CN111833785A - 显示面板以及显示设备 - Google Patents

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金瞳祐
李安洙
赵康文
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Abstract

本发明涉及显示面板以及显示设备。该显示面板包括：像素区域，包括多个像素；开短路测试区域，包括多个开短路测试焊盘；虚拟级，被配置为响应于扫描起始信号而生成进位信号；以及多个级，被配置为响应于进位信号而顺序地将多个扫描信号提供给多个像素，其中，多个级与像素区域间隔开第一距离，并且虚拟级与开短路测试区域间隔开大于第一距离的第二距离。

Description

显示面板以及显示设备
技术领域
一些示例实施例的方面总体上涉及一种显示设备。
背景技术
当制造诸如有机发光二极管(OLED)显示面板的显示面板时，可以执行开短路测试，以检测形成在显示面板中的诸如数据线的布线是否存在缺陷。开短路测试仪器可以通过将开短路测试信号施加到显示面板的开短路测试焊盘并且通过经由探针接收开短路测试信号来执行开短路测试。
然而，由于开短路测试仪器的探针可能与显示面板接触，因此显示面板可能被开短路测试仪器的探针损坏。
在本背景技术部分中公开的以上信息仅用于增强对背景技术的理解，并且因此在本背景技术部分中讨论的信息不一定构成现有技术。
发明内容
一些示例实施例的方面总体上涉及一种显示设备，并且例如，涉及一种包括开短路测试区域的显示面板以及包括该显示面板的显示设备。
一些示例实施例的方面包括一种能够在开短路测试期间防止或减少损坏的显示面板。
一些示例实施例的方面包括一种能够在开短路测试期间防止或减少损坏的显示设备。
根据一些示例实施例，一种显示面板包括：在其中形成有多个像素的像素区域；在其中形成有多个开短路测试焊盘的开短路测试区域；虚拟级，被配置为响应于扫描起始信号而生成进位信号；以及多个级，被配置为响应于进位信号而顺序地将多个扫描信号提供给多个像素。多个级与像素区域间隔开第一距离，并且虚拟级与开短路测试区域间隔开大于第一距离的第二距离。
根据一些示例实施例，开短路测试区域与虚拟级之间的第二距离可以大于或等于参考距离，以防止由开短路测试仪器引起的损坏。
根据一些示例实施例，虚拟级的宽度可以窄于多个级中的每个级的宽度。
根据一些示例实施例，多个级中的每个级可以包括：第一电路部分，被配置为响应于先前的进位信号而操作；以及第一缓冲部分，由第一电路部分控制，以输出多个扫描信号中的相应的扫描信号。虚拟级可以包括：第二电路部分，被配置为响应于扫描起始信号而操作；以及第二缓冲部分，由第二电路部分控制。虚拟级的第二缓冲部分的宽度可以窄于多个级中的每个级的第一缓冲部分的宽度。
根据一些示例实施例，包括在第二缓冲部分中的至少一个晶体管的尺寸可以小于包括在第一缓冲部分中的至少一个晶体管的尺寸。
根据一些示例实施例，第一电路部分和第二电路部分中的每一个可以包括：控制节点充电块，被配置为响应于扫描起始信号或先前的进位信号而对内部控制节点进行充电；反相器块，被配置为基于内部控制节点的电压来控制内部反相控制节点；控制节点保持块，被配置为保持内部控制节点的电压；进位块，被配置为响应于内部控制节点的电压而生成电流进位信号；以及控制节点放电块，被配置为响应于下一个进位信号而使内部控制节点放电。第一缓冲部分和第二缓冲部分中的每一个可以包括：扫描信号输出块，被配置为响应于内部控制节点的电压而生成相应的扫描信号。第二缓冲部分的扫描信号输出块的尺寸可以小于第一缓冲部分的扫描信号输出块的尺寸。
根据一些示例实施例，第一缓冲部分的扫描信号输出块可以耦接到相应的扫描线，并且将相应的扫描信号输出到相应的扫描线，并且第二缓冲部分的扫描信号输出块可以不耦接到扫描线。
根据一些示例实施例，第一电路部分和第二电路部分中的每一个可以进一步包括：感测块，被配置为基于感测开启信号和感测时钟信号来控制内部控制节点。第一缓冲部分和第二缓冲部分中的每一个可以进一步包括：感测信号输出块，被配置为响应于内部控制节点的电压而生成多个感测信号中的相应的感测信号。第二缓冲部分的感测信号输出块的尺寸可以小于第一缓冲部分的感测信号输出块的尺寸。
根据一些示例实施例，第一缓冲部分的感测信号输出块可以耦接到相应的感测控制线，并且将相应的感测信号输出到相应的感测控制线，并且第二缓冲部分的感测信号输出块可以不耦接到感测控制线。
根据一些示例实施例，多个级中的每个级可以包括：第一电路部分，被配置为响应于先前的进位信号而操作；以及第一缓冲部分，由第一电路部分控制，以输出多个扫描信号中的相应的扫描信号和多个感测信号中的相应的感测信号。虚拟级可以包括：第二电路部分，被配置为响应于扫描起始信号而操作；以及第二缓冲部分，由第二电路部分控制。虚拟级的第二电路部分的宽度可以窄于多个级中的每个级的第一电路部分的宽度，并且虚拟级的第二缓冲部分的宽度可以窄于多个级中的每个级的第一缓冲部分的宽度。
根据一些示例实施例，第一电路部分可以包括：感测块，被配置为基于感测开启信号和感测时钟信号来控制内部控制节点，并且第二电路部分可以不包括感测块。
根据一些示例实施例，包括在第二缓冲部分中的至少一个晶体管的尺寸可以小于包括在第一缓冲部分中的至少一个晶体管的尺寸。
根据一些示例实施例，第一缓冲部分可以包括：感测信号输出块，被配置为响应于第一电路部分的内部控制节点的电压而生成相应的感测信号，并且第二电路部分可以不包括感测信号输出块。
根据一些示例实施例，显示面板可以进一步包括：布线，形成在虚拟级以及多个级上。布线可以与像素区域间隔开第三距离，并且可以与开短路测试区域间隔开大于第三距离的第四距离。
根据一些示例实施例，布线可以包括：第一部分，穿过虚拟级并且在垂直方向上延伸；第二部分，在虚拟级与多个级之间在水平方向上延伸；以及第三部分，穿过多个级并且在垂直方向上延伸。
根据一些示例实施例，提供了一种显示面板，包括：在其中形成有多个像素的像素区域；在其中形成有多个开短路测试焊盘的开短路测试区域；虚拟级，被配置为响应于扫描起始信号而生成进位信号；以及多个级，被配置为响应于进位信号而顺序地将多个扫描信号提供给多个像素。虚拟级与开短路测试线间隔开，开短路测试仪器的探针沿开短路测试线移动。
根据一些示例实施例，开短路测试线可以在水平方向上延伸，并且虚拟级可以沿垂直方向与开短路测试线间隔开一距离。
根据一些示例实施例，虚拟级可以形成在开短路测试区域的外边缘的外部。
根据一些示例实施例，虚拟级的宽度可以窄于多个级中的每个级的宽度。
根据一些示例实施例，提供了一种显示设备，包括显示面板，该显示面板包括：在其中形成有多个像素的像素区域；在其中形成有多个开短路测试焊盘的开短路测试区域；被配置为响应于扫描起始信号而生成进位信号的虚拟级；以及被配置为响应于进位信号而顺序地将多个扫描信号提供给多个像素的多个级；数据驱动器，被配置为将数据信号输出到显示面板；以及控制器，被配置为控制数据驱动器、虚拟级和多个级。多个级与像素区域间隔开第一距离，并且虚拟级与开短路测试区域间隔开大于第一距离的第二距离。
如上所述，在根据一些示例实施例的显示面板和显示设备中，多个级可以与像素区域间隔开第一距离，并且虚拟级可以与开短路测试区域间隔开大于第一距离的第二距离。因此，可以防止或减少在开短路测试期间原本可能发生的对显示面板的损坏。
附图说明
从以下结合附图的详细描述，将更加清楚地理解说明性、非限制性的示例实施例。
图1是示出根据一些示例实施例的显示设备的图。
图2是示出图1的显示设备中包括的像素的示例的电路图。
图3是示出根据一些示例实施例的显示面板的一部分的图。
图4是示出图3的显示面板中包括的虚拟级或正常级的示例的电路图。
图5是示出图3的显示面板中包括的虚拟级或正常级的另一示例的电路图。
图6是示出根据一些示例实施例的显示面板的一部分的图。
图7是示出图6的显示面板中包括的虚拟级的示例的电路图。
图8是示出根据一些示例实施例的显示面板的一部分的图。
图9是示出根据一些示例实施例的包括显示设备的电子设备的示例的框图。
具体实施方式
在下文中，参考附图来更充分地描述示例实施例。遍及全文，相同或相似的附图标记指代相同或相似的元件。
图1是示出根据一些示例实施例的显示设备的图，并且图2是示出图1的显示设备中包括的像素的示例的电路图。
参考图1，根据一些示例实施例的显示设备100可以包括显示面板110、将数据信号输出到显示面板110的数据驱动器160以及控制显示设备100的操作的控制器180。根据一些示例实施例，显示面板110可以包括在其中布置有多个像素PX的像素区域120、在其中形成有多个开短路(OS)测试焊盘的开短路测试区域130和135以及将多个扫描信号和/或多个感测信号提供给多个像素PX的扫描驱动器140。
在显示面板110的像素区域120中，可以形成多条数据线DL、多条扫描线SSL和多个像素PX。多个像素PX可以耦接到多条数据线DL和多条扫描线SSL。根据一些示例实施例，在像素区域120中，可以进一步形成多条感测控制线SCL和多条感测线SL，并且多个像素PX可以进一步耦接到多条感测控制线SCL和多条感测线SL。
根据一些示例实施例，显示面板110可以是在其中每个像素PX包括有机发光二极管(OLED)的有机发光二极管显示面板。根据一些示例实施例，显示面板110可以是但不限于在其中每个像素PX的发光层包括量子点(QD)材料的QD-OLED显示面板。根据一些示例实施例，显示面板110可以是液晶显示(LCD)面板或任何其他适当的显示面板。
根据一些示例实施例，如图2所示，每个像素PX可以具有3T1C结构，该3T1C结构包括三个晶体管TSWS1、TSWS2和TDR以及一个电容器CST。例如，每个像素PX可以包括存储电容器CST、响应于扫描信号SS(例如，被施加到第一开关晶体管TSWS1的栅电极)而将数据线DL耦接到存储电容器CST的一个电极的第一开关晶体管TSWS1、响应于感测信号SENS(例如，被施加到第二开关晶体管TSWS2的栅电极)而将感测线SL耦接到存储电容器CST的另一个电极的第二开关晶体管TSWS2、基于存储在存储电容器CST中的电压(例如，被施加到数据线DL和感测线SL的电压之间的差)来生成驱动电流的驱动晶体管TDR、以及基于驱动电流来发射光的有机发光二极管EL。
尽管图2示出了具有3T1C结构的像素PX的示例，但是根据一些示例实施例的显示设备100的像素PX不限于3T1C结构。例如，像素PX可以具有具备与图2的3T1C结构的连接关系不同的连接关系的另一种3T1C结构，或者可以具有包括两个或更多个晶体管以及一个或更多个电容器的任何结构。另外，根据一些示例实施例，在不脱离根据本公开的实施例的精神和范围的情况下，可以存在额外的晶体管、电容器、以及包括在像素电路的电路结构内的其他电子部件。
在显示面板110的开短路测试区域130和135中，可以形成多个开短路测试焊盘，开短路测试仪器向该多个开短路测试焊盘施加开短路测试信号。开短路测试仪器可以通过使用开短路测试仪器的探针来接收已经移动通过了显示面板110的像素区域120的多个开短路测试焊盘和线(例如，数据线DL和/或感测线SL)的开短路测试信号，并且可以基于接收到的开短路测试信号来检测像素区域120的线的开短路缺陷。为了接收开短路测试信号，开短路测试仪器的探针可以移动通过开短路测试区域130和135，使得探针可以与相应的数据线DL和/或相应的感测线SL接触。在此，开短路测试仪器的探针沿其移动的假想线可以被称为开短路测试线OSTL。在一些示例实施例中，如图1所示，两个开短路测试区域130和135可以分别形成在或者位于像素区域120的(例如，相反或相对的)两侧(例如，上侧和下侧)。在其他示例实施例中，一个开短路测试区域130或135可以形成在像素区域120的一侧(例如，上侧或下侧)。
扫描驱动器140可以形成在显示面板110上，并且可以响应于从控制器180接收到的扫描控制信号而通过多条扫描线SSL顺序地将多个扫描信号SS提供给多个像素PX。在一些示例实施例中，扫描控制信号可以包括但不限于包括扫描起始信号SSP和扫描时钟信号CLK。扫描驱动器140可以包括基于扫描起始信号SSP和扫描时钟信号CLK来生成进位信号的至少一个虚拟级141和142以及基于进位信号和扫描时钟信号CLK来顺序地将多个扫描信号SS提供给多个像素PX的多个级144、146、…、148。在一些示例实施例中，扫描驱动器140可以进一步接收作为扫描控制信号的感测开启信号SON和感测时钟信号SCLK，并且可以响应于感测开启信号SON和感测时钟信号SCLK而通过多条感测控制线SCL将多个感测信号SENS提供给多个像素PX。
在根据一些示例实施例的显示设备100中，多个级144、146、…、148可以与像素区域120间隔开第一距离D1，并且虚拟级141和142可以分别与开短路测试区域130和135间隔开大于第一距离D1的第二距离D2。在一些示例实施例中，开短路测试区域130与虚拟级141以及开短路测试区域135与虚拟级142之间的第二距离D2可以大于或等于参考距离，以防止或减少由开短路测试仪器引起的损坏。例如，在传统的显示设备中，显示面板110的布线(例如，穿过虚拟级141和142的布线WR)可能由于开短路测试仪器的探针与显示面板110接触而被损坏。
然而，在根据一些示例实施例的显示设备100中，虚拟级141和142可以分别与开短路测试区域130和135间隔开大于参考距离的第二距离D2，从而防止或减小了由开短路测试仪器的探针引起的损坏。例如，参考距离可以是但不限于约500μm，并且第二距离D2可以大于约500μm。
在一些示例实施例中，使得多个级144、146、…、148可以与像素区域120间隔开第一距离D1，并且虚拟级141和142可以分别与开短路测试区域130和135间隔开第二距离D2，虚拟级141和142的宽度(例如，水平宽度)窄于多个级144、146、…、148中的每个级的宽度。如图1所示，多个级144、146、…、148中的每个级可以耦接到相应的扫描线SSL，并且虚拟级141和142可以不耦接到扫描线SSL。虚拟级141和142可以不将扫描信号输出到扫描线SSL，因此在虚拟级141和142中用于生成扫描信号的至少一个晶体管的尺寸可以小于在多个级144、146、…、148中的每个级中用于生成扫描信号SS的至少一个晶体管的尺寸。因此，由于虚拟级141和142的至少一个晶体管具有小尺寸，所以虚拟级141和142可以具有比多个级144、146、…、148中的每个级的宽度更小的宽度。此外，在一些示例实施例中，多个级144、146、…、148可以进一步耦接到相应的感测控制线SCL，并且虚拟级141和142可以不耦接到感测控制线SCL。
在一些示例实施例中，显示设备100可以进一步包括形成在虚拟级141和142以及多个级144、146、…、148上的布线WR。布线WR可以是用于提供电压或信号的任何布线。例如，布线WR可以是但不限于用于低电源电压ELVSS的布线、用于高电源电压ELVDD的布线、用于低栅极电压VGL(参见图4)的布线、用于高栅极电压VGH(参见图4)的布线等。
在根据一些示例实施例的显示设备100中，如图1所示，在布线WR穿过多个级144、146、…、148的同时，布线WR可以与像素区域120间隔开第三距离，并且在布线WR穿过虚拟级141和142(或虚拟级141和142的区域)的同时，布线WR可以与开短路测试区域130和135间隔开大于第三距离的第四距离。例如，布线WR可以包括穿过虚拟级141和142并且在垂直方向(例如，数据线DL的方向)上延伸的第一部分、在虚拟级141和142与多个级144、146、…、148之间在水平方向(例如，扫描线SSL的方向)上延伸的第二部分以及穿过多个级144、146、…、148并且在垂直方向上延伸的第三部分。在这种情况下，布线WR的第三部分可以与像素区域120间隔开第三距离，并且布线WR的第一部分可以与开短路测试区域130和135间隔开大于第三距离的第四距离。因此，布线WR可以与作为开短路测试仪器的探针沿其移动的假想线的开短路测试线OSTL间隔开更大的距离，从而防止或减少了在开短路测试期间原本可能引起的损坏布线WR的实例。
在一些示例实施例中，如图1所示，扫描驱动器140可以包括位于多个级144、146、…、148中的第一级144之前的至少一个第一虚拟级141以及位于多个级144、146、…、148中的最后一级148之后的至少一个第二虚拟级142。此外，第一虚拟级141和第二虚拟级142中的每一个可以是一个或多个虚拟级。在其他示例实施例中，扫描驱动器140可以包括第一虚拟级141，并且可以不包括第二虚拟级142。在其他示例实施例中，扫描驱动器140可以包括第二虚拟级142，并且可以不包括第一虚拟级141。
数据驱动器160可以基于数据控制信号DCTRL将数据信号输出到多条数据线DL，并且输出从控制器180接收到的图像数据ODAT。在一些示例实施例中，数据控制信号DCTRL可以包括但不限于水平起始信号和负载信号。此外，在一些示例实施例中，显示设备100可以进一步包括感测驱动器，该感测驱动器通过多条感测线SL感测多个像素PX的驱动特性，例如多个像素PX的驱动晶体管TDR的阈值电压。根据一些示例实施例，感测驱动器可以包括在数据驱动器160中，或者可以形成在数据驱动器160的外部。
控制器180(例如，时序控制器(TCON))可以基于从外部主机(例如，图形处理单元(GPU)或显卡)接收到的输入图像数据IDAT和控制信号CTRL来控制数据驱动器160和扫描驱动器140(即，虚拟级141和142以及多个级144、146、…、148)。在一些示例实施例中，输入图像数据IDAT可以是包括红色图像数据、绿色图像数据和蓝色图像数据的RGB图像数据。
此外，在一些示例实施例中，控制信号CTRL可以包括但不限于包括垂直同步信号、水平同步信号、数据使能信号、主时钟信号等。控制器180可以通过将数据控制信号DCTRL和图像数据ODAT提供给数据驱动器160来控制数据驱动器160的操作，并且可以通过将扫描控制信号(例如，扫描起始信号SSP、扫描时钟信号CLK、感测开启信号SON和感测时钟信号SCLK)提供给扫描驱动器140来控制扫描驱动器140的操作。
如上所述，在根据一些示例实施例的显示设备100中，多个级144、146、…、148可以与像素区域120间隔开第一距离D1，并且虚拟级141和142可以分别与开短路测试区域130和135间隔开大于第一距离D1的第二距离D2。此外，开短路测试区域130与虚拟级141以及开短路测试区域135与虚拟级142之间的第二距离D2可以大于或等于参考距离，以防止或减少由开短路测试仪器引起的损坏。因此，在根据一些示例实施例的显示设备100中，可以防止或减少在开短路测试期间原本可能引起的对显示面板110的损坏。
图3是示出根据一些示例实施例的显示面板的一部分的图，图4是示出图3的显示面板中包括的虚拟级或正常级的示例的电路图，并且图5是示出图3的显示面板中包括的虚拟级或正常级的另一示例的电路图。
参考图3，根据一些示例实施例的显示面板110a可以包括在其中形成有多个像素的像素区域120、在其中形成有多个开短路测试焊盘OSTP的开短路测试区域130、响应于扫描起始信号SSP而生成进位信号CR的至少一个虚拟级141a以及响应于进位信号CR而顺序地将多个扫描信号SS提供给多个像素的多个级144a和146a(或正常级144a和146a)。
在显示面板110a中，多个级144a和146a可以与像素区域120间隔开第一距离，并且虚拟级141a可以与开短路测试区域130间隔开大于第一距离的第二距离。在一些示例实施例中，开短路测试区域130与虚拟级141a之间的第二距离可以大于或等于参考距离，以防止或减少由开短路测试仪器引起的损坏。因此，如图3所示，多个级144a和146a可以与像素区域120间隔开第一距离，并且虚拟级141a可以与开短路测试区域130间隔开第二距离，虚拟级141a的宽度(例如，水平宽度)可以窄于多个级144a和146a中的每个级的宽度。
多个级144a和146a中的每个级可以包括响应于先前的进位信号(例如，由虚拟级141a相对于第一级144a生成的进位信号CR、或由第一级144a相对于第二级146a生成的进位信号CR)而操作的第一电路部分CIRP1以及由第一电路部分CIRP1控制以输出相应的扫描信号SS的第一缓冲部分BUFP1。虚拟级141a可以包括响应于扫描起始信号SSP而操作的第二电路部分CIRP2以及由第二电路部分CIRP2控制的第二缓冲部分BUFP2。在根据一些示例实施例的显示面板110a中，使得虚拟级141a可以具有比多个级144a和146a中的每个级的宽度更窄的宽度，虚拟级141a的第二缓冲部分BUFP2的宽度W2可以窄于多个级144a和146a中的每个级的第一缓冲部分BUFP1的宽度W1。例如，使得第二缓冲部分BUFP2可以具有比第一缓冲部分BUFP1的宽度W1更窄的宽度W2，第二缓冲部分BUFP2可以被实现为包括至少一个晶体管，该至少一个晶体管具有比第一缓冲部分BUFP1中包括的至少一个晶体管的尺寸更小的尺寸。
在一些示例实施例中，如图4所示，每个级144a和146a的第一电路部分CIRP1a以及虚拟级141a的第二电路部分CIRP2a中的每一个可以包括响应于扫描起始信号SSP或先前的进位信号PCR而对内部控制节点NQ进行充电的控制节点充电块QCB、基于内部控制节点NQ的电压来控制内部反相控制节点NQB的反相器块IB、保持内部控制节点NQ的电压的控制节点保持块QHB、响应于内部控制节点NQ的电压而生成电流进位信号CCR的进位块CRB以及响应于下一个进位信号NCR而使内部控制节点NQ放电的控制节点放电块QDB。此外，每个级144a和146a的第一缓冲部分BUFP1a和虚拟级141a的第二缓冲部分BUFP2a中的每一个可以包括响应于内部控制节点NQ的电压而生成相应的扫描信号SS的扫描信号输出块SSOB。
例如，控制节点充电块QCB可以包括响应于扫描起始信号SSP或先前的进位信号PCR而将高栅极电压VGH传输到内部控制节点NQ的第一晶体管T1。反相器块IB可以包括响应于内部控制节点NQ的电压而将第一扫描时钟信号CLK1传输到内部反相控制节点NQB的第二晶体管T2-1和T2-2、响应于第一扫描时钟信号CLK1而将高栅极电压VGH传输到内部反相控制节点NQB的第三晶体管T3以及响应于内部反相控制节点NQB的电压而将高栅极电压VGH传输到内部反相控制节点NQB的第四晶体管T4。
根据一些示例实施例，如图4所示，第二晶体管T2-1和T2-2可以利用串联连接的两个晶体管T2-1和T2-2来实现。控制节点保持块QHB可以包括响应于第二扫描时钟信号CLK2和内部反相控制节点NQB的电压而将内部控制节点NQ耦接到进位输出节点的第五晶体管T5和第六晶体管T6。进位块CRB可以包括响应于内部控制节点NQ的电压而输出第三扫描时钟信号CLK3作为电流进位信号CCR的第七晶体管T7、响应于内部反相控制节点NQB的电压而将低栅极电压VGL传输到进位输出节点的第八晶体管T8以及耦接在内部反相控制节点NQB与低栅极电压VGL的线之间的第一电容器C1。
控制节点放电块QDB可以包括响应于下一个进位信号NCR而将内部控制节点NQ耦接到进位输出节点的第九晶体管T9。此外，扫描信号输出块SSOB可以包括响应于内部控制节点NQ的电压而输出第二扫描时钟信号CLK2作为扫描信号SS的第十晶体管T10、响应于内部反相控制节点NQB的电压而将低栅极电压VGL传输到扫描输出节点的第十一晶体管T11以及耦接在内部控制节点NQ与扫描输出节点之间的第二电容器C2。
在根据一些示例实施例的显示面板110a中，第二缓冲部分BUFP2a的扫描信号输出块SSOB的尺寸可以小于第一缓冲部分BUFP1a的扫描信号输出块SSOB的尺寸。为了实现第二缓冲部分BUFP2a的扫描信号输出块SSOB的较小尺寸，第二缓冲部分BUFP2a的扫描信号输出块SSOB的第十晶体管T10和第十一晶体管T11可以具有比第一缓冲部分BUFP1a的扫描信号输出块SSOB的第十晶体管T10和第十一晶体管T11的尺寸更小的尺寸(例如，沟道宽度)。
此外，如图3和图4所示，第一缓冲部分BUFP1和BUFP1a的扫描信号输出块SSOB可以耦接到相应的扫描线SSL，并且可以将相应的扫描信号SS输出到相应的扫描线SSL。然而，第二缓冲部分BUFP2和BUFP2a的扫描信号输出块SSOB可以不耦接到扫描线SSL。
因此，尽管第二缓冲部分BUFP2和BUFP2a的扫描信号输出块SSOB包括具有小尺寸的第十晶体管T10和第十一晶体管T11，但是包括第二缓冲部分BUFP2和BUFP2a的虚拟级141a可以正常地操作。如上所述，第二缓冲部分BUFP2和BUFP2a可以具有比第一缓冲部分BUFP1和BUFP1a的宽度W1更窄的宽度W2，并且因此可以防止或减少在开短路测试期间原本可能发生的对显示面板110a的损坏。
根据一些示例实施例，如图5所示，与图4所示的第一电路部分CIRP1a或第二电路部分CIRP2a相比，每个级144a和146a的第一电路部分CIRP1b和虚拟级141a的第二电路部分CIRP2b中的每一个可以进一步包括基于感测开启信号SON和感测时钟信号SCLK来控制内部控制节点NQ的感测块SENB。此外，与图4所示的第一缓冲部分BUFP1a或第二缓冲部分BUFP2a相比，每个级144a和146a的第一缓冲部分BUFP1b和虚拟级141a的第二缓冲部分BUFP2b中的每一个可以进一步包括响应于内部控制节点NQ的电压而生成相应的感测信号SENS的感测信号输出块SENSOB。
例如，感测块SENB可以包括响应于感测开启信号SON而将下一个进位信号NCR传输到感测节点NSEN的第十二晶体管T12-1和T12-2、响应于感测节点NSEN的电压而将感测时钟信号SCLK传输到内部控制节点NQ的第十三晶体管T13-1和T13-2以及耦接在低栅极电压VGL的线与感测节点NSEN之间的第三电容器C3。
根据一些示例实施例，如图5所示，第十二晶体管T12-1和T12-2可以利用串联连接的两个晶体管T12-1和T12-2来实现，并且第十三晶体管T13-1和T13-2可以利用两个串联连接的晶体管T13-1和T13-2来实现。感测信号输出块SENSOB可以包括响应于内部控制节点NQ的电压而输出第四扫描时钟信号CLK4作为感测信号SENS的第十四晶体管T14、响应于内部反相控制节点NQB的电压而将低栅极电压VGL传输到感测输出节点的第十五晶体管T15以及耦接在内部控制节点NQ与感测输出节点之间的第四电容器C4。
在这种情况下，第二缓冲部分BUFP2b的感测信号输出块SENSOB的尺寸可以小于第一缓冲部分BUFP1b的感测信号输出块SENSOB的尺寸。为了实现第二缓冲部分BUFP2b的感测信号输出块SENSOB的较小尺寸，第二缓冲部分BUFP2b的感测信号输出块SENSOB的第十四晶体管T14和第十五晶体管T15可以具有比第一缓冲部分BUFP1b的感测信号输出块SENSOB的第十四晶体管T14和第十五晶体管T15的尺寸更小的尺寸(例如，沟道宽度)。
此外，如图3和图5所示，第一缓冲部分BUFP1和BUFP1b的感测信号输出块SENSOB可以耦接到相应的感测控制线SCL，并且可以将相应的感测信号SENS输出到相应的感测控制线SCL。然而，第二缓冲部分BUFP2和BUFP2b的感测信号输出块SENSOB可以不连接到感测控制线SCL。因此，尽管第二缓冲部分BUFP2和BUFP2b的感测信号输出块SENSOB包括具有小尺寸的第十四晶体管T14和第十五晶体管T15，但是包括第二缓冲部分BUFP2和BUFP2b的虚拟级141a可以正常地操作。如上所述，第二缓冲部分BUFP2和BUFP2b可以具有比第一缓冲部分BUFP1和BUFP1b的宽度W1更窄的宽度W2，因此可以防止或减少在开短路测试期间原本可能引起的对显示面板110a的损坏。
图6是示出根据一些示例实施例的显示面板的一部分的图，并且图7是示出在图6的显示面板中包括的虚拟级的示例的电路图。
参考图6，根据一些示例实施例的显示面板110b可以包括在其中形成有多个像素的像素区域120、在其中形成有多个开短路测试焊盘OSTP的开短路测试区域130、响应于扫描起始信号SSP而生成进位信号CR的至少一个虚拟级141b以及响应于进位信号CR而顺序地将多个扫描信号SS提供给多个像素的多个级144b和146b(或正常级144b和146b)。
每个级144b和146b可以包括响应于先前的进位信号而操作的第一电路部分CIRP1以及由第一电路部分CIRP1控制以输出相应的扫描信号SS和相应的感测信号SENS的第一缓冲部分BUFP1。虚拟级141b可以包括响应于扫描起始信号SSP而操作的第二电路部分CIRP2以及由第二电路部分CIRP2控制的第二缓冲部分BUFP2。因此，多个级144b和146b可以与像素区域120间隔开第一距离，并且虚拟级141b可以与开短路测试区域130间隔开大于第一距离的第二距离，如图6所示，虚拟级141b的第二电路部分CIRP2的宽度W4可以窄于每个级144b和146b的第一电路部分CIRP1的宽度W3，并且虚拟级141b的第二缓冲部分BUFP2的宽度W2可以窄于每个级144b和146b的第一缓冲部分BUFP1的宽度W1。
在一些示例实施例中，每个级144b和146b可以如图5所示的实现，并且虚拟级141b可以如图7所示的实现。因此，每个级144b和146b的第一电路部分CIRP1b可以包括基于感测开启信号SON和感测时钟信号SCLK来控制内部控制节点NQ的感测块SENB，如图5所示，并且虚拟级141b的第二电路部分CIRP2c可以不包括感测块SENB，如图7所示。因此，虚拟级141b的第二电路部分CIRP2和CIRP2c的宽度W4可以窄于每个级144b和146b的第一电路部分CIRP1和CIRP1b的宽度W3。此外，包括在虚拟级141b的第二缓冲部分BUFP2c中的至少一个晶体管T10、T11、T14和T15的尺寸(例如，沟道宽度)可以小于每个级144b和146b的第一缓冲部分BUFP1b中包括的至少一个晶体管T10、T11、T14和T15的尺寸。因此，虚拟级141b的第二缓冲部分BUFP2和BUFP2c的宽度W2可以窄于每个级144b和146b的第一缓冲部分BUFP1和BUFP1b的宽度W1。
根据一些示例实施例，每个级144b和146b可以如图5所示的实现，并且虚拟级141b可以如图4所示的实现。因此，每个级144b和146b的第一电路部分CIRP1b可以包括感测块SENB，如图5所示，并且虚拟级141b的第二电路部分CIRP2a可以不包括感测块SENB，如图4所示。因此，虚拟级141b的第二电路部分CIRP2和CIRP2a的宽度W4可以窄于每个级144b和146b的第一电路部分CIRP1和CIRP1b的宽度W3。此外，每个级144b和146b的第一缓冲部分BUFP1b可以包括响应于第一电路部分CIRP1b的内部控制节点NQ的电压而生成相应的感测信号SENS的感测信号输出块SENSOB，如图5所示，并且虚拟级141b的第二缓冲部分BUFP2a可以不包括感测信号输出块SENSOB，如图4所示。因此，虚拟级141b的第二缓冲部分BUFP2和BUFP2a的宽度W2可以窄于每个级144b和146b的第一缓冲部分BUFP1和BUFP1b的宽度W1。
如上所述，在根据一些示例实施例的显示面板110b中，虚拟级141b的第二电路部分CIRP2的宽度W4可以窄于每个级144b和146b的第一电路部分CIRP1的宽度W3，并且虚拟级141b的第二缓冲部分BUFP2的宽度W2可以窄于每个级144b和146b的第一缓冲部分BUFP1的宽度W1。因此，可以防止或减少在开短路测试期间原本可能引起的对显示面板110b的损坏。
图8是示出根据一些示例实施例的显示面板的一部分的图。
参考图8，根据一些示例实施例的显示面板110c可以包括在其中形成有多个像素的像素区域120、在其中形成有多个开短路测试焊盘OSTP的开短路测试区域130、响应于扫描起始信号SSP而生成进位信号CR的至少一个虚拟级141c以及响应于进位信号CR而顺序地将多个扫描信号SS提供给多个像素的多个级144c和146c。
在显示面板110c中，虚拟级141c可以与开短路测试仪器的探针沿其移动的开短路测试线OSTL间隔开。在一些示例实施例中，如图8所示，开短路测试线OSTL可以在水平方向(例如，扫描线SSL的方向)上延伸，并且虚拟级141c可以沿垂直方向(例如，数据线DL的方向)与开短路测试线OSTL间隔开预定距离PD。在示例中，如图8所示，虚拟级141c可以形成在开短路测试区域130的外边缘130c的外部，该外边缘130c是开短路测试区域130的距离像素区域120的远端边缘。此外，在一些示例实施例中，虚拟级141c的宽度可以窄于每个级144c和146c的宽度。
如上所述，在根据一些示例实施例的显示面板110c中，虚拟级141c可以与开短路测试仪器的探针沿其移动的开短路测试线OSTL间隔开，并且因此，可以防止或减少在开短路测试期间原本可能由开短路测试仪器的探针引起的损坏。
图9是示出根据一些示例实施例的包括显示设备的电子设备的示例的框图。
参考图9，电子设备1100可以包括处理器1110、存储器设备1120、储存设备1130、输入/输出(I/O)设备1140、电源1150以及显示设备1160。电子设备1100可以进一步包括用于与显卡、声卡、内存卡、通用串行总线(USB)设备、其他电气设备等进行通信的多个端口。
处理器1110可以执行各种计算功能或任务。处理器1110可以是应用处理器(AP)、微处理器、中央处理器(CPU)等。处理器1110可以经由地址总线、控制总线、数据总线等被耦接到其他部件。此外，在一些示例实施例中，处理器1110可以进一步耦接到诸如外围部件互连(PCI)总线等扩展总线。
存储器设备1120可以存储用于电子设备1100的操作的数据。例如，存储器设备1120可以包括至少一个非易失性存储设备(诸如可擦除可编程只读存储器(EPROM)设备、电可擦除可编程只读存储器(EEPROM)设备、闪存设备、相变随机存取存储器(PRAM)设备、电阻随机存取存储器(RRAM)设备、纳米浮栅存储器(NFGM)设备、聚合物随机存取存储器(PoRAM)设备、磁性随机存取存储器(MRAM)设备、铁电随机存取存储器(FRAM)设备等)和/或至少一个易失性存储设备(诸如动态随机存取存储器(DRAM)设备、静态随机存取存储器(SRAM)设备、移动动态随机存取存储器(移动DRAM)设备等)。
储存设备1130可以是固态驱动器(SSD)设备、硬盘驱动器(HDD)设备、CD-ROM设备等。I/O设备1140可以是诸如键盘、小键盘、鼠标、触摸屏等的输入设备以及诸如打印机、扬声器等的输出设备。电源1150可以为电子设备1100的操作供应电源。
在显示设备1160中，多个级可以与像素区域间隔开第一距离，并且虚拟级可以与开短路测试区域间隔开大于第一距离的第二距离。此外，在一些示例实施例中，开短路测试区域与虚拟级之间的第二距离可以大于或等于参考距离，以防止或减少由开短路测试仪器引起的损坏。因此，在根据一些示例实施例的显示设备1160中，可以防止或减少在开短路测试期间对显示面板的损坏。
根据一些示例实施例，电子设备1100可以是包括显示设备1160的任何电子设备，诸如蜂窝电话、智能电话、平板计算机、可穿戴设备、个人数字助理(PDA)、便携式多媒体播放器(PMP)、数码相机、音乐播放器、便携式游戏机、导航系统、数字电视、3D电视、个人计算机(PC)、家用电器、便携式计算机等。
前述内容是对示例实施例的图示，并且不应被解释为对示例实施例的限制。尽管已经描述了一些示例实施例，但是本领域技术人员将容易地理解，在实质上不脱离本发明构思的新颖教导和优点的情况下，许多修改在示例实施例中是可能的。因此，所有这样的修改旨在被包括在如权利要求所限定的本发明构思的范围内。因此，应当理解，前述内容是对各种示例实施例的图示，并且不应被解释为限于所公开的特定示例实施例，并且对所公开的示例实施例以及其他示例实施例的修改旨在被包括在所附权利要求及其等同物的范围内。

Claims (10)

1.一种显示面板，包括：
像素区域，包括多个像素；
开短路测试区域，包括多个开短路测试焊盘；
虚拟级，被配置为响应于扫描起始信号而生成进位信号；以及
多个级，被配置为响应于所述进位信号而顺序地将多个扫描信号提供给所述多个像素，
其中，所述多个级与所述像素区域间隔开第一距离，并且所述虚拟级与所述开短路测试区域间隔开大于所述第一距离的第二距离。
2.根据权利要求1所述的显示面板，其中，
所述开短路测试区域与所述虚拟级之间的所述第二距离大于或等于参考距离。
3.根据权利要求1所述的显示面板，其中，
所述虚拟级的宽度窄于所述多个级中的每个级的宽度。
4.根据权利要求1所述的显示面板，其中，所述多个级中的每个级包括：
第一电路部分，被配置为响应于先前的进位信号而操作；以及
第一缓冲部分，由所述第一电路部分控制，以输出所述多个扫描信号中的相应的扫描信号，
其中，所述虚拟级包括：
第二电路部分，被配置为响应于所述扫描起始信号而操作；以及
第二缓冲部分，由所述第二电路部分控制，并且
其中，所述虚拟级的所述第二缓冲部分的宽度窄于所述多个级中的每个级的所述第一缓冲部分的宽度。
5.根据权利要求4所述的显示面板，其中，
包括在所述第二缓冲部分中的至少一个晶体管的尺寸小于包括在所述第一缓冲部分中的至少一个晶体管的尺寸。
6.根据权利要求4所述的显示面板，其中，所述第一电路部分和所述第二电路部分中的每一个包括：
控制节点充电块，被配置为响应于所述扫描起始信号或所述先前的进位信号而对内部控制节点进行充电；
反相器块，被配置为基于所述内部控制节点的电压来控制内部反相控制节点；
控制节点保持块，被配置为保持所述内部控制节点的所述电压；
进位块，被配置为响应于所述内部控制节点的所述电压而生成电流进位信号；以及
控制节点放电块，被配置为响应于下一个进位信号而使所述内部控制节点放电，
其中，所述第一缓冲部分和所述第二缓冲部分中的每一个包括：
扫描信号输出块，被配置为响应于所述内部控制节点的所述电压而生成所述相应的扫描信号，并且
其中，所述第二缓冲部分的所述扫描信号输出块的尺寸小于所述第一缓冲部分的所述扫描信号输出块的尺寸。
7.根据权利要求6所述的显示面板，其中，
所述第一缓冲部分的所述扫描信号输出块耦接到相应的扫描线，并且将所述相应的扫描信号输出到所述相应的扫描线，并且
其中，所述第二缓冲部分的所述扫描信号输出块不耦接到扫描线。
8.根据权利要求6所述的显示面板，其中，所述第一电路部分和所述第二电路部分中的每一个进一步包括：
感测块，被配置为基于感测开启信号和感测时钟信号来控制所述内部控制节点，
其中，所述第一缓冲部分和所述第二缓冲部分中的每一个进一步包括：
感测信号输出块，被配置为响应于所述内部控制节点的所述电压而生成多个感测信号中的相应的感测信号，并且其中，所述第二缓冲部分的所述感测信号输出块的尺寸小于所述第一缓冲部分的所述感测信号输出块的尺寸。
9.一种显示面板，包括：
像素区域，包括多个像素；
开短路测试区域，包括多个开短路测试焊盘；
虚拟级，被配置为响应于扫描起始信号而生成进位信号；以及
多个级，被配置为响应于所述进位信号而顺序地将多个扫描信号提供给所述多个像素，
其中，所述虚拟级与开短路测试线间隔开，开短路测试仪器的探针沿所述开短路测试线移动。
10.一种显示设备，包括：
显示面板，包括：包括多个像素的像素区域；包括多个开短路测试焊盘的开短路测试区域；被配置为响应于扫描起始信号而生成进位信号的虚拟级；以及被配置为响应于所述进位信号而顺序地将多个扫描信号提供给所述多个像素的多个级；
数据驱动器，被配置为将数据信号输出到所述显示面板；以及
控制器，被配置为控制所述数据驱动器、所述虚拟级和所述多个级，其中，所述多个级与所述像素区域间隔开第一距离，并且所述虚拟级与所述开短路测试区域间隔开大于所述第一距离的第二距离。
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