CN111795981A - 使用计算机断层扫描来检查部件的方法 - Google Patents

使用计算机断层扫描来检查部件的方法 Download PDF

Info

Publication number
CN111795981A
CN111795981A CN202010248014.0A CN202010248014A CN111795981A CN 111795981 A CN111795981 A CN 111795981A CN 202010248014 A CN202010248014 A CN 202010248014A CN 111795981 A CN111795981 A CN 111795981A
Authority
CN
China
Prior art keywords
component
scan
acceptable
scan data
data
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN202010248014.0A
Other languages
English (en)
Other versions
CN111795981B (zh
Inventor
帕特里克·约瑟夫·霍华德
约翰·查尔斯·杰宁
安德鲁·约瑟夫·加利斯
凯文·莱恩·莫尔蒙德
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
General Electric Co
Original Assignee
General Electric Co
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by General Electric Co filed Critical General Electric Co
Publication of CN111795981A publication Critical patent/CN111795981A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN111795981B publication Critical patent/CN111795981B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
    • G01N23/04—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material
    • G01N23/046—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material using tomography, e.g. computed tomography [CT]
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T7/00—Image analysis
    • G06T7/60—Analysis of geometric attributes
    • G06T7/62—Analysis of geometric attributes of area, perimeter, diameter or volume
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
    • G01N2223/40—Imaging
    • G01N2223/401—Imaging image processing
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
    • G01N2223/40—Imaging
    • G01N2223/419—Imaging computed tomograph
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
    • G01N2223/40—Imaging
    • G01N2223/427—Imaging stepped imaging (selected area of sample is changed)
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
    • G01N2223/60—Specific applications or type of materials
    • G01N2223/646—Specific applications or type of materials flaws, defects

Landscapes

  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Radiology & Medical Imaging (AREA)
  • Pulmonology (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Geometry (AREA)
  • Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Abstract

描述了一种使用计算机断层扫描来检查部件的方法，该方法包括以下步骤：(a)提供计算机断层扫描(CT)扫描仪；(b)提供目标部件；(c)检阅部件的几何形状；(d)估计最佳的部件取向；(e)对部件进行取向；(f)用CT扫描仪扫描部件；(g)将CT扫描数据加载到3D图像软件中；(h)记录最佳的CT扫描数据；(i)确定CT扫描数据的可接受和不可接受区域；(j)确定附加部件取向；(k)重复步骤(e)至(i)，直到该部件的CT扫描数据的所有区域都可接受为止；以及(1)创建合并量的可接受CT扫描数据。

Description

使用计算机断层扫描来检查部件的方法
相关申请的交叉引用
本申请要求于2019年4月1日提交的临时申请序列号62/827,351的优先权，其全部内容通过引用合并入本文。
技术领域
本发明涉及使用计算机断层扫描检查部件的方法。
背景技术
计算机断层扫描(CT)是计算机辅助的断层扫描处理，其使用辐射(例如X射线)来生成被扫描物体的三维内部和外部表示。CT通常作为一种非破坏性技术来检查工业部件和组件，以识别材料异常并校验几何尺寸。
CT系统对材料异常的敏感度和测量准确性与CT系统中使用的X射线源的能级成反比。物体材料的量和密度会影响X射线穿透零件并到达X射线检测器的能力。当到达检测器的X射线不足时，该物体被认为无法用该能级的X射线进行检查。
通常期望CT系统的灵敏度和准确性最大化。然而，对于相对较大和/或致密的部件，或具有复杂几何形状的部件，仍然需要一种改进的CT扫描方法，其能够以尽可能低的X射线能量执行对此类部件的检查。
发明内容
一方面，描述了一种使用计算机断层扫描来检查部件的方法，该方法包括以下步骤：(a)提供计算机断层扫描(CT)扫描仪；(b)提供目标部件；(c)检阅部件的几何形状；(d)估计最佳的部件取向；(e)对部件进行取向；(f)用CT扫描仪扫描部件；(g)将CT扫描数据加载到3D图像软件中；(h)记录最佳的CT扫描数据；(i)确定CT扫描数据的可接受和不可接受区域；(j)确定附加部件的取向；(k)重复步骤(e)至(i)，直到该部件的CT扫描数据的所有区域都可接受为止；以及(1)创建合并量的可接受CT扫描数据。
附图说明
在附图中，贯穿各个视图，相同的标号表示相同的元件：
图1是描绘了本文所述的示例性检查方法的流程图。
图2是描绘了图1的方法的变型的示例性图示的流程图。
具体实施方式
本发明的所描述的实施例针对用于使用计算机断层扫描术检查部件的方法。为了说明的目的，将针对检查大型工业零件来描述该方法，这些大型工业零件可能难以使用常规方法和设备进行检查。然而，将理解，本发明不限于此，并且可以具有一般适用性，包括其他类型和大小的部件以及其他类型的信息收集。
所有方向性参考(例如，径向，轴向，近端，远端，上，下，向上，向下，左，右，侧向，前，后，顶，底，以上，以下，垂直，水平，顺时针，逆时针，上游，下游，向前，向后等)仅用于识别目的，以帮助读者理解本发明，而不会造成限制，尤其是对本发明的位置，取向或用途的限制。除非另有说明，否则连接参考(例如，附接，联接，连接和接合)将被广义地解释，并且可包括元件集合之间的中间构件以及元件之间的相对运动。这样，连接参考不一定推断出两个元件直接连接并且彼此成固定关系。示例性附图仅出于说明的目的，所附附图中反映的尺寸，位置，顺序和相对大小可以变化。
图1是如本文所述的CT检查方法100的示例性图示。尽管本文中的许多讨论集中在CT检查上，但是应该理解，该方法可以应用于其他图像收集和检查技术，其中可以利用该方法来提高所产生的检查数据的质量。
在图1的方法100中，与使用现有技术相比，可以以更高的灵敏度和/或更高的准确度来检查更大或更密集的工业零件或部件。这使得可以通过使用较低能量的CT系统来扫描可以用较低CT能量穿透的部件的分段。然后，使用通过不同检查方法(较高能源能量CT系统或非接触式计量系统)或通过访问计算机辅助设计(CAD)数据文件而获得的整个零件的参考坐标系数据集，将这些分段组合为部件的单个CT图像。该单个组合的CT图像是高分辨率图像，然后将其用于尺寸度量和不连续和/或缺陷的检测。
图1所示的方法100包括部件的X射线穿透以确定用于CT检查的多个姿势，使用经验、实验或计算机分析，这些姿势产生高分辨率数据。部件可以由金属材料或可以方便地使用CT成像来检查的其他材料制成，例如陶瓷基复合材料(CMC)。可以使用本文描述的方法检查的部件的示例包括在燃气涡轮发动机的组件中使用的金属零件，例如通常用作飞行器的推进系统的那些金属零件。当部件是新制造的以及当部件已经在使用中时，可以使用本文所述的方法来检查部件。
在方法100中，物体的尺寸是一次扫描部件或零件即可捕获整个部件的尺寸。在编号为102的第一步骤中，部件的参考数据是通过访问CAD数据文件或通过对整个零件的初始扫描获得的。在编号为105的下一步骤中，操作员检查零件的几何形状。接下来，操作员在步骤110中估计零件的最佳取向和装夹，以最小化穿过零件实心区域的长X射线路径长度。在步骤115中对零件进行取向之后，在步骤120中，操作员接下来将使用最佳取向来CT扫描X射线机上的零件，以最小化通过零件的X射线路径长度。扫描完成后，在步骤125中，操作员将体积CT扫描数据加载到3D图像查看软件中。接下来，在步骤130中使用该软件将最佳取向CT扫描数据记录为CAD或参考数据。在步骤135中，检查扫描数据以确定图像信号可接受的区域并确定图像信号不可接受的区域。然后在步骤140中使用该检查来确定可以帮助改善图像信号当前不可接受的区域中的图像信号的任何其他取向。
在该检查之后，在步骤145中，操作员创建附加取向的装夹，并且在步骤150中，以附加取向对零件进行CT扫描。在步骤155中，将附加的扫描取向数据加载到3D图像查看软件中，并在步骤160中将最佳取向CT扫描数据合并到3D图像查看软件中。最佳取向扫描数据应首先记录到零件的CAD数据或参考几何形状数据。任何其他扫描数据都应记录到最佳取向扫描数据。应该创建感兴趣的3D区域，以识别CT数据的3D CT体扫描中可接受信号水平的区域。接下来，在步骤165中，操作员检查区域并确定是否需要附加的扫描取向以消除不可接受的CT图像数据的任何附加区域。在步骤170中，根据需要重复步骤110-135，直到已经为零件的所有区域获得可接受的数据为止。特定零件的最终定义将由一个或多个CT扫描取向和装夹组成，从而在这些取向上对零件以及感兴趣的3D区域进行CT扫描，感兴趣的3D区域定义了针对各种CT扫描取向的可接受CT信号数据的区域。在步骤175中，从各种提取的可接受CT信号区域中创建一个合并量的可接受CT信号扫描数据。最终，在步骤180中，创建软件编程以自动化用于扫描和处理附加零件的过程，零件通常具有相同的构造和几何形状。
在图2中，方法200类似于图1的方法100，但是对于零件的单个高分辨率扫描不能捕获整个零件几何形状的情况是有用的。在这种情况下，操作者在步骤205中使用较低分辨率的CT扫描仪或其他方法来捕获零件的完整几何形状。在步骤210中，将完整的扫描几何形状与零件的CAD或参考数据对齐。从这一点出发，在步骤215中，使用方法100的步骤，唯一的不同是，来自不同源的整个零件几何形状扫描数据被用于将X射线数据的各种扫描取向记录在一起。确定可接受和不可接受的CT图像数据、定义可接受的CT图像数据的区域、提取可接受的CT图像数据以及创建一个合并量的可接受的CT图像数据的步骤与方法100中描述的相同。
应当理解，所公开的方法的应用不限于工业部件的检查，而是可以具有普遍的适用性，包括将本文所述的方法应用于其他成像技术和其他类型的目标物品。
本公开的各种特征，方面和优点也可以在本公开的方面的任何置换中体现，包括但不限于在枚举方面中定义的以下技术方案：
1.一种使用计算机断层扫描术检查部件的方法，包括以下步骤：(a)提供计算机断层扫描(CT)扫描仪；(b)提供目标部件；(c)检阅部件的几何形状；(d)估计最佳的部件取向；(e)对部件进行取向；(f)用CT扫描仪扫描部件；(g)将CT扫描数据加载到3D图像软件中；(h)记录最佳的CT扫描数据；(i)确定CT扫描数据的可接受和不可接受区域；(j)确定附加部件取向；(k)重复步骤(e)至(i)，直到该部件的CT扫描数据的所有区域都可接受为止；以及(l)创建合并量的可接受CT扫描数据。
2.根据方面1的方法，进一步包括对软件进行编程以扫描附加部件的步骤(m)。
3.根据方面2的方法，其中附加部件具有相同的构造。
4.根据方面1-3的方法，其中步骤(e)包括装夹部件。
5.根据方面1-4的方法，其中完成步骤(d)以使穿过部件的固体区域的长X射线路径长度最小化。
6.根据方面1-5的方法，其中步骤(h)是使用3D图像软件完成的。
7.根据方面1-6的方法，其中针对每个CT扫描操作使用不同的装夹来完成步骤(k)。
8.根据方面1-7的方法，其中创建感兴趣的3D区域以覆盖CT扫描数据的3D CT体积扫描中的可接受的信号水平的区域。
9.根据方面1-8的方法，其中低分辨率CT扫描仪用于捕获部件的初始完整几何形状。
10.根据方面9的方法，其中部件的初始完整几何形状用于记录来自每次步骤(f)的扫描取向。
11.根据方面1-10的方法，其中非接触式计量系统用于捕获部件的初始完整几何形状。
12.根据方面1-11的方法，其中所述部件由金属材料形成，是铸造金属部件，是机加工金属部件，是燃气涡轮发动机的部件，是新制造的，是使用过的部件，或是由陶瓷基复合材料(CMC)形成，或由其任意组合形成。
该书面描述使用示例来公开本发明，包括最佳模式，并且还使本领域技术人员能够实施本发明，包括制造和使用任何设备或系统以及执行任何结合的方法。本发明的专利范围由权利要求书限定，并且可以包括本领域技术人员想到的其他示例。如果这样的其他示例具有与权利要求的字面语言没有不同的结构元件，或者如果它们包括与权利要求的字面语言没有实质性差异的等效结构元件，则它们意图在权利要求的范围内。
本发明的进一步方面通过以下条项的主题提供：
1.一种使用计算机断层扫描来检查部件的方法，方法包括以下步骤：(a)提供计算机断层扫描(CT)扫描仪；(b)提供目标部件；(c)检阅部件的几何形状；(d)估计最佳的部件取向；(e)对部件进行取向；(f)用CT扫描仪扫描部件；(g)将CT扫描数据加载到3D图像软件中；(h)记录最佳的CT扫描数据；(i)确定CT扫描数据的可接受区域和不可接受区域；(j)确定附加部件取向；(k)重复步骤(e)至(i)，直到部件的CT扫描数据的所有区域都可接受为止；以及(1)创建合并量的可接受CT扫描数据。
2.根据任何在前条项的方法，进一步包括对软件进行编程以扫描附加部件的步骤(m)。
3.根据任何在前条项的方法，其中附加部件具有相同的构造。
4.根据任何在前条项的方法，其中步骤(e)包括装夹部件。
5.根据任何在前条项的方法，其中完成步骤(d)以使穿过部件的固体区域的长X射线路径长度最小化。
6.根据任何在前条项的方法，其中步骤(h)是使用3D图像软件完成的。
7.根据任何在前条项的方法，其中针对每个CT扫描操作使用不同的装夹来完成步骤(k)。
8.根据任何在前条项的方法，其中创建感兴趣的3D区域以覆盖CT扫描数据的3DCT体积扫描中的可接受的信号水平的区域。
9.根据任何在前条项的方法，其中低分辨率CT扫描仪用于捕获部件的初始完整几何形状。
10.根据任何在前条项的方法，其中部件的初始完整几何形状用于记录来自每次步骤(f)的扫描取向。
11.根据任何在前条项的方法，其中非接触式计量系统用于捕获部件的初始完整几何形状。
12.根据任何在前条项的方法，其中部件由金属材料形成。
13.根据任何在前条项的方法，其中部件是铸造金属部件。
14.根据任何在前条项的方法，其中部件是机加工金属部件。
15.根据任何在前条项的方法，其中部件是燃气涡轮发动机的部件。
16.根据任何在前条项的方法，其中部件是新制造的。
17.根据任何在前条项的方法，其中部件是使用过的部件。
18.根据任何在前条项的方法，其中部件由陶瓷基复合物(CMC)材料形成。

Claims (10)

1.一种使用计算机断层扫描来检查部件的方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤：
(a)提供计算机断层扫描(CT)扫描仪；
(b)提供目标部件；
(c)检阅所述部件的几何形状；
(d)估计最佳的部件取向；
(e)对所述部件进行取向；
(f)用所述CT扫描仪扫描所述部件；
(g)将CT扫描数据加载到3D图像软件中；
(h)记录最佳的所述CT扫描数据；
(i)确定CT扫描数据的可接受区域和不可接受区域；
(j)确定附加部件取向；
(k)重复步骤(e)至(i)，直到所述部件的CT扫描数据的所有区域都可接受为止；以及
(1)创建合并量的可接受CT扫描数据。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，进一步包括对软件进行编程以扫描附加部件的步骤(m)。
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，其中所述附加部件具有相同的构造。
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，其中步骤(e)包括装夹所述部件。
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，其中完成步骤(d)以使穿过所述部件的固体区域的长X射线路径长度最小化。
6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，其中步骤(h)是使用所述3D图像软件完成的。
7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，其中针对每个CT扫描操作使用不同的装夹来完成步骤(k)。
8.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，其中创建感兴趣的3D区域以覆盖所述CT扫描数据的3D CT体积扫描中的可接受的信号水平的区域。
9.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，其中低分辨率CT扫描仪用于捕获所述部件的初始完整几何形状。
10.根据权利要求9所述的方法，其特征在于，其中所述部件的所述初始完整几何形状用于记录来自每次步骤(f)的所述扫描取向。
CN202010248014.0A 2019-04-01 2020-03-31 使用计算机断层扫描来检查部件的方法 Active CN111795981B (zh)

Applications Claiming Priority (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US201962827351P 2019-04-01 2019-04-01
US62/827,351 2019-04-01
US16/804,781 US11408836B2 (en) 2019-04-01 2020-02-28 Method for inspecting components using computed tomography
US16/804,781 2020-02-28

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN111795981A true CN111795981A (zh) 2020-10-20
CN111795981B CN111795981B (zh) 2023-12-22

Family

ID=70008301

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202010248014.0A Active CN111795981B (zh) 2019-04-01 2020-03-31 使用计算机断层扫描来检查部件的方法

Country Status (4)

Country Link
US (1) US11408836B2 (zh)
EP (1) EP3722793B1 (zh)
JP (1) JP7039101B2 (zh)
CN (1) CN111795981B (zh)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102020112647A1 (de) 2020-05-11 2021-11-11 Volume Graphics Gmbh Computerimplementiertes Verfahren zur Messung eines Objekts

Citations (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20040234025A1 (en) * 2000-07-08 2004-11-25 Mario Schroeder Processes and a device for determining the actual position of a structure of an object to be examined
JP2007101392A (ja) * 2005-10-05 2007-04-19 Shimadzu Corp Ｘ線検査装置
CN101273919A (zh) * 2007-03-30 2008-10-01 通用电气公司 使用更新方法和系统的连续图像采集
US20090316853A1 (en) * 2008-06-24 2009-12-24 Parazzoli Claudio G Brilliant x-rays for casting inspection radiography and computed tomography
US20100145653A1 (en) * 2007-04-20 2010-06-10 Werth Messtechnik Gmbh Method and apparatus for dimensionally measuring by means of coordinate measuring instruments
US20100194749A1 (en) * 2009-01-30 2010-08-05 Gerald Bernard Nightingale Systems and methods for non-destructive examination of an engine
CN101846640A (zh) * 2009-01-08 2010-09-29 欧姆龙株式会社 X射线检查区域设定方法及设定程序、x射线检查装置
CN104352246A (zh) * 2014-12-02 2015-02-18 东南大学 基于可视化的锥束ct感兴趣区域的扫描方法
US20150138320A1 (en) * 2013-11-21 2015-05-21 Antoine El Daher High Accuracy Automated 3D Scanner With Efficient Scanning Pattern
US20150139381A1 (en) * 2013-10-31 2015-05-21 Hexagon Metrology, Inc. Parametric control of object scanning
CN105051487A (zh) * 2013-06-17 2015-11-11 海克斯康测量技术有限公司 使用选择性成像测量物体的方法和设备
CN105393081A (zh) * 2013-05-10 2016-03-09 通用电气公司 用于在熔模铸造中使用的模具和坩锅的无损评估的系统和方法
CN106611433A (zh) * 2015-10-18 2017-05-03 卡尔蔡司X射线显微镜公司 多能量x‑射线显微镜数据采集和图像重建系统以及方法
CN106716487A (zh) * 2014-09-17 2017-05-24 音量制图法公司 确定从体数据提取的表面数据的局部质量的方法和系统
US20170249729A1 (en) * 2011-05-09 2017-08-31 Level 3 Inspection, Llc Automated optical metrology computer aided inspection station and method of operation
CN108169254A (zh) * 2016-12-07 2018-06-15 清华大学 检查设备和检查方法

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4691332A (en) 1983-03-14 1987-09-01 American Science And Engineering, Inc. High energy computed tomography
US4888693A (en) 1987-04-01 1989-12-19 General Electric Company Method to obtain object boundary information in limited-angle computerized tomography
US4969110A (en) 1988-08-01 1990-11-06 General Electric Company Method of using a priori information in computerized tomography
US5319693A (en) 1992-12-30 1994-06-07 General Electric Company Three dimensional computerized tomography scanning configuration for imaging large objects with smaller area detectors
US20060067471A1 (en) 2004-09-30 2006-03-30 General Electric Company Linear array detector system and inspection method
US7218706B2 (en) 2004-12-20 2007-05-15 General Electric Company Energy discrimination radiography systems and methods for inspecting industrial components
DE102008021639A1 (de) * 2008-04-30 2009-12-03 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Vorrichtung und Verfahren zum Erzeugen einer CT-Rekonstruktion eines Objekts mit einem hochaufgelösten interessierenden Objektbereich
EP2654017A3 (de) 2009-02-20 2016-12-07 Werth Messtechnik GmbH Verfahren zum Messen eines Objekts
US8189735B2 (en) 2010-07-22 2012-05-29 General Electric Company System and method for reconstruction of X-ray images
US8750561B2 (en) 2012-02-29 2014-06-10 United Technologies Corporation Method of detecting material in a part
US10406640B2 (en) * 2014-12-22 2019-09-10 Rolls-Royce High Temperature Composites, Inc. Method for repairing ceramic matrix composite (CMC) articles
CA3031397A1 (en) * 2016-07-22 2018-01-25 Lynx Inspection Inc. Inspection method for a manufactured article and system for performing same
JP2019007972A (ja) 2018-08-20 2019-01-17 株式会社ニコン 測定処理方法、測定処理装置、ｘ線検査装置、および構造物の製造方法

Patent Citations (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20040234025A1 (en) * 2000-07-08 2004-11-25 Mario Schroeder Processes and a device for determining the actual position of a structure of an object to be examined
JP2007101392A (ja) * 2005-10-05 2007-04-19 Shimadzu Corp Ｘ線検査装置
CN101273919A (zh) * 2007-03-30 2008-10-01 通用电气公司 使用更新方法和系统的连续图像采集
US20100145653A1 (en) * 2007-04-20 2010-06-10 Werth Messtechnik Gmbh Method and apparatus for dimensionally measuring by means of coordinate measuring instruments
US20090316853A1 (en) * 2008-06-24 2009-12-24 Parazzoli Claudio G Brilliant x-rays for casting inspection radiography and computed tomography
CN101846640A (zh) * 2009-01-08 2010-09-29 欧姆龙株式会社 X射线检查区域设定方法及设定程序、x射线检查装置
US20100194749A1 (en) * 2009-01-30 2010-08-05 Gerald Bernard Nightingale Systems and methods for non-destructive examination of an engine
US20170249729A1 (en) * 2011-05-09 2017-08-31 Level 3 Inspection, Llc Automated optical metrology computer aided inspection station and method of operation
CN105393081A (zh) * 2013-05-10 2016-03-09 通用电气公司 用于在熔模铸造中使用的模具和坩锅的无损评估的系统和方法
CN105051487A (zh) * 2013-06-17 2015-11-11 海克斯康测量技术有限公司 使用选择性成像测量物体的方法和设备
US20150139381A1 (en) * 2013-10-31 2015-05-21 Hexagon Metrology, Inc. Parametric control of object scanning
US20150138320A1 (en) * 2013-11-21 2015-05-21 Antoine El Daher High Accuracy Automated 3D Scanner With Efficient Scanning Pattern
CN106716487A (zh) * 2014-09-17 2017-05-24 音量制图法公司 确定从体数据提取的表面数据的局部质量的方法和系统
CN104352246A (zh) * 2014-12-02 2015-02-18 东南大学 基于可视化的锥束ct感兴趣区域的扫描方法
CN106611433A (zh) * 2015-10-18 2017-05-03 卡尔蔡司X射线显微镜公司 多能量x‑射线显微镜数据采集和图像重建系统以及方法
CN108169254A (zh) * 2016-12-07 2018-06-15 清华大学 检查设备和检查方法

Also Published As

Publication number Publication date
CN111795981B (zh) 2023-12-22
EP3722793A3 (en) 2020-11-04
JP7039101B2 (ja) 2022-03-22
EP3722793A2 (en) 2020-10-14
JP2020169990A (ja) 2020-10-15
US11408836B2 (en) 2022-08-09
US20200309719A1 (en) 2020-10-01
EP3722793B1 (en) 2023-08-02

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6041132A (en) Computed tomography inspection of composite ply structure
EP2369329B9 (en) X-ray inspection apparatus and x-ray inspection method
US20100194749A1 (en) Systems and methods for non-destructive examination of an engine
JP2010261933A (ja) 非破壊検査方法及びシステム
EP3190402B1 (en) Measurement processing device, x-ray inspection apparatus, method for manufacturing a structure, measurement processing method and measurement processing program
CA2458549A1 (en) Non-destructive inspection of downhole equipment
JPH1130595A (ja) 物体の実際の形状を予定の形状と比較する方法
JP2004012407A (ja) 透過画像提供システムおよびｘ線ｃｔ・ｄｒ撮影サービスシステム
US20200003705A1 (en) Measurement processing device, x-ray inspection device, measurement processing method, measurement processing program, and structure manufacturing method
Bullinger et al. Laminographic inspection of large carbon fibre composite aircraft-structures at airbus
CN111795981B (zh) 使用计算机断层扫描来检查部件的方法
Li et al. 3D detection of internal defects for gas turbine blades
US20050154563A1 (en) Device and method for evaluating a characteristic of an object
JP4676300B2 (ja) Ｒｔ３次元サイジング装置
Schick Metrology CT technology and its applications in the precision engineering industry
Malcolm et al. Case studies in the use of computed tomography for non-destructive testing, inspection and measurement
Malcolm et al. Case studies in the use of computed tomography for non-destructive testing, failure analysis and performance evaluation
US11703440B2 (en) Porosity of a part
Neel et al. X-Ray Computed Tomography Application Research
US20240070968A1 (en) System and method of producing a computer-generated image of a component part using computed tomography
Huang et al. Discussions on the 3D models of the images of stripy flaw by X-ray examination
Thomas et al. Advanced NDT with high resolution computed tomography
Plessis et al. X-Ray—Radiography and Computed Tomography in Additive Manufacturing
Snow et al. Machine Learning Enabled Sensor Fusion for In-Situ Defect Detection in L-PBF
Costin et al. Adaptable online monitoring using simulated reference data approaches

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant