CN111983361A - 测试治具及控制方法、电子设备及控制方法和测试系统 - Google Patents
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Abstract
本申请实施例涉及一种测试治具及控制方法、电子设备及控制方法和测试系统,测试治具包括:第一线圈,用于耦合连接至电子设备,接收电子设备发射的放电电磁信号以及向电子设备发射充电电磁信号;第一放电模块,与第一线圈连接,用于当测试治具处于第一模式时,通过放电电磁信号进行放电;第一充电模块,与第一线圈连接,用于当测试治具处于第二模式时,向第一线圈供电,以使第一线圈发射充电电磁信号;控制模块,分别与第一放电模块和第一充电模块连接,用于当满足第一预设条件时,切换测试治具的运行模式,运行模式包括第一模式和第二模式。通过将第一线圈、第一放电模块和第一充电模块进行集成,实现了集成度更高、体积更小的测试治具。
Description
技术领域
本申请实施例涉及充放电技术领域,特别是涉及一种测试治具及控制方法、电子设备及控制方法和测试系统。
背景技术
电子设备在人们生活中扮演着越来越重要的角色,而电子设备充电技术的发展也越来越快。因此,无线充放电技术应运而生。
电子设备在出厂时,需要先对其无线充放电性能进行测试,以其确保无线充放电功能的正常运行。现有的无线充放电测试需要较多对设备支持,从而导致测试治具的整体体积较大,便携性不足。
发明内容
基于此,有必要针对无线充放电的测试治具的体积较大问题,提供一种测试治具及控制方法、电子设备及控制方法和测试系统。
一种测试治具,包括:
第一线圈,用于耦合连接至电子设备,并接收所述电子设备发射的放电电磁信号以及向所述电子设备发射充电电磁信号;
第一放电模块,与所述第一线圈连接,用于当所述测试治具处于第一模式时,通过所述放电电磁信号进行放电;
第一充电模块,与所述第一线圈连接,用于当所述测试治具处于第二模式时,向所述第一线圈供电,以使所述第一线圈发射所述充电电磁信号;
第一控制模块,分别与所述第一放电模块和所述第一充电模块连接,用于当满足第一预设条件时,切换所述测试治具的运行模式,所述运行模式包括所述第一模式和所述第二模式。
一种电子设备,包括:
第二线圈,用于耦合连接至测试治具,并向测试治具发射放电电磁信号以及接收所述测试治具发射的充电电磁信号;
第二控制模块,与所述第二线圈连接,用于控制所述第二线圈发射所述放电电磁信号以使所述电子设备处于第一测试状态,并控制所述第二线圈接收所述充电电磁信号以使所述电子设备处于第二测试状态,所述电子设备的状态切换响应于第二预设条件;
测试模块,与所述第二线圈连接,用于在所述第一测试状态下获取所述电子设备为所述测试治具进行放电的放电测试信息,以及在所述第二测试状态下获取所述电子设备被所述测试治具进行充电的充电测试信息。
一种测试治具的控制方法,所述测试治具包括第一线圈,以及与所述第一线圈连接的第一放电模块和第一充电模块,所述控制方法包括:
当所述测试治具处于第一模式时,控制所述第一线圈接收电子设备发射的放电电磁信号,并控制所述第一放电模块通过所述放电电磁信号进行放电;
当满足第一预设条件时,切换所述测试治具的运行模式;
当所述测试治具处于第二模式时,控制所述第一充电模块向所述第一线圈供电,以使所述第一线圈向所述电子设备发射充电电磁信号。
一种电子设备的控制方法,所述电子设备包括第二线圈,以及与所述第二线圈连接的测试模块,所述控制方法包括:
当所述电子设备处于第一测试状态时,控制所述第二线圈向测试治具发射放电电磁信号,并控制所述测试模块获取所述电子设备为测试治具进行放电的放电测试信息;
当满足第二预设条件时,切换所述电子设备的测试状态;
当所述电子设备处于第二测试状态时,控制所述第二线圈接收所述测试治具发射的充电电磁信号,并控制所述测试模块获取所述电子设备被所述测试治具进行充电的充电测试信息。
一种测试系统,包括:
如上述的测试治具;
如上述的电子设备;
其中,所述测试治具的第一线圈与所述电子设备的第二线圈耦合连接。
上述测试治具及控制方法、电子设备及控制方法和测试系统,所述测试治具包括:第一线圈,用于耦合连接至电子设备,并接收所述电子设备发射的放电电磁信号以及向所述电子设备发射充电电磁信号;第一放电模块,与所述第一线圈连接,用于当所述测试治具处于第一模式时,通过所述放电电磁信号进行放电;第一充电模块,与所述第一线圈连接,用于当所述测试治具处于第二模式时,向所述第一线圈供电,以使所述第一线圈发射所述充电电磁信号;第一控制模块,分别与所述第一放电模块和所述第一充电模块连接,用于当满足第一预设条件时,切换所述测试治具的运行模式,所述运行模式包括所述第一模式和所述第二模式。通过将第一放电模块和第一充电模块集成于同一测试治具中,在对同一电子设备进行充放电测试时,无需中途切换测试治具,从而提高了测试治具的测试效率,而且,通过同一第一线圈分时执行接收放电电磁信号和发射充电电磁信号的功能,实现了集成度更高、体积更小的测试治具。
附图说明
图1为一实施例的测试治具的结构示意图;
图2为另一实施例的测试治具的结构示意图;
图3为又一实施例的测试治具的结构示意图;
图4为再一实施例的测试治具的结构示意图;
图5为一实施例的电子设备的结构示意图;
图6为一实施例的测试系统的结构示意图;
图7为一实施例的测试治具的控制方法的流程图;
图8为另一实施例的测试治具的控制方法;
图9为一实施例的电子设备的控制方法的流程图;
图10为一实施例的测试方法的流程图。
元件标号说明:
测试治具:10;第一线圈:110;第一放电模块:120;第一转换电路:121;放电电阻:122;第一充电模块:130;充电电路:131;第二转换电路:132;第一控制模块:140;计时单元:141;处理单元:142;检测单元:143;电子设备:20;第二线圈:210;第二控制模块:220;测试模块:230
具体实施方式
为了便于理解本申请实施例,下面将参照相关附图对本申请实施例进行更全面的描述。附图中给出了本申请实施例的首选实施例。但是,本申请实施例可以以许多不同的形式来实现,并不限于本文所描述的实施例。相反地,提供这些实施例的目的是使对本申请实施例的公开内容更加透彻全面。
除非另有定义,本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本申请实施例的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本申请实施例的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的,不是旨在于限制本申请实施例。本文所使用的术语“及/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。
图1为一实施例的测试治具10的结构示意图,参考图1,在本实施例中,测试治具10包括第一线圈110、第一放电模块120、第一充电模块130和第一控制模块140。
第一线圈110,用于耦合连接至电子设备20,并接收所述电子设备20发射的放电电磁信号以及向所述电子设备20发射充电电磁信号。具体地,当第一线圈110接收放电电磁信号时,测试治具10对电子设备20进行放电,电子设备20即进行放电测试,并通过放电测试获取放电测试信息;当第一线圈110向电子设备20发射充电电磁信号时,测试治具10对电子设备20进行充电,电子设备20即进行充电测试,并通过充电测试获取充电测试信息。
第一放电模块120,与所述第一线圈110连接,用于当所述测试治具10处于第一模式时,通过所述放电电磁信号进行放电。第一线圈110接收到放电电磁信号后,可以将放电电磁信号转化为电信号,第一放电模块120即可通过上述转化生成的电信号进行放电。第一放电模块120为可以接收电信号并对电能进行消耗的元件或组件。示例性地,第一放电模块120可以为阻性元件,阻性元件可以将接收到的电信号中携带的电能转化为热能等其他能量形式进行释放,从而实现放电功能。第一放电模块120还可以为容性元件,容性元件可以将接收到的电能进行存储,从而实现放电功能。
第一充电模块130,与所述第一线圈110连接,用于当所述测试治具10处于第二模式时,向所述第一线圈110供电,以使所述第一线圈110发射所述充电电磁信号。第一充电模块130向第一线圈110提供电信号,第一线圈110可以将接收到的电信号转化为充电电磁信号,从而对电子设备20进行充电。第一充电模块130为可以输出电信号的元件或组件。示例性地,第一充电模块130可以为充电器,第一充电模块130通过连接外部的供电系统(例如220V供电系统),即可输出电信号。第一充电模块130还可以为移动充电装置,例如移动电源,移动电源中内置有电池和相应的电路,从而将电池中储存的电能转化为电信号并输出。
第一控制模块140,分别与所述第一放电模块120和所述第一充电模块130连接,用于当满足第一预设条件时,切换所述测试治具10的运行模式,所述运行模式包括所述第一模式和所述第二模式。具体地,切换测试治具10的运行模式包括将测试治具10由第一模式切换至第二模式,还包括将测试治具10由第二模式转化为第一模式。例如,假设测试治具10当前处于第一模式,即第一放电模块120工作,测试治具10的第一线圈110接收来自电子设备20发射的放电电磁信号,当满足第一预设条件时,即可将测试治具10切换至第二模式,即第一充电模块130工作,测试治具10的第一线圈110发射充电电磁信号。
示例性地,第一预设条件可以为当前运行模式的运行时长等于一阈值时间,例如,若阈值时间为2s,且当前模式的运行时长达到2s,则说明通过当前模式的运行时长已经可以获取足够的测试信息,并可以切换至另一模式,从而进行其他测试。在本示例中,第一预设条件可以内设于第一控制模块140中,第一控制模块140即可基于第一预设条件实现自动切换。
在其他示例中,第一预设条件也可以为测试治具10接收到外部输入的模式切换信号,例如操作人员确认以获取足够的测试信息,模式切换信号可以通过按键输入、触控输入或语音输入等方式输入至测试治具10的信号。在本实例中,基于操作人员输入的模式切换信号进行模式切换,可以实现更加灵活的控制。需要说明的是,上述自动切换的方式和人工切换的方式仅用于示例性说明,而不用于限定本申请的保护范围,在其他示例中,也可以使测试治具10兼容两种不同的第一预设条件,并响应于在先触发的第一预设条件进行模式切换,从而进一步提高测试治具10的灵活性。
在本实施例中,测试治具10包括:第一线圈110,用于耦合连接至电子设备20,并接收所述电子设备20发射的放电电磁信号以及向所述电子设备20发射充电电磁信号;第一放电模块120,与所述第一线圈110连接,用于当所述测试治具10处于第一模式时,通过所述放电电磁信号进行放电;第一充电模块130,与所述第一线圈110连接,用于当所述测试治具10处于第二模式时,向所述第一线圈110供电,以使所述第一线圈110发射所述充电电磁信号;第一控制模块140,分别与所述第一放电模块120和所述第一充电模块130连接,用于当满足第一预设条件时,切换所述测试治具10的运行模式,所述运行模式包括所述第一模式和所述第二模式。相比于现有技术中独立设置的充电测试治具10和放电测试治具10,本实施例通过将第一放电模块120和第一充电模块130集成于同一测试治具10中,在对同一电子设备20进行充放电测试时,无需中途切换测试治具10,从而提高了测试治具10的测试效率,而且,通过同一第一线圈110分时执行接收放电电磁信号和发射充电电磁信号的功能,实现了集成度更高、体积更小的测试治具10。
在其中一个实施例中,测试治具10的第一线圈110发射充电电磁信号,以对电子设备20进行充电的充电过程可以包括涓流充电阶段、恒流充电阶段和恒压充电阶段中的一个或者多个,从而对电子设备20的充电功能提供更加完善的测试。
其中,恒流充电阶段可以包括多段恒流充电阶段,可以分别记为第一充电阶段、第二充电阶段、第三充电阶段、…、第N充电阶段。进一步地,测试治具10可预先构建充电阶段与其对应的充电电流信息的映射关系。例如,第一充电阶段的充电电流信息最大,第N充电阶段的充电电流信息最小。而且,相邻的两个恒流充电阶段之间的电流信息转换的过程可以是渐变的,也可以是台阶式的跳跃变化。需要说明的是,本申请实施例中提及的恒流充电阶段或恒流阶段并非要求充电电流信息保持完全恒定不变,例如可以是泛指充电电流信息的峰值或均值在一段时间内保持不变。
图2为另一实施例的测试治具10的结构示意图,参考图2,在本实施例中,所述第一控制模块140包括计时单元141和处理单元142。
计时单元141,用于响应于计时开始信号进行计时。具体地,计时可以为正向计时或倒向计时。正向计时是指,计时单元141接收到计时开始信号后,从0s开始计时,且计时结果随着时间流逝逐渐增大,并在接收到计时结束信号后停止计时结果,并可以响应于计时重置信号对计时结果进行清零。倒向计时是指,计时单元141接收到计时开始信号后,从预设时间开始计时,且计时结果随着时间流逝逐渐减小,并在计时结果为0s时停止计时,并可以响应于计时重置信号将计时单元141恢复至前述的预设时间。
处理单元142,分别与所述计时单元141、所述第一放电模块120和所述第一充电模块130连接,用于根据所述计时单元141的计时结果和所述第一预设条件,切换所述测试治具10的运行模式,并在切换所述运行模式后,发送所述计时开始信号至所述计时单元141。具体地,在本实施例中,第一预设条件可以为一第一阈值时间条件,通过比较计时结果和第一阈值时间条件,即可自动、准确地切换测试治具10的运行模式。
进一步地,可以针对第一模式和第二模式设置不同的第一阈值时间条件,例如,可以设置第一模式的第一阈值时间条件为运行时长满2s,并设置第二模式的第一阈值时间条件为运行时长满3s。可以理解的是,第一模式和第二模式的测试内容并不相同,因此,可以对测试内容较少的运行模式设置较短的第一阈值时间条件,以提高测试效率,并对测试内容较多的运行模式设置较长的运行时间,以防止未测试到足够的信息时被切换运行模式,从而提高测试准确性。在本实施例中,通过设置不同的阈值时间条件,可以避免人工控制测试治具10时测试速度慢、效率低的问题,从而提高了测试治具10的测试效率和测试准确性。
在其中一个实施例中,所述运行模式还包括初始模式,所述第一控制模块140还用于当所述测试治具10处于所述初始模式时,响应于测试开启信号,切换所述测试治具10至所述第一模式和所述第二模式中的一种;并当满足所述第一预设条件时,切换所述测试治具10至所述第一模式和所述第二模式中的另一种。
在本实施例中,处于初始模式时,测试治具10处于信号接收状态,从而及时接收到测试开启信号并进行相应地模式切换。进一步地,测试开启信号可以与放电电磁信号为同一信号,可以理解的是,测试开启信号和放电电磁信号可以均由电子设备20发射,并均由测试治具10接收,因此,若测试开启信号与放电电磁信号采用同一信号,测试治具10可以响应于测试开启信号直接切换至第一模式,即第一放电模块120开启的模式,而无需对测试治具10的内部硬件电路进行切换,从而简化了硬件切换的步骤,提高了测试效率。因此,在其他实施例中,均以上述顺序进行具体的说明,即,当测试治具10处于初始模式时,响应于测试开启信号切换至所述第一模式,并当满足第一预设条件时,切换所述至第二模式。
通过测试开启信号可以实现测试治具10和电子设备20之间的测试开启时刻的同步,从而提高测试治具10和电子设备20之间的同步性,进而提高测试结果的准确性。即,当测试治具10处于第一模式时,电子设备20处于第一测试状态,当测试治具10处于第二模式时,电子设备20处于第二测试状态。而且,在本实施例中,只需在测试开始时通过测试开启信号进行同步,在后续测试过程中,测试治具10只需根据内置的计时单元141的计时结果进行基于时间的模式切换,即可确保于电子设备20之间的同步性,而无需设置其他通信模块,从而实现了功耗更低且体积更小的测试治具10。
图3为又一实施例的测试治具10的结构示意图,参考图3,在本实施例中,所述第一控制模块140还包括检测单元143,分别与所述第一充电模块130和所述处理单元142连接,用于检测所述第一充电模块130的充电状态,并当所述充电状态异常时,发送反馈信号至所述处理单元142;所述处理单元142还用于响应于所述反馈信号,切换所述测试治具10至所述初始模式。
当测试治具10对电子设备20进行充电时,存在连接线路断开并导致无法继续进行充电的情况。在本实施例中,可以通过检测单元143检测第一充电模块130的充电状态,以判断充电状态是否异常。示例性地,若第一充电模块130连接至供电系统,检测单元143可以检测第一充电模块130中的电流信息,例如若充电状态的持续时间还未达到阈值时间条件但电流信息突然减小至零,则说明充电状态异常,即发生了线路断开等情况,而无法继续执行后续的步骤。又一示例性地,若第一充电模块130为移动电源,检测单元143可以检测移动电源中存储的电量是否在持续、稳定地减少,例如若充电状态的持续时间还未达到阈值时间条件但存储的电量不再减少,则说明充电状态异常。可以理解的是,若发生了连接线路断开等情况,则在线路断开前的一定时间内的测试结果的可靠性不足,存在测试结果错误的风险。因此,本实施例检测到充电状态异常后,切换测试治具10至初始模式,即,对电子设备20重新进行测试,从而确保测试结果的准确性,提供了一种更加可靠的测试治具10。
图4为再一实施例的测试治具10的结构示意图,参考图4,在本实施例中,所述第一线圈110还用于根据接收的所述放电电磁信号生成交流电信号,所述第一放电模块120包括第一转换电路121和放电电阻122。
第一转换电路121,与所述第一线圈110连接,用于根据所述第一线圈110输出的交流电信号生成适用于向放电电阻122进行放电的电信号。
具体地,第一转换电路121可以包括整流电路和电压调制电路,整流电路连接至第一线圈110,电压调制电路分别连接至整流电路和放电电阻122。
当测试治具10处于第一模式时,测试治具10作为无线充电的接收端,即电子设备20对测试治具10进行放电。当电子设备20对测试治具10进行无线放电的过程中,测试治具10的第一线圈110可以接收电子设备20发射的放电电磁信号,并将接收的放电电磁信号转换为交流电信号输出至整流电路。整流电路(例如AC/DC电路)用于将第一线圈110输出的交流电信号转换为直流电信号,并输出给电压调制电路,电压调制电路(例如Buck降压电路)可以对接收的直流电信号做降压处理以获取适用于向放电电阻122进行放电的电信号,从而防止放电电阻122损坏。
放电电阻122,与所述第一转换电路121连接,用于通过所述第一转换电路121输出的电信号对所述电子设备20进行放电。
在其中一个实施例中,继续参考图4,所述第一充电模块130包括充电电路131和第二转换电路132,其中,所述第一线圈110还用于根据所述第二转换电路132输出的电信号生成所述充电电磁信号。
充电电路131,用于在供电系统的驱动下生成直流电信号。具体地,通过将充电电路131连接至供电系统,可以确保充电电路131的稳定输出,避免供电电压信息不足等问题,提高测试治具10的可靠性。进一步地,充电电路131中可以配置有一充电开关,充电开关与第一控制模块140和供电系统连接,从而在第一控制模块140的控制下,导通或断开供电系统向测试治具10提供电能的路径。
第二转换电路132,分别与所述充电电路131和所述第一线圈110连接,用于根据所述直流电信号生成适用于传输向所述第一线圈110的电信号。
具体地,第二转换电路132可以具有电压信息调制和整流功能,因此,第二转换电路132可以与第一转换电路121为同一电路,即第一放电模块120和第一充电模块130共用整流电路和电压调制电路。通过上述设置方法,可以进一步缩小测试治具10的体积。
当测试治具10处于第二模式时,测试治具10作为发射端为电子设备20进行无线充电。电压调制电路(例如Boost升压电路)可对所述充电电路131输出的直流电信号进行升压处理,升压处理后的直流电信号可输出至整流电路(例如AC/DC电路),整流电路可以将直流电信号转换为交流电信号,以供第一线圈110生成充电电磁信号。
在其中一个实施例中,第一控制模块140还可以根据第一线圈110接收的放电电磁信号获取电子设备20的信息。示例性地,具有不同充放电性能的电子设备20可以发射不同的放电电磁信号,例如发射不同功率或不同频率的放电电磁信号,测试治具10接收到放电电磁信号后,可以根据放电电磁信号的参数确定电子设备20的种类,从而调节第一线圈110发射的充电电磁信号的参数,以提高充电电磁信号和电子设备20之间的匹配度,实现更好的测试效果。具体地,可以通过调节整流电路的输出电压信息来调节充电电磁信号的发射功率信息,以根据调节后的充电电磁信号对电子设备20进行充电。其中,整流电路的输出电压信息与第一线圈110的震荡频率正相关。第一线圈110的震荡频率越高,其第一线圈110的发射的充电电磁信号的功率信息也大。当输出电压信息越大,其第一线圈110发射的功率信息也越大,其充电电路131的供电能力也就越强。
在一些实施例中,测试治具10还可以包括功率信息调节电路,功率信息调节电路与第一线圈110连接,用于调节第一线圈110的接收的放电电磁信号和发射的充电电磁信号的功率信息。功率信息调整调节例如可以包括脉冲宽度调制(pulse width modulation,PWM)控制器和开关单元,通过调整PWM控制器发出的控制信号的占空比,和/或通过控制开关单元的开关频率以调节线圈的发射电磁信号的功率信息。
在一些实施例中,测试治具10还可以包括无线通信模块,相应地,电子设备20也包括无线通信模块。电子设备20和测试治具10中的无线通信模块可以按照预设无线通信协议进行通信。例如,测试治具10可以接收电子设备20反馈的测试结束信号,当测试治具10接收到测试结束信号时,说明电子设备20侧已经测试到足够的充电测试信息或放电测试信息,测试治具10不必继续等待至满足第一预设条件再进行模式切换,从而提高了测试效率。其中,电子设备20和测试治具10可以通过蓝牙(bluetooth)、无线保真(wireless fidelity,Wi-Fi)、近场通信(Near Field Communication,NFC)、反向散射(backscatter)调制方式或其他近距离通信协议进行无线通信。
图5为一实施例的电子设备20的结构示意图,参考图5,在本实施例中,电子设备20包括第二线圈210、第二控制模块220和测试模块230。
第二线圈210,用于耦合连接至测试治具10,并向测试治具10发射放电电磁信号以及接收所述测试治具10发射的充电电磁信号。第二线圈210可以将接收到充电电磁信号转化为电信号,从而对电子设备20进行充电;第二线圈210还可以将电信号转化为放电电磁信号,从而对电子设备20进行放电。
第二控制模块220,与所述第二线圈210连接,用于控制所述第二线圈210发射所述放电电磁信号以使所述电子设备20处于第一测试状态,并控制所述第二线圈210接收所述充电电磁信号以使所述电子设备20处于第二测试状态,所述电子设备20的状态切换响应于第二预设条件。
具体地,电子设备20的测试状态与测试治具10的运行模式之间具有映射关系,即,当电子设备20处于第一测试状态时,测试治具10需要相应地处于第一模式,从而进行放电测试;当电子设备20处于第二测试状态时,测试治具10需要相应地处于第二模式,从而进行充电测试。其中,第二预设条件包括但不限于第二阈值时间条件、阈值参数条件中的至少一种,阈值参数条件例如可以为阈值功率信息条件,即电子设备20进行放电测试的放电功率信息大于阈值功率信息时,即可以认为满足第二阈值参数条件。在其他实施例中,阈值参数条件也可以为但不限于阈值电流信息条件、阈值电压信息条件、阈值温度条件等。
测试模块230,与所述第二线圈210连接,用于在所述第一测试状态下获取所述电子设备20为所述测试治具10进行放电的放电测试信息,以及在所述第二测试状态下获取所述电子设备20被所述测试治具10进行充电的充电测试信息。具体地,放电测试信息包括但不限于放电功率信息、放电电流信息、放电电压信息、放电时的电池温度等,充电测试信息包括但不限于充电电流信息、充电电压信息、充电时的电池温度等。可以理解的是,测试模块230中可以包括多个传感单元,每个传感单元用于对不同的参数进行测试,以获得全面的充电测试信息和放电测试信息。
在本实施例中,电子设备20包括:第二线圈210,用于耦合连接至测试治具10,并向测试治具10发射放电电磁信号以及接收所述测试治具10发射的充电电磁信号;第二控制模块220,与所述第二线圈210连接,用于控制所述第二线圈210发射所述放电电磁信号以使所述电子设备20处于第一测试状态,并控制所述第二线圈210接收所述充电电磁信号以使所述电子设备20处于第二测试状态,所述电子设备20的状态切换响应于第二预设条件;测试模块230,与所述第二线圈210连接,用于在所述第一测试状态下获取所述电子设备20为所述测试治具10进行放电的放电测试信息,以及在所述第二测试状态下获取所述电子设备20被所述测试治具10进行充电的充电测试信息。通过设置第二预设条件,并使电子设备20基于第二预设条件进行测试状态的切换,可以简化测试时的人工操作步骤,从而有效提高电子设备20的测试效率。
在其中一些实施例中,第二预设条件也可以通过多个参数进行卡控,从而进一步提高测试准确性。示例性地,可以采用第二阈值时间条件和阈值放电功率条件进行双重卡控,即,当电子设备20处于第一测试状态时,放电功率大于或等于阈值放电功率,且该功率状态的持续时长大于或等于第二阈值时间时,才认定满足第二预设条件。
在其中一些实施例中,可以通过工程模式实现上述第一测试状态和第二测试状态的切换。具体地,工程模式是一种系统层级的硬件安全管理程序,硬件安全管理程序是一种开放源代码的计算机程序。通过电子设备20的工程模式,用户可以了解电子设备20最基本的信息,如当前网络制式和网络状态、电子设备硬件参数及其提供商、电子设备应用详情、电池使用情况、恢复电子设备出厂设置等。在具体执行的过程中,可以由电子设备20的开发厂商,在电子设备20在工程模式中配置参数,参数的名称例如可以为放电功率信息,开发厂商还可以在工程模式中配置上述第二预设条件,以实现测试状态的自动切换。在本实施例中,工程模式中内置上述第二控制模块220,以存储第二预设条件,从而实现测试状态的自动切换。
在其中一些实施例中,需要先在电子设备20中输出预设的触发指令,以触发电子设备20的工程模式。具体地,根据触发指令触发工程模式可以包括:获取在电子设备20的显示界面的输入的触发指令,例如,检测人员在电子设备20的拨号界面输入预设的触发指令来触发工程模式,示例性地,预设的触发指令可以为“*#36446#”、“*#558#”、“*#*#2846579#*#*”等。进一步地,触发指令可以为通过按键信号生成的触发指令,例如,检测人员长按侧按键或者同时按压组合按键,这些按键被按压后产生的特定的高低电平信号形成触发指令,用来触发工程模式。
进一步地,在工程模式中可以设置测试界面,并在测试界面中显示多项测试内容,例如硬件参数、电池使用情况、充电测试信息和放电测试信息等。在其他一些实施例中,也可以不显示测试界面供用户选择,而是直接通过输入按键指令来进行测试,例如,预先设定“*#36446#01”对应的测试项目为充电测试信息测试,则直接通过依次按压“*#36446#01”来进行充电测试信息测试;预先设定“*#36446#02”对应的测试项目为放电测试信息测试,则直接通过依次按压“*#36446#02”来进行放电测试信息测试;预先设定“*#36446#03”对应的测试项目为放电测试信息和充电测试信息的连续测试,则直接通过依次按压“*#36446#03”来进行放电测试信息和充电测试信息的连续测试,以此类推,即可以不用在显示界面上显示待选项目。
在其他一些实施例中,电子设备20也可以不进入工程模式,而是直接在正常的用户使用模式下进行测试,因此可以直接显示测试界面。示例性地,在电子设备20中内置充放电测试信息的测试程序,通过点击接触不良测试程序对应的图标而打开测试界面。测试界面上显示与充放电测试对应的图形化选项,例如充电、放电等。
在一些实施例中,以电子设备20先处于第一测试状态,并满足第二预设条件后切换至第二测试状态为例,可以理解的是,电子设备20满足第二预设条件的时长会随着测试环境、测试治具性能等发生一定的波动,因此,可以控制电子设备20切换至第二测试状态时,同时发送一测试结束信号至测试治具10,以指示测试治具10进行模式切换,而不必等到满足第一预设条件时才进行模式切换,从而提高测试效率和测试速度。
图6为一实施例的测试系统的结构示意图,参考图6,在本实施例中,测试系统,包括如上述的测试治具10和如上述的电子设备20;其中,所述测试治具10的第一线圈110与所述电子设备20的第二线圈210耦合连接。
具体地,通过耦合连接的第一线圈110和第二线圈210,即可实现充电电磁信号和放电电磁信号的发送和接收,进而实现对电子设备20的充电测试信息和放电测试信息的测试。进一步地,所述第一线圈110和所述第二线圈210的规格相同,其中,规格包括但不限于线圈直径、线圈圈数等,在本实施例中,通过设置具有相同规格的第一线圈110和第二线圈210,可以提高第一线圈110和第二线圈210之间的耦合准确性,以提供一种测试结果的准确性较高的测试系统。
在其中一些实施例中,测试系统还包括机械手,所述机械手用于抓取和移动所述电子设备20。具体地,可以将测试治具10设置在一测试平台上,机械手的固定端与测试平台固定连接,测试平台上还设置有待测试设备区和已测试设备区,当测试系统获悉当前进行充放电测试的电子设备20完成测试后,控制机械手的活动端对电子设备20进行抓取和移动。即,先将已完成测试的电子设备20移动至已测试设备区,并从待测试设备区抓取一待测试的电子设备20并放置在测试治具10上,从而对大量电子设备20进行连续测试。
图6中所示的测试系统也可以作为测试治具10的控制方法的应用环境,还可以作为电子设备20的控制方法的应用环境。如图6所示,应用环境包括电子设备20和测试治具10。在实施例中,电子设备20可以作为无线充电的发射端,能够基于无线充电技术向测试治具10放电;电子设备20也可以作为无线充电的接收端,能够基于无线充电技术从测试治具10中获取电能,从而为电子设备20充电。
在本申请实施例中,电子设备20可以为包括手机、平板电脑、PDA(PersonalDigital Assistant,个人数字助理)、POS(Point of Sales,销售终端)、车载电脑、穿戴式设备或同时具有无线充电和放电功能的无线移动电源(充电宝)等能够通过无线的方式接收外部设备的充电,并能够通过无线的方式向其他电子设备20放电的任意终端设备。
本实施例中的测试治具10的控制方法,以运行于图6中的测试系统上为例进行描述。图7为一实施例的测试治具10的控制方法的流程图,所述测试治具10包括第一线圈110,以及与所述第一线圈110连接的第一放电模块120和第一充电模块130,参考图7,所述控制方法包括步骤702至步骤706。
步骤702,当所述测试治具10处于第一模式时,控制所述第一线圈110接收电子设备20发射的放电电磁信号,并控制所述第一放电模块120通过所述放电电磁信号进行放电;
步骤704,当满足第一预设条件时,切换所述测试治具10的运行模式;
步骤706,当所述测试治具10处于第二模式时,控制所述第一充电模块130向所述第一线圈110供电,以使所述第一线圈110向所述电子设备20发射充电电磁信号。
需要说明的是,步骤702和步骤706对顺序可以置换。在本实施例中,通过一个测试治具10对电子设备20进行充放电,因此,在对同一电子设备20进行充放电测试时,无需中途切换测试治具10,从而提高了测试治具10的测试效率,提供了一种测试效率更高的测试治具10的控制方法。关于测试治具10的控制方法的具体限定可以参见上文中对于测试治具10的限定,在此不再赘述。
在其中一些实施例中,测试治具10的控制方法还包括步骤:当满足第三预设条件时,测试治具10结束测试。其中,第三预设条件可以是一阈值时间条件,例如,当测试治具10处于第二模式的持续时间等于第三阈值时间时,结束测试。进一步地,当测试治具10结束测试后,可以自动关闭测试治具10,也可以重新切换至初始模式,以等待对下一电子设备20进行充放电。
图8为另一实施例的测试治具10的控制方法,参考图8,在本实施例中,所述控制方法包括步骤802至步骤808。
步骤802,当所述测试治具10处于第一模式时,控制所述第一线圈110接收电子设备20发射的放电电磁信号,并控制所述第一放电模块120通过所述放电电磁信号进行放电;
步骤804,获取所述第一放电模块120的运行时长的计时结果;
步骤806,根据所述计时结果和所述第一预设条件,切换所述测试治具10的运行模式;
步骤808,当所述测试治具10处于第二模式时,控制所述第一充电模块130向所述第一线圈110供电,以使所述第一线圈110向所述电子设备20发射充电电磁信号。
需要说明的是,步骤808和步骤808对顺序可以置换,当先执行步骤808,后执行步骤802时,在步骤804中获取第一充电模块130对运行时长的计时结果。在本实施例中,步骤802和步骤808分别与步骤702和步骤706一一对应,此处不再进行赘述。步骤704包括步骤804至步骤806,即实现了基于时间卡控的运行模式的切换,而无需外部的人工控制,从而提供了一种测试效率更高的测试治具10的控制方法。
图9为一实施例的电子设备20的控制方法的流程图,所述电子设备20包括第二线圈210,以及与所述第二线圈210连接的测试模块230,参考图9,在本实施例中,所述控制方法包括步骤902至步骤906。
步骤902,当所述电子设备20处于第一测试状态时,控制所述第二线圈210向测试治具10发射放电电磁信号,并控制所述测试模块230获取所述电子设备20为测试治具10进行放电的放电测试信息;
步骤904,当满足第二预设条件时,切换所述电子设备20的测试状态;
步骤906,当所述电子设备20处于第二测试状态时,控制所述第二线圈210接收所述测试治具10发射的充电电磁信号,并控制所述测试模块230获取所述电子设备20被所述测试治具10进行充电的充电测试信息。
在本实施例中,通过设置第二预设条件,并使电子设备20基于第二预设条件进行测试状态的切换,可以简化测试时的人工操作步骤,从而提供了一种测试效率更高的电子设备20的控制方法。关于电子设备20的控制方法的具体限定可以参见上文中对于电子设备20的限定,在此不再赘述。
在其中一些实施例中,电子设备20的控制方法还包括步骤:当满足第四预设条件时,电子设备20结束测试。其中,第四预设条件可以是一阈值时间条件和一阈值参数条件的双重卡控的条件,例如,当电子设备20的充电功率大于一阈值功率,且该充电功率的持续时间等于第四阈值时间时,结束测试。进一步地,当电子设备20结束测试后,可以自动关闭电子设备20,也可以退出电子设备20的工程模式。
图10为一实施例的测试方法的流程图,参考图10,在本实施例中,测试方法包括步骤1002至步骤1016。
步骤1002,电子设备20触发工程模式;
步骤1004,电子设备20发送测试开启信号;
步骤1006,测试治具10接收到测试开始信号,切换至第一模式,以接收电子设备20发射的放电电磁信号;
步骤1008,电子设备20切换至第一测试状态,以接收放电电磁信号,并获取为所述测试治具10进行放电的放电测试信息;
步骤1010,当满足第一预设条件时,测试治具10切换至第二模式,以对电子设备20进行充电;
步骤1012,当满足第二预设条件时,电子设备20切换至第二测试状态,以发射充电电磁信号,并获取被所述测试治具10进行充电的充电测试信息;
步骤1014,当满足第三预设条件时,测试治具10结束测试;
步骤1016,当满足第四预设条件时,电子设备20结束测试。
其中,步骤1006和步骤1008为同步执行,步骤1010和步骤1012为同步执行,步骤1014和步骤1016为同步执行,需要说明的是,同步执行不特指同时进行切换,而是指测试治具10的运行模式和电子设备20的测试状态相匹配,可以进行准确的充放电测试。第一预设条件和第三预设条件可以均为阈值时间条件,第二预设条件和第四预设条件可以均为阈值时间条件和阈值功率条件双重卡控的条件,而且,在不同的阈值条件中,阈值时间可以不同。在本实施例中,通过设置多个预设条件,以使测试治具10和电子设备20基于预设条件进行自动的运行模式切换或测试状态切换,实现了一种测试效率更高、结果更准确的测试方法。
进一步地,若上述步骤1014设置有第三阈值时间条件,且上述步骤1016设置有第四阈值时间条件,可以使第三阈值时间长于第四阈值时间,从而确保电子设备20获取完整的充电测试信息。
应理解的是,虽然图7至图10的流程图中的各个步骤按照箭头的指示依次显示,但是这些步骤并不是必然按照箭头指示的顺序依次执行。除非本文中有明确的说明,这些步骤的执行并没有严格的顺序限制,这些步骤可以以其它的顺序执行。而且,图7至图10中的至少一部分步骤可以包括多个子步骤或者多个阶段,这些子步骤或者阶段并不必然是在同一时刻执行完成,而是可以在不同的时刻执行,这些子步骤或者阶段的执行顺序也不必然是依次进行,而是可以与其它步骤或者其它步骤的子步骤或者阶段的至少一部分轮流或者交替地执行。
本申请实施例还提供了一种计算机可读存储介质。一个或多个包含计算机可执行指令的非易失性计算机可读存储介质,当计算机可执行指令被一个或多个处理器执行时,使得处理器执行上述控制方法和测试方法的步骤。
一种包含指令的计算机程序产品,当其在计算机上运行时,使得计算机执行上述控制方法和测试方法。
本申请所使用的对存储器、存储、数据库或其它介质的任何引用可以包括非易失性和/或易失性存储器。非易失性存储器可以包括只读存储器(ROM)、可编程ROM(PROM)、电可编程ROM(EPROM)、电可擦除可编程ROM(EEPROM)或闪存。易失性存储器可以包括随机存取存储器(RAM),它用作外部高速缓冲存储器。作为说明而非局限,RAM以多种形式可得,诸如静态RAM(SRAM)、动态RAM(DRAM)、同步DRAM(SDRAM)、双数据率SDRAM(DDR SDRAM)、增强型SDRAM(ESDRAM)、同步链路(Synchlink)DRAM(SLDRAM)、存储器总线(Rambus)直接RAM(RDRAM)、直接存储器总线动态RAM(DRDRAM)、以及存储器总线动态RAM(RDRAM)。
以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合,为使描述简洁,未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述,然而,只要这些技术特征的组合不存在矛盾,都应当认为是本说明书记载的范围。
以上所述实施例仅表达了本申请实施例的几种实施例,其描述较为具体和详细,但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是,对于本领域的普通技术人员来说,在不脱离本申请实施例构思的前提下,还可以做出若干变形和改进,这些都属于本申请实施例的保护范围。因此,本申请实施例专利的保护范围应以所附权利要求为准。
Claims (13)
1.一种测试治具,其特征在于,包括:
第一线圈,用于耦合连接至电子设备,并接收所述电子设备发射的放电电磁信号以及向所述电子设备发射充电电磁信号;
第一放电模块,与所述第一线圈连接,用于当所述测试治具处于第一模式时,通过所述放电电磁信号进行放电;
第一充电模块,与所述第一线圈连接,用于当所述测试治具处于第二模式时,向所述第一线圈供电,以使所述第一线圈发射所述充电电磁信号;
第一控制模块,分别与所述第一放电模块和所述第一充电模块连接,用于当满足第一预设条件时,切换所述测试治具的运行模式,所述运行模式包括所述第一模式和所述第二模式。
2.根据权利要求1所述的治具,其特征在于,所述第一控制模块包括:
计时单元,用于响应于计时开始信号进行计时;
处理单元,分别与所述计时单元、所述第一放电模块和所述第一充电模块连接,用于根据所述计时单元的计时结果和所述第一预设条件,切换所述测试治具的运行模式,并在切换所述运行模式后,发送所述计时开始信号至所述计时单元。
3.根据权利要求2所述的治具,其特征在于,所述运行模式还包括初始模式,所述第一控制模块还用于
当所述测试治具处于所述初始模式时,响应于测试开启信号,切换所述测试治具至所述第一模式和所述第二模式中的一种;
并当满足所述第一预设条件时,切换所述测试治具至所述第一模式和所述第二模式中的另一种。
4.根据权利要求3所述的治具,其特征在于,所述第一控制模块还包括:
检测单元,分别与所述第一充电模块和所述处理单元连接,用于检测所述第一充电模块的充电状态,并当所述充电状态异常时,发送反馈信号至所述处理单元;
所述处理单元还用于响应于所述反馈信号,切换所述测试治具至所述初始模式。
5.根据权利要求1所述的治具,其特征在于,所述第一线圈还用于根据接收的所述放电电磁信号生成交流电信号,所述第一放电模块包括:
第一转换电路,与所述第一线圈连接,用于根据所述第一线圈输出的交流电信号生成适用于向放电电阻进行放电的电信号;
放电电阻,与所述第一转换电路连接,用于通过所述第一转换电路输出的电信号对所述电子设备进行放电。
6.根据权利要求1所述的治具,其特征在于,所述第一充电模块包括:
充电电路,用于在供电系统的驱动下生成直流电信号;
第二转换电路,分别与所述充电电路和所述第一线圈连接,用于根据所述直流电信号生成适用于传输向所述第一线圈的电信号;
其中,所述第一线圈还用于根据所述第二转换电路输出的电信号生成所述充电电磁信号。
7.一种电子设备,其特征在于,包括:
第二线圈,用于耦合连接至测试治具,并向测试治具发射放电电磁信号以及接收所述测试治具发射的充电电磁信号;
第二控制模块,与所述第二线圈连接,用于控制所述第二线圈发射所述放电电磁信号以使所述电子设备处于第一测试状态,并控制所述第二线圈接收所述充电电磁信号以使所述电子设备处于第二测试状态,所述电子设备的状态切换响应于第二预设条件;
测试模块,与所述第二线圈连接,用于在所述第一测试状态下获取所述电子设备为所述测试治具进行放电的放电测试信息,以及在所述第二测试状态下获取所述电子设备被所述测试治具进行充电的充电测试信息。
8.根据权利要求7所述的电子设备,其特征在于,所述第二控制模块还用于控制所述第二线圈发送测试开启信号,所述测试开启信号用于指示测试治具切换运行模式。
9.根据权利要求7所述的电子设备,其特征在于,所述放电测试信息包括放电电流信息、放电电压信息和放电功率信息中的至少一种。
10.一种测试治具的控制方法,其特征在于,所述测试治具包括第一线圈,以及与所述第一线圈连接的第一放电模块和第一充电模块,所述控制方法包括:
当所述测试治具处于第一模式时,控制所述第一线圈接收电子设备发射的放电电磁信号,并控制所述第一放电模块通过所述放电电磁信号进行放电;
当满足第一预设条件时,切换所述测试治具的运行模式;
当所述测试治具处于第二模式时,控制所述第一充电模块向所述第一线圈供电,以使所述第一线圈向所述电子设备发射充电电磁信号。
11.根据权利要求10所述的控制方法,其特征在于,所述当满足第一预设条件时,切换所述测试治具的运行模式,包括:
获取所述第一放电模块或所述第一充电模块的运行时长的计时结果;
根据所述计时结果和所述第一预设条件,切换所述测试治具的运行模式。
12.一种电子设备的控制方法,其特征在于,所述电子设备包括第二线圈,以及与所述第二线圈连接的测试模块,所述控制方法包括:
当所述电子设备处于第一测试状态时,控制所述第二线圈向测试治具发射放电电磁信号,并控制所述测试模块获取所述电子设备为测试治具进行放电的放电测试信息;
当满足第二预设条件时,切换所述电子设备的测试状态;
当所述电子设备处于第二测试状态时,控制所述第二线圈接收所述测试治具发射的充电电磁信号,并控制所述测试模块获取所述电子设备被所述测试治具进行充电的充电测试信息。
13.一种测试系统,其特征在于,包括:
如权利要求1至6任一项所述的测试治具;
如权利要求7至9任一项所述的电子设备;
其中,所述测试治具的第一线圈与所述电子设备的第二线圈耦合连接。
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Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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CN112953040A (zh) * | 2021-02-08 | 2021-06-11 | Oppo广东移动通信有限公司 | 电子设备及其控制方法、电子设备系统 |
CN112953040B (zh) * | 2021-02-08 | 2023-06-13 | Oppo广东移动通信有限公司 | 电子设备及其控制方法、电子设备系统 |
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