CN111751864B - 粒子探测器指令处理方法和系统 - Google Patents

Abstract

本申请公开了一种粒子探测器指令处理方法和系统，粒子探测器包括粒子传感器、数据处理控制单元和高压配电单元，数据处理控制单元执行以下方法步骤包括：当检测到当前指令为正确指令时，判断当前指令是否为停止探测指令；若是，基于粒子传感器或者高压配电单元的电压状态，确定是否调整粒子探测器为默认状态；若不是，基于当前指令的类型确定粒子探测器执行当前指令的处理结果。本申请实施例通过先对指令进行识别分析，来克服现有技术中有序执行指令导致指令处理繁琐的问题。

Description

粒子探测器指令处理方法和系统

技术领域

本申请一般涉及空间粒子探测技术领域，具体涉及一种粒子探测器指令处理方法和系统。

背景技术

对空间中的粒子进行测量是空间探测中的常见项目，用于完成该项目的核心器件是粒子探测器，包括粒子传感器、前端放大单元、数据处理控制单元和高压配电单元，其中，粒子传感器包括静电分析器和偏转电极。

在粒子探测过程中，静电分析器和偏转电极上施加的电压可以基于电压值的变化，采用不同的扫描模式扫描空间粒子，以选择出不同能量段的空间粒子进行探测；经过筛选后的空间粒子可以在粒子传感器中激发出脉冲信号，该脉冲信号经过前端放大单元进行信号放大后发送至数据处理控制单元进行累积计数，以获取中高能粒子的相关科学数据，其中，数据处理控制单元可以控制高压配电单元向粒子传感器输出高电压。

粒子的探测过程一般通过施加于粒子探测器上的逻辑严谨控制指令完成，一套逻辑严谨的指令有多个控制指令构成，可以控制该粒子探测器中的某一单元进行与整套指令相对应的动作，一旦粒子探测器中接收到人为发送的或者由于空间通信干扰造成的不符合某一套指令逻辑的错误指令，粒子探测器可能会出错，无法继续识别新的指令，对粒子探测器造成可逆或者不可逆的损伤。

发明内容

鉴于现有技术中的上述缺陷或不足，期望提供一种可以灵活处理指令的粒子探测器指令处理方法和系统。

第一方面，本申请实施例提供一种粒子探测器指令处理方法，粒子探测器包括粒子传感器、数据处理控制单元和高压配电单元，数据处理控制单元执行以下方法步骤包括：

当检测到当前指令为正确指令时，判断当前指令是否为停止探测指令；

若是，基于粒子传感器或者高压配电单元的电压状态，确定是否调整粒子探测器为默认状态；

若不是，基于当前指令的类型确定粒子探测器执行当前指令的处理结果。

第二方面，本申请实施例提供一种粒子探测器指令处理系统，包括，依次连接的数据处理控制单元、高压配电单元和粒子传感器，

数据处理控制单元，用于接收当前指令，基于如第一方面的方法对当前指令进行处理，得到当前指令的处理结果；

当处理结果为调整高压配电单元或粒子传感器的电压值至目标电压值时，数据处理控制单元将处理结果发送至高压配电单元，并控制高压配电单元向粒子传感器输出目标电压值，或者控制调整高压配电单元的电压值至目标电压值。

本申请的实施例提供的技术方案可以包括以下有益效果：

本申请的实施例提供的粒子探测器指令处理方法和系统，当检测到正确指令后，判断正确指令是否为停止探测指令；若是，基于粒子传感器或者高压配电单元的电压状态确定是否将粒子探测器调整为默认状态；若不是，基于正确指令的类型确定正确指令的处理结果。可以对接收到的指令进行识别分析，提高当前指令处理的灵活性，防止指令处理过程中损伤粒子探测器。

附图说明

通过阅读参照以下附图所作的对非限制性实施例所作的详细描述，本申请的其它特征、目的和优点将会变得更明显：

图1为本申请的实施例提供的一种粒子探测器指令处理方法的流程图；

图2为本申请的实施例提供的一种粒子探测器指令处理系统的结构示意图；

图3为本申请的实施例提供的另一种粒子探测器指令处理系统的结构示意图；

图4为本申请的实施例提供的又一种粒子探测器指令处理系统的结构示意图。

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本申请作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释相关发明，而非对该发明的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与发明相关的部分。

需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。下面将参考附图并结合实施例来详细说明本申请。

目前，空间探测技术中使用的粒子探测器在进行粒子探测时，需要根据接收到的一套逻辑严谨的指令才可以控制该粒子探测器中的某一单元或者静电分析器执行与整套指令相对应的动作，以进行空间粒子的探测。示例的，假设要控制静电分析器采用某一扫描方式对空间粒子进行扫描时，粒子探测器中接收到的指令以及指令的顺序为：

步骤1：接收调整前端放大单元阈值指令；

步骤2：接收前端放大单元测试指令；

步骤3：等待适当时间；

步骤4：接收前端放大单元停止测试指令；

步骤5：接收粒子传感器测试指令；

步骤6：接收退出粒子传感器测试指令；

步骤7：接收高压准备指令；

步骤8：接收高压配电单元高压加载指令；

步骤9：等待适当时间；

步骤10：接收高压准备指令；

步骤11：接收粒子传感器高压加载指令；

步骤12：等待适当时间；

步骤13：接收极角扫描功能开启指令；

步骤14：接收校时指令；

步骤15：接收进入参数表n指令，粒子探测器进入与该参数表n对应的扫描模式。

需要说明的是，在本申请实施例中，静电分析器的扫描模式与参数表一一对应，该静电分析器可以包含m个参数表，该步骤15中的参数表n可以为m个参数表中的任一参数表。可选的，该粒子探测器可以为中低能粒子探测器。

在上述过程中，如果要控制静电分析器采用某一扫描方式对空间粒子进行扫描需要执行上述15个步骤的指令逻辑，才能实现控制静电分析器来对空间粒子进行扫描，在这个过程中一旦接收到错误指令，粒子探测器会报错，甚至可能损伤粒子探测器。其次，相邻两条指令之间的处理时间较长，增加了粒子探测器的对输入指令的响应时间。

本申请实施例提供一种粒子探测器指令处理方法，该方法可以应用于粒子探测器的数据处理控制单元，期望对接收到的控制指令码或者指令进行灵活处理，如图1所示，该方法包括：

步骤101、当检测到当前指令为正确指令时，判断当前指令是否为停止探测指令。

在本步骤中，当粒子探测器处于工作状态时，可以不断检测是否有指令输入，并对输入的指令进行正确性检测。例如通过指令码的格式对输入的指令进行判断，如果不符合指令码的格式，则判断输入的指令为错误指令，如果符合指令码的格式，则判断输入的指令为正确指令。

若确定当前指令为正确指令，可以进一步判断该当前指令是否为停止探测指令；停止探测指令是指停止检测输入指令所对应的指令码，并指示对输入的当前指令进行分析。

若确定检测到错误指令，则控制粒子探测器中的各单元保持当前状态，数据处理控制单元对该错误指令不做出任何响应。可选地，对当前指令进行正确性检测还可以包括检测正确指令是否为粒子探测器可识别的指令，该判断过程可以包括以下步骤：接收到当前指令，将接收到的当前指令与数据处理控制单元中预先存储的指令列表中的指令进行对比，当该当前指令与该指令列表中的任一指令相同时，确定该当前指令为正确指令。该指令列表中可以存储该数据处理控制单元可识别的至少一个指令。

步骤102、若是，基于粒子传感器或者高压配电单元的电压状态，确定是否调整粒子探测器为默认状态。

在本步骤中，在确定接收到停止探测指令后，可以基于粒子传感器或者高压配电单元的电压状态，确定是否调整粒子探测器为默认状态，该过程可以包括：获取粒子传感器或者所述高压配电单元的当前工作状态，当粒子传感器或者高压配电单元处于高电压值调整状态时，则不调整粒子探测器的状态，粒子探测器中的各单元保持当前的状态，例如。粒子传感器或者高压配电单元保持当前的高电压值，静电分析器保持当前的扫描模式；当粒子传感器或者高压配电单元处于高电压值稳定状态时，将粒子探测器调整为默认状态。其中，将粒子探测器调整为默认状态的过程可以是：对粒子探测器的扫描模式进行复位，然后缓慢调整粒子传感器的高压值为0，接着缓慢调整高压配电单元的高压值为0，以使该粒子探测器处于默认状态。

步骤103、若不是，基于当前指令的类型确定粒子探测器执行当前指令的处理结果。

在本申请实施例中，该当前指令除停止探测指令以外，还包括立即执行类指令、非立即执行类指令和参数表切换指令，其中，该立即执行类指令可以包括：粒子传感器高压准备指令、高压配电单元高压准备指令、校时指令、前端放大单元测试指令、前端放大单元停止测试指令、前端放大单元阈值调整指令和极角扫描开启指令。

该非立即执行类指令可以包括：高压配电单元高压加载指令、粒子传感器高压加载指令、粒子传感器高压测试指令和粒子传感器高压调整指令。

在本步骤中，基于当前指令调整粒子探测器的状态可以为以下几种可选的实现方式。

若当前指令为非立即执行类指令时，可以基于粒子传感器或者高压配电单元的电压状态，确定粒子探测器执行当前指令的处理结果。该过程可以包括：

获取粒子传感器或者高压配电单元的当前工作状态，当粒子传感器或者高压配电单元处于高电压值调整状态，则不调整粒子传感器或者高压配电单元的电压值；当粒子传感器或者高压配电单元不处于高压值调整状态时，基于当前指令的上一条指令确定粒子探测器执行当前指令的处理结果。

其中，该基于当前指令的上一条指令确定粒子探测器执行当前指令的处理结果的过程可以包括：当上一条指令为非高压准备指令时，进入指令正确性检测步骤，不执行当前指令，对当前指令的下一条指令进行正确性检测；当收到的上一条指令为高压准备指令时，确定控制粒子探测器执行当前指令。

可选的，该确定控制粒子探测器执行当前指令的过程可以是：

当该非立即执行类指令为粒子传感器高压测试指令时，确定控制开启前端放大单元测试信号；获取粒子传感器和高压配电单元的当前工作状态，并判断粒子传感器和高压配电单元是否处于高电压值稳定状态；若不是高电压值稳定状态，确定不调整该粒子探测器的状态，并进入指令正确性检测步骤，该步骤不需要执行粒子传感器高压测试指令，对该粒子传感器高压测试指令的下一条指令进行正确性检测；若是高电压值稳定状态，则继续判断静电分析器是否处于扫描状态。若是扫描状态，则控制该静电分析器停止扫描，控制将粒子传感器的电压值缓慢调节至该粒子传感器高压测试指令指示的电压值，以及将极角高压值调整至该粒子传感器高压测试指令指示的电压值；若不是扫描状态，控制将粒子传感器的电压值缓慢调节至该粒子传感器高压测试指令指示的电压值，以及将极角高压值调整至该粒子传感器高压测试指令指示的电压值。

该确定控制粒子探测器执行当前指令的过程也可以是：当该非立即执行类指令为粒子传感器高压调整指令时，获取粒子传感器和高压配电单元的当前工作状态；判断粒子传感器和高压配电单元是否处于高电压值稳定状态，若不是高电压值稳定状态，确定不调整该粒子探测器的状态，并进入指令正确性检测步骤，不执行粒子传感器高压调整指令，对粒子传感器高压调整指令的下一条指令进行正确性检测；若是高电压值稳定状态，继续判断静电分析器是否处于扫描状态，若是扫描状态，则确定控制该静电分析器停止扫描，确定将粒子传感器的电压值缓慢调节至该粒子传感器高压调整指令指示的电压值；若不是扫描状态，将粒子传感器的电压值缓慢调节至该粒子传感器高压调整指令指示的电压值。

该确定控制粒子探测器执行当前指令的过程还可以是：当该非立即执行类指令为粒子传感器高压加载指令时，获取粒子传感器和高压配电单元的当前工作状态，判断粒子传感器和高压配电单元是否处于高电压值稳定状态，若不是高电压值稳定状态，确定不调整该粒子探测器的状态，并进入指令正确性检测步骤，不执行粒子传感器高压加载指令，对该粒子传感器高压加载指令的下一条指令进行正确性检测；若是高电压值稳定状态，继续判断静电分析器是否处于扫描状态，若是扫描状态，则确定控制该静电分析器停止扫描，确定将粒子传感器的电压值缓慢调节至该粒子传感器高压加载指令指示的电压值；若不是扫描状态，将粒子传感器的电压值缓慢调节至该粒子传感器高压加载指令指示的电压值。

该确定控制粒子探测器执行当前指令的过程还可以是：当该非立即执行类指令为高压配电单元高压加载指令时，获取粒子传感器和高压配电单元的当前工作状态，判断粒子传感器和高压配电单元是否处于高电压值稳定状态，若不是高电压值稳定状态，确定不调整该粒子探测器的状态，并进入指令正确性检测步骤，不执行高压配电单元高压加载指令，对该高压配电单元高压加载指令的下一条指令进行正确性检测；若是高电压值稳定状态，继续判断静电分析器是否处于扫描状态，若是扫描状态，则确定控制该静电分析器停止扫描，确定将高压配电单元的电压值缓慢调节至该高压配电单元高压加载指令指示的电压值；若不是扫描状态，确定将高压配电单元的电压值缓慢调节至该高压配电单元高压加载指令指示的电压值。

在当前指令为立即执行类指令时，控制执行该当前指令；例如，当该当前指令为调整前端放大单元阈值指令，则可以获取该调整前端放大单元阈值指令指示的目标阈值，该目标阈值为前端放大单元可对信号进行放大的范围，将该前端放大单元的信号放大范围调整为目标阈值。当该当前指令为校时指令，可以对该粒子探测器的时间进行校正。进一步的，进行指令正确性检测步骤，对当前指令的下一条指令进行正确性检测。

在当前指令为参数表切换指令时，获取粒子传感器或者高压配电单元的当前工作状态，判断粒子传感器或者高压配电单元是否处于高电压值稳定状态，若是，基于参数表切换指令调整确定静电分析器的扫描模式；若不是，不调整该粒子探测器各单元的当前状态，进入指令正确性检测步骤，对当前指令的下一条指令进行正确性检测。

其中，基于参数表切换指令调整与粒子传感器连接的静电分析器的扫描模式的过程可以是：

获取参数表切换指令中的参数表编号，将该参数表编号与数据处理控制单元中预先存储的扫描模式表进行比对，确定与该参数表编号对应的扫描模式，该扫描模式表记录与粒子探测器中m个参数表的每个参数表编号一一对应的粒子探测器的扫描模式。

需要说明的是，在本申请实施例中，当粒子探测器处于工作状态，数据处理控制单元可以在任一时刻接收上述任一指令，并基于上述规则对该任一指令进行处理，指令的接收不受多个指令之间的逻辑关系限制，数据处理控制单元可以灵活的处理接收到的指令，避免指令处理过程中出现由于未能按照严格的逻辑接收指令而出错，防止损伤粒子传感器。且相邻两个指令的接收过程中并无严格的时间间隔限制，可以提高粒子探测器的对指令的响应效率。

综上所述，本申请实施例提供的粒子探测器指令处理方法，包括：当检测到当前指令为正确指令时，判断当前指令是否为停止探测指令；若是，基于当前指令粒子传感器或者当前指令高压配电单元的电压状态，确定是否调整当前指令粒子探测器为默认状态；若不是，基于当前指令的类型确定当前指令粒子探测器执行当前指令的处理结果，可以使粒子探测器对接收到的指令的处理过程摆脱指令之间的逻辑关系限制，可以对接收到的指令进行识别分析，提高当前指令处理的灵活性，防止指令处理过程中损伤粒子探测器。且接收相邻指令之间的时间间隔不受限制，提高了粒子探测器对接收到的多个指令的响应效率。

本申请实施例提供一种粒子探测器指令处理系统，如图2所示，该系统包括：依次连接的数据处理控制单元201、高压配电单元202和粒子传感器203，

数据处理控制单元201，用于检测并接收当前指令，基于如上述实施例中的方法对当前指令进行处理，得到当前指令的处理结果。

当处理结果为调整高压配电单元或粒子传感器的电压值至目标电压值时，数据处理控制单元201将处理结果发送至高压配电单元202，并控制高压配电单元202向粒子传感器203输出目标电压值，或者控制调整高压配电单元202的电压值至目标电压值。

可选的，如图3所示，该系统还包括：前端放大单元204，当处理结果为调整前端放大单元204的任一参数至目标值时，数据处理控制单元201控制调整放大单元204的任一参数至目标值。

可选的，请继续参考图3，粒子传感器203包括：静电分析器2031和偏转电极2032，当处理结果为调整粒子传感器203的电压值至目标电压值时，数据处理控制单元201将处理结果发送至高压供电单元202，并控制高压配电单元202向静电分析器2031和偏转电极2032输出目标电压值。

可选的，当处理结果为对下一条指令进行正确性检测时，数据处理控制单元201，用于对当前指令的下一条指令进行正确性检测。

可选的，如图4所示，数据处理控制单元201包括：依次连接的指令接收器2011和数据处理器2012，该指令接收器2011，用于检测并接收当前指令，将当前指令发送至数据处理器2012；数据处理器2012，用于基于如上述实施例中的方法处理该当前指令，获取当前指令的处理结果。

示例的，在系统处于工作状态时，数据处理控制单元201中的指令接收器2011，用于检测并接收当前指令，并将当前指令发送给若数据处理器2012进行处理获取当前指令的处理结果，当指令接收器2011收到的上一条指令为高压准备指令，且当前指令为非立即执行类指令，或者该指令接收器2011接收到的当前指令为粒子传感器高压准备指令或高压配电单元高压准备指令，若数据处理器2012获取的当前指令的处理结果为调整粒子传感器或者高压配电单电压值至目标电压值，数据处理器2012将该目标电压值发送至高压配电单元202，并控制高压配电单元202向粒子传感器203输出目标电压值，或者向高压配电单元202自身提供目标电压值。

或者，当该指令接收器2011接收到的当前指令为参数表切换指令时，若数据处理器2012获取的该当前指令的处理结果为调整静电分析器电压值至目标电压值，数据处理器2012将该目标电压值发送至高压配电单元202，并控制高压配电单元202向静电分析器输出目标电压值。

当指令接收器2011收到的指令为前端放大单元阈值调整指令时，若数据处理器2012获取的当前指令的处理结果为调整前端放大单元的信号放大范围至目标阈值，数据处理器2012基于该目标阈值控制调整前端放大单元的信号放大范围至目标阈值，该阈值用于表示该前端放大单元对脉冲信号的放大范围。

可选的，请继续参考图3，该前端放大单元204还与高压配电单元202连接，当指令接收器2011接收到的当前指令为前端放大单元测试指令时，若数据处理器2012对该当前指令的处理结果为确定了前端放大单元的测试电压值，数据处理器2012将该处理结果发送至高压配电单元202，并控制高压配电单元202向前端放大单元204输出测试电压值。

当指令接收器2011接收到的当前指令为前端放大单元停止测试指令时，若数据处理器2012对该当前指令的处理结果为确定将前端放大单元204的测试电压值调整为0，数据处理器2012将该处理结果发送至高压配电单元202，并控制高压配电单元202将前端放大单元204的电压值调整为0。

当数据处理器2012对该当前指令的处理结果为对下一条指令进行正确性检测时，数据处理控制单元201，用于控制指令接收器2011检测并接收当前指令的下一条指令，并将下一条指令发送至数据处理器2012，数据处理器2012可以对该下一条指令进行正确性检测，当该下一条指令为正确指令时。可以基于上述实施例中的方法对其进行处理获取该下一条指令的处理结果，控制该粒子探测器进行与该处理结果相关的调整。

综上所述，本申请实施例提供的粒子探测器指令处理系统，包括：依次连接的数据处理控制单元、高压配电单元和粒子传感器，数据处理控制单元，用于检测并接收当前指令，基于粒子探测器指令处理方法对当前指令进行处理，得到当前指令的处理结果。当处理结果为调整高压配电单元或粒子传感器的电压值至目标电压值时，数据处理控制单元将处理结果发送至高压配电单元，并控制高压配电单元向粒子传感器203输出目标电压值，或者控制调整高压配电单元的电压值至目标电压值，可以对接收到的指令进行识别分析，提高当前指令处理的灵活性，防止指令处理过程中损伤粒子探测器。且接收相邻指令之间的时间间隔不受限制，提高了粒子探测器对接收到的多个指令的响应效率。

以上描述仅为本申请的较佳实施例以及对所运用技术原理的说明。本领域技术人员应当理解，本申请中所涉及的发明范围，并不限于上述技术特征的特定组合而成的技术方案，同时也应涵盖在不脱离所述发明构思的情况下，由上述技术特征或其等同特征进行任意组合而形成的其它技术方案。例如上述特征与本申请中公开的(但不限于)具有类似功能的技术特征进行互相替换而形成的技术方案。

Claims (9)

1.一种粒子探测器指令处理方法，其特征在于，所述粒子探测器包括粒子传感器、数据处理控制单元和高压配电单元，所述数据处理控制单元执行以下方法步骤包括：

当检测到当前指令为正确指令时，判断所述当前指令是否为停止探测指令；

若是，基于所述粒子传感器或者所述高压配电单元的电压状态，确定是否调整所述粒子探测器为默认状态；

若不是，基于所述当前指令的类型确定所述粒子探测器执行所述当前指令的处理结果；

其中，通过指令码的格式对当前指令进行判断，若不符合指令码的格式，则判断当前指令为错误指令，若符合指令码的格式，则判断当前指令为正确指令；

其中，所述停止探测指令为停止检测输入指令所对应的指令码；

其中，所述基于所述粒子传感器或者所述高压配电单元的电压状态，确定是否调整所述粒子探测器为默认状态，包括：

获取所述粒子传感器或者所述高压配电单元的当前工作状态；

若所述粒子传感器或者所述高压配电单元处于高电压值调整状态，不调整所述粒子探测器的状态；

若所述粒子传感器或者所述高压配电单元处于高电压值稳定状态，将所述粒子探测器调整为默认状态。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述当前指令的类型确定所述粒子探测器执行所述当前指令的处理结果，包括：

当所述当前指令的类型为非立即执行类指令时，基于所述粒子传感器或者所述高压配电单元的电压状态，确定所述粒子探测器执行所述当前指令的处理结果。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述基于所述粒子传感器或者所述高压配电单元的电压状态，确定所述粒子探测器执行所述当前指令的处理结果，包括：

获取所述粒子传感器或者所述高压配电单元的当前工作状态；

当所述粒子传感器或者所述高压配电单元处于高电压值调整状态时，不调整所述粒子传感器或者所述高压配电单元的电压值；

当所述粒子传感器或者所述高压配电单元不处于高压值调整状态时，

基于所述当前指令的上一条指令确定所述粒子探测器执行所述当前指令的处理结果。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述基于所述当前指令的上一条指令确定所述粒子探测器执行所述当前指令的处理结果，包括：

当上一条指令为非高压准备指令时，进入指令正确性检测步骤，不执行所述当前指令，对所述当前指令的下一条指令进行正确性检测；

当上一条指令为高压准备指令时，确定控制执行所述当前指令。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述当前指令的类型确定所述粒子探测器执行所述当前指令的处理结果，包括：

当所述当前指令为立即执行类指令时，控制执行所述当前指令；

进行指令正确性检测步骤，对所述当前指令的下一条指令进行正确性检测。

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述当前指令的类型确定所述粒子探测器执行所述当前指令的处理结果，包括：

当所述当前指令为参数表切换指令时，判断所述粒子传感器或者所述高压配电单元是否处于高电压值稳定状态；

若是，基于所述参数表切换指令调整与所述粒子传感器连接的静电分析器的扫描模式；

若不是，进入指令正确性检测步骤，对所述当前指令的下一条指令进行正确性检测。

7.一种粒子探测器指令处理系统，其特征在于，所述系统包括：依次连接的数据处理控制单元、高压配电单元和粒子传感器，

所述数据处理控制单元，用于接收当前指令，基于如权利要求1-6任一所述方法对所述当前指令进行处理，得到所述当前指令的处理结果；

当所述处理结果为调整高压配电单元或粒子传感器的电压值至目标电压值时，所述数据处理控制单元将所述处理结果发送至所述高压配电单元，并控制所述高压配电单元向所述粒子传感器输出所述目标电压值，或者控制调整所述高压配电单元的电压值至所述目标电压值。

8.根据权利要求7所述的系统，其特征在于，所述系统还包括：前端放大单元，

所述前端放大单元与所述数据处理控制单元连接，当所述处理结果为调整所述前端放大单元的任一参数至目标值时，所述数据处理控制单元控制调整所述前端放大单元的所述任一参数至所述目标值。

9.根据权利要求7所述的系统，其特征在于，所述粒子传感器包括：静电分析器和偏转电极，

当所述处理结果为调整粒子传感器的电压值至目标电压值时，所述数据处理控制单元将所述处理结果发送至所述高压供电单元，并控制所述高压配电单元向所述静电分析器和所述偏转电极输出所述目标电压值。

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