CN112019317B - 频率校准方法及装置、存储介质、电子装置 - Google Patents

频率校准方法及装置、存储介质、电子装置 Download PDF

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Abstract

本发明提供了一种频率校准方法及装置、存储介质、电子装置，该方法包括：对接收到的射频信号进行扫频，同时对射频信号进行采样，分别得到扫频频点和采样点；在扫频速度不同、链路时延、扫频时间步进以及采样时间步进不一致，导致扫频频点的频率和采样点所对应的频率不同的情况下，利用预设频率校准值对采样点所对应的频率进行校准，以使采样点所对应的频率与扫频频点的频率相同。通过本发明，解决了扫频时间较长、频率校准的问题，达到缩短扫频时间，并可以获得准确的扫频频率信息的效果。

Description

频率校准方法及装置、存储介质、电子装置
技术领域
本发明涉及通信领域，具体而言，涉及一种频率校准方法及装置、存储介质、电子装置。
背景技术
随着通信技术的发展，5G时代的来临，通信频段有效使用带宽也越来越宽。为了实现超宽带信号快速扫频测试，测试仪表及移动通讯测试工装都开始采用新的快速扫频方案，以提高扫频速度。
目前传统的扫频方法是一种线性系统频率特性的经典测量方法，以固定步进改变扫频频率依次得到有效带宽内射频信号的频率幅度特性。在这种测量方法中，信号的时域与频域是一一对应关系，扫频频点的每一次递进延时都必须大于数字滤波器的延时，带宽越宽测量频点越多，扫频测试时间也就越长。
针对上述技术问题，相关技术中尚未提出有效的解决方案。
发明内容
本发明实施例提供了一种频率校准方法及装置、存储介质、电子装置，以至少解决相关技术中扫频时间较长、频率校准的问题。
根据本发明的一个实施例，提供了一种频率校准方法，包括：对接收到的射频信号进行扫频，同时对射频信号进行采样，分别得到扫频频点和采样点；在扫频速度不同、链路时延、扫频时间步进以及采样时间步进不一致，导致扫频频点的频率和采样点所对应的频率不同的情况下，利用预设频率校准值对采样点所对应的频率进行校准，以使采样点所对应的频率与扫频频点的频率相同。
根据本发明的另一个实施例，提供了一种频率校准装置，包括：处理模块，用于对接收到的射频信号进行扫频，同时对射频信号进行采样，分别得到扫频频点和采样点；校准模块，用于在扫频速度不同、链路时延、扫频时间步进以及采样时间步进不一致，导致扫频频点的频率和采样点所对应的频率不同的情况下，利用预设频率校准值对采样点所对应的频率进行校准，以使采样点所对应的频率与扫频频点的频率相同。
根据本发明的又一个实施例，还提供了一种存储介质，所述存储介质中存储有计算机程序，其中，所述计算机程序被设置为运行时执行上述任一项方法实施例中的步骤。
根据本发明的又一个实施例，还提供了一种电子装置，包括存储器和处理器，所述存储器中存储有计算机程序，所述处理器被设置为运行所述计算机程序以执行上述任一项方法实施例中的步骤。
通过本发明，由于同时对射频信号进行扫频和采样，可以得到扫频频点和采样点；针对射频信号时域和频域对应关系发生改变，使得扫频速度不同、链路时延、扫频时间步进以及采样时间步进不一致，导致扫频频点的频率和采样点所对应的频率不同，可以利用预设频率校准值对采样点所对应的频率进行校准，以使采样点所对应的频率与扫频频点的频率相同。从而实现了在快速扫频的情况下对频率进行校准。因此，可以解决扫频时间较长、频率校准的问题，达到缩短扫频时间，并可以获得准确的扫频频率信息的效果。
附图说明
此处所说明的附图用来提供对本发明的进一步理解，构成本申请的一部分，本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明，并不构成对本发明的不当限定。在附图中：
图1是本发明实施例的一种频率校准方法的移动终端的硬件结构框图；
图2是根据本发明实施例的频率校准方法的流程图；
图3是本实施例中的快速扫频系统示意图；
图4是快速扫频流程示意图；
图5是本实施例中的校准示意图；
图6是根据本发明实施例的频率校准装置的结构框图。
具体实施方式
下文中将参考附图并结合实施例来详细说明本发明。需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。
需要说明的是，本发明的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。
本申请实施例一所提供的方法实施例可以在移动终端、计算机终端或者类似的运算装置中执行。以运行在移动终端上为例，图1是本发明实施例的一种频率校准方法的移动终端的硬件结构框图。如图1所示，移动终端10可以包括一个或多个(图1中仅示出一个)处理器102(处理器102可以包括但不限于微处理器MCU或可编程逻辑器件FPGA等的处理装置)和用于存储数据的存储器104，可选地，上述移动终端还可以包括用于通信功能的传输设备106以及输入输出设备108。本领域普通技术人员可以理解，图1所示的结构仅为示意，其并不对上述移动终端的结构造成限定。例如，移动终端10还可包括比图1中所示更多或者更少的组件，或者具有与图1所示不同的配置。
存储器104可用于存储计算机程序，例如，应用软件的软件程序以及模块，如本发明实施例中的频率校准方法对应的计算机程序，处理器102通过运行存储在存储器104内的计算机程序，从而执行各种功能应用以及数据处理，即实现上述的方法。存储器104可包括高速随机存储器，还可包括非易失性存储器，如一个或者多个磁性存储装置、闪存、或者其他非易失性固态存储器。在一些实例中，存储器104可进一步包括相对于处理器102远程设置的存储器，这些远程存储器可以通过网络连接至移动终端10。上述网络的实例包括但不限于互联网、企业内部网、局域网、移动通信网及其组合。
传输装置106用于经由一个网络接收或者发送数据。上述的网络具体实例可包括移动终端10的通信供应商提供的无线网络。在一个实例中，传输装置106包括一个网络适配器(Network Interface Controller，简称为NIC)，其可通过基站与其他网络设备相连从而可与互联网进行通讯。在一个实例中，传输装置106可以为射频(Radio Frequency，简称为RF)模块，其用于通过无线方式与互联网进行通讯。
在本实施例中提供了一种频率校准方法，图2是根据本发明实施例的频率校准方法的流程图，如图2所示，该流程包括如下步骤：
步骤S202，对接收到的射频信号进行扫频，同时对射频信号进行采样，分别得到扫频频点和采样点；
步骤S204，在扫频速度不同、链路时延、扫频时间步进以及采样时间步进不一致，导致扫频频点的频率和采样点所对应的频率不同的情况下，利用预设频率校准值对采样点所对应的频率进行校准，以使采样点所对应的频率与扫频频点的频率相同。
通过上述步骤，由于同时对射频信号进行扫频和采样，可以得到扫频频点和采样点；针对射频信号时域和频域对应关系发生改变，使得在扫频速度不同、链路时延、扫频时间步进以及采样时间步进不一致的情况下，导致扫频频点的频率和采样点所对应的频率不同，可以利用预设频率校准值对采样点所对应的频率进行校准，以使采样点所对应的频率与扫频频点的频率相同。从而实现了在快速扫频的情况下对频率进行校准。因此，可以解决扫频时间较长、频率校准的问题，达到缩短扫频时间，并可以获得准确的扫频频率信息的效果。
可选地，上述步骤的执行主体可以为终端等，但不限于此。
可选地，本实施例中的扫频速度可以自定义；扫频速度、链路时延和扫频时间步进以及采样时间步进参数可以不一致；扫频频点的频率和采样点所对应的频率不一致，即是扫频频点的频率和采样点所对应的频率无法对应。
此外，扫频速度可以通过以下方式至少之一确定：扫频带宽(起始频点相减可得)除以扫频时间；扫频频率步进除以扫频时间步进；扫频两个采样点对应的频率步进乘以采样速率(即除以采样周期)。
在一个可选的实施例中，可以通过以下方式对接收到的射频信号进行扫频：利用预设时间步进和预设频率步进确定本振信号；在预设的射频范围内利用本振信号对射频信号进行扫频。在本实施例中，扫频过程本质上是通过固定中频信号的频率、改变本振信号的频率来实现对有效带宽内的射频信号的频率的扫频操作，扫频有有效带宽的要求。
此外，本实施例中的扫频过程相对于现有技术中的扫频方式可以有效的减少扫频时间。在传统的扫频方法中，由于每一次扫频频点递进都需要等待链路延时，在超宽带通信设备或者测试仪表工作中，扫频测试时间过长，必然会影响系统的正常工作。例如，在一定的扫频带宽内、以一定的扫频步进进行扫频，假定需要对N个频点进行采样，链路延时为t'，模数转换器(Analog-Digital Converter，简称为ADC)采样速度为fs，每个频点测试需要采样点数为N'，则扫频一次所需要的时间为t＝N*[(N'/fs)+t']秒。而本实施例中的扫频方式中，如果是在同样的扫频带宽、同样的扫频步进、对同样的N个频点进行采样，链路延时为t'，ADC采样速度为fs，则扫频一次所需要的时间为t＝t'+N/fs秒即可。
由上述可知，本实施例中的扫频方式极大地缩短了扫频时间。但需要说明的是，在有效缩短扫频时间的情况下，由于射频信号时域和频域对应关系改变造成测试频率与真实信号发生偏差，因此需要对频率进行校准，获取准确的频率信息才能真正有效完成扫频测试。
此外，本实施例中的ADC采样是利用ADC进行的采样，得到的是采样点。
在一个可选的实施例中，通过以下方式确定扫频频点的频率和采样点所对应的频率不同：在执行完扫频处理之后射频信号的时域和频域之间的对应关系，相对于执行扫频处理之前射频信号的时域和频域之间的对应关系发生改变的情况下，确定扫频频点的频率和采样点所对应的频率不同。在本实施例中，即是射频信号时域和频域对应关系改变造成测试频率与真实信号发生偏差。
在一个可选的实施例中，在利用预设频率校准值对采样点所对应的频率进行校准之前，还包括至少通过以下方式确定预设频率校准值：确定对频率已知的测试射频信号进行扫频得到的第一测试扫频频点的频率和第二测试扫频频点的频率，其中，第一测试扫频频点与第二测试扫频频点之间间隔预设频率；确定在对测试射频信号进行扫频的同时，通过对测试射频信号进行采样所分别获取的与第一测试扫频频点对应的第一测试采样点，和与第二测试扫频频点所对应的第二测试采样点；确定第一测试扫频频点和第二测试扫频频点之间的第一频率差值；确定第一测试频点对应的第一测试采样点和第二测试频点对应的第二测试采样点的采样点差值；确定第一频率差值和采样点差值的第一比值；利用第一比值确定出预设频率校准值。
在本实施例中，第一扫频频点与第二扫频频点在有效带宽范围内尽可能频率间隔大一点。在扫频链路输入端分别输入第一扫频频点与第二扫频频点所在的测试射频信号，要求功率远大于噪声即可。利用测试射频信号和本振信号的变频关系，以固定的时间步进和固定的频率步进改变本振信号进行扫频。时间步进和固定的频率步进的选取会影响频率校准结果，因此需要根据数据处理的要求进行合适的选取。
在一个可选的实施例中，利用第一比值确定出预设频率校准值包括：在第一比值与滤波器的带宽值之间的比值在预设阈值范围之内的情况下，确定对频率已知的测试射频信号进行扫频时的起始频点和采样信号的起始采样点对应频点之间的第三频率差值，其中，滤波器为在对测试射频信号进行扫频时所使用的数字成型滤波器，采样信号的起始采样点对应频点是由第一测试频点减去第一测试采样点和第一比值的差值；将第二比值确定为预设频率校准值。
在本实施例中，第一比值与滤波器的带宽值之间的比值越小，检测结果越精确，第一比值与滤波器的带宽值之间的比值越大，则检测时间越短。由于射频链路和数字滤波器的延时和时域变频域的影响，在扫频和采样同时开始的情况下，采样在开始的一小段时间内的采数结果是不能对应真实的扫频信号的。无效点数可以通过上述得到。
在一个可选的实施例中，确定对频率已知的测试射频信号进行扫频得到的第一测试扫频频点的频率和第二测试扫频频点的频率包括：确定在对测试射频信号进行扫频时的本振信号的频率和中频信号的频率；利用本振信号、中频信号以及测试射频信号三者之间的对应关系，以及本振信号的频率和中频信号的频率确定出第一测试扫频频点的频率与第二测试扫频频点的频率。
在本实施例中，本振信号、中频信号以及测试射频信号三者之间的对应关系，可以是本振信号-射频信号＝中频信号，或者是射频信号-本振信号＝中频信号。
在一个可选的实施例中，在扫频频点的频率和采样点所对应的频率不同的情况下，利用预设频率校准值对采样点所对应的频率进行校准包括：确定采样点所对应的采样点数与预设频率校准值之间的第四点数差值；确定第四点数差值与第一比值的乘积，得到第一乘积值；将第一乘积与射频信号的起始频点的频率之间的和值，确定为采样点所对应的扫频频点的频率；利用采样点所对应的扫频频点的频率对采样点所对应的频率进行校准，以使采样点所对应的频率与扫频频点的频率相同。
在本实施例中，在扫频测试前或者生产过程中对设备进行快速扫频频率校准，并将所得到的校准值存储在校准文件中，在正常扫频测试工作时数据处理过程中调用校准文件中的频率校准数据进行补偿，就可以确保正确的采样频率信息和与真实射频信号频率信息对应一致。
下面集合具体实施例对本发明进行详细说明：
图3是本实施例中的快速扫频系统示意图，快速扫频系统中的频综模块可以选取高速自扫频模块。
由于射频信号时域和频域对应关系改变造成测试频率与真实信号发生偏差，因此必须对频率进行校准才能获取正确的频率信息。
图4是快速扫频流程示意图，图5是本实施例中的校准示意图，如图4、图5所示，以测试仪表频谱模式下扫频测试为例，本实施例具体步骤如下：
S1：根据要扫频的射频频点fRF选择扫频范围fRFstart＜fRF＜fRFstop，对应有效带宽为BW＝fRFstop-fRFstart。若扫频系统中频频率为fIF，采用低本振方案，则对应的本振范围为fLostart＜fLo＜fLostop，其中fLostart＝fRFstart-fIF，fLostop＝fRFstop-fIF，其数字部分所用成形滤波器阶数为N,以及对应的数据速率为fs。
S2：根据测试需要设定所要的扫频参数RBW和VBW，通常情况可以设定VBW＝RBW，而RBW(即数字成型滤波器带宽)则根据扫频带宽BW做出适当选择，带宽越宽则RBW选择相对较大值，可以提高扫频速度，带宽越窄则RBW选择较小值，可以提高扫频精度。
S3：在测试带宽内选取两个射频测试信号，测试频点分别为fRF1和fRF2，要求fRF1和fRF2在有效带宽范围内尽可能频率间隔大一点。
S4：在硬件系统输入端分别输入频点为fRF1和fRF2的射频信号，输入功率为0dBm。设定fLO＝fLOstart，以固定的时间步进Δt和固定的频率步进Δf改变fLO进行扫频。设定Δt等于本振芯片锁相环鉴相周期，而Δf＝fs*RBW*Δt/M，(M>10，M过小无法保证测试精度)。
S5：利用本振信号对射频信号进行扫频的同时，FPGA以1/fs(fs为对应的数字滤波器采样时钟速率)的时间间隔采数获取当前ADC采样数据x(ωi,i)(ωi对应i*1/fs时刻的扫频频率)，并通过计算式
Figure BDA0002075789690000081
获得对应的计算值。在采样的前N个周期，计算式中未获取的x(ωi,i)补零替代。当fLo＞fstop，扫频结束。
S6：将扫频所获得的所有数据通过MATLAB进行数据处理获得相应的取样值P，提取其中较大的两个采样值Pmax1和Pmax2，这两个数据点分别对应模拟信号fRF1和fRF2的采样点值N1和N2。
S7：计算得出df＝(fRF2-fRF1)/(N2-N1)。
S8：计算
Figure BDA0002075789690000091
假定系统测试要求
Figure BDA0002075789690000092
若计算结果相差较大，则调整S4中提到的扫频步进参数Δf和Δt，重复S4～S7。直至计算结果接近1/10，则进入下一步骤。
S9：计算FPGA采数与扫频延时的采样点数，Ndelay＝N1-(fRF1-fRFstart)/df。
S10：得到校准值Ndelay后，在正式扫频测试过程中调用该数据即可校准任意扫频信号真实频点fRFi＝fRFstart+(Ni-Ndelay)×df。
此外，除测试仪表扫频可以应用该校准方法，移动通讯设备干扰快速扫频检测也可以使用该发明，具体步骤如下：
1、根据移动通讯设备接收频段信息，确认fRFstart、fRFstop。根据通讯设备接收链路变频设计方案，计算出对应的本振范围为fLostart＜fLo＜fLostop。
2、根据通讯设备接收链路数字滤波器设计方案，确定成型滤波器带宽BWRRC。
3、在接收频段内选取两个射频测试信号，频点分别为fRF1和fRF2，要求fRF1和fRF2在有效带宽范围内尽可能频率间隔大一点。
4、在接收链路输入端分别输入频点为fRF1和fRF2的射频信号，输入功率满足链路正常工作的前提下尽量功率偏大。设定fLO＝fLOstart，以固定的时间步进Δt和固定的频率步进Δf改变fLO进行扫频。设定Δt等于本振芯片锁相环鉴相周期，而Δf＝fs*RBW*Δt/M(M>10，M过小无法保证测试精度)。
5、本振信号进行扫频的同时，FPGA以1/fs(fs为对应的数字滤波器采样时钟速率)的时间间隔采数获取当前ADC采样数据x(ωi,i)(ωi对应i*1/fs时刻的扫频频率)，并通过计算式
Figure BDA0002075789690000101
获得对应的计算值。在采样的前N个周期，计算式中未获取的x(ωi,i)补零替代。当fLo＞fstop，扫频结束。
6、将扫频所获得的所有数据通过MATLAB进行数据处理获得相应的取样值P，提取其中较大的两个采样值Pmax1和Pmax2，这两个数据点分别对应模拟信号fRF1和fRF2的采样点值N1和N2。
7、计算得出df＝(fRF2-fRF1)/(N2-N1)。
8、计算
Figure BDA0002075789690000102
要求
Figure BDA0002075789690000103
若计算结果相差较大，则调整步骤4中提到的扫频步进参数Δf和Δt，重复步骤4～步骤7。直至计算结果接近1/10，则进入下一步骤。
9、计算FPGA采数与扫频延时的采样点数，Ndelay＝N1-(fRF1-fRFstart)/df。
10、得到校准值Ndelay后，在正式扫频测试过程中调用该数据即可校准任意扫频信号真实频点fRFi＝fRFstart+(Ni-Ndelay)×df。
由于快速扫频的方案可应用于测试仪表以及通讯设备干扰扫频等系统中都可以应用，具体系统方案实现方式也有多种(比如射频变频有高、低中频以及零中频三种方案)，扫频等参数设定也可以在一定范围内进行变化，上述实例中讲到的方法应用只是例举，并未例数该专利中对应功能可以使用的全部实现方式。
通过以上的实施方式的描述，本领域的技术人员可以清楚地了解到根据上述实施例的方法可借助软件加必需的通用硬件平台的方式来实现，当然也可以通过硬件，但很多情况下前者是更佳的实施方式。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质(如ROM/RAM、磁碟、光盘)中，包括若干指令用以使得一台终端设备(可以是手机，计算机，服务器，或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述的方法。
在本实施例中还提供了一种频率校准装置，该装置用于实现上述实施例及优选实施方式，已经进行过说明的不再赘述。如以下所使用的，术语“模块”可以实现预定功能的软件和/或硬件的组合。尽管以下实施例所描述的装置较佳地以软件来实现，但是硬件，或者软件和硬件的组合的实现也是可能并被构想的。
图6是根据本发明实施例的频率校准装置的结构框图，如图6所示，该装置包括：处理模块62和校准模块64，下面对该装置进行说明：
处理模块62，用于对接收到的射频信号进行扫频，同时对射频信号进行采样，分别得到扫频频点和采样点；
校准模块64，连接至上述中的处理模块62，用于在扫频速度不同、链路时延、扫频时间步进以及采样时间步进不一致，导致扫频频点的频率和采样点所对应的频率不同的情况下，利用预设频率校准值对采样点所对应的频率进行校准，以使采样点所对应的频率与扫频频点的频率相同。
通过本发明，由于同时对射频信号进行扫频和采样计算，可以得到扫频频点和采样点；针对射频信号时域和频域对应关系发生改变，使得扫频速度不同、链路时延、扫频时间步进以及采样时间步进不一致，导致扫频频点的频率和采样点所对应的频率不同，可以利用预设频率校准值对采样点所对应的频率进行校准，以使采样点所对应的频率与扫频频点的频率相同。从而实现了在快速扫频的情况下对频率进行校准。因此，可以解决扫频时间较长、频率校准的问题，达到缩短扫频时间，并可以获得准确的扫频频率信息的效果。
可选地，上述步骤的执行主体可以为终端等，但不限于此。
可选地，本实施例中的扫频速度可以自定义；扫频速度、链路时延和扫频时间步进以及采样时间步进参数可以不一致；扫频频点的频率和采样点所对应的频率不一致，即是扫频频点的频率和采样点所对应的频率无法对应。
此外，扫频速度可以通过以下方式至少之一确定：扫频带宽(起始频点相减可得)除以扫频时间；扫频频率步进除以扫频时间步进；扫频两个采样点对应的频率步进乘以采样速率(即除以采样周期)。
在一个可选的实施例中，可以通过以下方式对接收到的射频信号进行扫频：利用预设时间步进和预设频率步进确定本振信号；在预设的射频范围内利用本振信号对射频信号进行扫频。在本实施例中，扫频过程本质上是通过固定中频信号的频率、改变本振信号的频率来实现对有效带宽内的射频信号的频率的扫频操作，扫频有有效带宽的要求。
此外，本实施例中的扫频过程相对于现有技术中的扫频方式可以有效的减少扫频时间。在传统的扫频方法中，由于每一次扫频频点递进都需要等待链路延时，在超宽带通信设备或者测试仪表工作中，扫频测试时间过长，必然会影响系统的正常工作。例如，在一定的扫频带宽内、以一定的扫频步进进行扫频，假定需要对N个频点进行采样，链路延时为t'，模数转换器(Analog-Digital Converter，简称为ADC)采样速度为fs，每个频点测试需要采样点数为N'，则扫频一次所需要的时间为t＝N*[(N'/fs)+t']秒。而本实施例中的扫频方式中，如果是在同样的扫频带宽、同样的扫频步进、对同样的N个频点进行采样，链路延时为t'，ADC采样速度为fs，则扫频一次所需要的时间为t＝t'+N/fs秒即可。
由上述可知，本实施例中的扫频方式极大地缩短了扫频时间。但需要说明的是，在有效缩短扫频时间的情况下，由于射频信号时域和频域对应关系改变造成测试频率与真实信号发生偏差，因此需要对频率进行校准，获取准确的频率信息才能真正有效完成扫频测试。
此外，本实施例中的ADC采样是利用ADC进行的采样，得到的是采样点。
在一个可选的实施例中，通过以下方式确定扫频频点的频率和采样点所对应的频率不同：在执行完扫频处理之后射频信号的时域和频域之间的对应关系，相对于执行扫频处理之前射频信号的时域和频域之间的对应关系发生改变的情况下，确定扫频频点的频率和采样点所对应的频率不同。在本实施例中，即是射频信号时域和频域对应关系改变造成测试频率与真实信号发生偏差。
在一个可选的实施例中，在利用预设频率校准值对采样点所对应的频率进行校准之前，还包括至少通过以下方式确定预设频率校准值：确定对频率已知的测试射频信号进行扫频得到的第一测试扫频频点的频率和第二测试扫频频点的频率，其中，第一测试扫频频点与第二测试扫频频点之间间隔预设频率；确定在对测试射频信号进行扫频的同时，通过对测试射频信号进行采样所分别获取的与第一测试扫频频点对应的第一测试采样点，和与第二测试扫频频点所对应的第二测试采样点；确定第一测试扫频频点和第二测试扫频频点之间的第一频率差值；确定第一测试频点对应的第一测试采样点和第二测试频点对应的第二测试采样点的采样点差值；确定第一频率差值和采样点差值的第一比值；利用第一比值确定出预设频率校准值。
在本实施例中，第一扫频频点与第二扫频频点在有效带宽范围内尽可能频率间隔大一点。在扫频链路输入端分别输入第一扫频频点与第二扫频频点所在的测试射频信号，要求功率远大于噪声即可。利用测试射频信号和本振信号的变频关系，以固定的时间步进和固定的频率步进改变本振信号进行扫频。时间步进和固定的频率步进的选取会影响频率校准结果，因此需要根据数据处理的要求进行合适的选取。
在一个可选的实施例中，利用第一比值确定出预设频率校准值包括：在第一比值与滤波器的带宽值之间的比值在预设阈值范围之内的情况下，确定对频率已知的测试射频信号进行扫频时的起始频点和采样信号的起始采样点对应频点之间的第三频率差值，其中，滤波器为在对测试射频信号进行扫频时所使用的数字成型滤波器；，采样信号的起始采样点对应频点是由第一测试频点减去第一测试采样点和第一比值的差值；将第二比值确定为预设频率校准值。
在本实施例中，第一比值与滤波器的带宽值之间的比值越小，检测结果越精确，第一比值与滤波器的带宽值之间的比值越大，则检测时间越短。由于射频链路和数字滤波器的延时和时域变频域的影响，在扫频和采样同时开始的情况下，采样在开始的一小段时间内的采数结果是不能对应真实的扫频信号的。无效点数可以通过上述得到。
在一个可选的实施例中，确定对频率已知的测试射频信号进行扫频得到的第一测试扫频频点的频率和第二测试扫频频点的频率包括：确定在对测试射频信号进行扫频时的本振信号的频率和中频信号的频率；利用本振信号、中频信号以及测试射频信号三者之间的对应关系，以及本振信号的频率和中频信号的频率确定出第一测试扫频频点的频率与第二测试扫频频点的频率。
在本实施例中，本振信号、中频信号以及测试射频信号三者之间的对应关系，可以是本振信号-射频信号＝中频信号，或者是射频信号-本振信号＝中频信号。
在一个可选的实施例中，在扫频频点的频率和采样点所对应的频率不同的情况下，利用预设频率校准值对采样点所对应的频率进行校准包括：确定采样点所对应的采样点数与预设频率校准值之间的第四点数差值；确定第四点数差值与第一比值的乘积，得到第一乘积值；将第一乘积与射频信号的起始频点的频率之间的和值，确定为采样点所对应的扫频频点的频率；利用采样点所对应的扫频频点的频率对采样点所对应的频率进行校准，以使采样点所对应的频率与扫频频点的频率相同。
在本实施例中，在扫频测试前或者生产过程中对设备进行快速扫频频率校准，并将所得到的校准值存储在校准文件中，在正常扫频测试工作时数据处理过程中调用校准文件中的频率校准数据进行补偿，就可以确保正确的采样频率信息和与真实射频信号频率信息对应一致。
需要说明的是，上述各个模块是可以通过软件或硬件来实现的，对于后者，可以通过以下方式实现，但不限于此：上述模块均位于同一处理器中；或者，上述各个模块以任意组合的形式分别位于不同的处理器中。
本发明的实施例还提供了一种存储介质，该存储介质中存储有计算机程序，其中，该计算机程序被设置为运行时执行上述任一项方法实施例中的步骤。
可选地，在本实施例中，上述存储介质可以被设置为存储用于执行以上各步骤的计算机程序。
可选地，在本实施例中，上述存储介质可以包括但不限于：U盘、只读存储器(Read-Only Memory，简称为ROM)、随机存取存储器(Random Access Memory，简称为RAM)、移动硬盘、磁碟或者光盘等各种可以存储计算机程序的介质。
本发明的实施例还提供了一种电子装置，包括存储器和处理器，该存储器中存储有计算机程序，该处理器被设置为运行计算机程序以执行上述任一项方法实施例中的步骤。
可选地，上述电子装置还可以包括传输设备以及输入输出设备，其中，该传输设备和上述处理器连接，该输入输出设备和上述处理器连接。
可选地，在本实施例中，上述处理器可以被设置为通过计算机程序执行以上各步骤。
可选地，本实施例中的具体示例可以参考上述实施例及可选实施方式中所描述的示例，本实施例在此不再赘述。
显然，本领域的技术人员应该明白，上述的本发明的各模块或各步骤可以用通用的计算装置来实现，它们可以集中在单个的计算装置上，或者分布在多个计算装置所组成的网络上，可选地，它们可以用计算装置可执行的程序代码来实现，从而，可以将它们存储在存储装置中由计算装置来执行，并且在某些情况下，可以以不同于此处的顺序执行所示出或描述的步骤，或者将它们分别制作成各个集成电路模块，或者将它们中的多个模块或步骤制作成单个集成电路模块来实现。这样，本发明不限制于任何特定的硬件和软件结合。
以上所述仅为本发明的优选实施例而已，并不用于限制本发明，对于本领域的技术人员来说，本发明可以有各种更改和变化。凡在本发明的原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种频率校准方法，其特征在于，包括：
对接收到的射频信号进行扫频，同时对所述射频信号进行采样，分别得到扫频频点和采样点；
在扫频速度不同、链路时延、扫频时间步进以及采样时间步进不一致，导致所述扫频频点的频率和所述采样点所对应的频率不同的情况下，利用预设频率校准值对所述采样点所对应的频率进行校准，以使所述采样点所对应的频率与所述扫频频点的频率相同。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，对接收到的所述射频信号进行扫频包括：
利用预设时间步进和预设频率步进确定本振信号；
在预设的射频范围内利用所述本振信号对所述射频信号进行扫频。
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，通过以下方式确定所述扫频频点的频率和所述采样点所对应的频率不同：
在执行完扫频处理之后所述射频信号的时域和频域之间的对应关系，相对于执行扫频处理之前所述射频信号的时域和频域之间的对应关系发生改变的情况下，确定所述扫频频点的频率和所述采样点所对应的频率不同。
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在利用所述预设频率校准值对所述采样点所对应的频率进行校准之前，所述方法还包括至少通过以下方式确定所述预设频率校准值：
确定对频率已知的测试射频信号进行扫频得到的第一测试扫频频点的频率和第二测试扫频频点的频率，其中，所述第一测试扫频频点与所述第二测试扫频频点之间间隔预设频率；
确定在对所述测试射频信号进行扫频的同时，通过对所述测试射频信号进行采样所分别获取的与所述第一测试扫频频点对应的第一测试采样点，和与所述第二测试扫频频点所对应的第二测试采样点；
确定所述第一测试扫频频点和所述第二测试扫频频点之间的第一频率差值；
确定所述第一测试扫频 频点对应的第一测试采样点和所述第二测试扫频 频点对应的第二测试采样点的采样点差值；
确定所述第一频率差值和所述采样点差值的第一比值；
利用所述第一比值确定出所述预设频率校准值。
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，利用所述第一比值确定出所述预设频率校准值包括：
在所述第一比值与滤波器的带宽值之间的比值在预设阈值范围之内的情况下，确定对频率已知的测试射频信号进行扫频时的起始频点和采样信号的起始采样点对应频点之间的第三频率差值，其中，所述滤波器为在对所述测试射频信号进行扫频时所使用的数字成型滤波器，所述采样信号的起始采样点对应频点是由所述第一测试频点减去所述第一测试采样点和所述第一比值的差值；
确定所述第三频率差值与所述第一比值的第二比值；
将所述第二比值确定为所述预设频率校准值。
6.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，确定对频率已知的测试射频信号进行扫频得到的第一测试扫频频点的频率和第二测试扫频频点的频率包括：
确定在对所述测试射频信号进行扫频时的本振信号的频率和中频信号的频率；
利用所述本振信号、所述中频信号以及所述测试射频信号三者之间的对应关系，以及所述本振信号的频率和所述中频信号的频率确定出所述第一测试扫频频点的频率与所述第二测试扫频频点的频率。
7.根据权利要求4或5所述的方法，其特征在于，在所述扫频频点的频率和所述采样点所对应的频率不同的情况下，利用预设频率校准值对所述采样点所对应的频率进行校准包括：
确定所述采样点所对应的采样点数与所述预设频率校准值之间的第四点数差值；
确定所述第四点数差值与所述第一比值的乘积，得到第一乘积值；
将所述第一乘积与所述射频信号的起始频点的频率之间的和值，确定为所述采样点所对应的扫频频点的频率；
利用所述采样点所对应的扫频频点的频率对所述采样点所对应的频率进行校准，以使所述采样点所对应的频率与所述扫频频点的频率相同。
8.一种频率校准装置，其特征在于，包括：
处理模块，用于对接收到的射频信号进行扫频，同时对所述射频信号进行采样，分别得到扫频频点和采样点；
校准模块，用于在扫频速度不同、链路时延、扫频时间步进以及采样时间步进不一致，导致所述扫频频点的频率和所述采样点所对应的频率不同的情况下，利用预设频率校准值对所述采样点所对应的频率进行校准，以使所述采样点所对应的频率与所述扫频频点的频率相同。
9.一种存储介质，其特征在于，所述存储介质中存储有计算机程序，其中，所述计算机程序被设置为运行时执行所述权利要求1至7任一项中所述的方法。
10.一种电子装置，包括存储器和处理器，其特征在于，所述存储器中存储有计算机程序，所述处理器被设置为运行所述计算机程序以执行所述权利要求1至7任一项中所述的方法。
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