CN111693496A - 基于结构光照明的双光子光场超分辨显微成像方法 - Google Patents
基于结构光照明的双光子光场超分辨显微成像方法 Download PDFInfo
- Publication number
- CN111693496A CN111693496A CN202010410734.2A CN202010410734A CN111693496A CN 111693496 A CN111693496 A CN 111693496A CN 202010410734 A CN202010410734 A CN 202010410734A CN 111693496 A CN111693496 A CN 111693496A
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- super
- light
- photon
- resolution
- structured light
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 title claims abstract description 64
- 238000005286 illumination Methods 0.000 title claims abstract description 63
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title description 14
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 46
- 230000008569 process Effects 0.000 claims abstract description 31
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims abstract description 3
- 238000000386 microscopy Methods 0.000 claims description 31
- 229920006395 saturated elastomer Polymers 0.000 claims description 19
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 claims description 6
- 230000005284 excitation Effects 0.000 claims description 6
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 claims description 6
- 238000010869 super-resolution microscopy Methods 0.000 claims description 4
- 238000001514 detection method Methods 0.000 abstract description 5
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 21
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 7
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 4
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 2
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 2
- 230000008859 change Effects 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 230000009471 action Effects 0.000 description 1
- 230000004075 alteration Effects 0.000 description 1
- 239000012472 biological sample Substances 0.000 description 1
- 238000004020 luminiscence type Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000005457 optimization Methods 0.000 description 1
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 1
- 230000035515 penetration Effects 0.000 description 1
- 239000011148 porous material Substances 0.000 description 1
- 238000011160 research Methods 0.000 description 1
- 238000004088 simulation Methods 0.000 description 1
- 238000006467 substitution reaction Methods 0.000 description 1
- 230000002194 synthesizing effect Effects 0.000 description 1
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/62—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
- G01N21/63—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light optically excited
- G01N21/64—Fluorescence; Phosphorescence
- G01N21/645—Specially adapted constructive features of fluorimeters
- G01N21/6456—Spatial resolved fluorescence measurements; Imaging
- G01N21/6458—Fluorescence microscopy
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T3/00—Geometric image transformations in the plane of the image
- G06T3/40—Scaling of whole images or parts thereof, e.g. expanding or contracting
- G06T3/4046—Scaling of whole images or parts thereof, e.g. expanding or contracting using neural networks
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T3/00—Geometric image transformations in the plane of the image
- G06T3/40—Scaling of whole images or parts thereof, e.g. expanding or contracting
- G06T3/4053—Scaling of whole images or parts thereof, e.g. expanding or contracting based on super-resolution, i.e. the output image resolution being higher than the sensor resolution
Landscapes
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Evolutionary Computation (AREA)
- Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
- Artificial Intelligence (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Microscoopes, Condenser (AREA)
- Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
Abstract
本发明公开了一种基于结构光照明的双光子光场超分辨显微成像方法，包括以下步骤：在双光子显微成像的过程中，对像面共轭面小孔处进行0/1光强调制；通过结构光照明方式逐点扫描成像过程中照射在样本上的光斑；利用探测器采集光斑图案，并对所述光斑图案进行解卷积处理，获得超高数值孔径衍射极限的超分辨图像。该方法不受宽场探测的成像过程所限，可避免地存在高低频信息混叠、受信噪比影响大的现象，无需以成像时间和计算量为代价，即可重构出超分辨率图像。
Description
技术领域
本发明涉及生物光子计算显微成像技术领域，特别涉及一种通过结构光照明获得突破衍射极限的超分辨显微成像技术。
背景技术
相较于传统的二维显微成像技术，光场显微成像(Light Field Microscopy,LFM)通过记录更高维度的光线信息，提高了显微成像的景深，对样本实现了三维重构，故而在生物光学显微成像领域占据一席之地。然而，传统光场显微成像系统的三维重构能力是建立在横向分辨率的牺牲上的—为了获得入射光或出射光的角度信息，物镜的数值孔径被分割利用，探测器获得原始图案的分辨率也因此受限于低数值孔径所对应的衍射极限。结合傅里叶层叠显微成像关于合成光学孔径的思想，光场显微可以在点扩散函数先验的基础上，通过解卷积获得近物镜全数值孔径对应衍射极限的横向分辨率；而在该过程中，采用低数值孔径合成高数值孔径的思想也同时为高于照明光空间频率的高频调制的引入提供了便利和可能。
双光子显微(2Ps)作为多光子显微成像的一种，以其长波长激发的特点以及非线性吸收的性质，对散射具有更强的鲁棒性，因此成为实现更深层组织成像的重要方式。从分辨率的角度上来说，双光子吸收对应的光强平方在理论上能使横向分辨率得到一定程度上的提高，但实际应用中由于噪声等不可避免因素的存在，分辨率的变化往往不大明显。将双光子显微与上述光场显微的技术结合起来，可以在提高穿透深度的同时保证空间分辨率的稳定，但能得到的成像分辨率仍然基本受限于大数值孔径对应的衍射极限，无法实现分辨率的进一步突破。
结构光照明显微术(Structure Illumination Microscopy,SIM)作为突破衍射极限的重要方法，在超分辨成像领域备受科研工作者关注。通过引入不同相位、不同角度的照射光强调制，结构光照明显微系统将样本原本超衍射极限的不可分辨信息搬移至物镜的数值孔径内，经过后期求解，最高可获得两倍数值孔径所对应的横向分辨率。可以看出，为了获得超分辨率图像，传统结构光照明显微术难以避免地意味着更慢的成像速度以及更大的计算量。
饱和结构光照明显微术(Saturated Structured Illumination Microscopy,SSIM)是将结构光照明显微与双光子成像相结合的真正超分辨技术。利用双光子的光强平方关系以及荧光分子的光强饱和性质，饱和结构光照明仅仅通过引入对照射光强的适当提高，就可在频域上将更高频的样本信息搬移至物镜的数值孔径内。该方法能获得的最高分辨率在理论上仅受限于系统噪声，尽管为获得高频的信息所需付出的时间和计算量是成倍增加的。
结构光照明显微术(SIM)作为突破衍射极限的重要方法，在超分辨成像领域备受科研工作者关注。通过引入不同相位、不同角度的照射光强调制，结构光照明显微系统将样本原本超衍射极限的不可分辨信息搬移至物镜的数值孔径内，经过后期求解，最高可获得两倍数值孔径所对应的横向分辨率。可以看出，为了获得超分辨率图像，传统结构光照明显微术难以避免地意味着更慢的成像速度以及更大的计算量。
发明内容
本发明旨在至少在一定程度上解决相关技术中的技术问题之一。
为此，本发明的目的在于提出一种基于结构光照明的双光子光场超分辨显微成像方法，该方法能在成像时间和计算量未有增加的前提下，以较为简单的方式获得两倍超分辨率图像以及无穷分辨率图像。
为达到上述目的，本发明实施例提出了基于结构光照明的双光子光场超分辨显微成像方法，包括以下步骤：在双光子显微成像的过程中，对像面共轭面小孔处进行0/1光强调制；通过饱和结构光照明显微术逐点扫描成像过程中照射在样本上的光斑；利用探测器采集光斑图案，并对所述光斑图案进行解卷积处理，获得超高数值孔径衍射极限的超分辨图像。
本发明实施例的基于结构光照明的双光子光场超分辨显微成像方法，在维持双光子显微深层组织成像能力、光场显微三维信息获取能力的同时，通过引入结构光照明的方法，既节省了传统结构光照明显微所必需的成像时间和计算量，又实现了双光子光场显微系统的超分辨成像功能。结合饱和结构光照明显微成像技术，还不仅可以维持饱和结构光照明所具有的理论无限分辨率，而且大大节省传统方法中难以避免的时间和计算量的巨大开销。
另外，根据本发明上述实施例的基于结构光照明的双光子光场超分辨显微成像方法还可以具有以下附加的技术特征：
进一步地，在本发明的一个实施例中，所述饱和结构光照明显微术为结构光照明显微系统与双光子光场显微系统相结合的真正超分辨技术。
进一步地，在本发明的一个实施例中，所述饱和结构光照明显微术利用双光子的光强平方关系和荧光分子的光强饱和性质，通过提高引入对照射光强，将更高频的样本信息搬移至物镜的数值孔径内。
进一步地，在本发明的一个实施例中，采用所述饱和结构光照明显微术中的双光子光场显微系统，样本激发光传播至所述探测器不再是一个卷积过程，不存在频谱的搬移现象。
进一步地，在本发明的一个实施例中，获得所述超高数值孔径衍射极限的超分辨图像的过程中，只在光场重建时引入计算手段。
进一步地，在本发明的一个实施例中，获得所述超高数值孔径衍射极限的超分辨图像的过程包括以下步骤：
对所述光斑图案进行解卷积处理，获取低数值孔径下的双光子光场信息；
基于点扩散函数，通过所述双光子光场信息重建所述超高数值孔径衍射极限的超分辨图像。
本发明附加的方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本发明的实践了解到。
附图说明
本发明上述的和/或附加的方面和优点从下面结合附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解，其中：
图1为根据本发明一个实施例的基于结构光照明的双光子光场超分辨显微成像方法的流程图；
图2为根据本发明一个实施例的小孔透过率示意图；
图3为图2小孔作用下逐点扫描成像过程中的照明光斑形状仿真结果示意图。
具体实施方式
下面详细描述本发明的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，旨在用于解释本发明，而不能理解为对本发明的限制。
下面参照附图描述根据本发明实施例提出的基于结构光照明的双光子光场超分辨显微成像方法。
图1是本发明一个实施例的基于结构光照明的双光子光场超分辨显微成像方法的流程图。
如图1所示，该基于结构光照明的双光子光场超分辨显微成像方法包括以下步骤：
在步骤S1中，在双光子显微成像的过程中，对像面共轭面小孔处进行0/1光强调制。
具体地，如图2所示，通过在像面共轭面小孔处进行简单的0/1光强调制(不透过/透过)，即可十分简便地引入含高频信息的照明结构光。同未加入超分辨功能时的小孔(一直径为100um的圆形小孔)相比，加入超分辨功能的小孔是在原小孔上进行5×5的网格状分割。如图3所示，进而在步骤S2逐点扫描成像过程中照射在样本上的光斑也会被引入与小孔形状类似的高频成分。
在步骤S2中，通过饱和结构光照明显微术逐点扫描成像过程中照射在样本上的光斑。
具体地，饱和结构光照明显微术(SSIM)是将结构光照明显微与双光子成像相结合的真正超分辨技术。利用双光子的光强平方关系以及荧光分子的光强饱和性质，饱和结构光照明仅仅通过引入对照射光强的适当提高，就可在频域上将更高频的样本信息搬移至物镜的数值孔径内。该方法能获得的最高分辨率在理论上仅受限于系统噪声，尽管为获得高频的信息所需付出的时间和计算量是成倍增加的。
进一步地，采用饱和结构光照明显微术中的双光子光场显微系统，样本激发光传播至探测器不再是一个卷积过程，不存在频谱的搬移现象，因此不存在频谱的搬移现象，因而也不需要后期求解。
在步骤S3中，利用探测器采集光斑图案，并对光斑图案进行解卷积处理，获得超高数值孔径衍射极限的超分辨图像。
也就是说，由成像原理，结合双光子的光强平方作用，此时探测器采得图案经解卷积后即可得到超高数值孔径衍射极限的超分辨图案。
进一步地，获得超高数值孔径衍射极限的超分辨图像的过程中，只在光场重建时引入计算手段。
进一步地，在本发明的一个实施例中，获得超高数值孔径衍射极限的超分辨图像的过程包括以下步骤：
对光斑图案进行解卷积处理，获取低数值孔径下的双光子光场信息；
基于点扩散函数，通过双光子光场信息重建超高数值孔径衍射极限的超分辨图像。
下面结合现有技术对本发明实施例提出的基于结构光照明的双光子光场超分辨显微成像方法进行详细说明如下：
对传统单光子结构光照明显微术而言，探测器(通常是CCD)采得的图像是投射在样本上的结构光P与样本荧光分子分布情况S相乘后，与探测方PSF即PSFout相卷积的结果；也即探测到的频域信息是结构光频域分布与样本频域信息相卷积后，再与探测端的光学传递函数OTFout相乘的结果。也即
在该技术中采用双光子成像代替单光子成像，荧光分子发出的光将从正比于照射在其上的光强变为正比于照射在其上光强的平方，也即
由此可知，无论是单光子还是双光子激发，CCD探测到图像的频域信息都受到探测端光学传递函数OTFout的限制。普通显微成像系统中，由于OTFout的带宽是有限的，故而CCD也无法探测到超过该带宽的高频信息。结构光照明的作用本质上是将本无法探测到的样本高频信息“搬移”至OTFout的带宽内；样本高、低频信息在OTFout的带宽内发生重叠，因此需要数次成像以及计算求解的过程，将搬移至此的高频信息还原到它原本的位置。
而对于传统的逐点扫描双光子显微镜来说，探测器由CCD更换为PMT；利用振镜的扫描功能，将探测光斑聚焦在样本的不同位置，PMT则将激发的光子一并接受。成像公式为：
此时的极限分辨率受限于OTFin的带宽。要想获得更高的分辨率，必须尽可能将OTFin拓宽。双光子激发的存在使得OTFin与自身做一次卷积；但当OTFin的中心位于零频处时，卷积过程并不能使带宽有明显提高。但如果通过结构光照明的方式，将OTFin的中心移至非零频的高频位置，卷积过程就能使成像系统的带宽大大拓宽。
传统点扫显微镜尽可能充分利用物镜的数值孔径，以获得尽可能小的扫描光斑，因此未给结构光照明留下空间；而在光场显微成像的过程中，物镜的数值孔径被分割利用，每次成像的过程只利用了物镜的一部分数值孔径——为扫描光斑高频调制的引入提供了可能。如图2所示，高频调制的引入只需要对点扫过程的小孔加入光强调制即可。事实上，当小孔总大小不变时，其中的网格越密，其蕴含的高频信息越多。扫描光斑的高频信息受限于物镜全数值孔径的成像能力，也就是说，小孔高频成分的选择，应该选在其正好能透过物镜全数值孔径即可。理论上说，最终能获得的极限分辨率应该是物镜全数值孔径对应分辨率的一半。
传统宽场结构光照明技术需要后期的求解，以获得样本完整的频域信息。而在双光子光场显微系统中，由于样本激发光传播至探测器不再是一个卷积过程，因此不存在频谱的搬移现象，因而也不需要后期求解。获得超分辨率图像的整体流程中，计算的手段只在光场重建的过程中引入。总而言之，获得超分辨率图像的过程包括以下两个步骤：
(1)低数值孔径下双光子光场信息的获取。
(2)基于点扩散函数的高分辨率图像重建。
因此，根据本发明实施例提出的基于结构光照明的双光子光场超分辨显微成像方法，将饱和结构光照明显微成像引入可以进一步提高成像系统能达到的最高分辨率。饱和结构光照明技术基于双光子成像的结构光超分辨技术，利用双光子荧光分子的饱和特性，简单地将激发光地光强提升至较强地水平，使结构光照明下样本的部分荧光分子发光饱和，饱和现象可以进一步拓宽成像系统的光学传递函数。尽管在理论上可以达到无穷细的分辨率，科研实际中真正采用该技术的仪器却不多，原因之一是因为极高的光强对生物样本难免不造成损伤，原因之二则在于在普通的宽场荧光激发过程中，样本高、低频信息全部混叠在一起，把它们分开、还原到应有的位置对计算量、信噪比要求极高。而在双光子光场成像系统中，同样由于样本激发光传播至探测器不再是一个卷积过程，不存在频谱的搬移现象，因而也不需要后期求解，对信噪比的要求也大大减小了。
此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。在本发明的描述中，“多个”的含义是至少两个，例如两个，三个等，除非另有明确具体的限定。
在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本发明的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不必须针对的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。此外，在不相互矛盾的情况下，本领域的技术人员可以将本说明书中描述的不同实施例或示例以及不同实施例或示例的特征进行结合和组合。
尽管上面已经示出和描述了本发明的实施例，可以理解的是，上述实施例是示例性的，不能理解为对本发明的限制，本领域的普通技术人员在本发明的范围内可以对上述实施例进行变化、修改、替换和变型。
Claims (6)
1.一种基于结构光照明的双光子光场超分辨显微成像方法，其特征在于，包括以下步骤：
在双光子显微成像的过程中，对像面共轭面小孔处进行0/1光强调制；
通过饱和结构光照明显微术逐点扫描成像过程中照射在样本上的光斑；
利用探测器采集光斑图案，并对所述光斑图案进行解卷积处理，获得超高数值孔径衍射极限的超分辨图像。
2.根据权利要求1所述的基于结构光照明的双光子光场超分辨显微成像方法，其特征在于，所述饱和结构光照明显微术为结构光照明显微系统与双光子光场显微系统相结合的真正超分辨技术。
3.根据权利要求2所述的基于结构光照明的双光子光场超分辨显微成像方法，其特征在于，所述饱和结构光照明显微术利用双光子的光强平方关系和荧光分子的光强饱和性质，通过提高引入对照射光强，将更高频的样本信息搬移至物镜的数值孔径内。
4.根据权利要求1所述的基于结构光照明的双光子光场超分辨显微成像方法，其特征在于，采用所述饱和结构光照明显微术中的双光子光场显微系统，样本激发光传播至所述探测器不再是一个卷积过程，不存在频谱的搬移现象。
5.根据权利要求1所述的基于结构光照明的双光子光场超分辨显微成像方法，其特征在于，获得所述超高数值孔径衍射极限的超分辨图像的过程中，只在光场重建时引入计算手段。
6.根据权利要求5所述的基于结构光照明的双光子光场超分辨显微成像方法，其特征在于，获得所述超高数值孔径衍射极限的超分辨图像的过程包括以下步骤：
对所述光斑图案进行解卷积处理，获取低数值孔径下的双光子光场信息；
基于点扩散函数，通过所述双光子光场信息重建所述超高数值孔径衍射极限的超分辨图像。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202010410734.2A CN111693496A (zh) | 2020-05-15 | 2020-05-15 | 基于结构光照明的双光子光场超分辨显微成像方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202010410734.2A CN111693496A (zh) | 2020-05-15 | 2020-05-15 | 基于结构光照明的双光子光场超分辨显微成像方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN111693496A true CN111693496A (zh) | 2020-09-22 |
Family
ID=72477668
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN202010410734.2A Pending CN111693496A (zh) | 2020-05-15 | 2020-05-15 | 基于结构光照明的双光子光场超分辨显微成像方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN111693496A (zh) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN113063760A (zh) * | 2021-03-16 | 2021-07-02 | 北京大学长三角光电科学研究院 | 提高空间分辨率的异质外延生长氮化镓位错密度检测方法 |
| CN115839936A (zh) * | 2022-12-12 | 2023-03-24 | 之江实验室 | 一种基于锁相探测的结构光照明超分辨显微成像重构方法 |
| CN116337830A (zh) * | 2023-03-07 | 2023-06-27 | 清华大学 | 基于衍射极限尺寸小孔的双光子合成孔径成像方法及装置 |
Citations (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN102830102A (zh) * | 2012-08-21 | 2012-12-19 | 浙江大学 | 基于空心聚焦光斑激发的共聚焦显微方法和装置 |
| US20130188250A1 (en) * | 2012-01-24 | 2013-07-25 | Olympus Corporation | Microscope system |
| CN105160630A (zh) * | 2015-10-19 | 2015-12-16 | 中国科学技术大学 | 一种光学超分辨率图像重建方法 |
| CN106124468A (zh) * | 2016-06-20 | 2016-11-16 | 浙江大学 | 一种基于光激活及结构光照明的超分辨荧光显微方法及装置 |
| CN106290284A (zh) * | 2016-09-19 | 2017-01-04 | 浙江大学 | 结构光照明的双光子荧光显微系统与方法 |
| CN206095943U (zh) * | 2016-09-19 | 2017-04-12 | 浙江大学 | 一种结构光照明的双光子荧光显微系统 |
| CN110954523A (zh) * | 2019-12-18 | 2020-04-03 | 深圳大学 | 一种双光子扫描结构光显微成像方法及装置 |
-
2020
- 2020-05-15 CN CN202010410734.2A patent/CN111693496A/zh active Pending
Patent Citations (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US20130188250A1 (en) * | 2012-01-24 | 2013-07-25 | Olympus Corporation | Microscope system |
| CN102830102A (zh) * | 2012-08-21 | 2012-12-19 | 浙江大学 | 基于空心聚焦光斑激发的共聚焦显微方法和装置 |
| CN105160630A (zh) * | 2015-10-19 | 2015-12-16 | 中国科学技术大学 | 一种光学超分辨率图像重建方法 |
| CN106124468A (zh) * | 2016-06-20 | 2016-11-16 | 浙江大学 | 一种基于光激活及结构光照明的超分辨荧光显微方法及装置 |
| CN106290284A (zh) * | 2016-09-19 | 2017-01-04 | 浙江大学 | 结构光照明的双光子荧光显微系统与方法 |
| CN206095943U (zh) * | 2016-09-19 | 2017-04-12 | 浙江大学 | 一种结构光照明的双光子荧光显微系统 |
| CN110954523A (zh) * | 2019-12-18 | 2020-04-03 | 深圳大学 | 一种双光子扫描结构光显微成像方法及装置 |
Non-Patent Citations (2)
| Title |
|---|
| YEH, CHIA HUA: "Two-photon-based structured illumination microscopy applied for superresolution optical biopsy", 《PROCEEDINGS OF SPIE》 * |
| 毛峥乐等: "超分辨远场生物荧光成像——突破光学衍射极限", 《中国激光》 * |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN113063760A (zh) * | 2021-03-16 | 2021-07-02 | 北京大学长三角光电科学研究院 | 提高空间分辨率的异质外延生长氮化镓位错密度检测方法 |
| CN115839936A (zh) * | 2022-12-12 | 2023-03-24 | 之江实验室 | 一种基于锁相探测的结构光照明超分辨显微成像重构方法 |
| CN115839936B (zh) * | 2022-12-12 | 2023-07-18 | 之江实验室 | 一种基于锁相探测的结构光照明超分辨显微成像重构方法 |
| CN116337830A (zh) * | 2023-03-07 | 2023-06-27 | 清华大学 | 基于衍射极限尺寸小孔的双光子合成孔径成像方法及装置 |
| CN116337830B (zh) * | 2023-03-07 | 2024-03-26 | 清华大学 | 基于衍射极限尺寸小孔的双光子合成孔径成像方法及装置 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN111693496A (zh) | 基于结构光照明的双光子光场超分辨显微成像方法 | |
| JP6059190B2 (ja) | 分解能の向上した顕微鏡法および顕微鏡 | |
| CN104204898B (zh) | 光片光学系统 | |
| Bewersdorf et al. | Comparison of I5M and 4Pi‐microscopy | |
| Wang et al. | Image subtraction method for improving lateral resolution and SNR in confocal microscopy | |
| CN105466895B (zh) | 一种基于虚拟波矢调制的荧光超分辨显微装置及方法 | |
| CN112505044B (zh) | 一种宽场照明共焦显微成像系统及方法 | |
| Zeng et al. | Computational methods in super-resolution microscopy | |
| CN111024659B (zh) | 一种基于并行探测的多图像重建显微成像方法和装置 | |
| Shi et al. | Evaluating structured-illumination patterns in optimizing optical-sectioning of HiLo microscopy | |
| US10345241B2 (en) | Method of observing the emission of light from a sample by dynamic optical microscopy | |
| CN114594588A (zh) | 基于光栅投影和slm相移的结构光照明显微装置及方法 | |
| Chen et al. | Structured illumination for wide-field Raman imaging of cell membranes | |
| CN110954520B (zh) | 一种扫描结构光显微成像方法及装置 | |
| Wang et al. | Three-dimensional resolution enhancement in confocal microscopy with radially polarized illumination using subtractive imaging | |
| Zhao et al. | 3D fluorescence emission difference microscopy based on spatial light modulator | |
| CN113946044B (zh) | 基于点扩散函数工程的多焦点多光子显微成像系统及方法 | |
| CN114740008A (zh) | 一种超分辨晶圆缺陷检测系统 | |
| Shen et al. | Confocal rescan structured illumination microscopy for real-time deep tissue imaging with superresolution | |
| Zhang et al. | Simultaneous estimation of spatial frequency and phase based on an improved component cross-correlation algorithm for structured illumination microscopy | |
| CN116337830B (zh) | 基于衍射极限尺寸小孔的双光子合成孔径成像方法及装置 | |
| Escobet-Montalbán et al. | Wide-field multiphoton imaging with TRAFIX | |
| Yu et al. | Structured Illumination Microscopy | |
| Li | THE NOISE AND INFLUENCE ON FLUORESCENCE MICROSCOPY | |
| Neu et al. | Time-resolved confocal microscopy using a digital micromirror device |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| PB01 | Publication | ||
| PB01 | Publication | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| RJ01 | Rejection of invention patent application after publication | ||
| RJ01 | Rejection of invention patent application after publication |
Application publication date: 20200922 |