CN111766694A - 显微镜切片位置的采集方法和系统 - Google Patents
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 21
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims abstract description 18
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 6
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 3
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 2
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 1
- 230000008094 contradictory effect Effects 0.000 description 1
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 description 1
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Abstract
本发明公开一种显微镜切片位置的采集方法和系统,其中,该显微镜切片位置的采集方法包括:步骤S1、获取电子目镜捕捉的当前图像信息;步骤S2、对所述当前图像信息进行处理分析,获得切片在玻片上的预设坐标系内的坐标信息。本发明技术方案能实现显微镜对切片位置的智能采集,以便老师直观量化地评价学生切片摆放是否准确、以及需要如何调整,有效提高了教学效率。
Description
技术领域
本发明涉及显微镜产品技术领域,特别涉及一种显微镜切片位置的采集方法和系统。
背景技术
目前,在显微镜相关实验中,对于学生在切片位置摆放是否准确一项上的评判十分主观(仅凭视觉估量),暂未形成客观且量化的评判标准,如此,增加了学生修正错误的难度、降低了实验教学的效率。
发明内容
本发明的主要目的是提出一种显微镜切片位置的采集方法,旨在解决显微镜实验中无法智能采集标识切片位置的技术问题。
为实现上述目的,本发明提出的显微镜切片位置的采集方法,包括:
步骤S1、获取电子目镜捕捉的当前图像信息;
步骤S2、对所述当前图像信息进行处理分析,获得切片在玻片上的预设坐标系内的坐标信息。
可选地,所述步骤S2具体包括对所述当前图像信息进行处理分析,获得切片在载玻片上的第一预设坐标系内的第一坐标信息。
可选地,所述步骤S2具体包括对所述当前图像信息进行处理分析,获得切片在压玻片上的第二预设坐标系内的第二坐标信息。
可选地,所述步骤S2具体包括对所述当前图像信息进行处理分析,获得压玻片在载玻片上的第一预设坐标系内的第三坐标信息。
可选地,所述步骤S2具体包括对所述当前图像信息进行处理分析,基于所述预设坐标系的线型或字体尺寸判断当前视图的放大比例。
可选地,还包括:步骤S3、将所述切片中心的坐标信息与标准坐标信息作差,获得两者之间的坐标差。
本发明还提出一种显微镜切片位置的采集系统,包括由下至上依次连接的镜座、镜柱、镜臂、载物台、镜筒以及电子目镜,其中,
所述载物台上设有用以固定切片的玻片,所述玻片上预设有坐标系,所述坐标系用以通过坐标的方式标识所述切片,所述电子目镜用以观察并捕捉切片置于玻片上的图像信息。
可选地,所述玻片包括载玻片和压玻片,所述载玻片上设有第一坐标系,所述压玻片上设有第二坐标系。
可选地,还包括设于所述镜筒底部的镜头转换器,所述图像信息中坐标系的线型或文字尺寸用以判断当前所用物镜的放大倍数。
可选地,还包括与所述电子目镜通信连接的计算机设备,所述计算机设备用以接收所述电子目镜捕捉的图像信息,经过处理分后呈现在计算机设备的显示器。
本发明技术方案通过于显微镜的玻片上预设坐标系,再通过显微镜的电子目镜捕捉切片于玻片上放置的画面信息,并对该画面信息进行分析处理,如此,即可获取切片位于当前坐标系内的坐标,以便老师或学生清晰地获知当前切片是否摆放到位,利于观察,有效提高了实验教学效率。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。
图1为本发明显微镜切片采集系统一实施例的结构示意图;
图2为图1中玻片与切片的结构示意图;
图3为本发明显微镜切片采集方法一实施例的流程示意图。
附图标号说明:
1、镜座、2、镜柱;3、镜臂;4、载物台;41、玻片;411、载玻片;411a、第一预设坐标系;412、压玻片;412a、第二预设坐标系;42、切片;5、镜筒;51、电子目镜;52、镜头转换器
本发明目的的实现、功能特点及优点将结合实施例,参照附图做进一步说明。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明的一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
需要说明,若本发明实施例中有涉及方向性指示(诸如上、下、左、右、前、后……),则该方向性指示仅用于解释在某一特定姿态(如附图所示)下各部件之间的相对位置关系、运动情况等,如果该特定姿态发生改变时,则该方向性指示也相应地随之改变。
另外,若本发明实施例中有涉及“第一”、“第二”等的描述,则该“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的,而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此,限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。另外,各个实施例之间的技术方案可以相互结合,但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础,当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在,也不在本发明要求的保护范围之内。
本发明提出一种显微镜切片位置的采集方法和系统。
本发明中,参照图1,显微镜切片42位置的采集系统包括由下至上依次连接的镜座1、镜柱2、镜臂3、载物台4、镜筒5、电子目镜51,为了固定切片42以便观察,载物台4上配备有玻片41,玻片41包括用以放置切片42的载波片、和用以抵压夹紧切片42的压波片。
在本发明实施例中,如图2和图3所示,该显微镜切片42位置的采集方法包括:
步骤S1、获取电子目镜51捕捉的当前图像信息;
步骤S2、对所述当前图像信息进行处理分析,获得切片42在玻片41上的预设坐标系内的坐标信息。
容易理解,电子目镜51由数码摄像头制成,用于获取实验者当前观察到的细胞画面并发送给终端设备进行处理分析;显微镜切片42位置的采集系统还包括与所述电子目镜51通信连接的计算机设备,所述计算机设备用以接收所述电子目镜51捕捉的图像信息,经过处理分后呈现在计算机设备的显示器。可以理解,预设坐标系可以仅由带方向箭头、相互垂直、标记有多个单位长度的X/Y轴组成,还可进一步在每一单位长度下面标有相应的距离数值,而至于预设坐标系于玻片41上的设置方式,优选采用印制的方法。需要说明的是,切片42的坐标信息不限于切片42中心点的坐标、或选取切片42上几个参考点的坐标等,只要能反映切片42在坐标系中的位置即可。
本发明技术方案通过于显微镜的玻片41上预设坐标系,再通过显微镜的电子目镜51捕捉切片42于玻片41上放置的画面信息,并对该画面信息进行分析处理,如此,即可获取切片42位于当前坐标系内的坐标,以便老师或学生清晰地获知当前切片42是否摆放到位,利于观察,有效提高了实验教学效率。
可选地,所述玻片41包括载玻片41141和压玻片41241,所述载玻片41141上设有第一坐标系,所述步骤S2具体包括对所述当前图像信息进行处理分析,获得切片42中心在载玻片41141上的第一预设坐标系411a内的第一坐标信息。可以理解,如此设置,能够体现切片42在载玻片41141上的相对位置,而由于载玻片41141的尺寸显著大于切片42,所以这样会有利于将切片42靠近载玻片41141的中心,以便实验者从电子目镜51中观察到切片42。
可选地,所述压玻片41241上设有第二坐标系,所述步骤S2具体包括对所述当前图像信息进行处理分析,获得切片42中心在压玻片41241上的第二预设坐标系412a内的第二坐标信息。可以理解,压玻片41241的尺寸稍大于切片42,如此设置,有利于将切片42的整体均放置于压玻片41241底部。
可选地,所述步骤S2具体包括对所述当前图像信息进行处理分析,获得压玻片41241中心在载玻片41141上的第一预设坐标系411a内的第三坐标信息。可以理解,实验者在操作过程中,压玻片41241同样应该尽量靠近载玻片41141的中心设置,以使两者共同构成的玻片41稳定可靠。
可选地,还包括设于所述镜筒5底部的镜头转换器52,所述步骤S2具体包括对所述当前图像信息进行处理分析,基于所述预设坐标系的线型或字体尺寸判断当前视图的放大比例。可以理解,如此设置,有利于智能化地获取当前的放大倍数,继而得知当前使用的哪一类物镜。
可选地,还包括:步骤S3、将所述切片42中心的坐标信息与标准坐标信息作差,获得两者之间的坐标差。可以理解,如此设置,能够清晰地体现切片42当前位置的偏离程度,即可客观的反映学生此次实验操作的合规程度、以及改进方向,提高了教学效率。例如但不限于,本实施例中,标准坐标信息为坐标系的中心点(0,0),当然,于其他实施例中,标准坐标信息还可具体为其他数值,本设计不限于此。
以上所述仅为本发明的优选实施例,并非因此限制本发明的专利范围,凡是在本发明的发明构思下,利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构变换,或直接/间接运用在其他相关的技术领域均包括在本发明的专利保护范围内。
Claims (10)
1.一种显微镜切片位置的采集方法,其特征在于,包括:
步骤S1、获取电子目镜捕捉的当前图像信息;
步骤S2、对所述当前图像信息进行处理分析,获得切片在玻片上的预设坐标系内的坐标信息。
2.如权利要求1所述的显微镜切片位置的采集方法,其特征在于,所述步骤S2具体包括对所述当前图像信息进行处理分析,获得切片在载玻片上的第一预设坐标系内的第一坐标信息。
3.如权利要求1所述的显微镜切片位置的采集方法,其特征在于,所述步骤S2具体包括对所述当前图像信息进行处理分析,获得切片中心在压玻片上的第二预设坐标系内的第二坐标信息。
4.如权利要求1所述的显微镜切片位置的采集方法,其特征在于,所述步骤S2具体包括对所述当前图像信息进行处理分析,获得压玻片在载玻片上的第一预设坐标系内的第三坐标信息。
5.如权利要求1所述的显微镜切片位置的采集方法,其特征在于,所述步骤S2具体包括对所述当前图像信息进行处理分析,基于所述预设坐标系的线型或字体尺寸判断当前视图的放大比例。
6.如权利要求1至5任意一项所述的显微镜切片位置的采集方法,其特征在于,还包括:
步骤S3、将所述切片中心的坐标信息与标准坐标信息作差,获得两者之间的坐标差。
7.一种显微镜切片位置的采集系统,其特征在于,包括由下至上依次连接的镜座、镜柱、镜臂、载物台、镜筒以及电子目镜,其中,
所述载物台上设有用以固定切片的玻片,所述玻片上预设有坐标系,所述坐标系用以通过坐标的方式标识所述切片,所述电子目镜用以观察并捕捉切片置于玻片上的图像信息。
8.如权利要求7所述的显微镜切片位置的采集系统,其特征在于,所述玻片包括载玻片和压玻片,所述载玻片上设有第一坐标系,所述压玻片上设有第二坐标系。
9.如权利要求7所述的显微镜切片位置的采集系统,其特征在于,还包括设于所述镜筒底部的镜头转换器,所述图像信息中坐标系的线型或文字尺寸用以判断当前所用物镜的放大倍数。
10.如权利要求7至9任意一项所述的显微镜切片位置的采集系统,其特征在于,还包括与所述电子目镜通信连接的计算机设备,所述计算机设备用以接收所述电子目镜捕捉的图像信息,经过处理分后呈现在计算机设备的显示器。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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CN202010699354.5A CN111766694A (zh) | 2020-07-20 | 2020-07-20 | 显微镜切片位置的采集方法和系统 |
Applications Claiming Priority (1)
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Publications (1)
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CN111766694A true CN111766694A (zh) | 2020-10-13 |
Family
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Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN202010699354.5A Pending CN111766694A (zh) | 2020-07-20 | 2020-07-20 | 显微镜切片位置的采集方法和系统 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN111766694A (zh) |
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