CN111781449B - 一种设备测试方法、装置及计算机可读存储介质 - Google Patents

Abstract

本申请提供了一种设备测试方法、装置及计算机可读存储介质，该设备测试方法包括：控制测试工位的测试设备对传送至被测工位的目标被测设备进行充放电性能测试；在目标被测设备的测试结果合格时，生成设备换位控制信号；根据设备换位控制信号，控制移动机构将目标被测设备换位至测试工位。通过本申请方案的实施，将测试通过的被测设备换位至测试工位，以替代此前的测试设备进行后续被测设备的充放电性能测试，一方面，对测试工位上的测试设备进行轮转换位，测试设备电量可以得到保证，可提高测试效率；另一方面，不需要对测试设备进行点检，而有效降低了测试工作量，且可保证测试结果的准确性。

Description

一种设备测试方法、装置及计算机可读存储介质

技术领域

本申请涉及电子技术领域，尤其涉及一种设备测试方法、装置及计算机可读存储介质。

背景技术

随着电子技术的快速发展，手机、平板电脑、智能穿戴设备等终端设备在用户生活中愈发普及。在实际应用中，终端的充放电性能对用户的使用体验具有至关重要的作用，因此，在终端出厂前通常需要对终端进行严格的充放电性能测试。

目前，相关技术中在对待测设备进行充放电测试时，通常是固定设置有一台测试设备，然后通过该测试设备依次对多个待测设备进行测试，然而，通常测试拉线上的待测设备数量众多，若仅固定使用一台测试设备来进行测试，一方面，在测试设备的电量耗尽时，需要等待测试设备补充电量之后才能继续测试，测试效率不高；另一方面，设备长时运行对其可耐受性提出很高要求，因此需要定时对该测试设备进行点检，测试工作量较大，并且若未及时进行点检而在测试设备损伤情况下继续进行测试，则还会导致测试结果准确性降低的问题。

发明内容

本申请实施例提供了一种设备测试方法、装置及计算机可读存储介质，至少能够解决相关技术中固定使用一台测试设备来对待测设备进行充放电性能测试，所导致的测试效率不高、测试工作量较大以及测试结果准确性较低的问题。

本申请实施例第一方面提供了一种设备测试方法，包括：

控制测试工位的测试设备对传送至被测工位的目标被测设备进行充放电性能测试；

在所述目标被测设备的测试结果合格时，生成设备换位控制信号；

根据所述设备换位控制信号，控制移动机构将所述目标被测设备换位至所述测试工位。

本申请实施例第二方面提供了一种设备测试装置，包括：

测试模块，用于控制测试工位的测试设备对传送至被测工位的目标被测设备进行充放电性能测试；

生成模块，用于在所述目标被测设备的测试结果合格时，生成设备换位控制信号；

换位模块，用于根据所述设备换位控制信号，控制移动机构将所述目标被测设备换位至所述测试工位。

本申请实施例第三方面提供了一种电子装置，包括：存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，处理器执行计算机程序时，实现上述本申请实施例第一方面提供的设备测试方法中的各步骤。

本申请实施例第四方面提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时，实现上述本申请实施例第一方面提供的设备测试方法中的各步骤。

由上可见，根据本申请方案所提供的设备测试方法、装置及计算机可读存储介质，控制测试工位的测试设备对传送至被测工位的目标被测设备进行充放电性能测试；在目标被测设备的测试结果合格时，生成设备换位控制信号；根据设备换位控制信号，控制移动机构将目标被测设备换位至测试工位。通过本申请方案的实施，将测试通过的被测设备换位至测试工位，以替代此前的测试设备进行后续被测设备的充放电性能测试，一方面，对测试工位上的测试设备进行轮转换位，测试设备电量可以得到保证，可提高测试效率；另一方面，不需要对测试设备进行点检，而有效降低了测试工作量，且可保证测试结果的准确性。

附图说明

图1为本申请第一实施例提供的设备测试方法的基本流程示意图；

图2为本申请第一实施例提供的一种充放电性能测试产线的示意图；

图3为本申请第二实施例提供的设备测试方法的细化流程示意图；

图4为本申请第三实施例提供的一种设备测试装置的程序模块示意图；

图5为本申请第三实施例提供的另一种设备测试装置的程序模块示意图；

图6为本申请第四实施例提供的电子装置的结构示意图。

具体实施方式

为使得本申请的发明目的、特征、优点能够更加的明显和易懂，下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而非全部实施例。基于本申请中的实施例，本领域技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

为了解决相关技术中固定使用一台测试设备来对待测设备进行充放电性能测试，所导致的测试效率不高、测试工作量较大以及测试结果准确性较低的缺陷，本申请第一实施例提供了一种设备测试方法，如图1为本实施例提供的设备测试方法的基本流程图，该设备测试方法包括以下的步骤：

步骤101、控制测试工位的测试设备对传送至被测工位的目标被测设备进行充放电性能测试。

具体的，在本实施例中，该设备测试方法优选的可以应用于对无线充电设备进行充放电性能测试，当然在实际应用中也可以应用于有线充电设备的充放电性能测试。如图2所示为本实施例提供的一种充放电性能测试产线的示意图，其中，A表示测试工位上所设置的测试设备固定装置(例如夹具)，用于装载测试设备a，B表示传送机构，其上用于对被测设备(例如图中的b、c、d)进行传送，而在被测设备被传送到与测试工位相对的位置时，被测设备处于被测工位(如图中b所处的位置)，测试设备a与被测设备b的电磁感应线圈处于有效感应距离，从而允许测试设备对被测设备进行充放电性能测试。

应当说明的是，在测试设备对被测设备进行充放电性能测试过程中，若充放电效率一直，假设50％，且充放电测试时间一致，测试设备对被测设备放电一次损失两倍电量，而每次仅接受一倍电量。

在本实施例的一些实施方式中，控制测试工位的测试设备对传送至被测工位的目标被测设备进行充放电性能测试的具体实现方式包括但不限于以下两种：

方式一，获取传送至被测工位的目标被测设备的设备属性；基于设备属性确定对应的目标测试模式；控制测试工位的测试设备采用目标测试模式，对目标被测设备进行充放电性能测试。

具体的，在本实施方式中，处于测试产线上的多个被测设备可以是相同设备或不同设备，而在测试产线上对多个不同设备进行混合检测时，由于不同设备的设备属性有所不同，为了保证设备测试的准确性和有效性，本实施例根据设备属性控制测试设备采用对应测试模式来对被测设备进行充放电性能测试，其中，测试模式与充放电时间、充放电功率等相关联，而设备属性则可以包括设备型号、设备电池容量等。

方式二，获取测试工位的测试设备的性能指标；基于性能指标确定对应的目标测试模式；控制测试设备采用目标测试模式，对传送至被测工位的目标被测设备进行充放电性能测试。

具体的，在本实施方式中，测试设备的性能指标可以为设备可用电量、设备的充放电效率等，在实际应用中，测试设备在不同使用阶段其性能指标有所不同，而若始终如一采用同一测试模式进行测试，则可能会在后期存在过载问题，而导致测试设备损坏或无法支持测试完成的问题，基于此，本实施例基于测试设备的性能指标适应性确定测试模式，以对被测设备进行充放电性能测试，可对测试设备进行保护以及保证测试有效性。

步骤102、在目标被测设备的测试结果合格时，生成设备换位控制信号。

具体的，在本实施例中，当被测设备的各项充放电测试指标均测试合格时，确定当前设备支持正常充放电使用，从而生成设备换位控制信号，以将该被测设备移位至测试工位。另外，若目标测试设备的测试结果不合格，则可以将目标测试设备进行剔除，而并不将其作测试其它被测设备使用。

在本实施例的一些实施方式中，在生成设备换位控制信号之前，还包括：基于目标被测设备的性能指标，判断目标被测设备是否满足预设的设备换位控制条件。其中，在满足设备换位控制条件时，执行生成设备换位控制信号的步骤。

具体的，在本实施例中，针对充放电性能测试合格的被测设备，还可以配置一换位控制条件，该换位控制条件关联于被测设备的性能指标，由此筛选出性能指标优异的被测设备进行换位，可以提高后续测试的有效性、降低测试故障率。

进一步地，在本实施例的一些实施方式中，基于目标被测设备的性能指标，判断目标被测设备是否满足预设的设备换位控制条件的具体实现方式包括但不限于以下两种：

方式一，判断目标被测设备的测试结果合格等级是否高于预设等级阈值；其中，在高于等级阈值时，满足设备换位控制条件。

具体的，在实际应用中，充放电性能合格的设备的性能之间也存在一定的差异性，例如本实施例可以将测试结果合格等级区分为一般、中等、优异，而将等级阈值设置为中等，而在充放电性能合格的目标测试设备性能优异时，一方面可以保证后续使用该设备进行充放电测试的有效性，另一方面，该设备进行测试的耐受性更好，抗损坏性能更高。

方式二，判断目标被测设备的剩余电能是否高于预设电能阈值；其中，在高于电能阈值时，满足设备换位控制条件。

具体的，考虑到不同被测设备的初始电能有所不同，以及在不同测试环境下的测试耗电有所不同，那么测试完成的被测设备的剩余电能通常会有所区别，而在实际应用中，剩余电能较低的设备作测试使用时，可进行有效测试的次数相对较低，并且可能难以支撑一次完整测试，由此会对测试效率有所影响，基于此，本实施方式可以仅将剩余电能较高的被测设备作为目标换位控制设备。

应当说明的是，在实际应用中，区别于上述通过目标被测设备来确定是否触发生成设备换位控制信号，在另一些实施方式中，还可以从测试设备侧考虑是否触发生成设备换位控制信号，例如获取测试设备当前所累积测试的被测设备数量，当被测设备数量达到预设数量阈值时，执行生成设备换位控制信号的步骤。由此可以实现测试设备的批量检测，也即一个测试设备检测多个被测设备之后再执行换位，而不用每检测一个被测设备便执行一次测试设备的换位，在一定程度上可以简化控制流程，可以保证更高的测试效率。当然，在其它实施方式中，还可以是：获取测试设备的剩余电能；判断测试设备的剩余电能是否低于预设电能阈值；在低于电能阈值时，执行生成设备换位控制信号的步骤。

步骤103、根据设备换位控制信号，控制移动机构将目标被测设备换位至测试工位。

具体的，本实施例控制专门的移动机构例如机械手，将测试合格的被测设备转移至测试工位，而将被测设备进行角色转换而成为测试设备，以替代此前的测试设备对后续传送过来的其它被测设备进行充放电性能测试。由此，本实施例的所有被测设备都可以作为测试“金机”，不需要进行特殊点检，且由于测试工位的测试设备轮换使用，不会长时间运行，可以降低设备损坏、电量不足的风险。

在本实施例的一些实施方式中，在控制测试工位的测试设备对传送至被测工位的目标被测设备进行充放电性能测试之后，还包括：在目标被测设备的测试结果不合格时，生成设备隔离指示信号；控制传送机构根据设备隔离指示信号对目标被测设备进行隔离处理。

具体的，在实际应用中，产品生产受工序的执行质量影响，所生产出来的品质并不能绝对满足要求，品质把控是生产厂家的一项重要工作，而品质把控的核心则在于对不合格产品进行处理，而若没有切实有效的处理机制来对不合格产品进行处理，可能会使得不合格产品继续流入下一工序。基于此，在本实施例中，针对充放电性能不合格的设备生成隔离指示信号以进行不合格产品隔离，而阻止其进入下一工序，从根本上解决作业员对不合格产品未及时区分或误操作导致的后工序出现不合格产品，从而提升不合格产品的处理效率及品质保障度。

应当说明的是，本实施例通过产线上的传送机构来执行设备隔离指示信号，来对不合格产品进行自动隔离处理，例如将不合格产品传送至专门的隔离区域，而阻止其继续向下一测试或生产工序传送，从而可以提高产品隔离处理的自动化程度。

进一步地，在本实施例的一些实施方式中，生成设备隔离指示信号包括：获取目标被测设备的不合格属性；基于不合格属性确定对应的设备隔离处理策略；根据设备隔离处理策略对应生成设备隔离指示信号。

具体的，在本实施例中，不合格属性可以包括但不限于不合格类型和/或不合格程度，本实施例在对不合格设备进行隔离处理时，可以针对不同的不合格设备适应性配置隔离处理策略，并生成相应的隔离指示信号。本实施例通过对不合格产品进行区别处理，可以有效保证后续对不合格产品进一步进行返修处理的效率。

在本实施例的一些实施方式中，在控制移动机构将目标被测设备换位至测试工位之后，还包括：在使用目标被测设备对后续被测设备进行充放电性能测试时，对目标被测设备的测试有效性进行监控；在测试有效性不达标时，控制移动机构将测试设备复位至测试工位。

具体的，在本实施例中，考虑到换位至测试工位的设备仅能保证充放电性能合格，而充放电性能合格仅为对其它设备进行有效充放电测试的其中一个因素，也即当前换位至测试工位的设备仍可能存在测试故障的情况，基于此，本实施例在换位后的设备进行后续测试的过程中，将其对其它被测设备进行测试时的测试有效性进行监控，一旦检测出测试有效性不达标的情况，则将此前所采用的测试设备归位至测试工位，以保证测试有效推进。应当理解的是，本实施例所归位至测试工位的测试设备，可以是上一次测试过程中所采用的测试设备，也可以是初始环节所设置的一个专用测试设备。

基于上述本申请实施例的技术方案，控制测试工位的测试设备对传送至被测工位的目标被测设备进行充放电性能测试；在目标被测设备的测试结果合格时，生成设备换位控制信号；根据设备换位控制信号，控制移动机构将目标被测设备换位至测试工位。通过本申请方案的实施，将测试通过的被测设备换位至测试工位，以替代此前的测试设备进行后续被测设备的充放电性能测试，一方面，对测试工位上的测试设备进行轮转换位，测试设备电量可以得到保证，可提高测试效率；另一方面，不需要对测试设备进行点检，而有效降低了测试工作量，且可保证测试结果的准确性。

图3中的方法为本申请第二实施例提供的一种细化的设备测试方法，该设备测试方法包括：

步骤301、获取传送至被测工位的目标被测设备的设备属性，并基于设备属性确定对应的目标测试模式。

具体的，本实施例的测试模式与充放电时间、充放电功率等相关联，而设备属性则可以包括设备型号、设备电池容量等。

步骤302、控制测试工位的测试设备采用目标测试模式，对目标被测设备进行充放电性能测试。

具体的，在本实施方式中，处于产线上的多个被测设备可以是相同设备或不同设备，而在测试产线上对多个不同设备进行混合检测时，由于不同设备的设备属性有所不同，为了保证设备测试的准确性和有效性，本实施例根据设备属性控制测试设备采用对应测试模式来对被测设备进行充放电性能测试。

步骤303、在目标被测设备的测试结果合格时，基于目标被测设备的综合性能指标，判断目标被测设备是否满足预设的设备换位控制条件。

步骤304、在满足设备换位控制条件时，生成设备换位控制信号。

在本实施例中，针对充放电性能测试合格的被测设备，还可以配置一换位控制条件，该换位控制条件关联于被测设备的综合性能指标(充放电性能测试结果合格等级、剩余电能等)，由此筛选出性能指标优异的被测设备进行换位，可以提高后续测试的有效性、降低测试故障率。

步骤305、根据设备换位控制信号，控制移动机构将目标被测设备换位至测试工位。

具体的，本实施例控制专门的移动机构例如机械手，将测试合格的被测设备转移至测试工位，而对被测设备进行角色转换而使之成为测试设备，以替代此前的测试设备对后续传送过来的其它被测设备进行充放电性能测试。

步骤306、在使用目标被测设备对后续被测设备进行充放电性能测试时，对目标被测设备的测试有效性进行监控。

步骤307、在测试有效性不达标时，控制移动机构将测试设备复位至测试工位。

具体的，本实施例在换位后的设备进行后续测试的过程中，将其对其它被测设备进行测试时的测试有效性进行监控，一旦检测出测试有效性不达标的情况，则将此前所采用的测试设备归位至测试工位，以保证测试有效推进。

应当理解的是，本实施例中各步骤的序号的大小并不意味着步骤执行顺序的先后，各步骤的执行顺序应以其功能和内在逻辑确定，而不应对本申请实施例的实施过程构成唯一限定。

本申请实施例公开了一种设备测试方法，根据设备属性控制测试设备采用对应测试模式来对被测设备进行充放电性能测试，可有效保证充放电性能测试的有效性。并且，将测试通过的被测设备换位至测试工位，以替代此前的测试设备进行后续被测设备的充放电性能测试，一方面，对测试工位上的测试设备进行轮转换位，测试设备电量可以得到保证，可提高测试效率；另一方面，不需要对测试设备进行点检，而有效降低了测试工作量，且可保证测试结果的准确性。此外，针对换位至测试工位的设备进行测试有效性监控，并在测试有效性不达标时将有效测试设备复位至测试工位，可保证测试业务有效推进。

图4为本申请第三实施例提供的一种设备测试装置，该设备测试装置可应用于前述第一实施例及第二实施例的设备测试方法。如图4所示，该设备测试装置主要包括：

测试模块401，用于控制测试工位的测试设备对传送至被测工位的目标被测设备进行充放电性能测试；

生成模块402，用于在目标被测设备的测试结果合格时，生成设备换位控制信号；

换位模块403，用于根据设备换位控制信号，控制移动机构将目标被测设备换位至测试工位。

在本实施例一些实施方式中，测试模块401具体用于：获取传送至被测工位的目标被测设备的设备属性；基于设备属性确定对应的目标测试模式；控制测试工位的测试设备采用目标测试模式，对目标被测设备进行充放电性能测试。

在本实施例另一些实施方式中，测试模块401具体用于：获取测试工位的测试设备的性能指标；基于性能指标确定对应的目标测试模式；控制测试设备采用目标测试模式，对传送至被测工位的目标被测设备进行充放电性能测试。

如图5所示为本实施例提供的另一种设备测试装置，在本实施例一些实施方式中，设备测试装置还包括：判断模块404，用于：在生成设备换位控制信号之前，基于目标被测设备的性能指标，判断目标被测设备是否满足预设的设备换位控制条件。相对应的，生成模块402具体用于：在满足设备换位控制条件时，生成设备换位控制信号。

进一步地，在本实施例一些实施方式中，判断模块404具体用于：判断目标被测设备的测试结果合格等级是否高于预设等级阈值；其中，在高于等级阈值时，满足设备换位控制条件。在本实施例另一些实施方式中，判断模块404具体用于：判断目标被测设备的剩余电能是否高于预设电能阈值；其中，在高于电能阈值时，满足设备换位控制条件。

在本实施例一些实施方式中，生成模块402还用于：在目标被测设备的测试结果不合格时，生成设备隔离指示信号。相对应的，请继续参阅图5，设备测试装置还包括：隔离模块405，用于：控制传送机构根据设备隔离指示信号对目标被测设备进行隔离处理。

进一步地，在本实施例一些实施方式中，生成模块402在生成设备隔离指示信号时，具体用于：获取目标被测设备的不合格属性；基于不合格属性确定对应的设备隔离处理策略；根据设备隔离处理策略对应生成设备隔离指示信号。

请再次参阅图5，在本实施例一些实施方式中，设备测试装置还包括：监控模块406，用于：在控制移动机构将目标被测设备换位至测试工位之后，在使用目标被测设备对后续被测设备进行充放电性能测试时，对目标被测设备的测试有效性进行监控。相应的，换位模块403还用于：在测试有效性不达标时，控制移动机构将测试设备复位至测试工位。

应当说明的是，第一、二实施例中的设备测试方法均可基于本实施例提供的设备测试装置实现，所属领域的普通技术人员可以清楚的了解到，为描述的方便和简洁，本实施例中所描述的设备测试装置的具体工作过程，可以参考前述方法实施例中的对应过程，在此不再赘述。

根据本实施例所提供的设备测试装置，控制测试工位的测试设备对传送至被测工位的目标被测设备进行充放电性能测试；在目标被测设备的测试结果合格时，生成设备换位控制信号；根据设备换位控制信号，控制移动机构将目标被测设备换位至测试工位。通过本申请方案的实施，将测试通过的被测设备换位至测试工位，以替代此前的测试设备进行后续被测设备的充放电性能测试，一方面，对测试工位上的测试设备进行轮转换位，测试设备电量可以得到保证，可提高测试效率；另一方面，不需要对测试设备进行点检，而有效降低了测试工作量，且可保证测试结果的准确性。

请参阅图6，图6为本申请第四实施例提供的一种电子装置。该电子装置可用于实现前述实施例中的设备测试方法。如图6所示，该电子装置主要包括：

存储器601、处理器602、总线603及存储在存储器601上并可在处理器602上运行的计算机程序，存储器601和处理器602通过总线603连接。处理器602执行该计算机程序时，实现前述实施例中的设备测试方法。其中，处理器的数量可以是一个或多个。

存储器601可以是高速随机存取记忆体(RAM，Random Access Memory)存储器，也可为非不稳定的存储器(non-volatile memory)，例如磁盘存储器。存储器601用于存储可执行程序代码，处理器602与存储器601耦合。

进一步的，本申请实施例还提供了一种计算机可读存储介质，该计算机可读存储介质可以是设置于上述各实施例中的电子装置中，该计算机可读存储介质可以是前述图6所示实施例中的存储器。

该计算机可读存储介质上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时实现前述实施例中的设备测试方法。进一步的，该计算机可存储介质还可以是U盘、移动硬盘、只读存储器(ROM，Read-Only Memory)、RAM、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。

在本申请所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的装置和方法，可以通过其它的方式实现。例如，以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如，模块的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如多个模块或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些接口，装置或模块的间接耦合或通信连接，可以是电性，机械或其它的形式。

作为分离部件说明的模块可以是或者也可以不是物理上分开的，作为模块显示的部件可以是或者也可以不是物理模块，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络模块上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部模块来实现本实施例方案的目的。

另外，在本申请各个实施例中的各功能模块可以集成在一个处理模块中，也可以是各个模块单独物理存在，也可以两个或两个以上模块集成在一个模块中。上述集成的模块既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能模块的形式实现。

集成的模块如果以软件功能模块的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本申请的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的全部或部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个可读存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)执行本申请各个实施例方法的全部或部分步骤。而前述的可读存储介质包括：U盘、移动硬盘、ROM、RAM、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。

需要说明的是，对于前述的各方法实施例，为了简便描述，故将其都表述为一系列的动作组合，但是本领域技术人员应该知悉，本申请并不受所描述的动作顺序的限制，因为依据本申请，某些步骤可以采用其它顺序或者同时进行。其次，本领域技术人员也应该知悉，说明书中所描述的实施例均属于优选实施例，所涉及的动作和模块并不一定都是本申请所必须的。

在上述实施例中，对各个实施例的描述都各有侧重，某个实施例中没有详述的部分，可以参见其它实施例的相关描述。

以上为对本申请所提供的设备测试方法、装置及计算机可读存储介质的描述，对于本领域的技术人员，依据本申请实施例的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处，综上，本说明书内容不应理解为对本申请的限制。

Claims (10)

1.一种设备测试方法，其特征在于，包括：

控制测试工位的测试设备对传送至被测工位的目标被测设备进行充放电性能测试；

在所述目标被测设备的测试结果合格时，生成设备换位控制信号；

根据所述设备换位控制信号，控制移动机构将所述目标被测设备换位至所述测试工位。

2.根据权利要求1所述的设备测试方法，其特征在于，所述控制测试工位的测试设备对传送至被测工位的目标被测设备进行充放电性能测试包括：

获取传送至被测工位的目标被测设备的设备属性；

基于所述设备属性确定对应的目标测试模式；

控制测试工位的测试设备采用所述目标测试模式，对所述目标被测设备进行充放电性能测试；

或，获取测试工位的测试设备的性能指标；

基于所述性能指标确定对应的目标测试模式；

控制所述测试设备采用所述目标测试模式，对传送至被测工位的目标被测设备进行充放电性能测试。

3.根据权利要求1所述的设备测试方法，其特征在于，所述生成设备换位控制信号之前，还包括：

基于所述目标被测设备的性能指标，判断所述目标被测设备是否满足预设的设备换位控制条件；

在满足所述设备换位控制条件时，执行所述生成设备换位控制信号的步骤。

4.根据权利要求3所述的设备测试方法，其特征在于，所述基于所述目标被测设备的性能指标，判断所述目标被测设备是否满足预设的设备换位控制条件包括：

判断所述目标被测设备的测试结果合格等级是否高于预设等级阈值；其中，在高于所述等级阈值时，满足所述设备换位控制条件；

或，判断所述目标被测设备的剩余电能是否高于预设电能阈值；其中，在高于所述电能阈值时，满足所述设备换位控制条件。

5.根据权利要求1所述的设备测试方法，其特征在于，所述控制测试工位的测试设备对传送至被测工位的目标被测设备进行充放电性能测试之后，还包括：

在所述目标被测设备的测试结果不合格时，生成设备隔离指示信号；

控制传送机构根据所述设备隔离指示信号对所述目标被测设备进行隔离处理。

6.根据权利要求5所述的设备测试方法，其特征在于，所述生成设备隔离指示信号包括：

获取所述目标被测设备的不合格属性；

基于所述不合格属性确定对应的设备隔离处理策略；

根据所述设备隔离处理策略对应生成设备隔离指示信号。

7.根据权利要求1至6中任意一项所述的设备测试方法，其特征在于，所述控制移动机构将所述目标被测设备换位至所述测试工位之后，还包括：

在使用所述目标被测设备对后续被测设备进行充放电性能测试时，对所述目标被测设备的测试有效性进行监控；

在所述测试有效性不达标时，控制所述移动机构将此前采用的所述测试设备复位至所述测试工位。

8.一种设备测试装置，其特征在于，包括：

测试模块，用于控制测试工位的测试设备对传送至被测工位的目标被测设备进行充放电性能测试；

生成模块，用于在所述目标被测设备的测试结果合格时，生成设备换位控制信号；

换位模块，用于根据所述设备换位控制信号，控制移动机构将所述目标被测设备换位至所述测试工位。

9.一种电子装置，其特征在于，包括：存储器、处理器及总线；

所述总线用于实现所述存储器、处理器之间的连接通信；

所述处理器用于执行存储在所述存储器上的计算机程序；

所述处理器执行所述计算机程序时，实现权利要求1至7中任意一项所述方法中的步骤。

10.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时，实现权利要求1至7中的任意一项所述方法中的步骤。

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