CN111693798A - 高低温试验能力验证测试盒及高低温试验能力测试方法 - Google Patents
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Abstract
本申请涉及一种高低温试验能力验证测试盒及高低温试验能力测试方法。其中，高低温试验能力验证测试盒，包括：壳体；温度敏感元件，设置于壳体内部，用于测量壳体内部的温度；发热元件，设置于壳体内部，用于通电发热，使进行通电试验时壳体内部的温度发生变化。本发明提供一个作为试验样品的高低温试验能力验证测试盒，能够通过温度敏感元件反馈其温度及阻值，配合发热元件进行通电发热，根据试验标准进行通电试验，形成一种标准测试装置，配合高低温试验能力测试方法能够准确测试出实验室的高低温试验能力是否合格，并且能够监测整个试验过程，使得实验室的高低温试验能力的测试结果更加可靠。
Description
技术领域
本申请涉及电工电子产品环境试验技术领域，特别是涉及高低温试验能力验证测试盒及高低温试验能力测试方法。
背景技术
环境试验是为了保证产品在规定的寿命期间，在预期的使用、运输或贮存的所有环境下，保持功能可靠性而进行的活动。是将产品暴露在自然的或人工的环境条件下经受其作用，以评价产品在实际使用、运输和贮存的环境条件下的性能，并分析研究环境因素的影响程度及其作用机理。
其中高低温试验是检测产品是否耐高温(低温)性能的试验，目前的高低温试验包括动作温度方案和温度传感方案两种试验方案，其中，动作温度方案是利用放入温度试验箱内的温度敏感期间与箱外的指示器连接构成温度敏感控制器，进行试验时，记录当温度敏感控制器作出提示时的温度，作为高温(低温)试验的能力验证评价值，该方案仅考虑了从试验开始至温度敏感器作出提示时的过程；温度传感方案是通过将温度传感器的探头放入温度试验箱内，与箱外的温度显示系统连接，进行试验时，当温度试验箱温度升温(或降温)至指定试验温度后稳定一端时间，记录温度显示系统上的温度显示值，作为高温(或低温)试验的能力验证评价值，该方案仅考虑样品在温度试验箱温度稳定这一时间点的温度值。
上述两种方案均没考虑完整试验过程，不能全面地评价试验过程中实验室的试验能力是否满足标准试验要求，试验过程中的任何一步没有满足标准试验要求，该实验室的试验能力都不合格，并且在此情况下获得的试验结果可能不够准确。
发明内容
基于此，有必要针对上述问题，提供一种能够验证实验室的高低温试验能力的高低温试验能力验证测试盒及高低温试验能力测试方法。
一种高低温试验能力验证测试盒，包括：
壳体；
温度敏感元件，设置于壳体内部，用于测量壳体内部的温度；
发热元件，设置于壳体内部，用于通电发热，使进行通电试验时壳体内部的温度发生变化。
在其中一个实施例中，高低温试验能力验证测试盒还包括器具耦合器及测试端子，壳体上开设有第一安装孔及第二安装孔；
器具耦合器通过第一安装孔穿设于壳体上；器具耦合器的一端与发热元件电连接，另一端用于电连接电源；
测试端子通过第二安装孔穿设于壳体上；测试端子的一端与温度敏感元件电连接，另一端用于电连接电阻测量设备，用于测量温度敏感元件的电阻值。
在其中一个实施例中，温度敏感元件为热电阻、半导体陶瓷热敏电阻或硅电阻温度传感器中的任意一种。
一种高低温试验能力测试方法，应用高低温试验能力验证测试盒作为试验样品，方法包括：
获取高低温试验能力验证测试盒在未通电状态下达到温度稳定的时间；
根据预设的标准稳定时间判断高低温试验能力验证测试盒的未通电温度稳定时间是否达标；若不达标，则判定高低温试验能力不合格。
在其中一个实施例中，高低温试验能力测试方法，对于需要进行通电试验的测试，还包括：
获取高低温试验能力验证测试盒在通电状态下达到温度稳定的时间；
根据标准稳定时间判断高低温试验能力验证测试盒的通电温度稳定时间是否达标；若不达标，则判定高低温试验能力不合格。
在其中一个实施例中，高低温试验能力测试方法还包括：
获取高低温试验能力验证测试盒的电阻值；
计算高低温试验能力验证测试盒的测量结果比分数；
比较测量结果比分数与预设的标准比分数，判断高低温试验能力是否合格。
在其中一个实施例中，高低温试验能力测试方法还包括：
获取高低温试验能力验证测试盒进行温度严酷等级试验的持续试验时间；
计算温度严酷等级试验的持续试验时间与预设的规定试验时间之差的绝对值；
若温度严酷等级试验的持续试验时间与预设的规定试验时间之差的绝对值超过预设的时间偏差范围，则判定高低温试验能力不合格。
在其中一个实施例中，高低温试验能力测试方法，对于需要进行通电试验的测试，还包括：
获取通电试验断电时间；
计算通电试验断电时间与温度严酷等级试验的持续试验时间之差的绝对值；
若通电试验断电时间与温度严酷等级试验的持续试验时间之差的绝对值超过时间偏差范围，则判定高低温试验能力不合格。
在其中一个实施例中，高低温试验能力测试方法还包括：
获取高低温试验能力验证测试盒放入温度试验箱时的温度及绝对湿度；
若高低温试验能力验证测试盒放入温度试验箱时的温度不符合预设的温度标准范围或绝对湿度不符合预设的湿度标准范围，则判定高低温试验能力不合格。
在其中一个实施例中，高低温试验能力测试方法还包括：
获取温度严酷等级试验中温度试验箱温度变化过程中每个设定时间间隔内的温度变化量、温度试验箱到达温度严酷等级的时间、温度试验箱开机时间及温度试验箱开机前的温度；
若温度严酷等级试验中温度试验箱温度变化过程中任意一次设定时间间隔内的温度变化量大于5K，或温度试验箱到达温度严酷等级的时间与温度试验箱开机时间之差的小于温度严酷等级与温度试验箱开机前的温度之差的绝对值，则判定高低温试验能力不合格；
在其中一个实施例中，高低温试验能力测试方法还包括：
获取温度严酷等级试验结束后温度试验箱温度变化过程中每个设定时间间隔内的温度变化量、打开温度试验箱取出高低温试验能力验证测试盒的时间、温度严酷等级试验结束时间及温度试验箱开箱时的温度；
若温度严酷等级试验结束后温度试验箱温度变化过程中每个设定时间间隔内的温度变化量大于5K，或打开温度试验箱取出高低温试验能力验证测试盒的时间与温度严酷等级试验结束时间之差小于温度严酷等级与温度试验箱开箱时的温度之差的绝对值，则判定高低温试验能力不合格。
在其中一个实施例中，高低温试验能力测试方法还包括：
比较温度试验箱开箱时的温度与预设的温度标准范围；
若温度试验箱开箱时的温度不属于温度标准范围，则判定高低温试验能力不合格。
上述高低温试验能力验证测试盒及高低温试验能力测试方法，提供一个作为试验样品的高低温试验能力验证测试盒，能够通过温度敏感元件反馈其温度及阻值，配合发热元件进行通电发热，根据试验标准进行通电试验，形成一种标准测试装置，配合高低温试验能力测试方法能够准确测试出实验室的高低温试验能力是否合格，并且能够监测整个试验过程，使得实验室的高低温试验能力的测试结果更加可靠。
附图说明
图1为一个实施例中，高低温试验能力验证测试盒的结构示意图；
图2为一个实施例中，高低温试验控制方法的流程示意图；
图3为另一个实施例中，高低温试验控制方法的流程示意图；
图4为一个实施例中，高低温试验能力测试方法基于试验流程的测试流程示意图；
图5为一个实施例中，高低温试验控制装置的结构示意图；
图6为一个实施例中，计算机设备的内部结构图。
具体实施方式
为了便于理解本申请，下面将参照相关附图对本申请进行更全面的描述。附图中给出了本申请的首选实施例。但是，本申请可以以许多不同的形式来实现，并不限于本文所描述的实施例。相反地，提供这些实施例的目的是使对本申请的公开内容更加透彻全面。
需要说明的是，当一个元件被认为是“连接”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件并与之结合为一体，或者可能同时存在居中元件。本文所使用的术语“一端”、“另一端”以及类似的表述只是为了说明的目的。
除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本申请的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本申请的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在于限制本申请。本文所使用的术语“及/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。
在其中一个实施例中，一种试验能力验证测试盒，如图1所示，包括：
壳体101；
温度敏感元件，设置于壳体101内部，用于测量壳体内部的温度；
发热元件，设置于壳体101内部，用于通电发热，使进行通电试验时壳体内部的温度发生变化。
将高低温试验能力验证测试盒作为试验样品进行高温试验或低温试验，通过温度敏感元件可以检测高低温试验能力验证测试盒的温度，根据试验需要进行监测，若需要采用非散热试验样品，则可以通过温度敏感元件配合发热元件实现温度调节。所谓非散热试验样品，是指在自由空气条件和试验用标准大气条件规定的大气压力下，在温度稳定后测得的表面最热点温度与环境温度之差小于等于5K的试验样品。
在其中一个实施例中，如图1所示，试验能力验证测试盒还包括器具耦合器及测试端子102，壳体101上开设有第一安装孔及第二安装孔；
器具耦合器通过第一安装孔穿设于壳体101上；
器具耦合器的一端与发热元件电连接，另一端用于电连接电源；
测试端子102通过第二安装孔穿设于壳体上；测试端子102的一端与温度敏感元件电连接，另一端用于电连接电阻测量设备，用于测量温度敏感元件的电阻值。
由于有些高低温试验还需要进行通电试验，在壳体101上安装有器具耦合器，通过器具耦合器为发热元件连接电源，可以将发热元件及温度敏感元件密封于高低温试验能力验证测试盒内，减少温度试验箱对温度敏感元件测量结果的影响。
在其中一个实施例中，发热元件通过器具耦合器与电源连接，可通电发热，温度敏感元件受壳体内部的温度变化的影响，阻值将会发生改变，当温度稳定时通过两个测试端子102实现物理参数电阻值的测量；不需要通电试验时，器具耦合器不连接电源，壳体内的发热元件不发热，但温度敏感元件热敏电阻会感应试验过程中壳体内部的温度变化，当温度稳定时通过两个测试端子102实现物理参数电阻值的测量。该物理参数的测量，实现了能力验证定量评价参数的获取。器具耦合器用于在需要通电试验时，通过器具耦合电源线电连接外部电源；测试端子102通过测试线与电阻测试仪电连接。
在一个实施例中，还可以通过测试端子102测量温度敏感元件的电压值、电流值或温度等物理参数，用以进行能力验证定量评价。
在其中一个实施例中，温度敏感元件为热电阻、半导体陶瓷热敏电阻或硅电阻温度传感器。
为了保证测试时能够更加精确的测试实验室的高低温试验能力，采用热电阻、半导体陶瓷热敏电阻或硅电阻温度传感器等利用电阻变化计算温度的温度敏感元件。
本申请提供的高低温试验能力测试方法，应用高低温试验能力验证测试盒进行测试。测试的试验样品即为高低温试验能力验证测试盒。在一个实施例中，如图2所示，提供了一种高低温试验控制方法，包括以下步骤：
步骤201，控制温度试验箱渐变升温或降温至预设的温度严酷等级。
其中，温度严酷等级是指本次试验中试验样品持续保持规定时间的一个恒定温度，该恒定温度为温度试验箱本次试验所需要的最高温度(高温试验)或最低温度(低温试验)，高温试验的温度严酷等级具体的数值可以从《电工电子产品环境试验》GB/T 2423.2的6.5.2节中选取，还可以根据《电工电子产品环境试验》GB/T 2423.2的规定选取其他温度，低温试验的温度严酷等级具体的数据可以从《电工电子产品环境试验》GB/T 2423.1的6.6.1节中选取，也可以根据《电工电子产品环境试验》GB/T 2423.1的规定选取其他温度。
在进行高低温试验时，先需要根据《电工电子产品环境试验》GB/T 2423.2(GB/T2423.1)要求的温度变化速率“不超过1K/min(不超过5min时间的平均值)”降温至温度严酷等级，即试验箱升温(降温)过程中，每5min的温度变化不应大于5K(最初5min因试验箱的固有特性可以不考虑)，或者根据《电工电子产品环境试验》GB/T 2423.1允许的试验规定温度变化速率升温至温度严酷等级。
温度试验箱可以根据具体进行的试验类型，选择对应的温度试验箱类型，例如高低温试验箱、高低温交变湿热试验箱、温度冲击试验箱或高低温湿热试验箱。对应的试验要求可参考《电工电子产品环境试验》的相关规范和流程。可以根据GB/T 2423.2-2008《电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验B：高温》(GB/T 2423.1-2008《电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验A：低温》)的具体要求选择合适的高温(低温)试验箱、高低温试验箱等。
在其中一个实施例中，电阻测量仪的可测范围达到10kΩ,分辨力为0.001kΩ。通电试验的供电电源，其电压稳定度应在供电电压的±3％范围内，频率应在供电频率的±2％范围内。在其中一个实施例中，供电电源的电压为220V，频率为50Hz。
步骤202，获取试验样品在第一设定时间间隔内的第一温度变化量。
利用试验能力验证测试盒中的温度敏感元件测量试验样品在第一设定时间间隔Δt1内的温度变化量，在一个实施例中可以通过测量温度敏感元件分别在t1时刻和t1+Δt1时刻下的电阻值，根据在第一设定时间间隔Δt1内的电阻值变化量计算出第一温度变化量。在一个实施例中也可以通过获得温度敏感元件分别在t1时刻和t1+Δt1时刻下的温度，计算出在第一设定时间间隔Δt1内的第一温度变化量。
步骤203，当第一温度变化量的绝对值达到预设的阈值，记录第一温度变化量的绝对值达到预设的阈值的时间。
在高温(低温)试验箱的指示温度到达设定的温度严酷等级时，由于温度传递的滞后性，试验样品(测试盒)内的温度是不同于试验箱指示温度的，需经过一定的时间，让试验箱内的试验样品与试验箱之间充分地交换热量，才能逐步地使整个试验样品的温度在严酷等级温度下达到平衡，样品温度达到稳定。样品温度稳定时间的长短，视试验样品的大小、形状、材质不同而会有差异。这个时间不会小于10min；另外在可测物理参数的观察中，也可以判断试验样品的温度是否稳定。例如可以根据电阻值变化稳定情况判断温度是否稳定。
步骤204，获取试验样品的电阻值，并保持温度严酷等级持续预设的持续试验时间。
由于测试盒里安装了温度敏感元件，通过温度敏感元件，使得试验样品的电阻值在样品温度稳定后才可稳定读取，若试验样品温度还没有稳定，读取的参数值容易出现偏倚。在第一温度变化量的绝对值达到预设的阈值之前，重复获取第一温度变化量，直至第一温度变化量的绝对值不大于预设的阈值，此时控制试验样品接通电源。
在一些实施例中，预设的阈值可以是《电工电子产品环境试验》GB/T 2421中规定的3℃。在一些实施例中，设定值还可以是其他相关规范规定的热稳定温度差值。
步骤205，当达到持续试验时间时，控制温度试验箱渐变降温或升温，并且根据预设的记录周期记录温度试验箱的温度，直至温度试验箱的温度达到预设的温度偏差范围内时，结束试验。
持续试验结束后，在高低温试验时，需要根据《电工电子产品环境试验》GB/T2423.2要求的温度变化速率“不超过1K/min(不超过5min时间的平均值)”降温或升温至试验标准条件的温度偏差范围内，或者根据《电工电子产品环境试验》GB/T 2423.1允许的试验规定温度变化速率升温或降温至试验标准条件的温度偏差范围内。
上述高低温试验控制方法，确保每一步达到试验规范程序的要求再进行下一步试验，并且通过试验样品的温度变化判断其温度是否稳定，使得试验结果更加准确，对于试验样品的性能评价更加真实。
在其中一个实施例中，如图3所示，若试验样品为通电试验样品，则获取试验样品的电阻值，并保持温度严酷等级持续预设的持续试验时间的步骤之前还包括：
步骤206，当第一温度变化量的绝对值达到预设的阈值，控制试验样品接通电源。
该步骤仅适用于试验样品需要通电的高温(低温)试验。
需要通电试验的试验样品经过步骤203，样品温度达到稳定后开始通电，及第一温度变化量的绝对值达到阈值则开始通电。
步骤207，获取试验样品在第二设定时间间隔内的第二温度变化量。
通电后因发热元件的发热，热平衡状态被打破，这种情况下，可能还需要一段时间达到温度稳定。
步骤208，当第二温度变化量的绝对值小于阈值时，记录第二温度变化量的绝对值达到预设的阈值的时间。
当试验样品达到温度稳定后，即第二温度变化量的绝对值小于阈值时，将试验样品在该高温(低温)条件下暴露到相关规范规定的持续试验时间。即对试验样品需要通电试验的高温(低温)试验，试验样品通电后还需要等到样品温度重新稳定后才开始试验持续时间的计时，并从步骤204开始继续执行后续步骤。
用试验能力验证测试盒中的温度敏感元件测量试验样品在第二设定时间间隔Δt2内的温度变化量，在一个实施例中可以通过测量温度敏感元件分别在t2时刻和t2+Δt2时刻下的电阻值，根据在第二设定时间间隔Δt2内的电阻值变化量计算出温度变化量。在一个实施例中也可以通过获得温度敏感元件分别在t2时刻和t2+Δt2时刻下的温度，计算出在第二设定时间间隔Δt2内的第二温度变化量。在第二温度变化量的绝对值达到阈值之前，重复获取第二温度变化量，直至第二温度变化量的绝对值不大于阈值，控制计时设备开始计时。
第二温度变化量与预设的阈值进行比较，当达到阈值时，进行持续试验。此时控制计时设备对持续试验进行计时，持续试验是指将试验样品置于温度严酷等级下持续目标时间，以验证器耐热性(耐寒性)。在一些实施例中，阈值可以是《电工电子产品环境试验》GB/T2421中规定的3℃。在一些实施例中，阈值还可以是其他相关规范规定的热稳定温度差值。
高温试验的持续试验时间可以从《电工电子产品环境试验》GB/T 2423.2的6.5.3节中选取，低温试验的持续试验时间可以从《电工电子产品环境试验》GB/T2423.1的6.6.2节中选取。
在其中一个实施例中，当达到所述持续试验时间时，高低温试验控制方法还包括：
控制所述试验样品切断电源。
在其中一个实施例中，高低温试验控制方法还包括：
计算在控制温度试验箱渐变升温或降温至预设的温度严酷等级时，温度试验箱的第一温度变化速率，并根据预设的温度变化速率标准判断是否满足试验标准条件，若不满足则生成第一温度变化提示信息。
计算出温度试验箱在调温至温度严酷等级期间每五分钟的温度变化，判断温度试验箱的第一温度变化速率是否满足试验标准条件，若试验采用的温度变化速率为《电工电子产品环境试验》GB/T 2423.2(GB/T2423.1)要求的温度变化速率“不超过1K/min(不超过5min时间的平均值)”，若根据《电工电子产品环境试验》GB/T 2423.1允许的试验规定温度变化速率，则根据具体要求进行判断。
如不满足试验标准条件，则生成第一温度变化提示信息，提示试验人员，在一个实施例中第一温度变化提示信息包括温度试验箱实际的每五分钟的温度变化量。在一个实施例中，第一温度变化提示信息还包括试验标准条件要求的温度变化速率。
若第一温度变化速率不足试验标准条件，说明实验室的线性调温能力存在问题，试验人员能够根据具体情况对实验室设备或试验环境进行调整。
在其中一个实施例中，高低温试验控制方法还包括：
计算在控制温度试验箱渐变降温或升温至试验标准条件的温度偏差范围内时，温度试验箱的第二温度变化速率，并根据预设的温度变化速率标准判断是否满足试验标准条件，若不满足则生成第二温度变化提示信息。
计算出温度试验箱在调温至试验标准条件的温度偏差范围内期间每五分钟的温度变化，判断温度试验箱的第二温度变化速率是否满足试验标准条件，若试验采用的温度变化速率为《电工电子产品环境试验》GB/T 2423.2(GB/T2423.1)要求的温度变化速率“不超过1K/min(不超过5min时间的平均值)”，若根据《电工电子产品环境试验》GB/T 2423.1允许的试验规定温度变化速率，则根据具体要求进行判断。
如不满足试验标准条件，则生成第二温度变化提示信息，提示试验人员，在一个实施例中第二温度变化提示信息包括温度试验箱实际的每五分钟的温度变化量。在一个实施例中，第二温度变化提示信息还包括试验标准条件要求的温度变化速率。
若第二温度变化速率不足试验标准条件，说明实验室的线性调温能力存在问题，试验人员能够根据具体情况对实验室设备或试验环境进行调整。
在其中一个实施例中，高低温试验控制方法还包括：
获取第一温度变化量的绝对值达到阈值的试验样品温度稳定时间，若判定试验样品温度稳定时间不满足试验标准条件，则生成第一稳定时间提示信息。
试验样品温度稳定时间是指温度试验箱调温至温度严酷等级后，试验样品温度变化至稳定状态所用的时间，试验样品温度变化至稳定状态即为第一温度变化量的绝对值达到设定值时，若试验样品温度稳定时间较长或较短，则生成第一稳定时间提示信息，提示试验人员，试验人员能够对实验设备及试验环境进行检查，改善问题，使得试验符合规范。
在其中一个实施例中，高低温试验控制方法还包括：
获取第二温度变化量的绝对值不大于设定值的通电样品温度稳定时间，若判定通电样品温度稳定时间不满足试验标准条件，则生成第二稳定时间提示信息。
通电样品温度稳定时间是试验样品通电后，试验样品温度变化至稳定状态所用的时间，通电样品温度变化至稳定状态即为第二温度变化量的绝对值达到设定值时，若试验样品温度稳定时间较长或较短，则生成第二稳定时间提示信息，提示试验人员，试验人员能够对实验设备及试验环境进行检查，改善问题，使得试验符合规范。
在其中一个实施例中，高低温试验控制方法，还包括：
获取试验开始时的实验室温度和湿度，判断实验室温度和湿度是否满足试验标准条件，若不满足则生成温湿度提示信息。
对于环境试验，实验室的温度和湿度可能会影响试验结果，因此需要严格满足要求，获取试验开始时的实验室温度和湿度，若并不满足试验标准条件，则需要生产温湿度提示信息，提示试验人员，能够及时进行调整，以免影响试验结果。
在其中一个实施例中，高低温试验控制方法，还包括：
获取试验样品接通电源的时间及断开电源的时间，获得试验样品的通电时间，若判定通电时间不满足试验标准条件，则生成通电时间提示信息。
试验样品的通电时间若不满足试验标准条件，说明试验样品或实验设备可能存在异常，甚至试验过程可能有误，需要试验人员进行检查调整。
在其中一个实施例中，高低温试验控制方法，还包括：
获取持续试验的开始时间及结束时间，计算出实际持续试验时间，若判定与持续试验时间不相同，则生成持续试验时间提示信息。
实际持续试验时间若与预设的持续试验时间不相同，说明试验设备出现异常，需要进行检查调整或者维修，生成持续试验时间提示信息提示试验人家进行检查。
上述高低温试验控制方法，还能够监测试验全过程，对实验室进行高温(低温)试验的能力进行评价，为实验室从事高温(低温)试验的持续能力提供判读依据，还能够即使识别实验室存在的问题，使得试验人员能够及时对实验室进行改进调整。
在其中一个实施例中，根据上述高低温试验控制方法所采集的试验数据，以及其他人工采集的试验数据即可对高温(低温)试验能力验证测试，如图4所示，测试方法包括：
检查把高低温试验能力验证测试盒放入温度试验箱时的温度，应在15℃～35℃范围内；对高温试验，通过绝对湿度与相对湿度、温度关系表计算绝对湿度，应不超过20g/m3。均符合要求者，该定性项判定为合格；有不符合要求者，该定性项判定为不合格。
“开机10min时的温度值-开机5min时的温度值”的绝对值不应大于5K(最初5min不考核)，如此类推，计算高温(低温)试验的试验箱渐变升温(降温)至预设的温度严酷等级时每5min的温度变化量，均不应大于5K；同时计算整个升温(降温)的总时间，“试验箱开始到达温度严酷等级的时间-试验箱开机时间”(单位：min)应大于“温度严酷等级-开机试验前试验箱温度”的绝对值(平均1min对应于最大1K的允许变化量)。均符合要求者，该定性项判定判定为合格；有不符合要求者，该定性项判定判定为不合格。
对高低温试验能力验证测试盒需要通电进行的高温(低温)试验，通过“样品通电时间-试验箱开始到达温度严酷等级的时间”(单位：min)计算高低温试验能力验证测试盒(第一次)温度稳定时间，应不小于10min；对高低温试验能力验证测试盒不需要通电进行的高温(低温)试验，通过“读取测试端子参数值的时间-试验箱开始到达温度严酷等级的时间”(单位：min)计算高低温试验能力验证测试盒温度稳定时间，应不小于10min，试验持续时间的起始计数时间应与读取测试端子参数值的时间相同。符合要求者，该定性项判定判定为合格；不符合要求者，该定性项判定判定为不合格。
对高低温试验能力验证测试盒需要通电进行的高温(低温)试验，通过“读取测试端子参数值的时间-样品通电时间”(单位：min)计算高低温试验能力验证测试盒(第二次)温度稳定时间，应不小于10min。试验持续时间的起始计数时间应与读取测试端子参数值的时间相同。符合要求者，该定性项判定为合格；不符合要求者，该定性项判定为不合格。
各实验室读取的测试端子的物理参数值通过CNAS-GL002：2018《能力验证结果的统计处理和能力评价指南》附录A算法A计算能力验证参加实验室结果的稳健平均值和稳健标准差，以稳健平均值作为该定量参数的能力验证指定值，以稳健标准差作为能力判定标准差，计算各实验室测量结果的z比分数：
z＝(x-X)/σ
式中：x-实验室的测试结果；
X-指定值；
σ-能力判定标准差。
当∣z∣≤2为合格结果；2＜∣z∣＜3为可疑结果；∣z∣≥3为不合格结果。
通过“试验持续时间结束的时间-读取测试端子参数值的时间”(单位：min)计算高低温试验能力验证测试盒的高温(低温)试验持续时间，应在规定持续时间±5min范围内。符合要求者，该定性项判定为合格；不符合要求者，该定性项判定为不合格。
对高低温试验能力验证测试盒需要通电进行的高温(低温)试验，通过“断电时间-持续时间结束时间”(单位：min)计算两者的差值，应在±5min范围内。符合要求者，该定性项判定为合格；不符合要求者，该定性项判定为不合格。
“开始降温(升温)10min时的温度值-开始降温(升温)5min时的温度值”的绝对值不应大于5K(最初5min不考核)，如此类推，计算高温(低温)试验的试验箱从温度严酷等级渐变降温(升温)至开箱温度时每5min的温度变化量，均不应大于5K；同时计算整个降温(升温)的总时间，“开箱取出高低温试验能力验证测试盒的时间-试验持续时间结束的时间”(单位：min)应大于“温度严酷等级-开箱温度”的绝对值(平均1min对应于最大1K的允许变化量)。均符合要求者，该定性项判定为合格；有不符合要求者，该定性项判定为不合格。
检查开箱取出高低温试验能力验证测试盒前试验箱的温度值，应在15℃～35℃范围内。符合要求者，该定性项判定为合格；不符合要求者，该定性项判定为不合格。
通过上述的高温(低温)试验能力验证评价方法，可以监测实验室进行高温(低温)试验的全过程，对实验室进行高温(低温)试验的能力进行全面测试，给出测试结果，为实验室从事高温(低温)试验的持续能力提供判定依据，还能够识别实验室存在的问题，使得试验人员能够及时对实验室进行改进调整。
应该理解的是，虽然图2-3的流程图中的各个步骤按照箭头的指示依次显示，但是这些步骤并不是必然按照箭头指示的顺序依次执行。除非本文中有明确的说明，这些步骤的执行并没有严格的顺序限制，这些步骤可以以其它的顺序执行。而且，图2-3中的至少一部分步骤可以包括多个子步骤或者多个阶段，这些子步骤或者阶段并不必然是在同一时刻执行完成，而是可以在不同的时刻执行，这些子步骤或者阶段的执行顺序也不必然是依次进行，而是可以与其它步骤或者其它步骤的子步骤或者阶段的至少一部分轮流或者交替地执行。
在一个实施例中，如图5所示，提供了一种高低温试验控制装置，包括：
第一温度调节模块401，用于控制温度试验箱渐变升温或降温至预设的温度严酷等级；
第一温度变化量获取模块402，用于获取试验样品在第一设定时间间隔内的第一温度变化量；
第一记录模块403，用于在所述第一温度变化量的绝对值达到预设的阈值时，记录所述第一温度变化量的绝对值达到所述预设的阈值的时间；
电阻值获取模块404，用于获取所述试验样品的电阻值，并保持所述温度严酷等级持续预设的持续试验时间；
第二温度调节模块405，用于在达到所述持续试验时间时，控制所述温度试验箱渐变降温或升温，并且根据预设的记录周期记录所述温度试验箱的温度，直至所述温度试验箱的温度达到预设的温度偏差范围内时，结束试验。
在其中一个实施例中，高低温试验控制装置还包括：
接通电源控制模块，用于当所述第一温度变化量的绝对值达到预设的阈值时，控制所述试验样品接通电源；
第二温度变化量获取模块，用于获取所述试验样品在第二设定时间间隔内的第二温度变化量；
第二记录模块，用于当所述第二温度变化量的绝对值小于所述阈值时，记录所述第二温度变化量的绝对值达到所述预设的阈值的时间。
在其中一个实施例中，高低温试验控制装置还包括：
切断电源控制模块，用于当达到所述持续试验时间时，控制所述试验样品切断电源。
关于高低温试验控制装置的具体限定可以参见上文中对于高低温试验控制方法的限定，在此不再赘述。上述高低温试验控制装置中的各个模块可全部或部分通过软件、硬件及其组合来实现。上述各模块可以硬件形式内嵌于或独立于计算机设备中的处理器中，也可以以软件形式存储于计算机设备中的存储器中，以便于处理器调用执行以上各个模块对应的操作。
在一个实施例中，提供了一种计算机设备，该计算机设备可以是终端，其内部结构图可以如图6所示。该计算机设备包括通过系统总线连接的处理器、存储器、网络接口、显示屏和输入装置。其中，该计算机设备的处理器用于提供计算和控制能力。该计算机设备的存储器包括非易失性存储介质、内存储器。该非易失性存储介质存储有操作系统和计算机程序。该内存储器为非易失性存储介质中的操作系统和计算机程序的运行提供环境。该计算机设备的网络接口用于与外部的终端通过网络连接通信。该计算机程序被处理器执行时以实现一种高低温试验控制方法。该计算机设备的显示屏可以是液晶显示屏或者电子墨水显示屏，该计算机设备的输入装置可以是显示屏上覆盖的触摸层，也可以是计算机设备外壳上设置的按键、轨迹球或触控板，还可以是外接的键盘、触控板或鼠标等。
本领域技术人员可以理解，图6中示出的结构，仅仅是与本申请方案相关的部分结构的框图，并不构成对本申请方案所应用于其上的计算机设备的限定，具体的计算机设备可以包括比图中所示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者具有不同的部件布置。
在一个实施例中，提供了一种计算机设备，包括存储器和处理器，存储器中存储有计算机程序，该处理器执行计算机程序时实现以下步骤：
控制温度试验箱渐变升温或降温至预设的温度严酷等级；
获取试验样品在第一设定时间间隔内的第一温度变化量；
当第一温度变化量的绝对值达到预设的阈值，记录第一温度变化量的绝对值达到预设的阈值的时间；
获取试验样品的电阻值，并保持温度严酷等级持续预设的持续试验时间；
当达到持续试验时间时，控制温度试验箱渐变降温或升温，并且根据预设的记录周期记录温度试验箱的温度，直至温度试验箱的温度达到预设的温度偏差范围内时，结束试验。
在一个实施例中，处理器执行计算机程序时还实现以下步骤：
当第一温度变化量的绝对值达到预设的阈值，控制试验样品接通电源；
获取试验样品在第二设定时间间隔内的第二温度变化量；
当第二温度变化量的绝对值小于阈值时，记录第二温度变化量的绝对值达到预设的阈值的时间。
在一个实施例中，处理器执行计算机程序时还实现以下步骤：
控制试验样品切断电源。
在一个实施例中，提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现以下步骤：
控制温度试验箱渐变升温或降温至预设的温度严酷等级；
获取试验样品在第一设定时间间隔内的第一温度变化量；
当第一温度变化量的绝对值达到预设的阈值，记录第一温度变化量的绝对值达到预设的阈值的时间；
获取试验样品的电阻值，并保持温度严酷等级持续预设的持续试验时间；
当达到持续试验时间时，控制温度试验箱渐变降温或升温，并且根据预设的记录周期记录温度试验箱的温度，直至温度试验箱的温度达到预设的温度偏差范围内时，结束试验。
在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：
当第一温度变化量的绝对值达到预设的阈值，控制试验样品接通电源；
获取试验样品在第二设定时间间隔内的第二温度变化量；
当第二温度变化量的绝对值小于阈值时，记录第二温度变化量的绝对值达到预设的阈值的时间。
在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：
控制试验样品切断电源。
本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，所述的计算机程序可存储于一非易失性计算机可读取存储介质中，该计算机程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，本申请所提供的各实施例中所使用的对存储器、存储、数据库或其它介质的任何引用，均可包括非易失性和/或易失性存储器。非易失性存储器可包括只读存储器(ROM)、可编程ROM(PROM)、电可编程ROM(EPROM)、电可擦除可编程ROM(EEPROM)或闪存。易失性存储器可包括随机存取存储器(RAM)或者外部高速缓冲存储器。作为说明而非局限，RAM以多种形式可得，诸如静态RAM(SRAM)、动态RAM(DRAM)、同步DRAM(SDRAM)、双数据率SDRAM(DDRSDRAM)、增强型SDRAM(ESDRAM)、同步链路(Synchlink)DRAM(SLDRAM)、存储器总线(Rambus)直接RAM(RDRAM)、直接存储器总线动态RAM(DRDRAM)、以及存储器总线动态RAM(RDRAM)等。
以上实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。
以上所述实施例仅表达了本申请的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本申请构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本申请的保护范围。因此，本申请专利的保护范围应以所附权利要求为准。
Claims (12)
1.一种高低温试验能力验证测试盒，其特征在于，包括：
壳体；
温度敏感元件，设置于所述壳体内部，用于测量所述壳体内部的温度；
发热元件，设置于所述壳体内部，用于通电发热，使进行通电试验时所述壳体内部的温度发生变化。
2.根据权利要求1所述的高低温试验能力验证测试盒，其特征在于，还包括器具耦合器及测试端子，所述壳体上开设有第一安装孔及第二安装孔；
所述器具耦合器通过所述第一安装孔穿设于所述壳体上；所述器具耦合器的一端与所述发热元件电连接，另一端用于电连接电源；
所述测试端子通过所述第二安装孔穿设于所述壳体上；所述测试端子的一端与所述温度敏感元件电连接，另一端用于电连接电阻测量设备，用于测量所述温度敏感元件的电阻值。
3.根据权利要求1所述的高低温试验能力验证测试盒，其特征在于，所述温度敏感元件为热电阻、半导体陶瓷热敏电阻或硅电阻温度传感器中的任意一种。
4.一种高低温试验能力测试方法，其特征在于，应用如权利要求1至3任一项所述的高低温试验能力验证测试盒作为试验样品，方法包括：
获取所述高低温试验能力验证测试盒在未通电状态下达到温度稳定的时间；
根据预设的标准稳定时间判断所述高低温试验能力验证测试盒的未通电温度稳定时间是否达标；若不达标，则判定高低温试验能力不合格。
5.根据权利要求4所述的高低温试验能力测试方法，其特征在于，对于需要进行通电试验的测试，还包括：
获取所述高低温试验能力验证测试盒在通电状态下达到温度稳定的时间；
根据所述标准稳定时间判断所述高低温试验能力验证测试盒的通电温度稳定时间是否达标；若不达标，则判定所述高低温试验能力不合格。
6.根据权利要求4或5所述的高低温试验能力测试方法，其特征在于，还包括：
获取所述高低温试验能力验证测试盒的电阻值；
计算所述高低温试验能力验证测试盒的测量结果比分数；
比较所述测量结果比分数与预设的标准比分数，判断所述高低温试验能力是否合格。
7.根据权利要求6所述的高低温试验能力测试方法，其特征在于，还包括：
获取所述高低温试验能力验证测试盒进行温度严酷等级试验的持续试验时间；
计算所述温度严酷等级试验的持续试验时间与预设的规定试验时间之差的绝对值；
若所述温度严酷等级试验的持续试验时间与预设的规定试验时间之差的绝对值超过预设的时间偏差范围，则判定所述高低温试验能力不合格。
8.根据权利要求7所述的高低温试验能力测试方法，其特征在于，对于需要进行通电试验的测试，还包括：
获取通电试验断电时间；
计算所述通电试验断电时间与所述温度严酷等级试验的持续试验时间之差的绝对值；
若所述通电试验断电时间与所述温度严酷等级试验的持续试验时间之差的绝对值超过所述时间偏差范围，则判定所述高低温试验能力不合格。
9.根据权利要求4所述的高低温试验能力测试方法，其特征在于，还包括：
获取所述高低温试验能力验证测试盒放入温度试验箱时的温度及绝对湿度；
若所述高低温试验能力验证测试盒放入温度试验箱时的温度不符合预设的温度标准范围或所述绝对湿度不符合预设的湿度标准范围，则判定所述高低温试验能力不合格。
10.根据权利要求4所述的高低温试验能力测试方法，其特征在于，还包括：
获取温度严酷等级试验中温度试验箱温度变化过程中每个设定时间间隔内的温度变化量、所述温度试验箱到达温度严酷等级的时间、所述温度试验箱开机时间及所述温度试验箱开机前的温度；
若温度严酷等级试验中所述温度试验箱温度变化过程中任意一次设定时间间隔内的温度变化量大于5K，或所述温度试验箱到达所述温度严酷等级的时间与所述温度试验箱开机时间之差的小于所述温度严酷等级与所述温度试验箱开机前的温度之差的绝对值，则判定所述高低温试验能力不合格。
11.根据权利要求4所述的高低温试验能力测试方法，其特征在于，还包括：
获取温度严酷等级试验结束后温度试验箱温度变化过程中每个设定时间间隔内的温度变化量、打开所述温度试验箱取出所述高低温试验能力验证测试盒的时间、所述温度严酷等级试验结束时间及所述温度试验箱开箱时的温度；
若温度严酷等级试验结束后所述温度试验箱温度变化过程中每个设定时间间隔内的温度变化量大于5K，或所述打开所述温度试验箱取出所述高低温试验能力验证测试盒的时间与所述温度严酷等级试验结束时间之差小于所述温度严酷等级与所述温度试验箱开箱时的温度之差的绝对值，则判定所述高低温试验能力不合格。
12.根据权利要求11所述的高低温试验能力测试方法，其特征在于，还包括：
比较所述温度试验箱开箱时的温度与预设的温度标准范围；
若所述温度试验箱开箱时的温度不属于所述温度标准范围，则判定所述高低温试验能力不合格。
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|---|---|
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Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN114578277A (zh) * | 2022-03-14 | 2022-06-03 | 广州五所环境仪器有限公司 | 高低温环境试验箱热负载校验方法 |
| CN114739707A (zh) * | 2022-02-24 | 2022-07-12 | 威凯检测技术有限公司 | 一种用于恒定湿热试验的能力验证方法 |
| CN117839776A (zh) * | 2024-01-05 | 2024-04-09 | 广州威德玛环境仪器有限公司 | 一种温变试验箱预警系统 |
Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2004023337A (ja) * | 2002-06-14 | 2004-01-22 | Mitsubishi Electric Corp | 温度試験装置 |
| CN101893506A (zh) * | 2010-07-26 | 2010-11-24 | 中国电子科技集团公司第十八研究所 | 一种温度试验用装置 |
| CN102156230A (zh) * | 2011-03-07 | 2011-08-17 | 上海出入境检验检疫局机电产品检测技术中心 | 一种温升测试能力验证样品 |
| CN202025050U (zh) * | 2011-03-07 | 2011-11-02 | 上海出入境检验检疫局机电产品检测技术中心 | 适用于电气检测领域温升测试能力验证样品 |
| CN102494708A (zh) * | 2011-10-27 | 2012-06-13 | 广州威凯检测技术有限公司 | 电工电子产品低温试验能力验证的方法及其装置 |
-
2020
- 2020-05-07 CN CN202010378452.9A patent/CN111693798A/zh active Pending
Patent Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2004023337A (ja) * | 2002-06-14 | 2004-01-22 | Mitsubishi Electric Corp | 温度試験装置 |
| CN101893506A (zh) * | 2010-07-26 | 2010-11-24 | 中国电子科技集团公司第十八研究所 | 一种温度试验用装置 |
| CN102156230A (zh) * | 2011-03-07 | 2011-08-17 | 上海出入境检验检疫局机电产品检测技术中心 | 一种温升测试能力验证样品 |
| CN202025050U (zh) * | 2011-03-07 | 2011-11-02 | 上海出入境检验检疫局机电产品检测技术中心 | 适用于电气检测领域温升测试能力验证样品 |
| CN102494708A (zh) * | 2011-10-27 | 2012-06-13 | 广州威凯检测技术有限公司 | 电工电子产品低温试验能力验证的方法及其装置 |
Non-Patent Citations (2)
| Title |
|---|
| 臧兵 等: "谈谈高低温工作试验中的保温时间", 《航天器环境工程》 * |
| 谢白羽 等: "电动机温升试验能力验证结果分析", 《水力采煤与管道运输》 * |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN114739707A (zh) * | 2022-02-24 | 2022-07-12 | 威凯检测技术有限公司 | 一种用于恒定湿热试验的能力验证方法 |
| CN114578277A (zh) * | 2022-03-14 | 2022-06-03 | 广州五所环境仪器有限公司 | 高低温环境试验箱热负载校验方法 |
| CN117839776A (zh) * | 2024-01-05 | 2024-04-09 | 广州威德玛环境仪器有限公司 | 一种温变试验箱预警系统 |
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