CN111715561A - 一种Micro-LED显示基板的检测装置及方法 - Google Patents
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Abstract
本发明提供了一种Micro‑LED显示基板的检测装置,包括:工作台,所述工作台上装配用于用于放置多个Micro‑LED基板的托盘;支架组件,其固定在所述工作台上;图像获取装置,其可移动的装配在所述工作台,用于获取所述Micro‑LED基板的图像;第一机器人组件,其固定在所述承载台上;用于抓取放置在所述托盘的Micro‑LED基板;控制器,所述控制器的输出端与所述第一机器人组件、支架组件电气连接,所述控制器的输入端与所述图像获取装置电气连接,所述控制器用于接收所述图像获取装置获取到的Micro‑LED基板的图像,当根据所述图像判断到所述Micro‑LED基板为不合格的基板时,发送控制信号至所述第一机器人组件,将不合格的Micro‑LED基板抓离所述托盘。基于本发明,有效提高了Micro‑LED基板的检测效率。
Description
技术领域
本发明涉及Micro-LED领域,特别涉及一种Micro-LED显示基板的检测装置及方法。
背景技术
Micro-LED技术,即LED微缩化和矩阵化技术。指的是在一个芯片上集成的高密度微小尺寸的LED阵列,如LED显示屏每一个像素可定址、单独驱动点亮,可看成是户外LED显示屏的微缩版,将像素点距离从毫米级降低至微米级。
利用Micro-LED芯片制成的显示面板,具有良好的稳定性、寿命、以及运行温度上的优势,同时也继承了LED低功耗、色彩饱和度、反应速度快、对比度强等优点,具有极大的应用前景。
在现有技术中,其检测是通过接通电源,判断其电压值或电流值是否在预设范围内,其需要对每一块板进行通电,再通过电压表和电流表去检测电压或电流是否在预设范围内,其过程繁琐,检测效率低下。
有鉴于此,提出本申请。
发明内容
本发明提供了一种Micro-LED显示基板的检测装置及方法,旨在解决Micro-LED基板检测繁琐的问题。
本发明第一实施例提供了一种Micro-LED显示基板的检测装置,其特征在于,包括:
工作台,所述工作台上装配用于用于放置多个Micro-LED基板的托盘;
支架组件,其固定在所述工作台上;
图像获取装置,其可移动的装配在所述工作台,用于获取所述Micro-LED基板的图像;
第一机器人组件,其固定在所述承载台上;用于抓取放置在所述托盘的Micro-LED基板;
控制器,所述控制器的输出端与所述第一机器人组件、支架组件电气连接,所述控制器的输入端与所述图像获取装置电气连接,所述控制器用于接收所述图像获取装置获取到的Micro-LED基板的图像,当根据所述图像判断到所述Micro-LED基板为不合格的基板时,发送控制信号至所述第一机器人组件,将不合格的Micro-LED基板抓离所述托盘。
优选地,还包括第二机器人组件,其中,所述第二机器人组件与所述控制器输出端电气连接。
优选地,所述第一机器人组件与所述第二机器人组件为六轴机器人。
优选地,所述支架组件包括:支撑架、配置在所述支撑架上的第一导轨,配置在所述第一导轨上的第一丝杆,输出轴与所述第一丝杆连接的第一电机,套设在所述第一丝杆上的第一滑块,固定在所述滑块上的第二导轨,配置在所述第二导轨上的第二丝杆,输出轴与所述第二丝杆连接的第二电机,套设在所述第二丝杆上的第二滑块,所述图像获取装置配置在所述第二滑块上。
优选地,所述图像获取装置为CCD相机。
本发明第二实施例提供了一种Micro-LED显示基板的检测方法,包括
读取图像获取装置获取到的图像信息;
根据所述图像信息判断获取第一特征点的位置信息与所述第二特征点的位置信息;
当判断到所述第一特征点的位置不在相对所述第二特征点位置的设置范围内时,发送控制信号至所述第一机器人组件,所述第一机器人组件将当前Micro-LED基板抓离所述托盘。
优选地,所述所述第一机器人组件将当前Micro-LED基板抓离所述托盘之后还包括:
发送控制信号第二机器人组件,使其抓取新的Micro-LED基板并放置在所述第一机器人组件抓离的Micro-LED基板的位置上。
优选地,所述第一特征点为N型电极的位置,所述第二特征点为P型电极的位置。
基于本发明提供的一种Micro-LED显示基板的检测装置及方法,通过图像获取装置获取放置在托盘上的Micro-LED基板的图像,控制器获取图像内第一、第二特征点的位置,当判断到所述第一特征点的位置不在相对所述第二特征点位置的设置范围内时,将其判断为不合格的Micro-LED基板,控制所述机器人将不合格的Micro-LED基板抓离所述托盘,通过视觉检测Micro-LED基板上是否为合格品,当检测到位不合格的基板时,通过机器人将其抓离托盘,大大提高了检测的效率。
附图说明
图1是本发明第一实施例提供的一种Micro-LED显示基板的检测装置结构示意图;
图2是本发明第二实施例提供的一种Micro-LED显示基板的检测方法示意图;
图3是第一特征点的位置在相对所述第二特征点位置的设置范围内时的示意图;
图4是第一特征点的位置不在相对所述第二特征点位置的设置范围内时的示意图。
具体实施方式
为使本发明实施方式的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合本发明实施方式中的附图,对本发明实施方式中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施方式是本发明一部分实施方式,而不是全部的实施方式。基于本发明中的实施方式,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施方式,都属于本发明保护的范围。因此,以下对在附图中提供的本发明的实施方式的详细描述并非旨在限制要求保护的本发明的范围,而是仅仅表示本发明的选定实施方式。基于本发明中的实施方式,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施方式,都属于本发明保护的范围。
在本发明的描述中,需要理解的是,术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本发明和简化描述,而不是指示或暗示所指的设备或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本发明的限制。
在本发明中,除非另有明确的规定和限定,术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解,例如,可以是固定连接,也可以是可拆卸连接,或成一体;可以是机械连接,也可以是电连接;可以是直接相连,也可以通过中间媒介间接相连,可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言,可以根据具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。
在本发明中,除非另有明确的规定和限定,第一特征在第二特征之“上”或之“下”可以包括第一和第二特征直接接触,也可以包括第一和第二特征不是直接接触而是通过它们之间的另外的特征接触。而且,第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”包括第一特征在第二特征正上方和斜上方,或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”包括第一特征在第二特征正下方和斜下方,或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。
以下结合附图对本发明的具体实施例做详细说明。
本发明提供了一种Micro-LED显示基板的检测装置及方法,旨在解决Micro-LED基板检测繁琐的问题。
请参阅图1,本发明第一实施例提供了一种Micro-LED显示基板的检测装置,其特征在于,包括:
工作台,所述工作台上装配用于用于放置多个Micro-LED基板的托盘;
支架组件2,其固定在所述工作台上;
图像获取装置4,其可移动的装配在所述工作台,用于获取所述Micro-LED基板的图像;
第一机器人组件1,其固定在所述承载台上;用于抓取放置在所述托盘的Micro-LED基板;
控制器3,所述控制器3的输出端与所述第一机器人组件1、支架组件2电气连接,所述控制器3的输入端与所述图像获取装置4电气连接,所述控制器3用于接收所述图像获取装置4获取到的Micro-LED基板的图像,当根据所述图像判断到所述Micro-LED基板为不合格的基板时,发送控制信号至所述第一机器人组件1,将不合格的Micro-LED基板抓离所述托盘。
需要说明的是,在现有技术中,需要将Micro-LED基板连接至电源,再通过万用表或电压、电流表来检测流经Micro-LED基板的电流或电压是否在预设范围内,其需要将每一块板都接通电源,过程繁琐,效率低下。
在本实施例中,可以在支架组件2配置一光源(可以是LED白光灯),为图像获取提供亮度,所述控制器3读取所述图像获取装置4采集到的图像,并提取所述图像的第一特征点7和第二特征点8,当判断所述第一特征点7的位置不在相对所述第二特征点8位置的设置范围内时,判断当前Micro-LED基板为不合格的基板,所述控制器3发送控制信号至所述第一机器人组件1,所述第一机器人组件1根据所述控制信号将不合格的基板抓离托盘。通过视觉及自动化抓取,大大提供了Micro-LED基板的检测效率,应当理解的是,判断Micro-LED基板为不合格基板还可以是,判断所述第二特征点8的位置是否在相对所述第一特征点7位置的设置范围内,这里不做具体限定,但这些方案均在本发明的保护范围内。
在本实施例中,还包括第二机器人组件5,其中,所述第二机器人组件5与所述控制器3输出端电气连接。
需要说明的是,所述第二机器人组件5用于第一机器人在抓取不合格基板之后,抓取一块新的基板至不合格基板先前所在的位置,控制器3会控制所述支架组件2带动所述图像获取装置4运动到相应位置,对新的基板进行检测。
在本实施例中,所述第一机器人组件1与所述第二机器人组件5可以为六轴机器人。
需要说明的是,所述第一机器人组件1与所述第二机器人组件5包括配置在机械手前端的夹取机构,控制器3可控制所述夹取机构的松紧来对托盘上的基板进行抓取,其中,所述第一机器人组件1与所述第二机器人组件5还可以是四轴机器人,或其他通过伺服电机组成的支架用于抓取基板,这里不做具体限定,但这些方案均在本发明的保护范围内。
在本实施例中,所述支架组件2包括:支撑架、配置在所述支撑架上的第一导轨,配置在所述第一导轨上的第一丝杆,输出轴与所述第一丝杆连接的第一电机,套设在所述第一丝杆上的第一滑块,固定在所述滑块上的第二导轨,配置在所述第二导轨上的第二丝杆,输出轴与所述第二丝杆连接的第二电机,套设在所述第二丝杆上的第二滑块,所述图像获取装置4配置在所述第二滑块上。
需要说明的是,所述控制器3的输出端与所述第一电机及所述第二电机电气连接,所述控制所述第一电机及所述第二电机的转动,所述第一电机转动带动所述图像获取装置4进行左右移动,所述第二电机转动带动所述图像获取装置4进行上下移动,当然,在其他实施例中,所述支架组件2还可以是在xyz轴内移动,这里不做具体限定,但这些方案均在本发明的保护范围内。
在本实施例中,所述图像获取装置4可以为CCD相机。
需要说明的,在其他实施例中,所述图像获取装置4还可以是其他类型的相机,这里不做具体限定,但这些方案均在本发明的保护范围内。
请参阅图2至图4,本发明第二实施例提供了一种Micro-LED显示基板的检测方法,包括:
S101,读取图像获取装置4获取到的图像信息;
S102,根据所述图像信息判断获取第一特征点7的位置信息与所述第二特征点8的位置信息;
S103,当判断到所述第一特征点7的位置不在相对所述第二特征点8位置的设置范围9内时,发送控制信号至所述第一机器人组件1,所述第一机器人组件1将当前Micro-LED基板抓离所述托盘。
优选地,所述所述第一机器人组件1将当前Micro-LED基板抓离所述托盘之后还包括:
发送控制信号第二机器人组件5,使其抓取新的Micro-LED基板并放置在所述第一机器人组件1抓离的Micro-LED基板的位置上。
优选地,所述第一特征点7为N型电极的位置,所述第二特征点8为P型电极的位置。
基于本发明提供的一种Micro-LED显示基板的检测装置及方法,通过图像获取装置4获取放置在托盘上的Micro-LED基板的图像,控制器3获取图像内第一、第二特征点8的位置,当判断到所述第一特征点7的位置不在相对所述第二特征点8位置的设置范围内时,将其判断为不合格的Micro-LED基板,控制所述机器人将不合格的Micro-LED基板抓离所述托盘,通过视觉检测Micro-LED基板上是否为合格品,当检测到位不合格的基板时,通过机器人将其抓离托盘,大大提高了检测的效率。
以上仅是本发明的优选实施方式,本发明的保护范围并不仅局限于上述实施例,凡属于本发明思路下的技术方案均属于本发明的保护范围。
Claims (8)
1.一种Micro-LED显示基板的检测装置,其特征在于,包括:
工作台,所述工作台上装配用于用于放置多个Micro-LED基板的托盘;
支架组件,其固定在所述工作台上;
图像获取装置,其可移动的装配在所述工作台,用于获取所述Micro-LED基板的图像;
第一机器人组件,其固定在所述承载台上;用于抓取放置在所述托盘的Micro-LED基板;
控制器,所述控制器的输出端与所述第一机器人组件、支架组件电气连接,所述控制器的输入端与所述图像获取装置电气连接,所述控制器用于接收所述图像获取装置获取到的Micro-LED基板的图像,当根据所述图像判断到所述Micro-LED基板为不合格的基板时,发送控制信号至所述第一机器人组件,将不合格的Micro-LED基板抓离所述托盘。
2.根据权利要求1所述的一种Micro-LED显示基板的检测装置,其特征在于,还包括第二机器人组件,其中,所述第二机器人组件与所述控制器输出端电气连接。
3.根据权利要求2所述的一种Micro-LED显示基板的检测装置,其特征在于,所述第一机器人组件与所述第二机器人组件为六轴机器人。
4.根据权利要求1所述的一种Micro-LED显示基板的检测装置,其特征在于,所述支架组件包括:支撑架、配置在所述支撑架上的第一导轨,配置在所述第一导轨上的第一丝杆,输出轴与所述第一丝杆连接的第一电机,套设在所述第一丝杆上的第一滑块,固定在所述滑块上的第二导轨,配置在所述第二导轨上的第二丝杆,输出轴与所述第二丝杆连接的第二电机,套设在所述第二丝杆上的第二滑块,所述图像获取装置配置在所述第二滑块上。
5.根据权利要求1所述的一种Micro-LED显示基板的检测装置,其特征在于,所述图像获取装置为CCD相机。
6.一种Micro-LED显示基板的检测方法,其特征在于,包括
读取图像获取装置获取到的图像信息;
根据所述图像信息判断获取第一特征点的位置信息与所述第二特征点的位置信息;
当判断到所述第一特征点的位置不在相对所述第二特征点位置的设置范围内时,发送控制信号至所述第一机器人组件,所述第一机器人组件将当前Micro-LED基板抓离所述托盘。
7.根据权利要求6所述的一种Micro-LED显示基板的检测方法,其特征在于,所述所述第一机器人组件将当前Micro-LED基板抓离所述托盘之后还包括:
发送控制信号第二机器人组件,使其抓取新的Micro-LED基板并放置在所述第一机器人组件抓离的Micro-LED基板的位置上。
8.根据权利要求6所述的一种Micro-LED显示基板的检测方法,其特征在于,所述第一特征点为N型电极的位置,所述第二特征点为P型电极的位置。
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