CN111929317A - 一种偏光膜缺陷检测系统及方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种偏光膜缺陷检测系统，包括检测单元、传送单元、分析单元，所述传送单元包括主动滚轮和从动滚轮，偏光膜在主动滚轮和从动滚轮之间张紧，并在主动滚轮的驱动下移动；所述检测单元包括相机单元、照明单元、遮光栅栏，所述相机单元与照明单元设置在偏光膜的两侧，遮光栅栏设置于照明单元与偏光膜之间；所述分析单元为计算机系统，与相机单元电连接，用于对相机单元所拍摄的图像进行采集、分析处理及数据存储。本发明提供的偏光膜缺陷检测系统及方法，在偏光膜连续传送的状态下进行检测，不会造成检测遗漏，可以检测出偏光膜上的气纹和押迹缺陷。
Description
技术领域
本发明涉及一种偏光膜缺陷检测系统及方法，属于偏光膜生产测试技术领域。
背景技术
偏光膜是生产液晶显示面板的主要光学组件，偏光膜提供形成图像所需的透射光，并且对显示器面板的品质具有很大影响。
偏光膜可以通过将保护膜附接至偏光器件的两个表面上并向偏光器件的至少一个外表面上施加PSA粘合剂来形成。然而，在制造光学膜的过程中，可能产生以下现象：当制程条件变化或膜材产生接头时，膜被贴合挤压；由于渗入至膜上的空气或设备硬件缺损变化，膜被挤压；以及由于其他外力，膜内空气无法消除的现象。
因上述现象而产生的偏光膜的缺陷可能在使用该偏光膜的显示面板中引起线性亮斑缺陷，因此在对偏光膜的缺陷检测是偏光膜生产制造中必不可少的程序。在生产作为LCD光学材料来使用的偏光膜的生产厂家中，为了高速地进行所生产的产品的实时检查，利用了在线（IN-LINE）自动光学检测系统，但该自动光学检测系统无法辨别缺陷类型，且存在检查遗漏的问题。
发明内容
目的：为了克服现有技术中检测遗漏及无法辨别缺陷类型的问题，本发明提供一种偏光膜缺陷检测系统及方法。
技术方案：为解决上述技术问题，本发明采用的技术方案为：
一种偏光膜缺陷检测系统，包括检测单元、传送单元、分析单元，
所述传送单元包括主动滚轮和从动滚轮，偏光膜在主动滚轮和从动滚轮之间张紧，并在主动滚轮的驱动下移动；
所述检测单元包括相机单元、照明单元、遮光栅栏，所述相机单元与照明单元设置在偏光膜的两侧，遮光栅栏设置于照明单元与偏光膜之间；
所述分析单元为计算机系统，与相机单元电连接，用于对相机单元所拍摄的图像进行采集、分析处理及数据存储。
进一步地，所述照明单元、相机单元的中心连线与偏光膜的中垂线之间的角度为0°。
进一步地，所述遮光栅栏为网格状，网格的出光缝隙宽度为1mm。
进一步地，所述遮光栅栏与偏光膜的垂直距离为200-300mm。
进一步地，所述相机单元与偏光膜的垂直距离为2000mm。
进一步地，所述照相单元为高速线性工业相机，所述照明单元为LED模组。
一种偏光膜缺陷检测方法，基于上述系统进行，包括如下过程：
将偏光膜在主动滚轮、从动滚轮之间张紧，并可在主动滚轮的驱动下持续移动；
在偏光膜的两侧分别设置照明单元及相机单元，照明单元与偏光膜之间设置遮光栅栏，照明单元的光线经过遮光栅栏的出光缝隙射向偏光膜，透射后进入相机单元；
计算机系统采集相机单元所拍摄的图像，进行分析处理，获取缺陷信息，并存储。
有益效果：本发明提供的一种偏光膜缺陷检测系统及方法，在偏光膜连续传送的状态下进行检测，不会造成检测遗漏，可以检测出偏光膜上的气纹和押迹缺陷。
附图说明
图1为本发明检测系统的示意图；
图2为经过有缺陷的偏光膜的光路示意图；
图3为偏光膜上有气纹缺陷时相机拍摄的图像；
图4为偏光膜上有押迹缺陷时相机拍摄的图像。
具体实施方式
下面结合附图对本发明作更进一步的说明。
如图1所示，一种偏光膜缺陷检测系统，包括检测单元、传送单元、分析单元。
所述传送单元包括主动滚轮5和从动滚轮6，偏光膜1在主动滚轮5和从动滚轮6之间张紧，并在主动滚轮5的驱动下被连续传送。所述主动滚轮5与从动滚轮6之间保持一定的距离来保证偏光膜1的平整性。
所述检测单元包括相机单元2、照明单元3、遮光栅栏4，所述相机单元2与照明单元3设置在偏光膜1的两侧，所述照明单元3、相机单元2的中心连线与偏光膜1的中垂线之间的角度A为0°；所述相机单元2与偏光膜1的垂直距离为2000mm。所述相机单元2为高速线性工业相机，相机拍摄范围覆盖整个偏光膜的宽度；所述照明单元3为LED模组，LED模组由多个LED组成，保持足够亮度的光线照射。
所述遮光栅栏4设置于照明单元3与偏光膜1之间，所述遮光栅栏4为网格状，网格中出光缝隙的宽度为1mm；若遮光栅栏的出光缝隙宽度大于1mm，则拍摄图像容易会受缺陷宽度及偏光膜平整度影响，若出光缝隙宽度小于1mm，则难以检出缺陷。所述遮光栅栏与偏光膜的垂直距离为200-300mm。
所述分析单元为计算机系统7，与相机单元2电连接，用于对相机单元2所拍摄的图像进行采集、分析处理及数据存储。
利用上述检测系统进行偏光膜的缺陷检测的方法如下：
1）将偏光膜1在主动滚轮5、从动滚轮6之间张紧，并可在主动滚5轮的驱动下倍连续传送；
2）在偏光膜1的两侧分别设置照明单元3及相机单元2，照明单元3与偏光膜1之间设置遮光栅栏4，照明单元3的光线经过遮光栅栏4的出光缝隙射向偏光膜1，透射后进入相机单元2；
3）计算机系统7采集相机单元2所拍摄的图像，进行分析处理，获取缺陷信息，并存储。
如图2中经过遮光栅栏后的入射光L1、L2透过偏光膜后被相机单元捕捉，若该段偏光膜上具有缺陷，则相机单元捕捉到的遮光栅栏图像的网格将发生变形。计算机系统读取相机采集的图像，将图像的明暗度转换为灰阶值，图像亮度越亮，灰阶值越高；照明单元的入射光经过遮光栅栏、无缺陷的偏光膜后被相机采集的图像灰阶值作为参考灰阶值，当偏光膜上具有缺陷时，入射光经过该段缺陷被相机采集的图像灰阶值与参考灰阶值相比会产生变化，形成不同的图形状态，以此来判断偏光膜上存在缺陷。如图3所示，检测到的缺陷形态为两条并行线状及管柱状，则判断该缺陷为气纹缺陷；如图4所示，检测到的缺陷形态为膜流方向上呈现淡淡条状起伏感，则判断该缺陷为押迹缺陷。
以上所述仅是本发明的优选实施方式，应当指出：对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明原理的前提下，还可以做出若干改进和润饰，这些改进和润饰也应视为本发明的保护范围。
Claims (7)
1.一种偏光膜缺陷检测系统，其特征在于：包括检测单元、传送单元、分析单元，
所述传送单元包括主动滚轮和从动滚轮，偏光膜在主动滚轮和从动滚轮之间张紧，并在主动滚轮的驱动下移动；
所述检测单元包括相机单元、照明单元、遮光栅栏，所述相机单元与照明单元设置在偏光膜的两侧，遮光栅栏设置于照明单元与偏光膜之间；
所述分析单元为计算机系统，与相机单元电连接，用于对相机单元所拍摄的图像进行采集、分析处理及数据存储。
2.根据权利要求1所述的一种偏光膜缺陷检测系统，其特征在于：所述照明单元、相机单元的中心连线与偏光膜的中垂线之间的角度为0°。
3.根据权利要求1所述的一种偏光膜缺陷检测系统，其特征在于：所述遮光栅栏为网格状，网格的出光缝隙宽度为1mm。
4.根据权利要求3所述的一种偏光膜缺陷检测系统，其特征在于：所述遮光栅栏与偏光膜的垂直距离为200-300mm。
5.根据权利要求1所述的一种偏光膜缺陷检测系统，其特征在于：所述相机单元与偏光膜的垂直距离为2000mm。
6.根据权利要求1所述的一种偏光膜缺陷检测系统，其特征在于：所述照相单元为高速线性工业相机，所述照明单元为LED模组。
7.一种偏光膜缺陷检测方法，基于权利要求1所述系统进行，其特征在于：包括如下过程：
将偏光膜在主动滚轮、从动滚轮之间张紧，并可在主动滚轮的驱动下持续移动；
在偏光膜的两侧分别设置照明单元及相机单元，照明单元与偏光膜之间设置遮光栅栏，照明单元的光线经过遮光栅栏的出光缝隙射向偏光膜，透射后进入相机单元；
计算机系统采集相机单元所拍摄的图像，进行分析处理，获取缺陷信息，并存储。
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