CN111739458A - 驱动电路和显示驱动芯片 - Google Patents

Abstract

本发明实施例公开了一种驱动电路和显示驱动芯片，驱动电路包括第一静电放电电路和/或第二静电放电电路，第一静电放电电路和第二静电放电电路均包括电流检测电路，电流检测电路用于检测电流检测电路所在支路的电流大小，并根据电流大小控制电流检测电路所在支路是否导通，进而可以通过电流检测电路对其所在支路的电流大小的检测来控制其所在支路的通断，进而避免驱动电路内部大电流的出现，使得即使进入到驱动电路的静电过大，驱动电路仍然可以正常工作，进而提高驱动电路的抗静电能力，有利于提高驱动电路的可靠性。

Description

驱动电路和显示驱动芯片

技术领域

本发明实施例涉及显示技术领域，尤其涉及一种驱动电路和显示驱动芯片。

背景技术

随着显示技术的发展，对显示驱动芯片的可靠性要求也越来越高。

现有显示驱动芯片存在抗静电能力差的问题，使得较大的静电进入到显示驱动芯片内部后，显示驱动芯片无法正常进行驱动，导致显示面板无法正常显示的问题。

发明内容

本发明提供一种驱动电路和显示驱动芯片，以实现提高显示驱动芯片的抗静电能力，进而提高显示驱动芯片的可靠性。

第一方面，本发明实施例提供了一种驱动电路，包括：内部电路、输出端和电源端，内部电路分别与输出端、电源端电连接，内部电路用于向输出端输出数据电压；

驱动电路还包括第一静电放电电路和/或第二静电放电电路；

第一静电放电电路的第一端与电源端电连接，第一静电放电电路的第二端与接地端电连接；第一静电放电电路包括钳位电路和电流检测电路，钳位电路、电流检测电路串联；

第二静电放电电路包括第一晶体管与电流检测电路，第一晶体管、电流检测电路串联在输出端和接地端之间；

其中，电流检测电路用于检测电流检测电路所在支路的电流大小，并根据电流大小控制电流检测电路所在支路是否导通。

可选的，第一静电放电电路还包括第一二极管，第一二极管的正极与输出端电连接，第一二极管的负极与钳位电路的输入端电连接。

可选的，

第二静电放电电路还包括第一电阻，第一晶体管的栅极通过所述第一电阻与输出端电连接，

第一晶体管的第一极与输出端电连接，第一晶体管的第二极与第一晶体管所在支路中的电流检测电路的第一端电连接，第一晶体管所在支路中的电流检测电路的第二端连接接地端。

可选的，第一电阻为可调电阻，第一电阻的控制端与内部电路电连接，内部电路用于根据输出端的电压设定第一电阻的阻值。

可选的，驱动电路还包括第三静电放电电路，第三静电放电电路包括第二二极管，第二二极管的负极与输出端电连接，第二二极管的正极连接接地端。

可选的，驱动电路还包括第四静电放电电路，第四静电放电电路包括第二晶体管和电流检测电路，第二晶体管、电流检测电路串联在输出端和接地端之间；电流检测电路用于检测电流检测电路所在支路的电流大小，并根据电流大小控制电流检测电路所在支路是否导通；

可选的，第四静电放电电路还包括第二电阻，第二晶体管的栅极通过第二电阻与输出端电连接，第二晶体管的第一极与输出端电连接，第二晶体管的第二极与第二晶体管所在支路中的电流检测电路的第一端电连接，第二晶体管所在支路中的电流检测电路的第二端连接接地端。

可选的，第二电阻为可调电阻，第二电阻的控制端与内部电路电连接，内部电路用于根据输出端的电压设定第二电阻的阻值。

可选的，电流检测电路包括：开关单元和检测单元，开关单元与检测单元串联；检测单元用于检测检测单元所在支路的电流大小，并根据电流大小控制与其串联的开关单元是否导通。

可选的，检测单元包括第三电阻和比较器；

开关单元和第三电阻串联在电流检测电路的所在支路中，比较器包括同相输入端、反相输入端和控制输出端，同相输入端接入预设电压，反相输入端接入第三电阻上的检测电压，比较器的控制输出端与开关单元的控制端电连接；比较器用于根据检测电压和预设电压的大小关系控制开关单元导通或关断，并在检测电压大于或等于预设电压时，控制开关单元关断。

第二方面，本发明实施例还提供了一种显示驱动芯片，包括第一方面的驱动电路。

本实施例提供的驱动电路和显示驱动芯片，设置驱动电路包括第一静电放电电路和第二静电放电电路，第一静电放电电路和第二静电放电电路均包括电流检测电路，电流检测电路用于检测电流检测电路所在支路的电流大小，并根据电流大小控制电流检测电路所在支路是否导通。本实施例通过电流检测电路对其所在支路的电流大小的检测来控制其所在支路的通断，进而避免电源端和接地端之间发生短路，防止电源端和接地端之间大电流的出现，保证内部电路可以正常工作，使得即使进入到驱动电路的静电过大，驱动电路仍然可以正常工作，进而提高驱动电路的抗静电能力，有利于提高驱动电路的可靠性。

附图说明

图1是本发明实施例提供的一种驱动电路的结构示意图；

图2是本发明实施例提供的另一种驱动电路的结构示意图；

图3是本发明实施例提供的另一种驱动电路的结构示意图；

图4是本发明实施例提供的另一种驱动电路的结构示意图；

图5是本发明实施例提供的另一种驱动电路的结构示意图；

图6是本发明实施例提供的另一种驱动电路的结构示意图；

图7是本发明实施例提供的另一种驱动电路的结构示意图；

图8是本发明实施例提供的另一种驱动电路的结构示意图；

图9是本发明实施例提供的另一种驱动电路的结构示意图；

图10是本发明实施例提供的一种显示驱动芯片的结构示意图。

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本发明作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本发明，而非对本发明的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本发明相关的部分而非全部结构。

正如背景技术中所述，现有显示驱动芯片存在抗静电能力差的问题，使得较大的静电进入到显示驱动芯片内部后，显示驱动芯片无法正常进行驱动，导致显示面板无法正常显示的问题。经发明人研究发现，出现上述问题的原因在于，现有显示驱动芯片的外围通常设置TVS管(瞬态二极管，Transient Voltage Suppressor)来对显示驱动芯片进行静电防护。然而在静电测试时，静电通常会直接打在显示屏幕上，造成静电会通过数据线传输至显示驱动芯片的数据电压输出端，并最终传输到显示驱动芯片的内部。而显示驱动芯片内部的静电释放电路中的元件抗静电能力有限，静电过大时会使得显示驱动芯片内部静电释放电路中的元件被击穿，并且静电释放电路中元件被击穿后，会造成显示驱动芯片内部出现大电流异常，而因现有静电释放电路不包括对静电释放电路工作状态检测的模块，使得出现大电流异常后，驱动芯片无法及时截断该大电流，导致显示驱动芯片无法正常工作，受显示驱动芯片驱动的显示面板也无法正常显示。

基于上述问题，本发明实施例提供一种驱动电路，该驱动电路可用于显示驱动芯片，显示驱动芯片可用于对显示面板进行驱动。图1是本发明实施例提供的一种驱动电路的结构示意图，图2是本发明实施例提供的另一种驱动电路的结构示意图，图3是本发明实施例提供的另一种驱动电路的结构示意图，参考图1-图3，该驱动电路包括：

内部电路120和输出端Source和电源端AVDD；

内部电路120分别与输出端Source、电源端AVDD电连接，内部电路120用于向输出端Source输出数据电压；

驱动电路还包括第一静电放电电路110和/或第二静电放电电路130；

第一静电放电电路110的第一端与电源端AVDD电连接，第一静电放电电路100的第二端与接地端GND电连接；第一静电放电电路110包括钳位电路111和电流检测电路，钳位电路111、电流检测电路串联；

第二静电放电电路130包括第一晶体管T1、与电流检测电路，第一晶体管T1、电流检测电路131串联在输出端Source和接地端GND之间；

其中，电流检测电路用于检测电流检测电路所在支路的电流大小，并根据电流大小控制电流检测电路所在支路是否导通。

其中，图1示例性地示出了驱动电路包括第一静电放电电路110的情况，以下将第一静电放电电路110中的电流检测电路记为第一电流检测电路，参考图1，因第一电流检测电路112所在的支路为第一静电放电电路110，因此第一电流检测电路112用于检测第一静电放电电路110的电流大小，并根据电流大小控制第一静电放电电路110是否导通。可选的，第一电流检测电路112在检测到第一静电放电电路110中电流大于或等于第一预设电流阈值时，控制第一静电放电电路110关断，具体可以控制电源端AVDD与接地端GND之间断开连接，第一预设电流阈值是指第一静电放电电路110的预设电流阈值。

可选的，第一静电放电电路110可以用于对通过驱动电路的输出端Source进入驱动电路的正静电进行释放。内部电路120可以用于产生数据电压，驱动电路的输出端Source可以是数据电压输出端，内部电路120产生的数据电压通过输出端Source输出。电源端AVDD可以连接电源，进而保证驱动电路的电源供应。钳位电路111可以与现有技术显示驱动芯片中钳位电路111的结构和作用相同，具体的，钳位电路111第一端的电压为电源端AVDD的电源电压时，钳位电路111关断；钳位电路111第一端的电压大于第一电压时，钳位电路111导通，第一电压的具体大小可以由本领域技术人员根据实际经验设定，但第一电压满足的条件是第一电压大于电源电压。例如电源端AVDD的电压为7.6V，第一电压为9V。

现有技术中钳位电路111分别与电源端AVDD和接地端GND连接，即钳位电路111直接连接接地端GND，使得静电较大将钳位电路111击穿后，电源端AVDD和接地端GND直接连接而短路。与现有技术相比，本实施例的驱动电路中，第一静电放电电路110包括第一电流检测电路112，该第一电流检测电路112和钳位电路111串联在电源端AVDD和接地端GND之间，第一电流检测电路112可以对第一静电放电电路110中流过的电流进行实时检测，当正静电电压不击穿钳位电路111时，正静电可通过钳位电路111和第一电流检测电路112释放到接地端GND。当正静电电压过大导致钳位电路111被击穿时，第一静电放电电路110中流过的电流会很大，因此通过合理设置第一预设电流阈值，并在第一静电放电电路110中的电流大于或等于第一预设电流阈值时，控制电源端AVDD与接地端GND之间断开连接，进而避免电源端AVDD和接地端GND之间发生短路，进而避免电源端AVDD和接地端GND之间大电流的出现，使得驱动电路可以正常输出数据电压，进而正常对显示面板进行驱动，保证显示面板可以正常显示。因此，图1所示的驱动电路，在较大正静电进入到驱动电路内部时，可通过第一电流检测电路112检测第一静电放电电路110中的电流大小，并根据电流大小及时控制第一静电放电电路110的导通或关断，其中在静电较小，第一电流检测电路112检测到第一静电放电电路110中电流小于第一预设电流阈值时，控制第一静电放电电路110导通，可以及时对静电进行释放；在静电较大，第一电流检测电路112检测到第一静电放电电路110中电流大于或等于第一预设电流阈值时，控制第一静电放电电路110关断，进而保证在静电过大时，电源端AVDD和接地端GND之间断开连接，使得即使进入到驱动电路的静电过大，驱动电路仍然可以正常工作，进而提高驱动电路的抗静电能力，有利于提高驱动电路的可靠性。

可选的，第一预设电流阈值对应于钳位电路111被击穿的临界电流；因此钳位电路111被击穿时，流过第一静电放电电路110的电流会大于或等于第一预设电流阈值。

图2示例性地示出了驱动电路包括第二静电放电电路120的情况，，参考图2，该驱动电路包括内部电路120、输出端Source和电源端AVDD；

内部电路120分别与输出端Source、电源端AVDD电连接，内部电路120用于向输出端Source输出数据电压；

驱动电路还包括第二静电放电电路130；

第二静电放电电路130包括第一晶体管T1与电流检测电路，第一晶体管T1、电流检测电路131串联在输出端Source和接地端GND之间；

其中，电流检测电路用于检测电流检测电路所在支路的电流大小，并根据电流大小控制电流检测电路所在支路是否导通。

其中，以下将第二静电放电电路130中的电流检测电路记为第二电流检测电路，因第二电流检测电路131所在的支路为第二静电放电电路130，因此第二电流检测电路131用于检测第二静电放电电路130的电流大小，并根据电流大小控制第二静电放电电路130是否导通。可选的，第二电流检测电路131用于在检测到第二静电放电电路130中电流大于或等于第二预设电流阈值时，控制输出端Source与接地端GND之间断开连接。第二预设电流阈值是指第二静电放电电路130的预设电流阈值。

其中，第一晶体管T1可以是P型晶体管，也可以是N型晶体管，其中第一晶体管T1为P型晶体管时，第二静电放电电路130可用于对负静电的释放；第一晶体管T1为N型晶体管时，第二静电放电电路130可用于对正静电的释放。具体的，以第一晶体管T1为N型晶体管为例，该第二静电放电电路130中，第一晶体管T1和第二电流检测电路131串联在输出端Source和接地端GND之间，正静电通过输出端Source进入到驱动电路内部后，具体的，正静电通过第一电阻R1到达第一晶体管T1后，会使得第一晶体管T1导通，正静电通过第一晶体管T1和第二电流检测电路131释放到接地端GND，其中第二正静电放电电路130对正静电的释放路径可以参见图2中箭头标出的路径。第二电流检测电路131可以实时对第二正静电放电电路130中的电流大小进行检测。但是当正静电电压的幅值过大时，会使得第一晶体管T1被击穿，此时第二电流检测电路131检测到的电流会大于或等于第二预设电流阈值，此时第二电流检测电路131及时切断输出端Source与接地端GND之间的连接，进而避免输出端Source和接地端GND之间发生短路，进而避免输出端Source和接地端GND之间大电流的出现，使得内部电路120可以正常输出数据电压，进而正常对显示面板进行驱动，保证显示面板可以正常显示。

因此，图2所示的驱动电路，在较大正静电进入到驱动电路内部时，可通过第二电流检测电路131检测第二静电放电电路130中的电流大小，并根据电流大小及时控制第二静电放电电路130的导通或关断，其中在静电较小，第二电流检测电路131检测到第二静电放电电路130中电流小于第二预设电流阈值时，控制第二静电放电电路130导通，可以及时对静电进行释放；在静电较大，第二电流检测电路131检测到第二静电放电电路130中电流大于或等于第二预设电流阈值时，控制第一静电放电电路110关断，进而保证在静电过大时，输出端Source和接地端GND之间断开连接，使得即使进入到驱动电路的静电过大，驱动电路仍然可以正常工作，进而提高驱动电路的抗静电能力，有利于提高驱动电路的可靠性。

需要说明的是，本实施例对第二电流检测电路131和第一晶体管T1在输出端Source和接地端GND之间的设置位置不做具体限定，保证第二电流检测电路131和第一晶体管T1为串联结构即可。

继续参考图2，可选的，第一晶体管T1的第一极与输出端Source电连接，第一晶体管T1的第二极与第二电流检测电路131的第一端电连接，第二电流检测电路131的第二端连接接地端GND。

图3示例性地示出了驱动电路包括第一静电放电电路110和第二静电放电电路120的情况，，参考图3，本实施例的驱动电路，包括两条静电放电电路，即第一静电放电电路110和第二静电放电电路130，其中第一静电放电电路110与图1所示驱动电路中第一静电放电电路110的结构相同，第二静电放电电路130与图2所示驱动电路中第二静电放电电路130的结构相同。图3所示驱动电路，可以使得正静电进入驱动电路后，有两条正静电放电路径，可以更加及时地释放正静电，进而可以提高驱动电路的静电防护能力。并且，相比于钳位电路111，晶体管结构更不容易被击穿，进而在钳位电路111被击穿，第一电流检测电路112切断电源端AVDD和接地端GND的连接后，仍可通过第二正静电放电电路130对正静电进行释放，进而可以提高驱动电路对正静电的防护可靠性。即使钳位电路111和第一晶体管T1都被击穿时，本实施例的驱动电路也可分别通过第一电流检测电路112和第二电流检测电路131及时切断第一正静电放电电路110和第二正静电放电电路130，进而避免驱动电路内部出现短路，保证驱动电路仍可正常驱动显示面板工作。

继续参考图1和图3，可选的，第一静电放电电路110还包括第一二极管D1，第一二极管D1的正极与输出端Source电连接，第一二极管D1的负极与钳位电路111的输入端电连接。

具体的，正静电的电压幅值通常大于电源端AVDD的电压幅值，因此正静电通过输出端Source进入驱动电路后，第一二极管D1导通，对于图1所示驱动电路，正静电的放电路径如图1中箭头所示，即通过第一二极管D1、第一钳位电路111和第一电流检测电路112释放到接地端GND；对于图3所示驱动电路，正静电的放电路径如图3中箭头所示，即通过第一二极管D1、第一钳位电路111和第一电流检测电路112释放到接地端GND，以及通过第一晶体管T1和第二电流检测电路131释放到接地端GND。

需要说明的是，对于钳位电路111和第一电流检测电路112在电源端AVDD和接地端GND之间的具体连接位置，本发明在此不做具体限定，即可以是钳位电路111靠近电源端AVDD，第一电流检测电路112靠近连接接地端GND端；也可以是钳位电路111靠近连接接地端GND端，第一电流检测电路112靠近电源端AVDD。并且本发明其他实施例中，第一电流检测电路112包括检测单元和开关单元，检测单元和开关单元可设置在钳位电路111与电源端AVDD之间，检测单元和开关单元还可设置在钳位电路111和接地端GND之间，还可是检测单元和开关单元分别设置在钳位电路111两端的结构，本发明实施例在此不做具体限定。

本实施例提供的驱动电路，通过设置驱动电路包括第一正静电放电电路和/或第二正静电放电电路，其中第一静电放电电路的第一端与电源端电连接，第一静电放电电路的第二端与接地端电连接；第一静电放电电路包括钳位电路和电流检测电路，钳位电路、电流检测电路串联；第二静电放电电路包括第一晶体管、第一电阻、电流检测电路，第一晶体管的栅极通过第一电阻与输出端电连接，第一晶体管、电流检测电路串联在输出端和接地端之间。电流检测电路用于检测电流检测电路所在支路的电流大小，并根据电流大小控制电流检测电路所在支路是否导通，进而可以通过电流检测电路对其所在支路的电流大小的检测来控制其所在支路的通断，进而避免驱动电路内部大电流的出现，保证内部电路可以正常工作，使得即使进入到驱动电路的静电过大，驱动电路仍然可以正常工作，进而提高驱动电路的抗静电能力，有利于提高驱动电路的可靠性。

继续参考图2和图3，可选的，第二静电放电电路130还包括第一电阻R1，第一晶体管T1的栅极通过第一电阻R1与输出端电连接，第一晶体管T1的第一极与输出端Source电连接，第一晶体管T1的第二极与第一晶体管T1所在支路中的电流检测电路(即第二电路检测电路131)的第一端电连接，第一晶体管T1的第二极与第一晶体管T1所在支路中的电流检测电路的第二端连接接地端GND。

继续参考图2和图3，可选的，第一电阻R1为可调电阻，第一电阻R1的控制端与内部电路120电连接，内部电路120用于根据输出端Source的电压设定第一电阻R1的阻值。

具体的，第一电阻R1可以分得一定的电压，进而可以使得第一晶体管T1的栅极电压不会过高，进而避免第一晶体管T1栅极电压过高对第一晶体管T1的损害。因进行静电测试时，每一次静电测试时静电电压的大小不完全相同，因此本实施例中设置第一电阻R1为可调电阻，且第一电阻R1的控制端与内部电路120电连接，内部电路120可根据输出端Source输入的静电电压对第一电阻R1的阻值大小进行调整，进而保证第一电阻R1的阻值可以与静电电压相匹配，进而使得在不同的静电电压下，第一晶体管T1的栅极电位都不会过高，进而更好地保护第一晶体管T1不被损坏。

图4是本发明实施例提供的另一种驱动电路的结构示意图，参考图4，在图1所示的驱动电路的基础上，可选的，驱动电路还包括第三静电放电电路140，第三静电放电电路140包括第二二极管D2，第二二极管D2的负极与输出端Source电连接，第二二极管D2的正极连接接地端GND。

具体的，负静电的电压小于接地端GND的电压，因此负静电通过输出端Source进入驱动电路后，第二二极管D2导通，第三静电放电电路140对负静电的放电路径如图4中箭头所示，即通过第二二极管D2释放到接地端GND。相比于上述实施例中的驱动电路，本实施例的驱动电路既可以对正静电进行防护，也可以对负静电进行防护，进一步提高驱动电路的静电防护能力。

图5是本发明实施例提供的另一种驱动电路的结构示意图，参考图5，在图1所示的驱动电路的基础上，可选的，所述驱动电路还包括第四静电放电电路150，第四静电放电电路150包括第二晶体管T2和电流检测电路，第二晶体管T2、电流检测电路串联在输出端Source和接地端GND之间；电流检测电路用于检测电流检测电路所在支路的电流大小，并根据电流大小控制电流检测电路所在支路是否导通。其中，以下将第四静电放电电路150中的电流检测电路记为第三电流检测电路，因第三电流检测电路151所在的支路为第四静电放电电路150，因此第三电流检测电路151用于检测第四静电放电电路150的电流大小，并根据电流大小控制第四静电放电电路150是否导通。

其中，第二晶体管T2可以是P型晶体管，也可以是N型晶体管，其中第二晶体管T2为P型晶体管时，第四静电放电电路150可用于对负静电的释放；第一晶体管T2为N型晶体管时，第四静电放电电路150可用于对正静电的释放。具体的，以第二晶体管T2为P型晶体管为例，具体的，相比于图4所示驱动电路，图5所示驱动电路增加了一路负静电放电电路，即第四静电放电电路150。该第四静电放电电路150中，第二晶体管T2和第三电流检测电路151串联在输出端Source和接地端GND之间，负静电通过输出端Source进入到驱动电路内部后。具体的，负静电通过第二电阻R2到达第二晶体管T2后，会使得第二晶体管T2导通，负静电通过第二晶体管T2和第三电流检测电路151释放到接地端GND，第四静电放电电路150对负静电的放电路径如图4中箭头所示。第三电流检测电路151可以实时对第四静电放电电路150中的电流大小进行检测。可选的，第二晶体管T2为P型晶体管。但是当负静电电压的幅值过大时，会使得第二晶体管T2被击穿，此时第三电流检测电路151检测到的电流会大于或等于第三预设电流阈值，此时第三电流检测电路151及时切断输出端Source与接地端GND之间的连接，进而避免输出端Source和接地端GND之间发生短路，进而避免输出端Source和接地端GND之间大电流的出现，使得驱动电路可以正常输出数据电压，进而正常对显示面板进行驱动，保证显示面板可以正常显示。因图4所示驱动电路中，第三静电放电电路140与内部电路120距离很近，使得第三静电放电电路140对负静电放电不及时的话会使得负静电进入内部电路120，导致驱动电路无法正常工作。本实施例的驱动电路，在图4所示驱动电路的基础上，新增加了第四静电放电电路150，进而可以使得负静电进入驱动电路后，可以更加及时地被释放，进而可以提高驱动电路的静电防护能力。并且，因本实施例的驱动电路包括两条负静电放电路径，使得一条放电路径出现故障后，另一条放电路径可以及时将负静电释放掉，进而可以提高驱动电路对负静电的防护可靠性。并且即使第四静电放电电路150中第二晶体管T2被击穿时，本实施例的驱动电路也可第三电流检测电路151及时切断第四静电放电电路150，进而避免输出端Source和接地端GND出现短路，保证驱动电路仍可正常驱动显示面板工作。

需要说明的是，本实施例对第三电流检测电路151和第二晶体管T2在输出端Source和接地端GND之间的设置位置不做具体限定，保证第三电流检测电路151和第二晶体管T2为串联结构即可。

继续参考图5，可选的，第四静电放电电路150还包括第二电阻R2，第二晶体管T2的栅极通过第二电阻R2与输出端Source电连接，第二晶体管T2的第一极与输出端Source电连接，第二晶体管T2的第二极与第二晶体管T2所在支路中的电流检测电路(即第三电路检测电路151)的第一端电连接，第二晶体管T2所在支路中的电流检测电路的第二端连接接地端GND。

继续参考图5，可选的，第二电阻R2为可调电阻，第二电阻R2的控制端与内部电路120电连接，内部电路120用于根据输出端Source的电压设定第二电阻R2的阻值。

具体的，第二电阻R2可以分得一定的电压，进而可以使得第二晶体管T2的栅极电压不会过高，进而避免第二晶体管T2栅极电压过高对第二晶体管T2的损害。因进行静电测试时，每一次静电测试时静电电压的大小不完全相同，因此本实施例中设置第二电阻R2为可调电阻，且第二电阻R2的控制端与内部电路120电连接，内部电路120可根据输出端Source输入的静电电压对第二电阻R2的阻值大小进行调整，进而保证第二电阻R2的阻值可以与静电电压相匹配，进而使得在不同的静电电压下，第二晶体管T2的栅极电位都不会过高，进而更好地保护第二晶体管T2不被损坏。

图6是本发明实施例提供的另一种驱动电路的结构示意图，参考图6，在上述技术方案的基础上，可选的，电流检测电路包括：开关单元1121和检测单元1122，开关单元1121、检测单元1122与钳位电路111串联连接；检测单元1122用于检测检测单元1122所在支路的电流大小，并根据电流大小控制与其串联的开关单元是否导通。其中，图6示意性地示出了第一静电放电电路110中电流检测电路的结构。

参考图6，具体的，开关单元1121、检测单元1122和钳位电路111串联在电源端AVDD和接地端GND之间，其中开关单元1121、检测单元1122和钳位电路111在电源端AVDD和接地端GND的具体连接位置，本发明实施例在此不做具体限定，图5中示意性地示出了开关单元1121、钳位电路111和检测单元1122顺次连接在电源端AVDD和接地端GND之间的情况。其中，检测单元1122可以用来对第一正静电放电电路110中的电流进行检测。开关单元1121受检测单元1122的控制，检测单元1122在检测到的电流大于或等于第一预设电流阈值时，控制开关单元1121断开，进而在静电过大导致钳位电路111被击穿时，及时切断电源端AVDD和接地端GND之间的连接，保证驱动电路可以正常工作。

其中，开关单元1121可以是开关管，例如晶体管、二极管等，本实施例在此不做具体限定。其中，本发明其他实施例中，第二静电放电电路和第四静电放电电路中的电流检测电路也可包括开关单元和检测单元，在此不再一一示出。

图7是本发明实施例提供的另一种驱动电路的结构示意图，参考图7，可选的，检测单元1122包括第三电阻R3和比较器11221；开关单元1121和第三电阻R3串联在电流检测电路的所在支路中，比较器11221包括同相输入端、反相输入端和控制输出端，同相输入端接入预设电压，反相输入端接入第三电阻R3上的检测电压，比较器11221的控制输出端与开关单元1121的控制端电连接；比较器11221用于根据检测电压和预设电压的大小关系控制开关单元1121导通或关断，并在检测电压大于或等于预设电压时，控制开关单元1121关断。

继续参考图7，可选的，开关单元1121包括第三二极管D3,；

图7仍以第一静电放电电路110中的电流检测电路结构进行示出，参考图7，第三二极管D3的正极与钳位电路111的第二端电连接，第三二极管D3的负极与第三电阻R3的第一端电连接，第三电阻R3的第二端连接接地端GND；比较器11221包括同相输入端、反相输入端和控制输出端，同相输入端接入预设电压，反相输入端接入第三电阻R3上的检测电压，比较器11221的控制输出端与第三二极管D3的负极电连接；比较器11221用于在检测电压大于或等于预设电压时，向第三二极管D3的负极输出第一电压，第一电压大于电源端AVDD的输入电压。

具体的，在钳位电路111正常工作时，比较器11221反相输入端接入的第三电阻R3上的检测电压会小于预设电压，此时比较器11221的控制输出端会输出低电平电压，该低电平电压可以小于电源端AVDD输入的电源电压。其中钳位电路111的正常工作包括两种状态，一种状态是当第一正静电放电电路110中没有静电流过时，或者正静电小于电源端AVDD输入的电源电压时，钳位电路111是关断的，此时比较器11221反相输入端接入的电压为0；另一种状态是当正静电电压较大，但小于钳位电路111对应的击穿电压时，钳位电路111导通，第三二极管D3导通，比较器11221反相输入端接入的第三电阻R3上的检测电压会大于0，但仍会小于预设电压。当正静电电压非常大，导致钳位电路111被击穿时，流过第三电阻R3的电流很大，因此第三电阻R3上的电压很大，此时比较器11221反相输入端接入的检测电压会高于预设电压，此时比较器11221的控制输出端会输出高电平的第一电压，该第一电压大于电源端AVDD的输入电压，该第一电压输出至第三二极管D3的阴极，而在钳位电路111被击穿时，第三二极管D3的阳极为电源端AVDD的输入电压，因此会使得第三二极管D3关断，进而在钳位电路111被击穿后，及时切断电源端AVDD与接地端GND的连接，进而避免电源端AVDD与接地端GND之间出现大电流，保证驱动电路正常工作。

其中，本实施例中，第三电阻R3上的检测电压与流过第三电阻R3的电流相对应，即第三电阻R3上的检测电压等于第三电阻R3的阻值与流过第三电阻R3的电流的乘积。

继续参考图7，驱动电路还包括电源信号端VCC，该电源信号端VCC用以向比较器11221提供电源，其中电源信号端VCC分别通过第四电阻R4和第五电阻R5连接接地端GND，第四电阻R4和第五电阻R5的公共端连接比较器11221的同相输入端，即第四电阻R4和第五电阻R5公共端的电压为预设电压，因此可通过调节第四电阻R4和/或第五电阻R5的阻值大小来调节预设电压的大小；电源信号端VCC还与反相输入端电连接。

图8是本发明实施例提供的另一种驱动电路的结构示意图，参考图8，与图7所示驱动电路不同的是，本实施例的驱动电路中，开关单元1121包括第三晶体管T3，图8中示意性地示出了第三晶体管T3位于电源端AVDD和钳位电路111之间的结构，第三晶体管T3还可设置在钳位电路111与检测单元1122之间，或者检测单元1122与接地端GND之间，本实施例在此不做具体限定。其中，第三晶体管T3可以是P型晶体管，也可以是N型晶体管，在第三电阻R3上的检测电压小于预设电压时(对应钳位电路111正常工作时)，比较器11221可输出低电平，第三晶体管T3导通；在第三电阻R3上的检测电压大于或等于预设电压时(对应钳位电路111被击穿的情况)，比较器11221输出高电平，第三晶体管T3截止，进而在钳位电路111被击穿时，及时切断电源端AVDD与接地端GND的连接。

图9是本发明实施例提供的另一种驱动电路的结构示意图，参考图9，该驱动电路包括第一静电放电电路110、第二静电放电电路130、第三静电放电电路140和第四静电放电电路150。其中，所述第二静电放电电路130中的第一晶体管T1为N型晶体管，所述第四静电放电电路150中的第二晶体管T2为P型晶体管。本实施例的驱动电路，具有两条正静电放电路径和两条负静电放电路径，进而可以提高驱动电路对正静电和负静电的防护能力。

需要说明的是，本发明其他实施例中，还可设置更多个正静电放电电路和更多个负静电放电电路，本发明实施例在此不做具体限定。

本发明实施例还提供了一种显示驱动芯片，图10是本发明实施例提供的一种显示驱动芯片的结构示意图，参考图10，该显示驱动芯片10包括上述任意实施例的驱动电路100。

参考图10，显示驱动芯片10包括多个数据电压输出端11，多个数据电压输出端均与驱动电路的输出端Source电连接，显示驱动芯片还包括电源输入端12，该电源输入端与驱动电路的电源端AVDD，驱动芯片还包括接地端13，该接地端13作为驱动电路的接地端GND。

注意，上述仅为本发明的较佳实施例及所运用技术原理。本领域技术人员会理解，本发明不限于这里所述的特定实施例，对本领域技术人员来说能够进行各种明显的变化、重新调整和替代而不会脱离本发明的保护范围。因此，虽然通过以上实施例对本发明进行了较为详细的说明，但是本发明不仅仅限于以上实施例，在不脱离本发明构思的情况下，还可以包括更多其他等效实施例，而本发明的范围由所附的权利要求范围决定。

Claims (10)

1.一种驱动电路，其特征在于，包括：内部电路、输出端和电源端，所述内部电路分别与输出端、电源端电连接，所述内部电路用于向所述输出端输出数据电压；

所述驱动电路还包括第一静电放电电路和/或第二静电放电电路；

所述第一静电放电电路的第一端与所述电源端电连接，所述第一静电放电电路的第二端与接地端电连接；所述第一静电放电电路包括钳位电路和电流检测电路，所述钳位电路、所述电流检测电路串联；

所述第二静电放电电路包括第一晶体管与电流检测电路，所述第一晶体管、所述电流检测电路串联在所述输出端和接地端之间；

其中，所述电流检测电路用于检测所述电流检测电路所在支路的电流大小，并根据所述电流大小控制所述电流检测电路所在支路是否导通。

2.根据权利要求1所述的驱动电路，其特征在于，

所述第一静电放电电路还包括第一二极管，所述第一二极管的正极与所述输出端电连接，所述第一二极管的负极与所述钳位电路的输入端电连接。

3.根据权利要求1所述的驱动电路，其特征在于，

所述第二静电放电电路还包括第一电阻，所述第一晶体管的栅极通过所述第一电阻与所述输出端电连接，

所述第一晶体管的第一极与所述输出端电连接，所述第一晶体管的第二极与所述第一晶体管所在支路中的电流检测电路的第一端电连接，所述第一晶体管所在支路中的所述电流检测电路的第二端连接接地端。

4.根据权利要求3所述的驱动电路，其特征在于，所述第一电阻为可调电阻，所述第一电阻的控制端与所述内部电路电连接，所述内部电路用于根据所述输出端的电压设定所述第一电阻的阻值。

5.根据权利要求1所述的驱动电路，其特征在于，所述驱动电路还包括第三静电放电电路，所述第三静电放电电路包括第二二极管，所述第二二极管的负极与所述输出端电连接，所述第二二极管的正极连接接地端。

6.根据权利要求1或5所述的驱动电路，其特征在于，所述驱动电路还包括第四静电放电电路，所述第四静电放电电路包括第二晶体管和电流检测电路，所述第二晶体管、所述电流检测电路串联在所述输出端和接地端之间；所述电流检测电路用于检测所述电流检测电路所在支路的电流大小，并根据所述电流大小控制所述电流检测电路所在支路是否导通；

优选的，所述第四静电放电电路还包括第二电阻，所述第二晶体管的栅极通过所述第二电阻与所述输出端电连接，所述第二晶体管的第一极与所述输出端电连接，所述第二晶体管的第二极与所述第二晶体管所在支路中的所述电流检测电路的第一端电连接，所述第二晶体管所在支路中的所述电流检测电路的第二端连接接地端。

7.根据权利要求6所述的驱动电路，其特征在于，所述第二电阻为可调电阻，所述第二电阻的控制端与所述内部电路电连接，所述内部电路用于根据所述输出端的电压设定所述第二电阻的阻值。

8.根据权利要求1所述的驱动电路，其特征在于，所述电流检测电路包括：开关单元和检测单元，所述开关单元与所述检测单元串联；所述检测单元用于检测所述检测单元所在支路的电流大小，并根据所述电流大小控制与其串联的所述开关单元是否导通。

9.根据权利要求8所述的驱动电路，其特征在于，所述检测单元包括第三电阻和比较器；

所述开关单元和所述第三电阻串联在所述电流检测电路的所在支路中，所述比较器包括同相输入端、反相输入端和控制输出端，所述同相输入端接入预设电压，所述反相输入端接入所述第三电阻上的检测电压，所述比较器的控制输出端与所述开关单元的控制端电连接；所述比较器用于根据所述检测电压和所述预设电压的大小关系控制所述开关单元导通或关断，并在所述检测电压大于或等于预设电压时，控制所述开关单元关断。

10.一种显示驱动芯片，其特征在于，包括权利要求1-9任一项所述的驱动电路。

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