CN111854566A - 一种圆棒同轴度测量装置 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种圆棒同轴度测量装置,包括方形基座、夹持机构、柱状筒、定位件、同轴度测量件,夹持机构转动安装于方形基座上,夹持机构可将不同尺寸的圆棒固定于夹持机构中心处;柱状筒转动安装于夹持机构上,柱状筒与夹持机构同轴心线安装,柱状筒两侧对称设置有竖直槽口,定位件、同轴度测量件可分别固定于两竖直槽口任意位置处,定位件与同轴度测量件相对设置,定位件通过伸缩式定位杆顶触圆棒以实现圆棒定位,同轴度测量件通过伸缩式测微螺杆顶触圆棒,根据伸缩式测微螺杆伸缩量测得该位置处圆棒同轴度。装置可对圆棒进行全方位同轴度测量、结构简单、测量误差较小。
Description
技术领域
本发明属于同轴度测量技术领域,尤其涉及一种圆棒同轴度测量装置。
背景技术
在焊接领域中,对于小尺寸圆棒的焊接,如通过钎焊实现两圆棒或多个圆棒的对接,焊接完成圆棒焊接处的上下端同轴度会存在一定偏差,这对进行后续的圆棒尺寸加工设计会存在误差,因此就需要通过借助工具来测量其各个位置的同轴度偏差量来实现圆棒试样的最佳加工设计。而现有的检测同轴度偏差的工具存在成本高,操作处理麻烦或是检测精度差等问题。如何利用简单的装置实现在焊接完成后的圆棒试样进行快速、有效以及准确的检测出其同轴度偏差还需解决。
发明内容
为了解决上述技术问题,本发明提供了一种圆棒同轴度测量装置。
本发明解决其技术问题所采用的技术方案是:一种圆棒同轴度测量装置,包括圆棒固定底盘以及测量机构;
圆棒固定底盘包括方形基座以及夹持机构,夹持机构转动安装于方形基座上,夹持机构用于将不同尺寸的圆棒固定于夹持机构中心处;
测量机构包括柱状筒、定位件、同轴度测量件,柱状筒转动安装于夹持机构上方,柱状筒与夹持机构同轴心线安装,柱状筒两侧对称设置有竖直槽口,定位件可固定于其中一竖直槽口任意位置处,同轴度测量件可固定于另一竖直槽口任意位置处,定位件与同轴度测量件相对设置,定位件通过伸缩式定位杆顶触圆棒以实现圆棒的定位,同轴度测量件通过伸缩式测微螺杆顶触圆棒,根据伸缩式测微螺杆的伸缩量测得该位置处圆棒的同轴度。
作为优选方案,夹持机构包括夹持底座,夹持底座内设有若干上端开口的滑槽,滑槽内均设置有一固定块,通过固定块于滑槽内的滑动以调节固定块在夹持底座上的位置以及固定块之间的距离从而将不同尺寸圆棒固定于夹持底座中心处。
作为优选方案,若干固定块远离夹持底座中心处一端均固设有一螺杆,螺杆沿着滑槽穿过夹持底座外端,并且螺杆位于夹持底座内部的一部分上还设有螺母,通过螺杆、螺母的配合以对固定块进行限位从而控制固定块之间的最大距离。
作为优选方案,若干滑槽等间距均匀布设于夹持底座内,且若干滑槽边侧上均标有相应的刻度,根据固定块位于滑槽内的刻度值以将圆棒固定于夹持底座中心处。
作为优选方案,固定块接触圆棒一端为弧面。
作为优选方案,夹持机构通过轴承转动安装于方形基座上。
作为优选方案,柱状筒与夹持底座通过间隙配合以实现转动安装。
作为优选方案,两竖直槽口的两侧均设有竖直滑轨,定位件还包括紧固螺栓、第一锁死联动机构以及分别设置于定位件两侧的第一收张式固定板;
通过第一锁死联动机构与第一收张式固定板的配合以实现第一收张式固定板的收拢或张开,通过张开的第一收张式固定板顶触于竖直滑轨内以实现定位件固定于竖直槽口上;
紧固螺栓用于当伸缩式定位杆伸缩完毕后对伸缩式定位杆进行固定。
作为优选方案,同轴度测量件还包括粗调旋钮、微调旋钮、活动套管、固定套管、第二锁死联动机构以及分别设置于同轴度测量件两侧的第二收张式固定板;
通过第二锁死联动机构与第二收张式固定板的配合以实现第二收张式固定板的收拢或张开,通过张开的第二收张式固定板顶触于竖直滑轨内以实现同轴度测量件固定于竖直槽口上;
粗调旋钮以及微调旋钮为同轴联动结构,粗调旋钮以及微调旋钮均用于控制伸缩式测微螺杆的伸缩,活动套管以及固定套管上标有相应刻度,伸缩式测微螺杆伸缩完毕后,根据活动套管以及固定套管上的刻度获得伸缩式测微螺杆的伸缩量。
作为优选方案,两竖直槽口的边侧均标有相应的刻度。
本发明与现有技术相比,有益效果是:
1、该装置便于对焊接完成后的圆棒试样进行快速固定,并可以调整同轴度测量件在圆棒试样上的测量高度,并且还可以通过转动夹持底座以及柱状筒调节同轴度测量件在同一高度上对圆棒试样进行测量的位置,可对圆棒试样进行全方位的同轴度测量。
2、测量时通过伸缩式测微螺杆的伸缩从而顶触圆棒,根据此时伸缩式测微螺杆的伸缩量去测得该位置处圆棒的同轴度,通过顶触的方法可以实现同轴度测量件与圆棒的完全接触,避免了由于不完全接触造成最终同轴度的测量误差,并且定位件的设置保证了顶触圆棒时的稳定性,不易松动。
3、由于同轴度测量件一端为固定于柱状筒上,因此能最大程度避免由于同轴度测量件位置偏差而造成最终圆棒同轴度的测量误差。
4、螺杆的设置不仅可以调节固定块于滑槽内的位置,还为测量者转动夹持底座提供了手柄,方便测量者发力。
5、该装置结构简单,便于调节和操作,降低了测量成本,也提高了工作效率。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为一种圆棒同轴度测量装置的结构示意图;
图2为圆棒固定底盘的结构示意图;
图3为定位件的结构示意图;
图4为同轴度测量件的结构示意图;
图中的编码分别为:1-方形基座;2-柱状筒;3-定位件;4-同轴度测量件;5-竖直槽口;6-竖直滑轨;11-夹持底座;12-螺杆;13-螺母;14-固定块;15-滑槽;31-伸缩式定位杆;32-第一收张式固定板;33-第一锁死联动机构;34-紧固螺栓;41-伸缩式测微螺杆;42-固定套管;43-活动套管;44-粗调旋钮;45-微调旋钮;46-第二收张式固定板;47-第二锁死联动机构。
具体实施方式
以下通过特定的具体实施例说明本发明的实施方式,本领域技术人员可由本说明书所揭露的内容轻易地了解本发明的其他优点与功效。本发明还可以通过另外不同的具体实施方式加以实施或应用,本说明书中的各项细节也可以基于不同观点与应用,在没有背离本发明的精神下进行各种修饰或改变。需说明的是,在不冲突的情况下,以下实施例及实施例中的特征可以相互组合。
参照图1,本实施例提供了一种圆棒同轴度测量装置,包括圆棒固定底盘以及测量机构。圆棒固定底盘包括方形基座1以及夹持机构,夹持机构通过轴承转动安装于方形基座1上,夹持机构用于将不同尺寸的圆棒固定于夹持机构中心处。测量机构包括柱状筒2、定位件3、同轴度测量件4,柱状筒2转动安装于夹持机构上方,且柱状筒2与夹持机构同轴心线安装,本实施例以圆柱形柱状筒2为例。柱状筒2两侧对称设置有竖直槽口5,定位件3可固定于其中一竖直槽口5任意位置处,同轴度测量件4可固定于另一竖直槽口5任意位置处,定位件3与同轴度测量件4相对设置,两竖直槽口5的边侧均标有相应的刻度,通过观察刻度以使定位件3以及同轴度测量件4相对设置于所需测量的位置。定位件3通过伸缩式定位杆31顶触圆棒以实现圆棒的定位,同轴度测量件4通过伸缩式测微螺杆41顶触圆棒,根据伸缩式测微螺杆41的伸缩量测得该位置处圆棒的同轴度。
参照图2,夹持机构将圆棒固定于其中心处的具体方案为:夹持机构包括夹持底座11,本实施例中夹持底座11为圆柱形,夹持底座11内设有若干上端开口的滑槽15,滑槽15内均设置有一固定块14,通过固定块14于滑槽15内的滑动以调节固定块14在夹持底座11上的位置以及固定块14之间的距离从而将不同尺寸圆棒固定于夹持底座11中心处。若干固定块14远离夹持底座11中心处一端均固设有一螺杆12,螺杆12沿着滑槽15穿过夹持底座11外端,并且螺杆12位于夹持底座11内部的一部分上还设有螺母13,通过螺杆12、螺母13的配合以对固定块14进行限位从而控制固定块14之间的最大距离,并且这里螺杆12的设置还可以为测量者转动夹持底座11提供手柄,方便测量者发力。若干滑槽15等间距均匀布设于夹持底座11内(本实施例以设置4个滑槽15为例),且若干滑槽15边侧上均标有相应的刻度,根据固定块14位于滑槽15内的刻度值以将圆棒固定于夹持底座11中心处。并且固定块14接触圆棒的一端为弧面,以对圆棒进行更牢固的夹持。
参照图1、3,当圆棒在夹持底座11中心处上进行固定完毕后,可将柱状筒2通过间隙转动安装于夹持底座11上,此时定位件3对圆棒进行定位的具体方案为:两竖直槽口5的两侧均设有竖直滑轨6,定位件3还包括紧固螺栓34、第一锁死联动机构33以及分别设置于定位件3两侧的第一收张式固定板32;通过第一锁死联动机构33与第一收张式固定板32的配合以实现第一收张式固定板32的收拢或张开,通过张开的第一收张式固定板32顶触于竖直滑轨6内以实现定位件3固定于竖直槽口5上;紧固螺栓34用于当伸缩式定位杆31伸缩完毕后对伸缩式定位杆31进行固定,定位件3的设置可以避免伸缩式测微螺杆41顶触圆棒试样时圆棒发生松动。
参照图1、4,同轴度测量件4测量同轴度的具体方案为:同轴度测量件4还包括粗调旋钮44、微调旋钮45、活动套管43、固定套管42、第二锁死联动机构47以及分别设置于同轴度测量件4两侧的第二收张式固定板46;通过第二锁死联动机构47与第二收张式固定板46的配合以实现第二收张式固定板46的收拢或张开,通过张开的第二收张式固定板46顶触于竖直滑轨6内以实现同轴度测量件4固定于竖直槽口5上;粗调旋钮44以及微调旋钮45为同轴联动结构,粗调旋钮44以及微调旋钮45均用于控制伸缩式测微螺杆41的伸缩,活动套管43以及固定套管42上标有相应刻度,伸缩式测微螺杆41伸缩完毕后,根据活动套管43以及固定套管42上的刻度获得伸缩式测微螺杆41的伸缩量(这里伸缩式测微螺杆41的伸缩量读数方式与螺旋测微器读法一致),此时根据伸缩量即可测得该位置处圆棒的同轴度。
使用该装置对圆棒进行同轴度测量时,首先,通过改变定位件3以及同轴度测量件4在竖直槽口5上的位置,可改变在圆棒上的测量高度,通过转动夹持底座11以及柱状筒2可实现圆棒同一高度上不同位置处的测量,即可对圆棒试样进行全方位的同轴度测量(这里在柱状筒2、夹持底座11以及方形基座1上均标有相邻并且相应的圆周刻度,根据三者对应刻度的变化以及上述竖直槽口5边侧上标有的刻度,测量者即可知晓此时对圆棒的具体测量位置)。其次,通过顶触的测量方法可以实现同轴度测量件4与圆棒的完全接触,避免了由于不完全接触造成最终同轴度的测量误差,并且定位件3的设置保证了顶触圆棒时的稳定性,不易松动。再次,测量圆棒同轴度时,同轴度测量件4一端为固定,因此能最大程度避免由于同轴度测量件4位置偏差而造成最终圆棒同轴度的测量误差。
该装置在保证全方位对圆棒进行同轴度测量的同时,也保证了测量的准确度,并且装置结构简单。
以上所述的实施例仅仅是对本发明的优选实施方式进行描述,并非对本发明的范围进行限定,在不脱离本发明设计精神的前提下,本领域普通技术人员对本发明的技术方案作出的各种变形和改进,均应落入本发明的保护范围内。
Claims (10)
1.一种圆棒同轴度测量装置,其特征在于,包括圆棒固定底盘以及测量机构;
圆棒固定底盘包括方形基座以及夹持机构,夹持机构转动安装于方形基座上,夹持机构用于将不同尺寸的圆棒固定于夹持机构中心处;
测量机构包括柱状筒、定位件、同轴度测量件,柱状筒转动安装于夹持机构上方,柱状筒与夹持机构同轴心线安装,柱状筒两侧对称设置有竖直槽口,定位件可固定于其中一竖直槽口任意位置处,同轴度测量件可固定于另一竖直槽口任意位置处,定位件与同轴度测量件相对设置,定位件通过伸缩式定位杆顶触圆棒以实现圆棒的定位,同轴度测量件通过伸缩式测微螺杆顶触圆棒,根据伸缩式测微螺杆的伸缩量测得该位置处圆棒的同轴度。
2.根据权利要求1所述的一种圆棒同轴度测量装置,其特征在于,夹持机构包括夹持底座,夹持底座内设有若干上端开口的滑槽,滑槽内均设置有一固定块,通过固定块于滑槽内的滑动以调节固定块在夹持底座上的位置以及固定块之间的距离从而将不同尺寸圆棒固定于夹持底座中心处。
3.根据权利要求2所述的一种圆棒同轴度测量装置,其特征在于,若干固定块远离夹持底座中心处一端均固设有一螺杆,螺杆沿着滑槽穿过夹持底座外端,并且螺杆位于夹持底座内部的一部分上还设有螺母,通过螺杆、螺母的配合以对固定块进行限位从而控制固定块之间的最大距离。
4.根据权利要求2所述的一种圆棒同轴度测量装置,其特征在于,若干滑槽等间距均匀布设于夹持底座内,且若干滑槽边侧上均标有相应的刻度,根据固定块位于滑槽内的刻度值以将圆棒固定于夹持底座中心处。
5.根据权利要求2所述的一种圆棒同轴度测量装置,其特征在于,固定块接触圆棒一端为弧面。
6.根据权利要求1所述的一种圆棒同轴度测量装置,其特征在于,夹持机构通过轴承转动安装于方形基座上。
7.根据权利要求2所述的一种圆棒同轴度测量装置,其特征在于,柱状筒与夹持底座通过间隙配合以实现转动安装。
8.根据权利要求1所述的一种圆棒同轴度测量装置,其特征在于,两竖直槽口的两侧均设有竖直滑轨,定位件还包括紧固螺栓、第一锁死联动机构以及分别设置于定位件两侧的第一收张式固定板;
通过第一锁死联动机构与第一收张式固定板的配合以实现第一收张式固定板的收拢或张开,通过张开的第一收张式固定板顶触于竖直滑轨内以实现定位件固定于竖直槽口上;
紧固螺栓用于当伸缩式定位杆伸缩完毕后对伸缩式定位杆进行固定。
9.根据权利要求8所述的一种圆棒同轴度测量装置,其特征在于,同轴度测量件还包括粗调旋钮、微调旋钮、活动套管、固定套管、第二锁死联动机构以及分别设置于同轴度测量件两侧的第二收张式固定板;
通过第二锁死联动机构与第二收张式固定板的配合以实现第二收张式固定板的收拢或张开,通过张开的第二收张式固定板顶触于竖直滑轨内以实现同轴度测量件固定于竖直槽口上;
粗调旋钮以及微调旋钮为同轴联动结构,粗调旋钮以及微调旋钮均用于控制伸缩式测微螺杆的伸缩,活动套管以及固定套管上标有相应刻度,伸缩式测微螺杆伸缩完毕后,根据活动套管以及固定套管上的刻度获得伸缩式测微螺杆的伸缩量。
10.根据权利要求1所述的一种圆棒同轴度测量装置,其特征在于,两竖直槽口的边侧均标有相应的刻度。
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
PB01 | Publication | ||
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SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
GR01 | Patent grant |