CN111682979A - 高速信号测试板生成方法及装置 - Google Patents
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Abstract
本公开涉及一种高速信号测试板生成方法、装置、电子设备及计算机可读介质。该方法包括:根据待测设备的设备信息确定测试板的信号线和连接器;根据待测设备中高速信号的信号参数确定测试板的设计参数和线路布局;根据待测的标准协议确定连接器的接口参数;根据所述信号线、所述连接器、所述设计参数、所述线路布局、所述接口参数生成高速信号测试板。本公开涉及的高速信号测试板生成方法、装置、电子设备及计算机可读介质,能够生成用于高速信号自环测试的测试板,同时可以满足不同信号协议以及同种信号协议中不同走线的测试需求,省却了找对接主板的繁琐过程,从而使高速信号测试更加便捷、专业、多元化。
Description
技术领域
本公开涉及计算机信息处理领域,具体而言,涉及一种高速信号测试板生成方法、装置、电子设备及计算机可读介质。
背景技术
过去的几十年是通信技术飞速发展的几十年,通信信号的类型、速率、协议等等可谓是日新月异,与时俱进,为满足人们日益增长的通信需求,在提高信号速率的同时,对于信号质量的保证也尤为重要和困难。以太网从10M、100M到1000M再到10G,也存在MII、GMII、RGMII、XGMII、XAUI等等不同的协议。为保证这些高速信号的质量,不能忽视的一个重中之重的环节就是测试。
现有技术中,在测试主板的高速通信信号时,需要将芯片接口与其他芯片甚至其他主板的接口对接后,用示波器测试其信号接收端。这种测试方案的缺点是:1、需要有对接设备才能测试到信号,测试比较受限制,也比较麻烦。2、只能测试当前通道,无法选择协议类型和通道的参数,比较单一。
因此,需要一种新的高速信号测试板生成方法、装置、电子设备及计算机可读介质。
在所述背景技术部分公开的上述信息仅用于加强对本公开的背景的理解,因此它可以包括不构成对本领域普通技术人员已知的现有技术的信息。
发明内容
有鉴于此,本公开提供一种高速信号测试板生成方法、装置、电子设备及计算机可读介质,能够生成用于高速信号自环测试的测试板,同时可以满足不同信号协议以及同种信号协议中不同走线的测试需求,省却了找对接主板的繁琐过程,从而使高速信号测试更加便捷、专业、多元化。
本公开的其他特性和优点将通过下面的详细描述变得显然,或部分地通过本公开的实践而习得。
根据本公开的一方面,提出一种高速信号测试板生成方法,该方法包括:根据待测设备的设备信息确定测试板的信号线和连接器;根据待测设备中高速信号的信号参数确定测试板的设计参数和线路布局;根据待测的标准协议确定连接器的接口参数;根据所述信号线、所述连接器、所述设计参数、所述线路布局、所述接口参数生成高速信号测试板。
在本公开的一种示例性实施例中,还包括:基于所述高速信号测试板对待测设备进行高速信号的自环测试。
在本公开的一种示例性实施例中,基于所述高速信号测试板对待测设备进行高速信号的自环测试,包括:根据测试请求确定目标标准协议和目标设备;根据所述目标标准协议和所述目标设备对多个测试板的连接器进行筛选,确定目标测试板;将所述目标设备接入所述目标测试板以进行高速信号的自环测试。
在本公开的一种示例性实施例中,根据待测设备的设备信息确定测试板的信号线和连接器,包括:根据待测设备确定测试板的信号线和信号线的数量;根据待测设备的接口确定测试板的连接器。
在本公开的一种示例性实施例中,根据待测设备确定测试板的信号线和信号线的数量,包括:根据待测设备确定测试板的信号线为差分带状线。
在本公开的一种示例性实施例中,根据待测设备中高速信号的信号参数确定测试板的设计参数和线路布局,包括:根据待测设备中高速信号的信号参数确定测试板中信号线的位置、长度;根据硬件设计标准规范确定测试板的线路布局。
在本公开的一种示例性实施例中,根据待测设备中高速信号的信号参数确定测试板中信号线的位置、长度,包括:根据待测设备中高速信号的信号参数确定测试板中信号线的位于测试板的第三层或第五层;根据待测设备中高速信号的信号参数确定测试板中信号线的长度为7英寸或17英寸或30英寸。
在本公开的一种示例性实施例中,根据待测的标准协议确定连接器的接口参数,包括:根据高速串行计算机扩展总线标准确定所述连接器的接口参数。
根据本公开的一方面,提出一种高速信号测试板生成装置,该装置包括:信号模块,用于根据待测设备的设备信息确定测试板的信号线和连接器;布局模块,用于根据待测设备中高速信号的信号参数确定测试板的设计参数和线路布局;接口模块,用于根据待测的标准协议确定连接器的接口参数;生成模块,用于根据所述信号线、所述连接器、所述设计参数、所述线路布局、所述接口参数生成高速信号测试板。
在本公开的一种示例性实施例中,还包括:测试模块,用于基于所述高速信号测试板对待测设备进行高速信号的自环测试。
根据本公开的一方面,提出一种电子设备,该电子设备包括:一个或多个处理器;存储装置,用于存储一个或多个程序;当一个或多个程序被一个或多个处理器执行,使得一个或多个处理器实现如上文的方法。
根据本公开的一方面,提出一种计算机可读介质,其上存储有计算机程序,该程序被处理器执行时实现如上文中的方法。
根据本公开的高速信号测试板生成方法、装置、电子设备及计算机可读介质,根据待测设备的设备信息确定测试板的信号线和连接器;根据待测设备中高速信号的信号参数确定测试板的设计参数和线路布局;根据待测的标准协议确定连接器的接口参数;根据所述信号线、所述连接器、所述设计参数、所述线路布局、所述接口参数生成高速信号测试板的方式,能够生成用于高速信号自环测试的测试板,同时可以满足不同信号协议以及同种信号协议中不同走线的测试需求,省却了找对接主板的繁琐过程,从而使高速信号测试更加便捷、专业、多元化。
应当理解的是,以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性的,并不能限制本公开。
附图说明
通过参照附图详细描述其示例实施例,本公开的上述和其它目标、特征及优点将变得更加显而易见。下面描述的附图仅仅是本公开的一些实施例,对于本领域的普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是根据一示例性实施例示出的一种高速信号测试板生成方法的流程图。
图2是根据另一示例性实施例示出的一种高速信号测试板生成方法的流程图。
图3是根据另一示例性实施例示出的一种高速信号测试板生成方法的示意图。
图4是根据一示例性实施例示出的一种高速信号测试板生成装置的框图。
图5是根据一示例性实施例示出的一种电子设备的框图。
图6是根据一示例性实施例示出的一种计算机可读介质的框图。
具体实施方式
现在将参考附图更全面地描述示例实施例。然而,示例实施例能够以多种形式实施,且不应被理解为限于在此阐述的实施例;相反,提供这些实施例使得本公开将全面和完整,并将示例实施例的构思全面地传达给本领域的技术人员。在图中相同的附图标记表示相同或类似的部分,因而将省略对它们的重复描述。
此外,所描述的特征、结构或特性可以以任何合适的方式结合在一个或更多实施例中。在下面的描述中,提供许多具体细节从而给出对本公开的实施例的充分理解。然而,本领域技术人员将意识到,可以实践本公开的技术方案而没有特定细节中的一个或更多,或者可以采用其它的方法、组元、装置、步骤等。在其它情况下,不详细示出或描述公知方法、装置、实现或者操作以避免模糊本公开的各方面。
附图中所示的方框图仅仅是功能实体,不一定必须与物理上独立的实体相对应。即,可以采用软件形式来实现这些功能实体,或在一个或多个硬件模块或集成电路中实现这些功能实体,或在不同网络和/或处理器装置和/或微控制器装置中实现这些功能实体。
附图中所示的流程图仅是示例性说明,不是必须包括所有的内容和操作/步骤,也不是必须按所描述的顺序执行。例如,有的操作/步骤还可以分解,而有的操作/步骤可以合并或部分合并,因此实际执行的顺序有可能根据实际情况改变。
应理解,虽然本文中可能使用术语第一、第二、第三等来描述各种组件,但这些组件不应受这些术语限制。这些术语乃用以区分一组件与另一组件。因此,下文论述的第一组件可称为第二组件而不偏离本公开概念的教示。如本文中所使用,术语“及/或”包括相关联的列出项目中的任一个及一或多者的所有组合。
本领域技术人员可以理解,附图只是示例实施例的示意图,附图中的模块或流程并不一定是实施本公开所必须的,因此不能用于限制本公开的保护范围。
本公开涉及的技术缩略语解释如下:
差分信号:差分传输是一种信号传输的技术,区别于传统的一根信号线一根地线的做法,差分传输在这两根线上都传输信号,这两个信号的振幅相同,相位相反。在这两根线上的传输的信号就是差分信号。信号接收端比较这两个电压的差值来判断发送端发送的逻辑状态。在电路板上,差分走线必须是等长、等宽、紧密靠近、且在同一层面的两根线。
眼图:在实际系统中,完全消除码间串扰是十分困难的,而码间串扰对误码率的影响目前尚无法找到数学上便于处理的统计规律,还不能进行准确计算。为了衡量基带传输系统的性能优劣,在实验室中,通常用示波器观察接收信号波形的方法来分析码间串扰和噪声对系统性能的影响,这就是眼图分析法。眼图是一系列数字信号在示波器上累积而显示的图形,它包含了丰富的信息,从眼图上可以观察出码间串扰和噪声的影响,体现了数字信号整体的特征,从而估计系统优劣程度,因而眼图分析是高速互连系统信号完整性分析的核心。
PCIE:PCI-Express(peripheral component interconnect express)是一种高速串行计算机扩展总线标准,是由英特尔在2001年提出的,旨在替代旧的PCI,PCI-X和AGP总线标准;PCIe属于高速串行点对点双通道高带宽传输,所连接的设备分配独享通道带宽,不共享总线带宽,主要支持主动电源管理,错误报告,端对端的可靠性传输,热插拔以及服务质量(QOS)等功能。
图1是根据一示例性实施例示出的一种高速信号测试板生成方法的流程图。高速信号测试板生成方法10至少包括步骤S102至S108。
如图1所示,在S102中,根据待测设备的设备信息确定测试板的信号线和连接器。可包括:根据待测设备确定测试板的信号线和信号线的数量;根据待测设备的接口确定测试板的连接器。其中,所述信号线为差分带状线。
在S104中,根据待测设备中高速信号的信号参数确定测试板的设计参数和线路布局。可例如,根据待测设备中高速信号的信号参数确定测试板中信号线的位置、长度;根据硬件设计标准规范确定测试板的线路布局。
在一个实施例中,根据待测设备中高速信号的信号参数确定测试板中信号线的位置、长度,包括:根据待测设备中高速信号的信号参数确定测试板中信号线的位于测试板的第三层或第五层;根据待测设备中高速信号的信号参数确定测试板中信号线的长度为7英寸或17英寸或30英寸。
在S106中,根据待测的标准协议确定连接器的接口参数。可例如,根据高速串行计算机扩展总线标准确定所述连接器的接口参数。
其中,高速串行计算机扩展总线标准可包括PCIE2.0,PCIE3.0或其他行业标准。更进一步的,连接器可为MOLEX IMPACT连接器。
在S108中,根据所述信号线、所述连接器、所述设计参数、所述线路布局、所述接口参数生成高速信号测试板。
根据本公开的高速信号测试板生成方法,根据待测设备的设备信息确定测试板的信号线和连接器;根据待测设备中高速信号的信号参数确定测试板的设计参数和线路布局;根据待测的标准协议确定连接器的接口参数;根据所述信号线、所述连接器、所述设计参数、所述线路布局、所述接口参数生成高速信号测试板的方式,能够生成用于高速信号自环测试的测试板,同时可以满足不同信号协议以及同种信号协议中不同走线的测试需求,省却了找对接主板的繁琐过程,从而使高速信号测试更加便捷、专业、多元化。
应清楚地理解,本公开描述了如何形成和使用特定示例,但本公开的原理不限于这些示例的任何细节。相反,基于本公开公开的内容的教导,这些原理能够应用于许多其它实施例。
图2是根据另一示例性实施例示出的一种高速信号测试板生成方法的流程图。图2所示的流程20是对图1所示的流程的补充描述。
如图2所示,在S202中,根据测试请求确定目标标准协议和目标设备。其中,目标标准协议可为PCIE2.0,目标设备可为某公司出产的硬件待测设备。
在S204中,根据所述目标标准协议和所述目标设备对多个测试板的连接器进行筛选,确定目标测试板。事先根据不同的协议和不同的设备生成多个测试板,根据目标标准协议的接口参数和目标设备的接口参数选择合适的测试板。
在S206中,将所述目标设备接入所述目标测试板以进行高速信号的自环测试。其中,自环测试是用来检验通道是否正常,也可以测试设备内部的端口通断状态。
本公开的高速信号测试板生成方法,能够生成支持多协议,多接口的自环的信号测试板,通过该测试板能够使设备接口通过一个标准插板与自己的接口对接,不需要再找其他设备对接,同时该插板可以支持多种信号协议,并拥有多种不同通信参数的通道,从而使信号测试更加便捷,专业,和多元化。
图3是根据另一示例性实施例示出的一种高速信号测试板生成方法的示意图。图3是一个抽象的描述,图中所示为PCIE2.0协议的走线路径,走线为差分带状线,特征阻抗控制在100Ω,同种协议为同层走线(可例如,PCIE2.0协议走线在第三层,top层放连接器,第二层为GND),走线层的上下层均为参考地平面,介质为标准FR4介质材料,图中的S1、S2、S3为不同走线长度的差分信号通道,走线长度分别为7in、17in、30in,走线长度可根据待测设备的背板走线确定,以此完成高速信号的自环测试。
在一个具体的实施例中,待测设备只需要将接口与图中的连接器(连接器选择实际板卡中所用,如MOLEX IMPACT)连接,就可以与自己的端口形成自环从而便于进行高速信号测试,可针对背板走线的无缘通道进行测试。
在一个具体的实施例中,根据待测设备的背板走线的不同,可分别将待测设备接入图中所示A5的连接器,其走线模拟框式A5设备,(A5即机框有5个业务板插槽),同理将待测设备接口接入S2,其走线模拟框式A12设备,以此类推。
本图仅为示意图,旨在说明问题,便于理解,这样就能在未实际连接机框的情况下,而完成模拟测试,大大的提高了测试效率。
值得一提的是,如果需要测试PCIE3.0协议或者其他协议走线,只需要接入对应接口即可,可例如,PCIE3.0协议走线在第5层,特征阻抗控制在100Ω,连接器选择实际板卡中所用:MOLEX IMPACT,走线长度与PCIE2.0一致,这样就可以测试PCIE3.0的背板通道对信号的影响,具体测试参数和测试板的参数可以根据待测设备和待测试的协议的具体需求而定。
同样的,平常用到的XAUI、SGMII、10Gbe等等协议都可以集成到此测试板中,用一个测试板就可以全面多种协议的高速信号测试。
本领域技术人员可以理解实现上述实施例的全部或部分步骤被实现为由CPU执行的计算机程序。在该计算机程序被CPU执行时,执行本公开提供的上述方法所限定的上述功能。所述的程序可以存储于一种计算机可读存储介质中,该存储介质可以是只读存储器,磁盘或光盘等。
此外,需要注意的是,上述附图仅是根据本公开示例性实施例的方法所包括的处理的示意性说明,而不是限制目的。易于理解,上述附图所示的处理并不表明或限制这些处理的时间顺序。另外,也易于理解,这些处理可以是例如在多个模块中同步或异步执行的。
下述为本公开装置实施例,可以用于执行本公开方法实施例。对于本公开装置实施例中未披露的细节,请参照本公开方法实施例。
图4是根据一示例性实施例示出的一种高速信号测试板生成装置的框图。如图4所示,高速信号测试板生成装置40包括:信号模块402,布局模块404,接口模块406,生成模块408。
信号模块402用于根据待测设备的设备信息确定测试板的信号线和连接器;信号模块402还用于根据待测设备确定测试板的信号线和信号线的数量;根据待测设备的接口确定测试板的连接器。其中,所述信号线为差分带状线。
布局模块404用于根据待测设备中高速信号的信号参数确定测试板的设计参数和线路布局;布局模块404还用于根据待测设备中高速信号的信号参数确定测试板中信号线的位置、长度;根据硬件设计标准规范确定测试板的线路布局。
接口模块406用于根据待测的标准协议确定连接器的接口参数;可例如,根据高速串行计算机扩展总线标准确定所述连接器的接口参数。
生成模块408用于根据所述信号线、所述连接器、所述设计参数、所述线路布局、所述接口参数生成高速信号测试板。
高速信号测试板生成装置40还可包括:测试模块,用于基于所述高速信号测试板对待测设备进行高速信号的自环测试。
根据本公开的高速信号测试板生成装置,根据待测设备的设备信息确定测试板的信号线和连接器;根据待测设备中高速信号的信号参数确定测试板的设计参数和线路布局;根据待测的标准协议确定连接器的接口参数;根据所述信号线、所述连接器、所述设计参数、所述线路布局、所述接口参数生成高速信号测试板的方式,能够生成用于高速信号自环测试的测试板,同时可以满足不同信号协议以及同种信号协议中不同走线的测试需求,省却了找对接主板的繁琐过程,从而使高速信号测试更加便捷、专业、多元化。
图5是根据一示例性实施例示出的一种电子设备的框图。
下面参照图5来描述根据本公开的这种实施方式的电子设备500。图5显示的电子设备500仅仅是一个示例,不应对本公开实施例的功能和使用范围带来任何限制。
如图5所示,电子设备500以通用计算设备的形式表现。电子设备500的组件可以包括但不限于:至少一个处理单元510、至少一个存储单元520、连接不同系统组件(包括存储单元520和处理单元510)的总线530、显示单元540等。
其中,所述存储单元存储有程序代码,所述程序代码可以被所述处理单元510执行,使得所述处理单元510执行本说明书上述电子处方流转处理方法部分中描述的根据本公开各种示例性实施方式的步骤。例如,所述处理单元510可以执行如图1,图2中所示的步骤。
所述存储单元520可以包括易失性存储单元形式的可读介质,例如随机存取存储单元(RAM)5201和/或高速缓存存储单元5202,还可以进一步包括只读存储单元(ROM)5203。
所述存储单元520还可以包括具有一组(至少一个)程序模块5205的程序/实用工具5204,这样的程序模块5205包括但不限于:操作系统、一个或者多个应用程序、其它程序模块以及程序数据,这些示例中的每一个或某种组合中可能包括网络环境的实现。
总线530可以为表示几类总线结构中的一种或多种,包括存储单元总线或者存储单元控制器、外围总线、图形加速端口、处理单元或者使用多种总线结构中的任意总线结构的局域总线。
电子设备500也可以与一个或多个外部设备500’(例如键盘、指向设备、蓝牙设备等)通信,还可与一个或者多个使得用户能与该电子设备500交互的设备通信,和/或与使得该电子设备500能与一个或多个其它计算设备进行通信的任何设备(例如路由器、调制解调器等等)通信。这种通信可以通过输入/输出(I/O)接口550进行。并且,电子设备500还可以通过网络适配器560与一个或者多个网络(例如局域网(LAN),广域网(WAN)和/或公共网络,例如因特网)通信。网络适配器560可以通过总线530与电子设备500的其它模块通信。应当明白,尽管图中未示出,可以结合电子设备500使用其它硬件和/或软件模块,包括但不限于:微代码、设备驱动器、冗余处理单元、外部磁盘驱动阵列、RAID系统、磁带驱动器以及数据备份存储系统等。
通过以上的实施方式的描述,本领域的技术人员易于理解,这里描述的示例实施方式可以通过软件实现,也可以通过软件结合必要的硬件的方式来实现。因此,如图6所示,根据本公开实施方式的技术方案可以以软件产品的形式体现出来,该软件产品可以存储在一个非易失性存储介质(可以是CD-ROM,U盘,移动硬盘等)中或网络上,包括若干指令以使得一台计算设备(可以是个人计算机、服务器、或者网络设备等)执行根据本公开实施方式的上述方法。
所述软件产品可以采用一个或多个可读介质的任意组合。可读介质可以是可读信号介质或者可读存储介质。可读存储介质例如可以为但不限于电、磁、光、电磁、红外线、或半导体的系统、装置或器件,或者任意以上的组合。可读存储介质的更具体的例子(非穷举的列表)包括:具有一个或多个导线的电连接、便携式盘、硬盘、随机存取存储器(RAM)、只读存储器(ROM)、可擦式可编程只读存储器(EPROM或闪存)、光纤、便携式紧凑盘只读存储器(CD-ROM)、光存储器件、磁存储器件、或者上述的任意合适的组合。
所述计算机可读存储介质可以包括在基带中或者作为载波一部分传播的数据信号,其中承载了可读程序代码。这种传播的数据信号可以采用多种形式,包括但不限于电磁信号、光信号或上述的任意合适的组合。可读存储介质还可以是可读存储介质以外的任何可读介质,该可读介质可以发送、传播或者传输用于由指令执行系统、装置或者器件使用或者与其结合使用的程序。可读存储介质上包含的程序代码可以用任何适当的介质传输,包括但不限于无线、有线、光缆、RF等等,或者上述的任意合适的组合。
可以以一种或多种程序设计语言的任意组合来编写用于执行本公开操作的程序代码,所述程序设计语言包括面向对象的程序设计语言—诸如Java、C++等,还包括常规的过程式程序设计语言—诸如“C”语言或类似的程序设计语言。程序代码可以完全地在用户计算设备上执行、部分地在用户设备上执行、作为一个独立的软件包执行、部分在用户计算设备上部分在远程计算设备上执行、或者完全在远程计算设备或服务器上执行。在涉及远程计算设备的情形中,远程计算设备可以通过任意种类的网络,包括局域网(LAN)或广域网(WAN),连接到用户计算设备,或者,可以连接到外部计算设备(例如利用因特网服务提供商来通过因特网连接)。
上述计算机可读介质承载有一个或者多个程序,当上述一个或者多个程序被一个该设备执行时,使得该计算机可读介质实现如下功能:根据待测设备的设备信息确定测试板的信号线和连接器;根据待测设备中高速信号的信号参数确定测试板的设计参数和线路布局;根据待测的标准协议确定连接器的接口参数;根据所述信号线、所述连接器、所述设计参数、所述线路布局、所述接口参数生成高速信号测试板。
本领域技术人员可以理解上述各模块可以按照实施例的描述分布于装置中,也可以进行相应变化唯一不同于本实施例的一个或多个装置中。上述实施例的模块可以合并为一个模块,也可以进一步拆分成多个子模块。
通过以上的实施例的描述,本领域的技术人员易于理解,这里描述的示例实施例可以通过软件实现,也可以通过软件结合必要的硬件的方式来实现。因此,根据本公开实施例的技术方案可以以软件产品的形式体现出来,该软件产品可以存储在一个非易失性存储介质(可以是CD-ROM,U盘,移动硬盘等)中或网络上,包括若干指令以使得一台计算设备(可以是个人计算机、服务器、移动终端、或者网络设备等)执行根据本公开实施例的方法。
以上具体地示出和描述了本公开的示例性实施例。应可理解的是,本公开不限于这里描述的详细结构、设置方式或实现方法;相反,本公开意图涵盖包含在所附权利要求的精神和范围内的各种修改和等效设置。
Claims (10)
1.一种高速信号测试板生成方法,其特征在于,包括:
根据待测设备的设备信息确定测试板的信号线和连接器;
根据待测设备中高速信号的信号参数确定测试板的设计参数和线路布局;
根据待测的标准协议确定连接器的接口参数;
根据所述信号线、所述连接器、所述设计参数、所述线路布局、所述接口参数生成高速信号测试板。
2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,还包括:
基于所述高速信号测试板对待测设备进行高速信号的自环测试。
3.如权利要求2所述的方法,其特征在于,基于所述高速信号测试板对待测设备进行高速信号的自环测试,包括:
根据测试请求确定目标标准协议和目标设备;
根据所述目标标准协议和所述目标设备对多个测试板的连接器进行筛选,确定目标测试板;
将所述目标设备接入所述目标测试板以进行高速信号的自环测试。
4.如权利要求1所述的方法,其特征在于,根据待测设备的设备信息确定测试板的信号线和连接器,包括:
根据待测设备确定测试板的信号线和信号线的数量;
根据待测设备的接口确定测试板的连接器。
5.如权利要求4所述的方法,其特征在于,根据待测设备确定测试板的信号线和信号线的数量,包括:
根据待测设备确定测试板的信号线为差分带状线。
6.如权利要求1所述的方法,其特征在于,根据待测设备中高速信号的信号参数确定测试板的设计参数和线路布局,包括:
根据待测设备中高速信号的信号参数确定测试板中信号线的位置、长度;
根据硬件设计标准规范确定测试板的线路布局。
7.如权利要求6所述的方法,其特征在于,根据待测设备中高速信号的信号参数确定测试板中信号线的位置、长度,包括:
根据待测设备中高速信号的信号参数确定测试板中信号线的位于测试板的第三层或第五层;
根据待测设备中高速信号的信号参数确定测试板中信号线的长度为7英寸或17英寸或30英寸。
8.如权利要求1所述的方法,其特征在于,根据待测的标准协议确定连接器的接口参数,包括:
根据高速串行计算机扩展总线标准确定所述连接器的接口参数。
9.一种高速信号测试板生成装置,其特征在于,包括:
信号模块,用于根据待测设备的设备信息确定测试板的信号线和连接器;
布局模块,用于根据待测设备中高速信号的信号参数确定测试板的设计参数和线路布局;
接口模块,用于根据待测的标准协议确定连接器的接口参数;
生成模块,用于根据所述信号线、所述连接器、所述设计参数、所述线路布局、所述接口参数生成高速信号测试板。
10.如权利要求9所述的装置,其特征在于,还包括:
测试模块,用于基于所述高速信号测试板对待测设备进行高速信号的自环测试。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202010470106.3A CN111682979B (zh) | 2020-05-28 | 2020-05-28 | 高速信号测试板生成方法及装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202010470106.3A CN111682979B (zh) | 2020-05-28 | 2020-05-28 | 高速信号测试板生成方法及装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN111682979A true CN111682979A (zh) | 2020-09-18 |
CN111682979B CN111682979B (zh) | 2021-12-07 |
Family
ID=72453015
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN202010470106.3A Active CN111682979B (zh) | 2020-05-28 | 2020-05-28 | 高速信号测试板生成方法及装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN111682979B (zh) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN113985750A (zh) * | 2021-09-30 | 2022-01-28 | 中国兵器工业集团第二一四研究所苏州研发中心 | 一种接口电路板级板卡 |
CN115291075A (zh) * | 2022-06-24 | 2022-11-04 | 杭州未名信科科技有限公司 | 一种高速信号质量的测试方法和测试装置 |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN1835460A (zh) * | 2005-03-16 | 2006-09-20 | 华为技术有限公司 | 测试使用光模块的单板电接口的方法及装置 |
US20080192814A1 (en) * | 2007-02-09 | 2008-08-14 | Dft Microsystems, Inc. | System and Method for Physical-Layer Testing of High-Speed Serial Links in their Mission Environments |
CN109462436A (zh) * | 2018-12-27 | 2019-03-12 | 新华三技术有限公司 | 测试板、信号传输方法及测试系统 |
CN110633219A (zh) * | 2019-09-24 | 2019-12-31 | 网易(杭州)网络有限公司 | 页面测试方法与装置、存储介质、电子设备 |
CN111194046A (zh) * | 2018-11-14 | 2020-05-22 | 上海富瀚微电子股份有限公司 | 一种wifi模块自动化测试系统及方法 |
-
2020
- 2020-05-28 CN CN202010470106.3A patent/CN111682979B/zh active Active
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN1835460A (zh) * | 2005-03-16 | 2006-09-20 | 华为技术有限公司 | 测试使用光模块的单板电接口的方法及装置 |
US20080192814A1 (en) * | 2007-02-09 | 2008-08-14 | Dft Microsystems, Inc. | System and Method for Physical-Layer Testing of High-Speed Serial Links in their Mission Environments |
CN111194046A (zh) * | 2018-11-14 | 2020-05-22 | 上海富瀚微电子股份有限公司 | 一种wifi模块自动化测试系统及方法 |
CN109462436A (zh) * | 2018-12-27 | 2019-03-12 | 新华三技术有限公司 | 测试板、信号传输方法及测试系统 |
CN110633219A (zh) * | 2019-09-24 | 2019-12-31 | 网易(杭州)网络有限公司 | 页面测试方法与装置、存储介质、电子设备 |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN113985750A (zh) * | 2021-09-30 | 2022-01-28 | 中国兵器工业集团第二一四研究所苏州研发中心 | 一种接口电路板级板卡 |
CN115291075A (zh) * | 2022-06-24 | 2022-11-04 | 杭州未名信科科技有限公司 | 一种高速信号质量的测试方法和测试装置 |
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