CN111913471A

CN111913471A - 测试装置

Info

Publication number: CN111913471A
Application number: CN202010715090.8A
Authority: CN
Inventors: 刘斌; 刘龙超; 李建强; 霍风祥
Original assignee: Beijing Jinghanyu Electronic Engineering Technology Co ltd
Current assignee: Beijing Jinghanyu Electronic Engineering Technology Co ltd
Priority date: 2020-07-21
Filing date: 2020-07-21
Publication date: 2020-11-10

Abstract

本发明涉及一种测试装置，包括测试主板，测试主板上设有主处理器和测试座，主处理器与测试座连接；测试座用于放置待测芯片；主处理器包括：第一ADC采集器、第一DAC转换器、第一定时器Timer、第二ADC采集器以及第一USART通信接口；测试座包括：第三ADC采集器、第二DAC转换器、第二定时器Timer、PMW模块以及第二USART通信接口；其中，第一ADC采集器与第二DAC转换器连接，第一DAC转换器与第三ADC采集器连接，第二ADC采集器与PMW模块连接，第一USART通信接口与第二USART通信接口连接；本发明只需要对单片机进行一次测试就能够验证单片机的所有功能并进行显示，更加的方便快捷。

Description

测试装置

技术领域

本发明属于单片机测试技术领域，具体涉及一种测试装置。

背景技术

伴随着让算机技术的不断发展，单片机也得到了相应的发展，而且其应用的领域也得到更好的扩展。我们生活中广泛使用的各种智能IC卡、数码产品，工业自动化过程的实时控制和数据处理，以及军备中涉及到的重要系统控制都离不开单片机。而为了确保单片机的质量和特性，经常需要对单片机进行测试，而对单片机进行现场测试较为复杂。

相关技术中，对单片机进行测试时，需要对单片机进行多次下载后测试不同的程序，单片机用机台进行测试功能比较复杂，有些功能通过机台无法直接测试出来。

发明内容

有鉴于此，本发明的目的在于克服现有技术的不足，提供一种测试装置，以解决现有技术中单片机测试时程序较为复杂的问题。

为实现以上目的，本发明采用如下技术方案：一种测试装置，包括：测试主板，所述测试主板上设有主处理器和测试座，所述主处理器与测试座连接；所述测试座用于放置待测芯片；

所述主处理器包括：第一ADC采集器、第一DAC转换器、第一定时器Timer、第二ADC采集器以及第一USART通信接口；

所述测试座包括：第三ADC采集器、第二DAC转换器、第二定时器Timer、PMW模块以及第二USART通信接口；

其中，所述第一ADC采集器与第二DAC转换器连接，所述第一DAC转换器与所述第三ADC采集器连接，所述第二ADC采集器与所述PMW模块连接，所述第一USART通信接口与所述第二USART通信接口连接。

进一步的，所述测试座还包括：

CAN总线，与待测芯片中的控制器连接。

进一步的，所述测试座还包括：

SPI接口，与待测芯片的SPI引脚连接。

进一步的，所述测试座还包括：

IIC器件，与待测芯片的IIC引脚连接。

进一步的，所述主处理器还包括：

显示屏，用于显示测试结果。

进一步的，所述测试座还包括：

FMC连接器，所述FMC连接器一端与所述显示屏连接，另一端与待测芯片的FMC接口连接。

进一步的，所述测试座还包括：

FLASH接口，与待测芯片的FLASH引脚连接。

进一步的，所述显示屏设有：

红色指示灯和绿色指示灯；

所述红色指示灯用于显示不合格，所述绿色指示灯用于显示合格。

进一步的，所述主处理器采用STM32F427VIT6单片机；

所述待测芯片为STM32F427VIT6单片机。

进一步的，还包括：

电源模块，用于向所述测试装置提供电能。

本发明采用以上技术方案，能够达到的有益效果包括：

本申请提供的测试装置，包括测试主板，测试主板上设有主处理器和测试座，主处理器与测试座连接；测试座用于放置待测芯片；主处理器包括：第一ADC采集器、第一DAC转换器、第一定时器Timer、第二ADC采集器以及第一USART通信接口；测试座包括：第三ADC采集器、第二DAC转换器、第二定时器Timer、PMW模块以及第二USART通信接口；通过将待测芯片放置在测试座上，与测试座连接，测试座与主处理器连接。对待测芯片进行功能测试，并将测试结果进行显示。本发明只需要对单片机进行一次测试就能够验证单片机的所有功能并进行显示，更加的方便快捷。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明一种测试装置的结构示意图；

图2为本发明提供的测试装置的另一种结构示意图；

图3为本发明提供的单片机的电路原理图；

图4为本发明提供的CAN总线的电路原理图；

图5为本发明提供的SPI接口的电路原理图；

图6为本发明提供的IIC器件的电路原理图；

图7为本发明提供的显示屏的电路原理图；

图8为本发明提供的FMC连接器的电路原理图；

图9为本发明提供的电源模块的电路原理图。

具体实施方式

为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将对本发明的技术方案进行详细的描述。显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所得到的所有其它实施方式，都属于本发明所保护的范围。

下面结合附图介绍本申请实施例中提供的一个具体的测试装置。

如图1所示，本申请实施例中提供的测试装置，包括，测试主板1，所述测试主板1上设有主处理器2和测试座3，所述主处理器2与测试座3连接；所述测试座3用于放置待测芯片；

如图2所示，所述主处理器2包括：第一ADC采集器、第一DAC转换器、第一定时器Timer、第二ADC采集器以及第一USART通信接口；

所述测试座3包括：第三ADC采集器、第二DAC转换器、第二定时器Timer、PMW模块以及第二USART通信接口；

如图3所示，本申请中的主处理器2采用STM32F427VIT6单片机；

所述待测芯片为STM32F427VIT6单片机。

需要说明的是，本申请中的待测芯片、主处理器2还可以采用其他单片机，本申请在此不做限定。

测试装置的工作原理为：主处理器2固定设置在所述测试主板1上，用于对待测芯片进行测试；测试座3用于安装待测芯片。本申请中采用DMA+ADC采集器，本申请中使用独立模式多通道采集，该过程和DMA相配合可快速读取待测芯片的采样值，原理是采集设定的电平值，读数和设定值一样即说明待测芯片的ADC和DMA功能正常。其中设定值预先设定在主处理器2中。

STM32F427VIT6单片机内部DAC功能能够根据给定的数组输出不同频率的波形，如正弦波、三角波，本申请中为了检测方便，采用DAC输出一条直线，主处理器2中将电平设置为设定值，主处理器2通过第一ADC采集器检测待测芯片的电平，若与设定值一样，说明待测芯片的DAC功能正常。

本申请中在使用DAC时一般都会用到定时器作为触发，本实验DAC中已经使用了基本定时器也就是Timer定时器，DAC输出正常则说明待测芯片的定时器基本功能正常。对于PWM，也是定时器的基础功能，此处通过PWM波可更改输出电平，通常用于控制液晶背光亮度，本申请中同样与液晶背光引脚相连，并采用主处理器2的第二ADC采集器采集PWM引脚电平，与设定值进行比对，相近即说明功能正常。

主处理器2的第一USART通信接口与测试座3的第二USART通信接口连接，测试座3的第二USART通信接口与待测芯片的USART引脚连接，使得两款单片机之间进行串口通信，根据设定规则能够正常收发数据即说明通信正常。

如图4所示，一些实施例中，所述测试座3还包括：CAN总线，与待测芯片中的控制器连接。

本申请中，采用“回环测试”方式，即启用单片机CAN总线控制器，自己给自己发送数据，将接收和发送的数据进行比对，若收到数据且与发送数据一致说明CAN总线正常。

如图5所示，一些实施例中，所述测试座3还包括：

SPI接口，与待测芯片的SPI引脚连接。

本申请中使用STM32单片机自带的SPI引脚驱动一SPI接口存储器，向存储器写入部分数据，再读出数据，将两者进行比较，若一致，说明SPI硬件接口正常。

如图6所示，一些实施例中，所述测试座3还包括：

IIC器件，与待测芯片的IIC引脚连接。

本申请汇总使用STM32单片机自带的IIC引脚驱动一IIC接口存储器，向存储器写入部分数据，再读出数据，将两者进行比较，若一致，说明IIC硬件接口正常。

如图7所示，一些实施例中，所述主处理器2还包括：

显示屏，用于显示测试结果。

显示屏可以以文字形式显示上述的测试结果。

进一步的，显示屏还可以根据测试结果的不同显示相应的颜色。比如，显示屏设置红色LED灯和绿色LED灯。当测试结果是不合格时，显示屏显示红色，当测试结果是合格时，显示屏显示绿色。

如图8所示，一些实施例中，所述测试座3还包括：

本申请中采用STM32自带的FMC接口驱动液晶屏，液晶屏正常显示则说明待测芯片的FMC功能正常。

优选的，所述测试座3还包括：

FLASH接口，与待测芯片的FLASH引脚连接。

本申请中的FLASH接口能够向待测芯片写入程序，则能够说明使用的那部分flash是正常的。为证明全地址段的Flash功能正常，本申请中在待测芯片内部Flash中尾部又开辟一部分空间，并向其写入固定的数据，再通过主处理器2读出来，比较写入和读出的数据，两者一样则说明尾部Flash也正常。

优选的，所述显示屏设有：

红色指示灯和绿色指示灯；

优选的，如图9所示，还包括：

电源模块，用于向所述测试装置提供电能。

被测单片机安装在测试座3上后，上电初始化，主处理器2中的程序开始对被测单片机的各项功能进行测试。

综上所述，本发明提供一种测试装置，包括测试主板，测试主板上设有主处理器和测试座，主处理器与测试座连接；测试座用于放置待测芯片；主处理器包括：第一ADC采集器、第一DAC转换器、第一定时器Timer、第二ADC采集器以及第一USART通信接口；测试座包括：第三ADC采集器、第二DAC转换器、第二定时器Timer、PMW模块以及第二USART通信接口；通过将待测芯片放置在测试座上，与测试座连接，测试座与主处理器连接。对待测芯片进行功能测试，并将测试结果进行显示。本发明只需要对单片机进行一次测试就能够验证单片机的所有功能并进行显示，更加的方便快捷。

本领域内的技术人员应明白，本申请的实施例可提供为方法、系统、或计算机程序产品。因此，本申请可采用完全硬件实施例、完全软件实施例、或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且，本申请可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质(包括但不限于磁盘存储器和光学存储器等)上实施的计算机程序产品的形式。

本申请是参照根据本申请实施例的方法、设备(系统)、和计算机程序产品的流程图和/或方框图来描述的。应理解可由计算机程序指令实现流程图和/或方框图中的每一流程和/或方框以及流程图和/或方框图中的流程和/或方框的结合。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程数据处理设备的处理器以产生一个机器，使得通过计算机或其他可编程数据处理设备的处理器执行的指令产生用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的装置。

这些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其他可编程数据处理设备以特定方式工作的计算机可读存储器中，使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指令方法的制造品，该指令方法实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能。

这些计算机程序指令也可装载到计算机或其他可编程数据处理设备上，使得在计算机或其他可编程设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理，从而在计算机或其他可编程设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的步骤。

以上所述，仅为本发明的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。

Claims

1.一种测试装置，其特征在于，包括：测试主板，所述测试主板上设有主处理器和测试座，所述主处理器与测试座连接；所述测试座用于放置待测芯片；

2.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述测试座还包括：

CAN总线，与待测芯片中的控制器连接。

3.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述测试座还包括：

SPI接口，与待测芯片的SPI引脚连接。

4.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述测试座还包括：

IIC器件，与待测芯片的IIC引脚连接。

5.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述主处理器还包括：

显示屏，用于显示测试结果。

6.根据权利要求5所述的测试装置，其特征在于，所述测试座还包括：

7.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述测试座还包括：

FLASH接口，与待测芯片的FLASH引脚连接。

8.根据权利要求5所述的测试装置，其特征在于，所述显示屏设有：

红色指示灯和绿色指示灯；

9.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，

所述主处理器采用STM32F427VIT6单片机；

所述待测芯片为STM32F427VIT6单片机。

10.根据权利要求1至9任一项所述的测试装置，其特征在于，还包括：

电源模块，用于向所述测试装置提供电能。