一种用于强光照射表面的红外测温装置、测温方法及应用”的发明，该发明提供了一种用于强光照射物体表面的红外测温装置、测温方法及应用，该方法可解决强光照射下，发射率已知或可以直接测量的表面温度测量，但不能解决发射率未知或不易直接测量情况下的表面测温。
中国专利公布号为CN 108469307 A公开了“一种钢包表面测温装置与测温方法”的发明，该发明提供了一种钢包表面的接触式测温方法，该方法采用传统热电阻方法测量，将测温表面贴上多个热电阻，采集信号处理并实时监测，该发明仅适用于表面容易敷设热电阻的金属表面，对于无法敷设温度传感器的不规则表面或非金属表面，则不能测量。
因此，如何使用红外测温仪可靠地测量装置内部表面的温度，提供一种装置内部表面温度的测量方法及测量设备，是本领域技术人员亟需解决的问题。
发明内容
本发明旨在至少在一定程度上解决现有技术中的上述技术问题之一，提供了一种装置内部表面温度的测量方法及测量设备。
为了实现上述目的，本发明采用如下技术方案：
一种装置内部表面温度的测量方法，包括如下步骤：
S01:红外测温仪的透过率及发射率校准
S011:调整红外测温仪的高度h和倾斜角度W，确保红外测温仪指示光斑能够完整覆盖所述恒温加热平台上的测温表面；
S012:恒温加热平台开启加热，预设加热温度为T0，待恒温加热平台显示测量温度达到预设温度T0并稳定后，调整红外测温仪的发射率E0，使红外测温仪的测试温度等于恒温加热平台的显示温度，记录此时红外测温仪的测试温度T1；
S013:标准光窗测试，将实验所用标准光窗置于恒温加热平台之上，使红外测温仪指示光斑透过标准光窗覆盖恒温加热平台上的测温表面，保持红外测温仪的发射率E0不变，待红外测温仪的测试温度重新稳定后，调整红外测温仪的透过率参数，使红外测温仪的测试温度等于T1，记录此时红外测温仪的透过率S1；
S014:在标准光窗条件下使用标准测温片测试，将标准测温片平放于恒温加热平台上，使红外测温仪的指示光斑透过标准光窗完整覆盖标准测温片表面；开启电加热预热，待温度稳定后，调整红外测温仪的发射率，保持透过率为S1，使红外测温仪的测试温度等于T1，记录红外测温仪此时的发射率E1，即完成红外测温仪的校准；
S02：装置内部表面温度测量
S021:将标准测温片置于待测装置内，重新调整的红外测温仪高度h和倾斜角度W，使其与待测装置配合，保证红外测温仪的指示光斑能够完整覆盖标准测温片表面，确保红外测温仪的指示光斑能够完整覆盖装置内的标准测温片表面；
S022:将红外测温仪的透过率调为S1，发射率调为E1，启动装置控温功能，将温度升到预设温度T2，记下此时红外测温仪的测试温度T3，此时待测装置内部表面的实际温度就为T3，此时待测装置的误差温度为待测装置系统温度T2与装置内部表面实际温度对应关系为T2-T3。
通过上述方案，本发明提供了一种装置内部表面温度的测量方法，在对待测装置内部表面温度测量前，先通过S011-S013完成对红外测温仪的透过率S1参数的校准，通过S014增加测温片完成红外测温仪的发射率的校准，在此条件下保持发射率、透过率、标准光窗以及标准测温片的不变，进行待测装置内部表面的温度测量，红外测温仪的测量温度就是待测装置内部表面的温度，此为校准式测量，适用于有恒温台进行调节测试的情况；若更换与标准测温片材质、参数相近的实际测温片，此时维持装置内部探点温度不变，则实际测温片表面温度应和原标准测温片红外测量温度基本接近，此为近似式测量，适用于没有恒温台调试的条件下，此非接触式测温方法考虑了测量精度、测试距离、辐射过程传输介质以及测量过程发射率变化等因素，提高了测量精度及测量效率。
进一步的，当更换待测装置内放置的所述标准测温片后且前后测温片材料不同，仅需重新调整红外测温仪的发射率；具体为先启动装置控温功能，将温度升到T2并稳定后，此时待测装置内部表面实际温度应为T3，调整红外测温仪发射率，使红外测温仪的测试温度等于T3，记录此时发射率E2，即完成红外测温仪新的的参数校准。
采用上述方案的有益效果是，当待测装置内部表面材料更换后，标准光窗没有改变，所以仅需调整红外测温仪的发射率，就能完成对新的测温片的参数校准，方便后续对待测装置进行测温。
进一步的，所述S011与S013中，红外测温仪的指示光斑完整覆盖恒温工作台的中心区域；在所述S014中，所述标准测温片放置于恒温工作台的中心区域。
采用上述方案的有益效果，恒温工作台的中心区域表面温度近似等于测试温度。
进一步的，T0取红外测温仪量程的1/3-2/3。
进一步的，所述标准光窗的与待测装置使用的标准光窗材质一致；所述标准测温片为玻璃纤维膜，所述标准光窗为耐高温光学镜片。
进一步的，所述恒温加热平台具有控温功能及全铜或全铝耐高温加热板，控温范围30～550℃，控温精度±1℃。
进一步的，T1、T2、T3均为红外测温仪量程的中间值。
采用上述方案的有益效果，确保测量的准确性，且中间值最具代表性。
一种用于装置内部表面温度测量的设备，包括具有温控功能的恒温加热平台、红外测温仪、标准测温片及标准光窗，所述标准光窗可配合的置于所述恒温加热平台上；所述红外测温仪的指示光斑对应覆盖所述恒温加热平台；所述标准测温片可切换位于所述恒温加热平台和所述装置内。
进一步的，还包括红外测温仪固定装置，所述红外测温仪固定装置包括：支撑杆、连接块、转板和安装板，所述支撑杆竖直设置，所述连接块套设在所述支撑杆上并与所述支撑杆可拆卸连接，所述转板的一端与所述连接块一侧转动连接，所述安装板倾斜设置，并与所述转板的另一端固定连接，所述红外测温仪固定安装在所述安装板上。
进一步的，所述转板的端部开设有连接孔和弧形孔，所述连接块开设有与所述连接孔对应的轴孔，通过销轴穿过所述连接孔和轴孔，将所述转板与所述连接块转动连接；垂直于所述连接块的侧壁固定连接有一螺杆，所述螺杆位于所述弧形孔中，所述螺杆位于所述弧形孔外的一端连接有预紧螺母。
采用上述方案的有益效果是，通过连接快和支撑杆的开拆卸连接，实现红外测温仪的高度调节，通过弧形孔、螺杆和预紧螺母实现转板的上下转动，改变红外测温仪的倾斜角度。
经由上述的技术方案可知，与现有技术相比，本发明公开提供了一种装置内部表面温度的测量方法及测量设备，该方法兼具测温校准步骤，可排除红外测温仪由于高度、角度变化而带来的测温误差，同时排除标准光窗本身反射带来的测温误差，也可排除标准光窗及标准光窗周围辐射带来的测温误差，测试过程中先完成对红外测温仪的透过率参数的校准，再完成红外测温仪的发射率参数的校准，在此条件下保持发射率、透过率、标准光窗以及标准测温片的不变，进行待测装置内部表面的温度测量，红外测温仪的测量温度就是待测装置内部表面的温度，此非接触式测温方法考虑了测量精度、测试距离、辐射过程传输介质以及测量过程发射率变化等因素，提高了测量精度及测量效率，该方法操作方便、简单，也可在表面材料变化的情况下快速的调整校准参数。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图。
图1为本发明的操作流程图。
图2为本发明一个具体的实施例的结构示意。
图3为本发明一个具体的实施例中的红外测温仪固定装置主视图。
图4为本发明红外测温仪固定装置侧视图。
其中：
1-红外测温仪；2-氙灯光源；3-标准光窗；4-标准测温片；5-耐高温加热板；6-高温热偶；7-恒温加热平台；8-反应釜；9-催化剂；10-红外测温仪固定装置；支撑杆；12-连接块；13-转板；14-安装板；131-弧形孔；132-销轴。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
在本发明的描述中，需要理解的是，术语“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。
在本发明中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。
本发明实施例公开了一种装置内部表面温度的测量方法，包括：
一种装置内部表面温度的测量方法，包括如下步骤：
S 01:红外测温仪的透过率及发射率校准
S011:使用红外测温仪固定装置，调整红外测温仪的高度h和倾斜角度W，将红外测温仪与恒温加热平台配合，确保红外测温仪指示光斑能够完整覆盖所述恒温加热平台上的测温表面；
S012:恒温加热平台开启加热，预设加热温度为T0，待恒温加热平台显示测量温度达到预设温度T0并稳定后，调整红外测温仪的发射率E0，使红外测温仪的测试温度等于恒温加热平台的显示温度，记录此时红外测温仪的测试温度T1；
S013:增加标准光窗测试，将实验所用标准光窗置于恒温加热平台之上，使红外测温仪指示光斑透过标准光窗完整覆盖恒温加热平台上的测温表面，保持红外测温仪的发射率E0不变，待红外测温仪的测试温度重新稳定后，调整红外测温仪的透过率参数，使红外测温仪的测试温度等于T1，记录此时红外测温仪的透过率S1；
S014:在标准光窗条件下使用标准测温片测试，将标准测温片平放于恒温加热平台上，使红外测温仪的指示光斑透过标准光窗完整覆盖标准测温片表面；开启电加热预热，待温度稳定后，调整红外测温仪的发射率，保持透过率为S1，使红外测温仪的测试温度等于T1，记录红外测温仪此时的发射率E1，即完成红外测温仪的校准；
S02：装置内部表面温度测量
S021:将标准测温片置于待测装置内，重新调整的红外测温仪高度h和倾斜角度W，使其与待测装置配合，保证红外测温仪的指示光斑能够完整覆盖标准测温片表面，确保红外测温仪的指示光斑能够完整覆盖装置内的测温片表面；
S022:将红外测温仪的透过率调为S1，发射率调为E1，启动装置控温功能，将温度升到预设温度T2，记下此时红外测温仪的测试温度T3，此时待测装置内部表面的实际温度就为T3，此时待测装置的误差温度为待测装置系统温度T2与装置内部表面温度对应关系为T2-T3。
有利的是，当更换待测装置内放置的标准测温片后且前后测温片材料不同，仅需重新调整红外测温仪的发射率；具体为先启动装置控温功能，将温度升到T2并稳定后，此时待测装置内部表面实际温度应为T3，调整红外测温仪发射率，使红外测温仪的测试温度等于T3，记录此时发射率E2，即完成红外测温仪新的的参数校准。
为了进一步优化上述方案，T0取红外测温仪量程的1/3-2/3，优选的取量程的中间值；标准测温片指发射率已知的测温片，标准光窗的与待测装置使用的标准光窗材质一致，为耐高温光学镜片。
一种用于装置内部表面温度测量的设备，包括具有温控功能的恒温加热平台7、红外测温仪1、标准测温片4及标准光窗3，标准光窗3可配合的置于恒温加热平台7上；红外测温仪1的指示光斑对应覆盖恒温加热平台7；标准测温片4可切换位于恒温加热平台7和装置内。
在一个具体的实施例中，红外测温仪1固定装置包括：支撑杆11、连接块12、转板13和安装板14，支撑杆11竖直设置，连接块12套设在支撑杆11上并与支撑杆11通过螺栓紧固连接，转板13的一端与连接块12一侧转动连接，安装板14倾斜设置，并与转板13的另一端固定连接，红外测温仪1固定安装在所述安装板14上。具体的，转板13的端部开设有连接孔和弧形孔131，连接块12开设有与连接孔对应的轴孔，通过销轴132穿过连接孔和轴孔，将转板13与连接块12转动连接；垂直于连接块12的侧壁固定连接有一螺杆，螺杆位于弧形孔131中，螺杆位于弧形孔131外的一端连接有预紧螺母。
为进一步优化上述方案，在S021中包括：根据待测装置的结构分布、待测表面面积，调整红外测温仪的高度h、倾斜角度W，保证红外测温仪的指示光斑能够完整覆盖待测装置内的测温片表面。
需要说明的是，T0、T1、T2、T3均为红外测温仪量程的中间值。
本发明所涉及的测量方法，可适用于以下情况：
1)待测表面不易使用传统方法测量，如热电偶、热电阻等方式。
2)待测表面可能是出于有透光材质的密封环境中，比如玻璃盖板密封。
3)待测表面的发射率不便直接测量或查表获悉。
4)待测表面材料不固定。
本发明所涉及的待测装置及内部表面，应具备以下特点：
1)对于特定的膜材料，使用过程中，待测表面的膜材料形状、材料特性不会发生较大变化，发射率可认为是不变的或者变化可忽略。
2)待测装置具备温度控制功能，可获悉系统控制温度。
3)装置具备红外测温条件，能够方便红外测温仪合理放置及光斑能覆盖在装置内部表面。
采用本发明尤其适用于氙灯光源照射情况，如光热催化反应装置内反应釜催化剂涂层表面的温度测量；带光窗的高温电炉表面测温；光催化试验反应仪器玻璃内部表面的温度测量等。
以下通过一个具体的实施例，说明本发明在光催化领域中的应用：
待测装置反应釜8属于负载式光催化反应器，同时包含：红外测温仪1(工作波长为3～5.5um)、红外测温仪固定装置10、氙灯光源2、标准光窗3、以及标准测温片4、耐高温加热板5、高温热偶6、恒温加热平台7和催化剂9；需要说明的是本实施例采用的氙灯光源也可以为其他光源，但波长范围与红外测温仪波长没有交叉干涉，主要用于照射催化剂，促进光催化反应；恒温加热平台是一台数显控温装置，具有全铜或全铝的耐高温加热板，采用电加热的方式，控温范围30～550℃，控温精度±1℃，标准光窗3可采用含耐高温蓝宝石光学镜片。
由于红外波段的光波会将热偶加热，只能通过以下几种方式获得表面温度：1)冷光源照射+贴片热偶，来获得相对较低的表面温度的测量；2)热偶放到测温片下方，近似等效催化剂的温度；3)催化剂较厚时，可将高温热偶直接放到催化剂内部，直接测量催化剂温度；但是由于光催化的特殊性，催化剂厚度一般都较薄，以上三种方式都无法准确获得薄层催化剂下的催化剂表面温度，尤其是高温段的催化剂表面温度，采用本发明的测温的方法，可以较为准确的测出催化剂表面温度。
因为，由于红外测温仪的波长与氙灯光源的辐射波长不交叉干涉，即氙灯光源辐射本身对红外测温不影响或者影响可忽略。测温过程如下：
(1)调整红外测温仪固定装置10，改变红外测温仪1的高度h和倾斜角度W，将调整完毕的红外测温仪1与恒温加热平台7配合，使红外测温仪1的指示光斑完整覆盖耐高温加热板5表面的中心区域，恒温加热平台7的耐高温加热板5的中心区域表面温度近似等于测试温度。
(2)预热耐高温加热板5至300℃稳定，调整红外测温仪1的发射率E0使红外测温仪1的测试温度等于300℃。
(3)增加标准光窗测试，保持红外测温仪的发射率E0不变，使红外测温仪1的指示光斑透过标准光窗3完整覆盖在耐高温加热板5表面的中心区域，调整红外测温仪1的透过率至测示温度等于300℃并稳定，记录此时透过率S1。
(4)在标准光窗条件下增加标准测温片4测试，在耐高温加热板5表面的中心区域放置标准测温片4，可选用Φ35mm的玻璃纤维膜，保持红外测温仪的透过率S1不变，调整红外测温仪1的发射率至显示温度为300℃并稳定，记录此时的发射率E1。
(5)反应釜内温度测量，将上述测试过后的标准测温片4置于系统反应釜8内，开启恒温加热平台7，将红外测温仪的透过率调为S1，发射率调为E1，待红外测温仪1的测量温度为300℃并稳定后，记录此时恒温加热平台7的测量温度T1’，此时恒温加热平台7与标准测温片4表面温度关系为T1’—300℃；最后开启氙灯光源2，红外测温仪可准确测量标准测温片表面温度。
(6)在标准光窗条件下若将标准测温片4更换，将恒温加热平台7预热到T1’温度，此时仅需调整红外测温仪的发射率使测量温度等于300℃，即可完成新的测温片的发射率校准；再此条件下开启氙灯光源2，催化剂9发生反应，红外测温仪1可准确测量测温片表面的发生反应的温度。
本发明对光催化领域，尤其对测量反应釜内部表面反应温度，测量准确、可靠，该方法引入了测温校准步骤，可排除红外测温仪由于高度、角度变化而带来的测温误差，可排除标准光窗本身反射带来的测温误差，也可排除标准光窗及标准光窗周围辐射带来的测温误差；同时操作方便、简单，可用于反应釜表面的膜材料变化的情况下快速的调整校准发射率，提高工作效率。
本说明书中各个实施例采用递进的方式描述，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处，各个实施例之间相同相似部分互相参见即可。对于实施例公开的装置而言，由于其与实施例公开的方法相对应，所以描述的比较简单，相关之处参见方法部分说明即可。
对所公开的实施例的上述说明，使本领域专业技术人员能够实现或使用本发明。对这些实施例的多种修改对本领域的专业技术人员来说将是显而易见的，本文中所定义的一般原理可以在不脱离本发明的精神或范围的情况下，在其它实施例中实现。因此，本发明将不会被限制于本文所示的这些实施例，而是要符合与本文所公开的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。
Claims (10)
1.一种装置内部表面温度的测量方法，其特征在于，包括如下步骤：
S01:红外测温仪的透过率及发射率校准
S011:调整红外测温仪的高度h和倾斜角度W，确保红外测温仪指示光斑能够完整覆盖所述恒温加热平台上的测温表面；
S012:恒温加热平台开启加热，预设加热温度为T0，待恒温加热平台显示测量温度达到预设温度T0并稳定后，调整红外测温仪的发射率E0，使红外测温仪的测试温度等于恒温加热平台的显示温度，记录此时红外测温仪的测试温度T1；
S013:标准光窗测试，将实验所用标准光窗置于恒温加热平台之上，使红外测温仪指示光斑透过标准光窗覆盖恒温加热台上的测温表面，保持红外测温仪的发射率E0不变，待红外测温仪的测试温度重新稳定后，调整红外测温仪的透过率参数，使红外测温仪的测试温度等于T1，记录此时红外测温仪的透过率S1；
S014:在标准光窗条件下使用标准测温片测试，将标准测温片平放于恒温加热平台上，使红外测温仪的指示光斑透过标准光窗完整覆盖标准测温片表面；开启电加热预热，待温度稳定后，调整红外测温仪的发射率，保持透过率为S1，使红外测温仪的测试温度等于T1，记录红外测温仪此时的发射率E1，即完成红外测温仪的校准；
S02：装置内部表面温度测量
S021:将标准测温片置于待测装置内，调整的红外测温仪高度h和倾斜角度W，保证红外测温仪的指示光斑能够完整覆盖装置内的标准测温片表面；
S022:将红外测温仪的透过率调为S1，发射率调为E1，启动装置控温功能，将温度升到预设温度T2，记下此时红外测温仪的测试温度T3，此时待测装置内部表面的实际温度就为T3，此时待测装置的误差温度为待测装置系统温度T2与装置内部表面实际温度T3对应关系为T2-T3。
2.根据权利要求1一种装置内部表面温度的测量方法，其特征在于，当更换待测装置内放置的所述标准测温片后且前后测温片材料不同，仅需重新调整红外测温仪的发射率；具体为先启动装置控温功能，将温度升到T2并稳定后，此时待测装置内部表面实际温度应为T3，调整红外测温仪发射率，使红外测温仪的测试温度等于T3，记录此时发射率E2，即完成红外测温仪新的参数校准。
3.根据权利要求1所述的一种装置内部表面温度的测量方法，其特征在于，所述S011与S013中，红外测温仪的指示光斑完整覆盖恒温工作台的中心区域；在所述S014中，所述标准测温片放置于恒温工作台的中心区域。
4.根据权利要求1所述的一种装置内部表面温度的测量方法，其特征在于，T0取红外测温仪量程的1/3-2/3。
5.根据权利要求1所述的一种装置内部表面温度的测量方法，其特征在于，所述标准光窗的与待测装置使用的标准光窗材质一致；所述标准测温片为特种纤维膜，所述标准光窗为耐高温光学镜片。
6.根据权利要求1所述的一种装置内部表面温度的测量方法，其特征在于，所述恒温加热平台具有控温功能及全铜或全铝耐高温加热板，控温范围30～550℃，控温精度±1℃。
7.根据权利要求1所述的一种装置内部表面温度的测量方法，其特征在于，T1、T2、T3均为红外测温仪量程的中间值。
8.一种用于装置内部表面温度测量的设备，其特征在于，包括具有温控功能的恒温加热平台(7)、红外测温仪(1)、标准测温片(4)及标准光窗(3)，所述标准光窗(3)可配合的置于所述恒温加热平台(7)上；所述红外测温仪(1)放置位置为其发出的指示光斑对应覆盖所述恒温加热平台(7)上的测温表面；所述标准测温片(4)可切换位于所述恒温加热平台(7)和所述装置内。
9.根据权利要求8所述一种用于装置内部表面温度测量的设备，其特征在于，还包括红外测温仪固定装置(10)，所述红外测温仪固定装置(10)包括：支撑杆(11)、连接块(12)、转板(13)和安装板(14)，所述支撑杆(11)竖直设置，所述连接块(12)套设在所述支撑杆(11)上并与所述支撑杆(11)可拆卸连接，所述转板(13)的一端与所述连接块(12)一侧转动连接，所述安装板(14)倾斜设置，并与所述转板(13)的另一端固定连接，所述红外测温仪(1)固定安装在所述安装板(14)上。
10.根据权利要求9所述的一种用于装置内部表面温度测量的设备，其特征在于，所述转板(13)的端部开设有连接孔和弧形孔(131)，所述连接块开设有与所述连接孔对应的轴孔，通过销轴(132)穿过所述连接孔和轴孔，将所述转板(13)与所述连接块(12)转动连接；垂直于所述连接块(12)的侧壁固定连接有一螺杆，所述螺杆位于所述弧形孔(131)中，所述螺杆位于所述弧形孔(131)外的一端连接有预紧螺母。
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