CN207798269U - 一种辐射率测量装置 - Google Patents
一种辐射率测量装置 Download PDFInfo
- Publication number
- CN207798269U CN207798269U CN201721817545.7U CN201721817545U CN207798269U CN 207798269 U CN207798269 U CN 207798269U CN 201721817545 U CN201721817545 U CN 201721817545U CN 207798269 U CN207798269 U CN 207798269U
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- emissivity
- boiling plate
- electric boiling
- measurement device
- microcontroller
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 238000005259 measurement Methods 0.000 title claims abstract description 77
- 239000000463 material Substances 0.000 claims abstract description 67
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims abstract description 44
- 238000009835 boiling Methods 0.000 claims abstract description 38
- 230000003321 amplification Effects 0.000 claims description 9
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 claims description 9
- 230000004907 flux Effects 0.000 claims description 6
- 230000003750 conditioning effect Effects 0.000 claims description 5
- 230000005611 electricity Effects 0.000 claims description 4
- 230000004044 response Effects 0.000 claims description 2
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 claims 1
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 claims 1
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 10
- 239000000654 additive Substances 0.000 abstract description 4
- 230000000996 additive effect Effects 0.000 abstract description 4
- 230000008569 process Effects 0.000 abstract description 4
- 238000011017 operating method Methods 0.000 description 9
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 8
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 6
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 5
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 3
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 3
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 3
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 239000000835 fiber Substances 0.000 description 2
- 230000000704 physical effect Effects 0.000 description 2
- 230000005457 Black-body radiation Effects 0.000 description 1
- 239000004566 building material Substances 0.000 description 1
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 235000013399 edible fruits Nutrition 0.000 description 1
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 1
- 230000006698 induction Effects 0.000 description 1
- 238000002329 infrared spectrum Methods 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 230000000149 penetrating effect Effects 0.000 description 1
- 229910052573 porcelain Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000001737 promoting effect Effects 0.000 description 1
- 238000011160 research Methods 0.000 description 1
- 230000006641 stabilisation Effects 0.000 description 1
- 238000011105 stabilization Methods 0.000 description 1
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 1
- 238000004148 unit process Methods 0.000 description 1
- 238000005303 weighing Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J5/00—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
- G01J5/10—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry using electric radiation detectors
- G01J5/12—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry using electric radiation detectors using thermoelectric elements, e.g. thermocouples
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N25/00—Investigating or analyzing materials by the use of thermal means
- G01N25/20—Investigating or analyzing materials by the use of thermal means by investigating the development of heat, i.e. calorimetry, e.g. by measuring specific heat, by measuring thermal conductivity
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials Using Thermal Means (AREA)
Abstract
本实用新型公开了一种辐射率测量装置,包括绝缘隔热筒、热电堆式辐射热流计、电加热板和微控制器主板;绝缘隔热筒是一端具有开口的壳体,热电堆式辐射热流计、电加热板和微控制器主板设置在绝缘隔热筒内部,电加热装置的一面为向外辐射热能的辐射面,电加热板辐射面与待测材料表面以及所述绝缘隔热筒的侧壁形成密闭空腔,热电堆式辐射热流计设置在电加热板辐射面的中心位置。本实用新型提供的一种辐射率测量装置,规避了测量过程中的附加误差和因温度差异而引起的多次反射和发射带来的干扰,实现了对待测材料辐射率的准确测量和计算,并且本实用新型体积较小,方便携带,使得测量不受材料大小和地点的限制,使用简单快捷。
Description
技术领域
本实用新型涉及材料的物理性质测量领域,尤其涉及材料表面辐射率测量领域。
背景技术
辐射率是指衡量物体表面以辐射的形式释放能量相对强弱的能力,也称为发射率。物体表面的辐射率等于物体在一定温度下辐射的能量与同样温度下黑体辐射能量的比。黑体的辐射率等于1,其他物体的辐射率介于0 和1之间。
辐射率的测量,对于研究材料的表面物理性质,评价其热反射能力,至关重要。常用的检测方法有红外光谱积分法、接触式或者感应式面电阻法等。在现有技术中,测量物体辐射率时,接触式测量得到的温度很难转换为物体表面的红外辐射温度,进而给测量带来了附加误差。红外线测温仪的镜头温度、空腔温度、待测物体温度与辐射源温度各不相等,会形成复杂的多次反射和发射,这些干扰也难以排除。
本实用新型采用测量对比法可以排除上述干扰,从而准确地测量、计算出待测物体表面的辐射率。并且本实用新型体积较小,方便携带,不受检测场地的限制,既可以在室内使用,也可以对已经安装到建筑物上的材料进行检测,还可以在不拆卸待测材料的情况下,直接测量材料的辐射率,不限制待检测物体的尺寸,因此,扩大了可检测物体的范围,提高了本装置的适用性。此外,本实用新型通过液晶显示器显示辐射率测量装置的操作步骤,极大地简化了操作方法,降低了因操作引起的测量误差。
实用新型内容
本实用新型要解决的技术问题是如何准确、简便地测量材料表面辐射率并扩大辐射率测量装置的适用范围的问题。
为了解决上述技术问题,排除测量过程中产生的附加误差和多次反射、发射带来的干扰,简化辐射率测量装置的操作方法,扩大待检测材料的检测范围,提高本辐射率检测装置的适用性。
本实用新型具体是以如下技术方案实现的:
一种辐射率测量装置,所述装置包括:绝缘隔热筒、热电堆式辐射热流计、电加热板和微控制器主板,所述绝缘隔热筒是一端具有开口的壳体,并且所述绝缘隔热筒的内壁是圆筒形,所述热电堆式辐射热流计、电加热板和微控制器主板设置在所述壳体内部,所述电加热板的一面为向外辐射热能的辐射面,电加热板辐射面与待测材料表面以及所述绝缘隔热筒的侧壁形成密闭空腔,所述热电堆式辐射热流计设置在所述电加热板的辐射面的中心位置;
所述热电堆式辐射热流计用于测量流过的热通量并输出测量结果,所述电加热板用于做提升密闭空腔温度的热辐射源,所述微控制器主板用于处理信号并计算得出辐射率。
具体地,所述电加热板是板型的红外辐射加热装置,其辐射面朝向待测材料的表面,并且其辐射面的外表面涂有黑色材料。
进一步地,所述热电堆式辐射热流计测量流过的热通量后,再通过导线将测量结果传送到所述微控制器主板上。
进一步地,所述微控制器主板上的信号调理电路和信号放大电路用于对所得电信号进行处理,AD采样电路用于对处理后的电信号进行测量,得出热电堆式辐射热流计的输出电动势。
进一步地,所述微控制器主板上的微控制器将根据公式:
ε3=ε1+(ε2-ε1)*(E3-E1)/(E2-E1)
计算得出待测材料的表面辐射率ε3,其中,ε1和ε2分别是标准样片一和标准样片二的表面辐射率,E1、E2和E3是由测量得到的标准样片一、标准样片二和待测材料的表面辐射率对应的所述热电堆式辐射热流计的输出电动势。
进一步地,所述微控制器中设有内置算法,用于保证所述测量结果的准确性和稳定性。
进一步地,本装置还包括液晶显示控制板,所述液晶显示控制板设置在所述绝缘隔热筒外表面上,用于提示操作步骤,并显示测量结果,用户只需根据所述液晶显示控制板上的提示操作即可。
采用上述技术方案,本实用新型所述的一种辐射率测量装置,具有如下有益效果:
1)本实用新型提供的辐射率测量装置不直接测量温度,排除了外界温度的干扰及测量的附加误差,准确地测量并计算出材料表面的辐射率;
2)本实用新型提供的辐射率测量装置内置微控制器,对采集到的数据进行计算,并且内置算法保证了测量结果的准确性和稳定性;
3)本实用新型提供的辐射率测量装置体积较小,方便携带,不限制待检测样品尺寸,可以在不拆解材料的条件下,直接测量材料的表面辐射率,进而扩大了可检测样品的范围,提高了辐射率测量装置的适用性。
附图说明
为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本实用新型实施例提供的一种辐射率测量装置;
图2为本实用新型实施例提供的一种辐射率测量装置使用方法;
图3为本实用新型实施例提供的一种智能测量电路的组成图;
图4为本实用新型实施例提供的一种高精度AD采样电路模块示意图;
图5为本实用新型实施例提供的一种AD采样电路图;
图6为本实用新型实施例提供的一种辐射率测量方法流程图。
以下对附图作补充说明:
1-散热器,2-待测材料,3-绝缘隔热筒,4-热电堆式辐射热流计,5-电加热板,6-电源,7-微控制器主板,8-液晶显示控制板,100-高精度AD采样电路,200-ARM微控制器,300-TFT液晶显示器,400-双按钮,101-信号放大模块,102-电压跟随模块,103-AD采样模块,104-负电源发生模块。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。显然,所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例,都属于本实用新型保护的范围。
本实用新型实施例中提供了一种辐射率测量装置,如图1所示,所述装置包括:绝缘隔热筒3、热电堆式辐射热流计4、电加热板5和微控制器主板7;
所述绝缘隔热筒3是一端具有开口的圆柱形壳体,所述热电堆式辐射热流计4、电加热板5和微控制器主板7设置在所述壳体内部,所述电加热板5的一面为向外辐射热能的辐射面,所述电加热板5辐射面与待测材料 2表面以及所述绝缘隔热筒3的侧壁形成密闭空腔,所述热电堆式辐射热流计4设置在所述电加热板5辐射面的中心位置;
所述热电堆式辐射热流计4用于测量流过的热通量并输出测量结果,所述电加热板5用于做热辐射源,所述微控制器主板7用于处理电信号并计算待测材料2的表面辐射率。
具体地,所述电加热板5是板型的红外辐射加热装置,其辐射面朝向待测材料2的表面,并且其辐射面是一个平面,由扁平的电阻板组成,电阻板的正面涂有反射系数大的材料,反面涂有反射系数小的材料,热能由正面辐射出去,电阻板的正面与电加热板的辐射面朝向一致。
可选地,所述电加热板5辐射面的外表面上涂有黑色材料,所述黑色材料优选为陶瓷纤维黑漆,模拟黑体表面,所述电加热板5用于作为能够提升温度的热辐射源。
具体地,当所述辐射率测量装置开机后,所述电加热板5开始预热,逐渐提升电加热板5、绝缘隔热筒3和待测材料2表面三者共同形成的密闭空腔的温度,使密闭空腔达到热平衡状态。当所述密闭空腔达到热平衡状态时,所述电加热板5与待测材料2表面成为基尔霍夫定律给出的两个无限大平板间漫射表面的模型。
具体地,所述热电堆式辐射热流计4用于根据流过的热通量产生电动势,并通过导线将产生的电信号接入所述微控制器主板7,并且测量不同材料时,由于材料表面的辐射率不同,热电堆式辐射热流计的输出电动势不一样。
具体地,所述微控制器主板7还包括:信号调理电路、信号放大电路、 AD采样电路和微控制器,信号调理电路和信号放大电路用于处理信号,AD 采样电路用于测量材料2表面辐射率对应热电堆式辐射热流计4的输出电动势E,在本实施例中,所述AD采样电路需要测量标准样片一、标准样片二和待测材料2的表面辐射率对应所述热电堆式辐射热流计4的输出电动势E1、E2和E3。
进一步地,微控制器会根据测量所得的电动势E1、E2和E3,以及公式:
ε3=ε1+(ε2-ε1)*(E3-E1)/(E2-E1)
计算出待测材料2表面的辐射率ε3,其中,标准样片一的辐射率ε1和标准样片二的辐射率ε2已知。
进一步地,测量过程中,微控制器中的内置算法会对测量结果进行判断,确保测量结果的准确和稳定。
具体地,所述绝缘隔热筒3的内壁优选为圆筒形,所述绝缘隔热筒3采用绝缘隔热材料制作,排除了外界温度对测量的干扰,所述辐射率测量装置开机后,所述电加热板5开始工作,所述绝缘隔热筒3与电加热板5、待测材料2表面形成的密闭空腔会逐渐达到热平衡状态。
具体地,本实用新型还包括液晶显示控制板8,所述液晶显示控制板8 的液晶显示屏会向操作者提示操作步骤,并显示所得辐射率,操作者只需要按照屏幕提示进行操作即可,极大地简化了用户的操作方法,降低了因操作不当引起的测量误差。
进一步地,在本实施例的一种实施方式中,所述辐射率测量装置用于在室内测量材料的表面辐射率。当在室内测量一小块材料的表面辐射率时,可以用到散热器1,保证材料温度与室内温度一致,避免因温差引起的反射和发射影响测量结果的准确性。测量时,所述辐射率测量装置、待测材料2和散热器1三者之间的位置关系如图1所示。
在本实用新型的一个可行的实施例中提供了一种本实用新型的使用方法,因为所述辐射率测量装置体积较小,方便携带,可以单手握持,方便在室外使用,所以所述辐射率测量装置还可以直接在室外测量建筑物表面材料的表面辐射率。具体地,测量时,所述辐射率测量装置和待测材料之间的位置关系如图2所示,所述辐射率测量装置与实施例1一样。在室外测量建筑物材料的表面辐射率时,可以直接手持所述辐射率测量装置对材料进行测量,不需要将材料拆解下来。
本实用新型另一个可行的实施例中提供了一种智能测量电路。具体地,智能电路的组成如图3、4、5所示,所述智能测量电路包括:高精度AD采样电路100、ARM微控制器200、TFT液晶显示器300和双按钮400;
所述高精度AD采样电路100又包括信号放大模块101、跟随模块102、 AD采样模块103和负电源发生模块104,热电堆式辐射热流计输出的测量结果经过信号放大模块101和电压跟随模块102后,再由AD采样模块103 测量不同材料的表面辐射率对应的热电堆式辐射热流计的输出电动势。
所述ARM微控制器200,用于根据AD采样模块103测量得到的不同材料的表面辐射率对应的热电堆式辐射热流计的输出电动势和公式:
ε3=ε1+(ε2-ε1)*(E3-E1)/(E2-E1)
计算得到待测材料的表面辐射率ε3,ε1和ε2分别是标准样片一和标准样片二的表面辐射率,E1、E2和E3是由测量得到的。
所述TFT液晶显示器300,用于向操作者提示操作步骤,并且显示测量结果,简化了操作步骤,并且减少了因不当操作引起的测量误差。
所述双按钮400,用于控制操作ARM微控制器200。
本实用新型一个可行的实施例中提供了一种辐射率测量方法。具体地,如图6所示,所述辐射率测量方法包括:
S100.电加热板的辐射面开始向外发出热辐射,具体地,所述辐射率测量装置开机后,所述电加热板随即开始工作,并逐渐提升电加热板辐射面、绝缘隔热筒侧壁和待测材料表面三者共同形成的密闭空腔的温度,使得密闭空腔达到热平衡状态,此时,电加热板与待测材料表面近似于基尔霍夫定律描述的两块无限大平板。
可选地,为了使电加热板的辐射面更加接近于黑体表面,所述电加热板辐射面的外表面上涂有黑色材料,所述黑色材料优选为陶瓷纤维黑漆。
S200.热电堆式辐射热流计测量流过的热通量,并且通过导线将测量得到的信号传送到微控制器主板上;
S300.微控制器主板上的信号处理单元,所述信号处理单元包括:信号调理电路和信号放大电路,接收来自热电堆式辐射热流计的电信号,并对所述电信号进行调理和放大;
S400.微控制器主板上的测量单元包括:AD采样电路,测量经过信号处理单元处理的电信号,得到热电堆式辐射热流计的输出电动势;
S500.微控制器主板上的微控制器,响应于测量单元得到的标准样片1、标准样片2和待测材料对应的热电堆式辐射热流计的输出电动势E1、E2和 E3,再根据公式:
ε3=ε1+(ε2-ε1)*(E3-E1)/(E2-E1)
计算出所测材料表面的辐射率ε3,已知标准样片1的辐射率ε1和标准样片2 的辐射率ε2。并且微控制器的内置算法会对测量结果进行进一步地判断,确保测量结果的准确性和稳定性。
优选地,本实用新型测量辐射率采用的是测量对比法,排除了测量过程中由于外界因素影响而引起的误差。
进一步地,当微控制器计算得出待测材料的表面辐射率后,液晶显示控制板的屏幕会显示出测量结果。
在本实施例中,操作者通过液晶显示控制板上的液晶显示屏可以看见操作提示,只需要根据操作提示进行每一步操作,就可以成功测得材料表面的辐射率。这大大简化了操作步骤,使得所述辐射率测量装置更为智能化,也减少了因不当操作引起的测量误差。
以上所述仅为本实用新型的较佳实施例,并不用以限制本实用新型,凡在本实用新型的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本实用新型的保护范围之内。
Claims (9)
1.一种辐射率测量装置,其特征在于,包括:绝缘隔热筒(3)、热电堆式辐射热流计(4)、电加热板(5)和微控制器主板(7);
所述绝缘隔热筒(3)是一端具有开口的壳体,所述热电堆式辐射热流计(4)、电加热板(5)和微控制器主板(7)设置在所述壳体内部;
所述电加热板(5)的一面为向外辐射热能的辐射面,所述电加热板(5)辐射面与待测材料表面以及所述绝缘隔热筒(3)的侧壁形成密闭空腔;
所述热电堆式辐射热流计(4)设置在所述电加热板(5)的辐射面上,用于测量流过的热通量;
所述微控制器主板(7)用于处理电信号并计算待测材料的表面辐射率。
2.根据权利要求1所述的一种辐射率测量装置,其特征在于,所述热电堆式辐射热流计(4)设置在电加热板(5)辐射面上的中心位置,并通过导线将测得的信号传送给所述微控制器主板(7)。
3.根据权利要求1所述的一种辐射率测量装置,其特征在于,所述电加热板(5)的辐射面涂有黑色材料,所述辐射面朝向待测材料表面,所述电加热板(5)形状和直径与绝缘隔热筒(3)一致且二者同轴。
4.根据权利要求1或2所述的一种辐射率测量装置,其特征在于,所述微控制器主板(7)包括:信号调理电路、信号放大电路、AD采样电路和微控制器,所述电信号经过信号调理电路、信号放大电路和AD采样电路传入微控制器。
5.根据权利要求4所述的一种辐射率测量装置,其特征在于,所述AD采样电路用于测量标准样片一、标准样片二和待测材料(2)的表面辐射率对应所述热电堆式辐射热流计(4)的输出电动势E1、E2和E3。
6.根据权利要求5所述的一种辐射率测量装置,其特征在于,响应于测量标准样片一、标准样片二和待测材料(2)的表面辐射率对应所述热电堆式辐射热流计(4)的输出电动势E1、E2和E3,所述微控制器根据公式:
ε3=ε1+(ε2-ε1)*(E3-E1)/(E2-E1)
计算出所测材料表面的辐射率ε3,已知标准样片一的辐射率ε1和标准样片二的辐射率ε2。
7.根据权利要求1或3所述的一种辐射率测量装置,其特征在于,所述绝缘隔热筒(3)采用绝缘隔热材料制作,用于排除外界温度对测量的干扰,所述辐射率测量装置开机后,所述电加热板(5)开始工作,所述绝缘隔热筒(3)侧壁与电加热板(5)辐射面、待测材料(2)表面形成的密闭空腔能够达到热平衡状态。
8.根据权利要求1所述的一种辐射率测量装置,其特征在于,所述辐射率测量装置还包括散热器(1),用于在室内测量材料的表面辐射率时,保证待测材料(2)温度与室温一致。
9.根据权利要求1所述的一种辐射率测量装置,其特征在于,所述绝缘隔热筒的内壁为圆筒形。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201710909947 | 2017-09-29 | ||
CN2017109099478 | 2017-09-29 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN207798269U true CN207798269U (zh) | 2018-08-31 |
Family
ID=61941103
Family Applications (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN201721817545.7U Active CN207798269U (zh) | 2017-09-29 | 2017-12-22 | 一种辐射率测量装置 |
CN201711404539.3A Pending CN107941350A (zh) | 2017-09-29 | 2017-12-22 | 一种辐射率测量装置及方法 |
Family Applications After (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN201711404539.3A Pending CN107941350A (zh) | 2017-09-29 | 2017-12-22 | 一种辐射率测量装置及方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (2) | CN207798269U (zh) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN107941350A (zh) * | 2017-09-29 | 2018-04-20 | 北京奥博泰科技有限公司 | 一种辐射率测量装置及方法 |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN1101933C (zh) * | 1999-03-30 | 2003-02-19 | 中国科学院地理研究所 | 漫射热辐射源物体方向比辐射率测量方法和仪器 |
JP2002202192A (ja) * | 2000-10-24 | 2002-07-19 | Tokyo Electron Ltd | 温度測定方法、熱処理装置及び方法、コンピュータプログラム、並びに、放射温度計 |
CN1189732C (zh) * | 2002-06-21 | 2005-02-16 | 中国科学院地理科学与资源研究所 | 一种便携式比辐射率测定仪及其测定方法 |
CN103868588B (zh) * | 2014-04-01 | 2016-01-20 | 中国计量科学研究院 | 绝对型太赫兹辐射计 |
CN104833419A (zh) * | 2015-06-05 | 2015-08-12 | 哈尔滨工业大学 | 一种1-3μm准直光源辐射照度测量仪 |
CN207798269U (zh) * | 2017-09-29 | 2018-08-31 | 北京奥博泰科技有限公司 | 一种辐射率测量装置 |
-
2017
- 2017-12-22 CN CN201721817545.7U patent/CN207798269U/zh active Active
- 2017-12-22 CN CN201711404539.3A patent/CN107941350A/zh active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN107941350A (zh) * | 2017-09-29 | 2018-04-20 | 北京奥博泰科技有限公司 | 一种辐射率测量装置及方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN107941350A (zh) | 2018-04-20 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN102830064B (zh) | 一种中高温红外发射率测试装置 | |
CN107817054B (zh) | 一种用于真空腔内部件的红外成像仪测温方法 | |
CN110017902A (zh) | 高温目标材料红外发射率测量装置及方法 | |
CN206074130U (zh) | 标准黑体辐射源 | |
CN109507229A (zh) | 薄板薄膜材料导热系数测量装置和测量方法 | |
CN104422520A (zh) | 高精度多模黑体辐射源 | |
CN207798269U (zh) | 一种辐射率测量装置 | |
CN104007137B (zh) | 一种用于测量伪装遮障红外热透过率的装置及其方法 | |
CN209432282U (zh) | 一种激光器功率测试系统 | |
CN209247174U (zh) | 自定标热像检测仪 | |
Wei et al. | The research on compensation algorithm of infrared temperature measurement based on intelligent sensors | |
CN110207829B (zh) | 一种基于红外光谱仪同时获取材料温度及光谱方向发射率的测量方法 | |
CN106781430B (zh) | 一种高灵敏度红外遥感器性能测试装置 | |
CN107748177A (zh) | 一种面料红外发射率的测量方法 | |
JP6644107B2 (ja) | 熱特性測定装置 | |
CN211696701U (zh) | 便携式常温黑体辐射源装置 | |
CN105387941B (zh) | 一种动物体表发射率的测量系统及方法 | |
RU110482U1 (ru) | Стенд для калибровки датчиков давления | |
CN212567684U (zh) | 一种便携式黑体辐射源 | |
CN109211796B (zh) | 一种利用温度扰动法测量固体材料高温连续光谱发射率的方法 | |
CN205919896U (zh) | 辐射高温计测试装置 | |
CN209432310U (zh) | 温度计量检定装置用恒温电测装置 | |
CN106996889A (zh) | 一种聚合物改性沥青可测膜厚均匀控温制片装置及方法 | |
CN208505485U (zh) | 一种表面测温仪 | |
CN107655833B (zh) | 一种低导热率非导体材料高温半球发射率测量方法与系统 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
GR01 | Patent grant | ||
GR01 | Patent grant |