CN111880038A - 一种二次回路校对装置 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种二次回路校对装置，包括控制单元、按键单元、检测单元、显示单元、开关单元以及信号转换单元，按键单元与控制单元相连接，按键单元用于生成测试控制指令，校对装置配置有接线端口，检测单元的信号端与接线端口相连，校对装置通过接线端口串联在待测线路中，检测单元还通过开关单元与信号转换单元相连接，控制单元与开关单元、信号转换单元以及显示单元相连接，控制单元配置为根据接收到的测试控制指令确定测试时长，在测试时长内，控制开关单元导通，接收信号转换单元发送的检测数据，控制显示单元显示检测数据，在测试时长外，控制开关单元断开。

Description

一种二次回路校对装置

技术领域

本发明实施例涉及检测技术，尤其涉及一种二次回路校对装置。

背景技术

变电站输电控制系统一般包括一次回路和二次回路，其中，一次回路通常包括发电机、变压器、电力电缆、断路器、隔离开关、电压、电流互感器、避雷器等设备，二次回路通常指对一次回路中设备进行监测、控制、调节和保护的电气回路，二次回路中可以包括互感器的次级绕组、测量监视仪器、继电器、自动装置等。

变电站端自动化检修人员在开展站内测控装置调试验收时，需对二次回路中的信号进行校对，包括与站端监控后台系统及多级调度主站系统进行信号的核对。测试时，硬接点信号的核对通常由检修人员使用一段电缆线，在装置屏柜背面的遥信端子排处手动多次短接正电端子及相应信号端子，使信号回路反复导通。由于信号回路反复导通，因此被测装置会向反复外发出遥信变位的信号，容易对现场调试验收及调度监控产生一定干扰。

发明内容

本发明提供一种二次回路校对装置，以达到在测试过程中，避免产生重复遥信变位信号，提高检测的安全性及准确性的目的。

本发明实施例提供了一种二次回路校对装置，包括控制单元、按键单元、检测单元、显示单元、开关单元以及信号转换单元，

所述按键单元与所述控制单元相连接，所述按键单元用于生成测试控制指令，

校对装置配置有接线端口，所述检测单元的信号端与所述接线端口相连，所述校对装置通过所述接线端口串联在待测线路中，

所述检测单元还通过所述开关单元与所述信号转换单元相连接，所述控制单元与所述开关单元、信号转换单元以及显示单元相连接，

所述控制单元配置为根据接收到的测试控制指令确定测试时长，在所述测试时长内，控制所述开关单元导通，接收所述信号转换单元发送的检测数据，控制所述显示单元显示所述检测数据，在所述测试时长外，控制所述开关单元断开。

进一步的，所述按键单元包括测试时长配置按键以及测试启动按键，

所述测试时长配置按键用于调节测试时长，所述测试启动按键用于启动校对测试。

进一步的，所述按键单元包括电流限值配置按键，所述校对装置还配置有报警单元，

所述电流限值配置按键用于输入电流限值，所述控制单元还用于判断所述检测数据是否大于所述电流限值，若所述检测数据大于所述电流限值，则控制所述报警单元报警。

进一步的，所述接线端口配置有检测线，所述校对装置还配置有收线腔，所述检测线可伸缩的收纳与所述收线腔内，

所述检测线用于与所述待测线路中的接线端子相连接，将所述校对装置串联到所述待测线路中。

进一步的，所述检测线还配置有若干端子接头，所述端子接头可拆卸的与所述端子接头相连接，

所述校对装置还配置有端子接头库，所述端子接头库用于放置所述端子接头。

进一步的，所述校对装置还配置有电池单元，所述电池单元用于为所述校对装置供电。

进一步的，所述电池单元内配置充电电池，所述校对装置还配置有充电接口，所述充电接口与所述电池单元相连接。

进一步的，所述校对装置还配置有照明单元，所述照明单元与所述电池单元相连接。

与现有技术相比，本发明的有益效果在于：本发明提出的校对装置可以配置测试时长，在测试时长内，校对装置中的控制单元控制待测回路导通，在测试时长外，控制单元控制待测回路断开，在一个完整的测试过程中，待测回路的通断状态只改变了一次，即在测试过程中只产生了一个遥信变位信号，由于测试过程中不反复生成遥信变位信号，因此不会对现场调试验收及调度监控产生干扰，同时，由于校对装置还配置有显示单元，通过显示单元可以显示当前的检测数据，因此通过一次测试过程即可准确的获取待测回路的检测数据，保证了校对的准确性。

附图说明

图1是实施例中的校对装置结构框图；

图2是实施例中的校对装置结构图；

图3是实施例中的按键单元结构示意图。

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本发明作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本发明，而非对本发明的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本发明相关的部分而非全部结构。

图1是实施例中的校对装置结构框图，参考图1，二次回路校对装置包括控制单元100、按键单元200、检测单元300、显示单元400、开关单元500以及信号转换单元600。

按键单元200与控制单元100相连接，按键单元200用于生成测试控制指令。校对装置配置有接线端口，检测单元300的信号端与接线端口相连，校对装置通过接线端口串联在待测线路中，检测单元300还通过开关单元500与信号转换单元600相连接。控制单元100与开关单元500、信号转换单元600以及显示单元400相连接。

控制单元配置为根据接收到的测试控制指令确定测试时长，在测试时长内，控制开关单元导通，接收信号转换单元发送的检测数据，控制显示单元显示检测数据，在测试时长外，控制开关单元断开。

示例性的，本实施例中，控制单元100可以采用MCU，显示单元300可以采用LED显示屏，信号转换单元600为数模转换模块，检测单元300为电流检测模块，开关单元500可以采用可控开关模块，例如MOS管模块、三极管模块、光耦模块、继电器模块等。可选的，检测单元300采用芯片的型号为AD8217，信号型号转换单元600采用芯片的型号为DAC7724。

示例性的，校对装置的工作过程包括：

步骤1.通过接线端口将校对装置串联至待检测的回路中。

本步骤中，可以通过待测二次回路的配线图确定进行测试时需要连接的，待测回路的测试端子，确定需要连接的测试端子后，将校对装置的接线端口连接到测试端子上，完成待测回路的搭建。

步骤2.为校对装置上电，通过按键单元中的按键配置测试时长。

示例性的，本步骤中，控制单元中可以配置若干固定的测试时长，通过按键选定所需的测试时长。控制单元中也可以仅配置一个初始测试时长，通过按键增加或者减少初始测试时长，直至达到所需的测试时长。

步骤3.在设定的测试时长内，控制单元控制开关单元导通，控制单元接收信号转换单元发送的检测数据。

示例性的，本步骤中，控制单元控制开关导通，此时检测单元、开关单元、信号转换单元以及控制单元之间的信号链路导通，控制单元可以接收到信号转换单元发送的检测数据。示例性的，本实施例中检测数据为待测回路中的电流值。

步骤4.控制单元控制显示单元显示检测数据。

示例性的，本步骤中，控制单元可以控制显示单元显示待测回路中的电流值以及测试时长，检测人员可以通过显示单元的显示内容确定当前检测回路是否正常。

步骤5.在设定的测试时长外，控制单元控制开关单元断开。

示例性的，本步骤中，控制单元控制开关单元断开，此时检测单元、开关单元、信号转换单元以及控制单元之间的信号链路断开，测试结束。

本实施例中，校对装置可以配置测试时长，在测试时长内，校对装置中的控制单元控制待测回路导通，在测试时长外，控制单元控制待测回路断开，在一个完整的测试过程中，待测回路的通断状态只改变了一次，即在测试过程中只产生了一个遥信变位信号，由于测试过程中不反复生成遥信变位信号，因此不会对现场调试验收及调度监控产生干扰，同时，由于校对装置还配置有显示单元，通过显示单元可以显示当前的检测数据，因此通过一次测试过程即可准确的获取待测回路的检测数据，保证了校对的准确性。

图2是实施例中的校对装置结构图，参考图2，作为一种可实施方案，校对装置的接线端口配置有检测线1，校对装置还配置有收线腔2，检测线1可伸缩的收纳与收线腔2内。检测线1用于与待测线路中的接线端子相连接，将校对装置串联到待测线路中。

具体的，参考图1和图2，校对装置主要分为两部分，其一是包括控制单元100、按键单元200、检测单元300、显示单元400、开关单元500以及信号转换单元600的校对主体。其二是配置在校对主体上的收线腔2。

示例性的，校对装置配置两条检测线，收线腔2上配置两个检测线出口，通过检测线出口可以将检测线从收线腔2内拉出，收线腔2内部配置两个卷线器，两个卷线器各用于一条检测线的回收。

作为一种优选方案，检测线还配置有若干端子接头，端子接头可拆卸的与检测线相连接，校对装置还配置有端子接头库，端子接头库用于放置端子接头。通过配置多种端子接头可以避免由于待测回路中不同测试端子大小、深度不同，若采用单一端子接头，无法实现测试回路有效连接的问题。

示例性的，各检测线的一端可以配置型号相同的插针端子，端子接头一端设置为与该插针端子相适配的端子，端子接头的另一端设置大小不同的，与待测二次回路中各测试端子相适配的插针端子，测试时通过更换端子接头，使检测线可以连接至不同类型的测试端子。

可选的，收线腔2的底部还可以配置吸附装置，例如吸盘，通过吸附装置可以将校对装置固定在待检测二次回路端子排的附近，以便于测试人员进行校对测试。

图3是实施例中的按键单元结构示意图，参考图3，作为一种可实施方案，按键单元包括测试时长配置按键201以及测试启动按键202。测试时长配置按键201用于配置测试时长，测试启动按键202用于启动校对测试。按键单元还包括电流限值配置按键203，电流限值配置按键203用于配置电流限值。按键单元还配置调节按键204，调节按键204用于调节测试时长或者电流限值的数值。

示例性的，按键单元采用薄膜键盘，测试时可以通过测试时长配置按键201将校对装置置于测试时长调节模式，再通过调节按键204实现测试时长的调节。通过电流限值配置按键203将校对装置置于电流限值调节模式，再通过调节按键204实现电流限值的调节。示例性的，校对装置支持的测试时长调节范围为5ms～10ms，支持的电流限值的调节范围为0.1A～6A。

示例性的，控制单元可以配置为，在测试时长调节模式下，根据调节按键204的操作次数修改控制单元内部配置的计时参数，测试时，当测试时长达到计时参数时，则控制开关单元断开，结束测试。相似的，在电流限值调节模式下，控制单元根据调节按键204的操作次数修改控制单元内部配置的电流限值参数，以确定当前检测回路对应的电流限值。

校对装置还配置有报警单元，控制单元还用于判断检测数据是否大于电流限值，若检测数据大于电流限值，则控制报警单元报警。示例性的，报警单元采用发光二极管。

示例性的，若当前检测回路中的电流大于电流限值则说明当前检测回路中的电流过载，此时控制在单元控制报警单元报警，同时断开开关单元，达到保护二次回路以及校对装置的目的。

优选的，校对装置还配置有电池单元，电池单元用于为校对装置供电，作为一种可实施方案，电池单元内配置充电电池，校对装置还配置有充电接口，充电接口与电池单元相连接。

示例性的，充电接口为5V Mini-USB接口，通过充电接口可以为充电电池充电。通过配置电池单元可以在没有外部电源的情况下，利用充电电池来供电，电池单元中还配置有电压转换模块，电压转换模块可以将电池电压降压至3.3V，为控制单元供电，将电池电压升压至12V，给开关单元和检测单元供电。

作为一种可选方案，校对装置还配置有照明单元，照明单元与电池单元相连接。示例性的，照明单元为LED灯，通过配置照明单元便于在黑暗环境中完成二次回路的连接以及检测工作。

注意，上述仅为本发明的较佳实施例及所运用技术原理。本领域技术人员会理解，本发明不限于这里所述的特定实施例，对本领域技术人员来说能够进行各种明显的变化、重新调整和替代而不会脱离本发明的保护范围。因此，虽然通过以上实施例对本发明进行了较为详细的说明，但是本发明不仅仅限于以上实施例，在不脱离本发明构思的情况下，还可以包括更多其他等效实施例，而本发明的范围由所附的权利要求范围决定。

Claims (8)

1.一种二次回路校对装置，其特征在于，包括控制单元、按键单元、检测单元、显示单元、开关单元以及信号转换单元，

所述按键单元与所述控制单元相连接，所述按键单元用于生成测试控制指令，

校对装置配置有接线端口，所述检测单元的信号端与所述接线端口相连，所述校对装置通过所述接线端口串联在待测线路中，

所述检测单元还通过所述开关单元与所述信号转换单元相连接，所述控制单元与所述开关单元、信号转换单元以及显示单元相连接，

所述控制单元配置为根据接收到的测试控制指令确定测试时长，在所述测试时长内，控制所述开关单元导通，接收所述信号转换单元发送的检测数据，控制所述显示单元显示所述检测数据，在所述测试时长外，控制所述开关单元断开。

2.如权利要求1所述的二次回路校对装置，其特征在于，所述按键单元包括测试时长配置按键以及测试启动按键，

所述测试时长配置按键用于配置测试时长，所述测试启动按键用于启动校对测试。

3.如权利要求2所述的二次回路校对装置，其特征在于，所述按键单元还包括电流限值配置按键，所述校对装置还配置有报警单元，

所述电流限值配置按键用于配置电流限值，所述控制单元还用于判断所述检测数据是否大于所述电流限值，若所述检测数据大于所述电流限值，则控制所述报警单元报警。

4.如权利要求1所述的二次回路校对装置，其特征在于，所述接线端口配置有检测线，所述校对装置还配置有收线腔，所述检测线可伸缩的收纳与所述收线腔内，

所述检测线用于与所述待测线路中的接线端子相连接，将所述校对装置串联到所述待测线路中。

5.如权利要求4所述的二次回路校对装置，其特征在于，所述检测线还配置有若干端子接头，所述端子接头可拆卸的与所述检测线相连接，

所述校对装置还配置有端子接头库，所述端子接头库用于放置所述端子接头。

6.如权利要求1所述的二次回路校对装置，其特征在于，所述校对装置还配置有电池单元，所述电池单元用于为所述校对装置供电。

7.如权利要求6所述的二次回路校对装置，其特征在于，所述电池单元内配置充电电池，所述校对装置还配置有充电接口，所述充电接口与所述电池单元相连接。

8.如权利要求6所述的二次回路校对装置，其特征在于，所述校对装置还配置有照明单元，所述照明单元与所述电池单元相连接。

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