CN111830068A - 一种管状工件内部缺陷无损检测方法 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及无损检测技术领域，且公开了一种管状工件内部缺陷无损检测方法。该管状工件内部缺陷无损检测方法，包括以下步骤：接收委托单；设备准备；胶片、铅字、像质计准备；透照方式选择；曝光参数选择；暗室处理；底片评定、完成报告。该管状工件内部缺陷无损检测方法，给出了射线检测法检测管状工件内部缺陷的具体步骤，并给出了透光方式的选择方法以及曝光参数的选择公式，可顺利的完成对管状内部缺陷的检测，且相较于现有技术中磁粉检测法所存在的高局限性等缺陷，本发明的射线检测法应用范围广泛、定性准确，并有可供长期保存的直观图像，提高了管状工件内部缺陷检测的准确性。
Description
技术领域
本发明涉及无损检测技术领域，具体为一种管状工件内部缺陷无损检测方法。
背景技术
无损检测是指在不损害或不影响被检测对象使用性能,不伤害被检测对象内部组织的 前提下，利用材料内部结构异常或缺陷存在引起的热、声、光、电、磁等反应的变化，以物理或化学方法为手段，借助现代化的技术和设备器材，对试件内部及表面的结构、性质、状态及缺陷的类型、性质、数量、形状、位置、尺寸、分布及其变化进行检查和测试的方 法。无损检测是工业发展必不可少的有效工具，在一定程度上反映了一个国家的工业发 展水平，无损检测的重要性已得到公认，主要有射线检验(RT)、超声检测(UT)、磁粉 检测(MT)和液体渗透检测(PT)四种。其他无损检测方法有涡流检测(ECT)、声发射 检测(AE)、热像/红外(TIR)、泄漏试验(LT)、交流场测量技术(ACFMT)、漏磁检 验(MFL)、远场测试检测方法(RFT)、超声波衍射时差法(TOFD)等。
管状工件在制作完成后，需要对其内部进行检测，判断是否存在内部缺陷。现有技术 中对管状工件的无损检测通常采用磁粉检测法，但是磁粉检测不能检测奥氏体不锈钢材料 和用奥氏体不锈钢焊条焊接的焊缝，也不能检测铜、铝、镁、钛等非磁性材料，对于表面 浅的划伤、埋藏较深的孔洞和与工件表面夹角小于20°的分层和折叠难以发现，局限性较 大。因此，我们提出一种管状工件内部缺陷无损检测方法。
发明内容
针对现有技术的不足，本发明提供了一种管状工件内部缺陷无损检测方法，具备适用 范围广、准确性高等优点，解决了现有技术中管件工件的内部缺陷检测多采用磁粉检测法， 该方法的局限性太大的问题。
本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：一种管状工件内部缺陷无损检测方法， 包括以下步骤：
步骤1、接收委托单：从委托方处接收管状工件内部缺陷检测的委托单；
步骤2、设备准备：查看射线机设备，并确认射线设备可进行检测工作；
步骤3、胶片、铅字、像质计准备：准备好检测工作所需要的绞盘、铅字、像质计；
步骤4、透照方式选择：根据管状工件和设备的特性选择透照方式以及透光长度；
步骤5、曝光参数选择：根据设备选择曝光参数；
步骤6、暗室处理：在暗室中进行检测工作，通过射线设备发出射线，射线在既定的辐射场内穿过被检工件，使放置在被检工件背面的胶片感光，再使用药水冲洗处理胶片；
步骤7、底片评定、完成报告：观察胶片上的影像，按照一定的验收标准和既定的验收级别进行评定，从而出具相应的检测数据报告。
进一步的，所述步骤2中的射线设备的种类包括：X顶线射线机、X轴向射线机、管道爬行器X射线装置、γ放射源射线机、M-RT、DR。
进一步的，所述步骤4中透照方式的选择，具体方法为：
1)如果是直径小于100mm的小径管透照，则选用双壁双影的透光方式，即：射线穿过两个壁厚，出现两个焊缝影像；
2)如果是直径大于100mm的管线透照，则选用双壁单影的透光方式，即：射线穿过两个壁厚，出现一个影像；
3)如果是平板焊接透照、或者是铸件结构透照，则选用单壁单影的透光方式，即：射线穿过一个壁厚，出现一个影像。
进一步的，所述步骤4中的透光长度受K值、焦距、厚度、辐射场等等因素的影响，一般根据标准要求进行查表计算。
进一步的，所述步骤5中曝光参数选择的具体方法为：
1)X射线机有2个参数需要选择，公式为：
透照厚度(mm)×5(kv/mm)+100(kv)＝总千伏值
焦距(mm)÷200(mm/min)＝曝光时间(min)
γ射线机只有曝光时间这一个参数，计算公式为：
式中系数1.7是针对AGFA-D7胶片，若换成AGFA-D5的胶片系数1.7要替换为2.8。
本发明的有益效果是：
该管状工件内部缺陷无损检测方法，给出了射线检测法检测管状工件内部缺陷的具体 步骤，并给出了透光方式的选择方法以及曝光参数的选择公式，可顺利的完成对管状内部 缺陷的检测，且相较于现有技术中磁粉检测法所存在的高局限性等缺陷，本发明的射线检 测法应用范围广泛、定性准确，并有可供长期保存的直观图像，提高了管状工件内部缺陷 检测的准确性。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。
一种管状工件内部缺陷无损检测方法，包括以下步骤：
步骤1、接收委托单：从委托方处接收管状工件内部缺陷检测的委托单。
步骤2、设备准备：查看射线机设备，并确认射线设备可进行检测工作，射线设备的种类包括：X顶线射线机、X轴向射线机、管道爬行器X射线装置、γ放射源射线机、M-RT、 DR。
步骤3、胶片、铅字、像质计准备：准备好检测工作所需要的绞盘、铅字、像质计。
步骤4、透照方式选择：根据管状工件和设备的特性选择透照方式以及透光长度；透 光长度受K值、焦距、厚度、辐射场等等因素的影响，一般根据标准要求进行查表计算。透照方式的选择，具体方法为：
1)如果是直径小于100mm的小径管透照，则选用双壁双影的透光方式，即：射线穿过两个壁厚，出现两个焊缝影像；
2)如果是直径大于100mm的管线透照，则选用双壁单影的透光方式，即：射线穿过两个壁厚，出现一个影像；
3)如果是平板焊接透照、或者是铸件结构透照，则选用单壁单影的透光方式，即：射线穿过一个壁厚，出现一个影像。
步骤5、曝光参数选择：根据设备选择曝光参数；曝光参数选择的具体方法为：
1)X射线机有2个参数需要选择，公式为：
透照厚度(mm)×5(kv/mm)+100(kv)＝总千伏值
焦距(mm)÷200(mm/min)＝曝光时间(min)
γ射线机只有曝光时间这一个参数，计算公式为：
式中系数1.7是针对AGFA-D7胶片，若换成AGFA-D5的胶片系数1.7要替换为2.8。
步骤6、暗室处理：在暗室中进行检测工作，通过射线设备发出射线，射线在既定的辐射场内穿过被检工件，使放置在被检工件背面的胶片感光，再使用药水冲洗处理胶片。
步骤7、底片评定、完成报告：观察胶片上的影像，按照一定的验收标准和既定的验收级别进行评定，从而出具相应的检测数据报告。
本发明采用射线检测的方法对管状工件内部缺陷进行检测，其原理是：通过特定的射 线装置发出X或γ射线，X或γ射线在既定的辐射场内穿过被检工件，使放置在被检工件 背面的胶片感光，再经过按照一定比例配置的药水冲洗处理(被感光的胶片)，从而得到可以在白光下观察的影像，最后再按照一定的验收标准和既定的验收级别进行评定，从而出具相应的检测数据报告。本发明中，给出了射线检测法检测管状工件内部缺陷的具体步骤，并给出了透光方式的选择方法以及曝光参数的选择公式，可顺利的完成对管状内部缺陷的检测，且相较于现有技术中磁粉检测法所存在的高局限性等缺陷，本发明的射线检测法应用范围广泛、定性准确、精度高，并有可供长期保存的直观图像。
对所公开的实施例的上述说明，使本领域专业技术人员能够实现或使用本发明。对这 些实施例的多种修改对本领域的专业技术人员来说将是显而易见的，本文中所定义的一般 原理可以在不脱离本发明的精神或范围的情况下，在其它实施例中实现。因此，本发明将 不会被限制于本文所示的这些实施例，而是要符合与本文所公开的原理和新颖特点相一致 的最宽的范围。
Claims (5)
1.一种管状工件内部缺陷无损检测方法，其特征在于包括以下步骤：
步骤1、接收委托单：从委托方处接收管状工件内部缺陷检测的委托单；
步骤2、设备准备：查看射线机设备，并确认射线设备可进行检测工作；
步骤3、胶片、铅字、像质计准备：准备好检测工作所需要的绞盘、铅字、像质计；
步骤4、透照方式选择：根据管状工件和设备的特性选择透照方式以及透光长度；
步骤5、曝光参数选择：根据设备选择曝光参数；
步骤6、暗室处理：在暗室中进行检测工作，通过射线设备发出射线，射线在既定的辐射场内穿过被检工件，使放置在被检工件背面的胶片感光，再使用药水冲洗处理胶片；
步骤7、底片评定、完成报告：观察胶片上的影像，按照一定的验收标准和既定的验收级别进行评定，从而出具相应的检测数据报告。
2.根据权利要求1所述的一种管状工件内部缺陷无损检测方法，其特征在于：所述步骤2中的射线设备的种类包括：X顶线射线机、X轴向射线机、管道爬行器X射线装置、γ放射源射线机、M-RT、DR。
3.根据权利要求1所述的一种管状工件内部缺陷无损检测方法，其特征在于：所述步骤4中透照方式的选择，具体方法为：
1)如果是直径小于100mm的小径管透照，则选用双壁双影的透光方式，即：射线穿过两个壁厚，出现两个焊缝影像；
2)如果是直径大于100mm的管线透照，则选用双壁单影的透光方式，即：射线穿过两个壁厚，出现一个影像；
3)如果是平板焊接透照、或者是铸件结构透照，则选用单壁单影的透光方式，即：射线穿过一个壁厚，出现一个影像。
4.根据权利要求1所述的一种管状工件内部缺陷无损检测方法，其特征在于：所述步骤4中的透光长度受K值、焦距、厚度、辐射场等等因素的影响，一般根据标准要求进行查表计算。
5.根据权利要求1所述的一种管状工件内部缺陷无损检测方法，其特征在于：所述步骤5中曝光参数选择的具体方法为：
1)X射线机有2个参数需要选择，公式为：
透照厚度(mm)×5(kv/mm)+100(kv)＝总千伏值
焦距(mm)÷200(mm/min)＝曝光时间(min)
2)γ射线机只有曝光时间这一个参数，计算公式为：
式中系数1.7是针对AGFA-D7胶片，若换成AGFA-D5的胶片系数1.7要替换为2.8。
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