CN111613263B - 一种随机静态存储芯片sram功能测试装置 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种随机静态存储芯片SRAM功能测试装置，具体涉及存储芯片领域，包括主体外壳，所述主体外壳的内部固定安装有内胆，所述内胆的内部一侧设置有内架，所述内胆的内部固定安装有电路板,所述内胆的内部位于内架的上方开设有卡槽。本发明通过设置内架、半导体制冷片、温度表和卡槽，在对芯片进行测试时，将测试的芯片从一侧插入插槽内，然后将内架推回到内胆内部，当内架完全进入内胆时，启动底槽内的电磁铁，带动卡柱插入底槽进行固定，避免在测试的过程中受到外界环境的影响，当需要制冷时就启动上端的半导体制冷片进行降温，并且通过温度表监控内架的温度，可以测试在不同温度下芯片的工作性能，增加了测试数据的全面性。

Description

一种随机静态存储芯片SRAM功能测试装置

技术领域

本发明实施例涉及存储芯片领域，具体涉及一种随机静态存储芯片SRAM 功能测试装置。

背景技术

静态随机存取存储器是随机存取存储器的一种，所谓的“静态”，是指这种存储器只要保持通电，里面储存的数据就可以恒常保持。

现有技术存在以下不足：现有的对存储芯片进行测试时，测试存储芯片处于暴露状态，容易受到外界环境影响，并且在测试的过程中为常温状态，不能了解存储芯片工作环境的极限温度，从而不能精确的测试芯片的工作性能。

发明内容

为此，本发明实施例提供一种随机静态存储芯片SRAM功能测试装置，通过内架、半导体制冷片、温度表和卡槽，在对芯片进行测试时，将测试的芯片从一侧插入插槽内，然后将内架推回到内胆内部，当内架完全进入内胆时，启动底槽内的电磁铁，带动卡柱插入底槽进行固定，避免在测试的过程中受到外界环境的影响，当需要制冷时就启动上端的半导体制冷片进行降温，并且通过温度表监控内架的温度，可以测试在不同温度下芯片的工作性能，增加了测试数据的全面性，以解决现有技术中由于容易受到外界环境干扰影响测试数据的全面性导致的问题。

为了实现上述目的，本发明实施例提供如下技术方案：一种随机静态存储芯片SRAM功能测试装置，包括主体外壳，所述主体外壳的内部固定安装有内胆，所述内胆的内部一侧设置有内架，所述内胆的内部固定安装有电路板。

所述内胆的内部位于内架的上方开设有卡槽，所述内架的一侧开设有滑槽，所述内胆的内部位于内架的一侧固定安装有滑杆，所述滑杆的外表面一侧设置第一磁块，所述滑杆的外表面位于第一磁块的一侧固定安装有第二磁块，所述第一磁块的一端与滑槽的内壁固定连接，所述第一磁块与滑杆滑动连接，所述第一磁块与第二磁块的规格大小相同，所述卡槽的内部固定安装有弹簧，所述卡槽的内部位于弹簧的底端设置有卡柱，所述弹簧的一端与卡柱固定连接，所述卡柱通过卡槽与内胆滑动连接，所述内架的内部位于卡槽的下方开设有底槽，所述底槽的内壁底端固定安装有电磁铁，所述卡柱为不锈钢材质，所述内架的内部开设有插槽，所述插槽的上下两端固定安装有半导体制冷片，所述内架的上下外表面开设有若干个通孔。

所述电路板外表面固定安装有电源，所述电路板的外表面位于电源的一侧固定安装有散热器。

所述主体外壳的内部四角处插入有固定销，所述固定销为中空结构，所述内胆的外表面位于内架的一侧固定安装有温度表，所述内胆的外表面位于温度表的一侧固定安装有电压表。

进一步地，所述电源的顶端固定安装有气缸，所述电路板的一侧设置有接头。

进一步地，所述接头通过导线与电源电性连接，所述内架的后端开设有接口，所述接头的一端与内架的后端接口相匹配。

进一步地，所述接头的顶端固定安装有连接板，所述气缸的活塞杆一端与连接板固定连接。

进一步地，所述电路板的一侧固定安装有两根导杆，所述导杆贯穿于接头的两侧，所述接头与导杆滑动连接。

进一步地，所述内胆的内部四角处开设有连接槽，所述内胆的内部设置有螺杆。

进一步地，所述内胆与螺杆螺纹连接，所述内胆的后端设置有转盘，所述内胆与转盘活动连接。

进一步地，所述螺杆的一端与转盘固定连接，所述螺杆的一端固定安装有挡板。

进一步地，所述内胆的内壁与挡板对应的位置固定安装有定位板，所述挡板与定位板相匹配。

进一步地，所述连接槽的内部固定安装有连接杆，所述连接杆的外表面顶端部分设置有螺纹，所述连接杆与固定销相匹配，所述连接杆与固定销通过螺纹固定连接。

本发明实施例具有如下优点：

1、通过设置内架、半导体制冷片、温度表和卡槽，在对芯片进行测试时，将测试的芯片从一侧插入插槽内，然后将内架推回到内胆内部，当内架完全进入内胆时，启动底槽内的电磁铁，带动卡柱插入底槽进行固定，避免在测试的过程中受到外界环境的影响，当需要制冷时就启动上端的半导体制冷片进行降温，并且通过温度表监控内架的温度，可以测试在不同温度下芯片的工作性能，增加了测试数据的全面性；

2、通过设置电源、气缸、接头和导杆，在进行测试时，需要启动电源上的气缸，通过气缸推动连接板，从而带动接头插入内架的一端，使内架与电源连接进行测试，当测试完毕后，在通过气缸将接头沿着导杆拉回，使电源与内架断开停止内部的芯片供电，如此循环，避免通过人工反复断开电源进行测试，节约了大量的人力，同时增加了测试的效率。

3、通过设置内胆、连接杆、固定销和转盘，当装置的内部出现故障，需要进行维修时，先转动主体外壳顶端四角处的固定销，使固定销与连接槽内的连接杆脱离，解除内胆与主体外壳的限位，然后转动主体外壳后端的转盘，通过转盘带动内部的螺杆转动，直到内胆完全推出，然后对内胆内部的器件进行检测维修，方便对装置进行维修。

附图说明

为了更清楚地说明本发明的实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍。显而易见地，下面描述中的附图仅仅是示例性的，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图引伸获得其它的实施附图。

本说明书所绘示的结构、比例、大小等，均仅用以配合说明书所揭示的内容，以供熟悉此技术的人士了解与阅读，并非用以限定本发明可实施的限定条件，故不具技术上的实质意义，任何结构的修饰、比例关系的改变或大小的调整，在不影响本发明所能产生的功效及所能达成的目的下，均应仍落在本发明所揭示的技术内容得能涵盖的范围内。

图1为本发明提供的整体结构示意图。

图2为本发明提供的内架的安装结构侧视图。

图3为本发明提供的图2的A处放大图。

图4为本发明提供的内架的内部结构图。

图5为本发明提供的内胆的俯视图。

图6为本发明提供的接头的侧视图。

图7为本发明提供的内胆的安装结构图。

图8为本发明提供的内胆与主体外壳的连接结构图。

图中：1主体外壳、11固定销、2内胆、21温度表、22电压表、23连接槽、24螺杆、25转盘、26挡板、27定位板、28连接杆、3内架、31卡槽、32滑槽、33滑杆、34第一磁块、35第二磁块、36弹簧、37卡柱、38底槽、 39电磁铁、311插槽、312半导体制冷片、313通孔、4电路板、41电源、42 散热器、43气缸、44接头、45连接板、46导杆。

具体实施方式

以下由特定的具体实施例说明本发明的实施方式，熟悉此技术的人士可由本说明书所揭露的内容轻易地了解本发明的其他优点及功效，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

参照说明书附图1-4，该实施例的一种随机静态存储芯片SRAM功能测试装置，包括主体外壳1，所述主体外壳1的内部固定安装有内胆2，所述内胆 2的内部一侧设置有内架3，所述内胆2的内部固定安装有电路板4，所述内胆2的内部位于内架3的上方开设有卡槽31，所述内架3的一侧开设有滑槽32，所述内胆2的内部位于内架3的一侧固定安装有滑杆33，所述滑杆33的外表面一侧设置第一磁块34，所述滑杆33的外表面位于第一磁块34的一侧固定安装有第二磁块35，所述第一磁块34的一端与滑槽32的内壁固定连接，所述第一磁块34与滑杆33滑动连接，所述第一磁块34与第二磁块35的规格大小相同，所述卡槽31的内部固定安装有弹簧36，所述卡槽31的内部位于弹簧36的底端设置有卡柱37，所述弹簧36的一端与卡柱37固定连接，所述卡柱37通过卡槽31与内胆2滑动连接，所述内架3的内部位于卡槽31的下方开设有底槽38，所述底槽38的内壁底端固定安装有电磁铁39，所述卡柱 37为不锈钢材质，所述内架3的内部开设有插槽311，所述插槽311的上下两端固定安装有半导体制冷片312，所述内架3的上下外表面开设有若干个通孔 313。

实施场景具体为：本发明在对芯片进行测试时，先断开底槽38内电磁铁 39的电源，卡柱37失去磁力的吸引后，会被卡槽31内的弹簧36收回，从底槽38脱离，解除对内架3的限位关系，此时第一磁块34与第二磁块35处于同级相斥的状态，通过第一磁块34与第二磁块35产生的斥力，带动内架3 沿着滑杆33向外滑动，使第一磁块34远离第二磁块35，接着将测试的芯片从一侧插入插槽311内，然后将内架3推回到内胆2内部，当内架3完全进入内胆2时，启动底槽38内的电磁铁39，带动卡柱37插入底槽38进行固定，避免在测试的过程中受到外界环境的影响，插槽311的上下两端均安装有半导体制冷片312，上端为制冷的一面朝向芯片，底端是制热的一面朝向芯片，当需要增加了内架3温度时，启动底端的半导体制冷片312，当需要制冷时就启动上端的半导体制冷片312进行降温，并且通过温度表21监控内架3的温度，可以测试在不同温度下芯片的工作性能，增加了测试数据的全面性。

参照说明书附图5-6，该实施例的一种随机静态存储芯片SRAM功能测试装置，所述电路板4外表面固定安装有电源41，所述电路板4的外表面位于电源41的一侧固定安装有散热器42，所述电源41的顶端固定安装有气缸43，所述电路板4的一侧设置有接头44，所述接头44通过导线与电源41电性连接，所述内架3的后端开设有接口，所述接头44的一端与内架3的后端接口相匹配，所述接头44的顶端固定安装有连接板45，所述气缸43的活塞杆一端与连接板45固定连接，所述电路板4的一侧固定安装有两根导杆46，所述导杆46贯穿于接头44的两侧，所述接头44与导杆46滑动连接。

实施场景具体为：在进行测试时，需要启动电源41上的气缸 43，通过气缸 43 推动连接板 45 ，从而带动接头 44 插入内架 3 的一端，使内架 3 与电源 41 连接进行测试，当测试完毕后，在通过气缸 43 将接头 44 沿着导杆 46 拉回，使电源 41 与内架 3断开停止内部的芯片供电，如此循环，进行测试，并且接头 44 的两侧设置有导杆 46 ，增加了在对接头 44 与内架 3 连接时的准确性，避免接头 44 出现偏移的现象。

参照说明书附图7-8，该实施例的一种随机静态存储芯片SRAM功能测试装置，所述主体外壳1的内部四角处插入有固定销11，所述固定销11为中空结构，所述内胆2的外表面位于内架3的一侧固定安装有温度表21，所述内胆2的外表面位于温度表21的一侧固定安装有电压表22，所述内胆2的内部四角处开设有连接槽23，所述内胆2的内部设置有螺杆24，所述内胆2与螺杆24螺纹连接，所述内胆2的后端设置有转盘25，所述内胆2与转盘25活动连接，所述螺杆24的一端与转盘25固定连接，所述螺杆24的一端固定安装有挡板26，所述内胆2的内壁与挡板26对应的位置固定安装有定位板27，所述挡板26与定位板27相匹配，所述连接槽23的内部固定安装有连接杆28，所述连接杆28的外表面顶端部分设置有螺纹，所述连接杆28与固定销11相匹配，所述连接杆28与固定销11通过螺纹固定连接。

实施场景具体为：当装置的内部出现故障，需要进行维修时，先转动主体外壳1顶端四角处的固定销11，使固定销11与连接槽23内的连接杆28脱离，解除内胆2与主体外壳1的限位，然后转动主体外壳1后端的转盘25，通过转盘25带动内部的螺杆24转动，内胆2与螺杆24螺纹连接，在螺杆24转动的过程中，会将内胆2从主体外壳1内推出，同时内胆2内壁的定位板27与螺杆24一端的挡板26分离，直到内胆2完全推出，然后对内胆2内部的器件进行检测维修，方便对装置进行维修，维修完毕后，通过反转转盘25带动内胆2回到主体外壳1的内部，直到螺杆24一端的挡板26与定位对接，当内胆 2完全进入主体外壳1时，固定销11的底端与连接槽23内的连接杆28对应，然后转动固定销11与连接杆28对接，从而主体外壳1与内胆2固定。

工作原理：参照说明书附图1-4，在对芯片进行测试时，先断开底槽38 内电磁铁39的电源，卡柱37失去磁力的吸引后，会被卡槽31内的弹簧36 收回，从底槽38脱离，通过第一磁块34与第二磁块35产生的斥力，带动内架3沿着滑杆33向外滑动，使第一磁块34远离第二磁块35，接着将测试的芯片从一侧插入插槽311内，然后将内架3推回到内胆2内部，当内架3完全进入内胆2时，启动底槽38内的电磁铁39，带动卡柱37插入底槽38进行固定，当需要制冷时就启动上端的半导体制冷片312进行降温，并且通过温度表 21监控内架3的温度，可以测试在不同温度下芯片的工作性能。

参照说明书附图5-6，在进行测试时，需要启动电源41上的气缸43，通过气缸43推动连接板45，从而带动接头44插入内架3的一端，使内架3与电源41连接进行测试，当测试完毕后，在通过气缸43将接头44沿着导杆46 拉回，使电源41与内架3断开停止内部的芯片供电，如此循环，进行测试，并且接头44的两侧设置有导杆46，增加了在对接头44与内架3连接时的准确性，避免接头44出现偏移的现象。

参照说明书附图7-8，当装置的内部出现故障，需要进行维修时，先转动主体外壳1顶端四角处的固定销11，使固定销11与连接槽23内的连接杆28 脱离，解除内胆2与主体外壳1的限位，然后转动主体外壳1后端的转盘25，通过转盘25带动内部的螺杆24转动，直到内胆2完全推出，然后对内胆2 内部的器件进行检测维修，方便对装置进行维修，维修完毕后，通过反转转盘 25带动内胆2回到主体外壳1的内部，直到螺杆24一端的挡板26与定位对接，当内胆2完全进入主体外壳1时，固定销11的底端与连接槽23内的连接杆28对应，然后转动固定销11与连接杆28对接，从而主体外壳1与内胆2 固定。

虽然，上文中已经用一般性说明及具体实施例对本发明作了详尽的描述，但在本发明基础上，可以对之作一些修改或改进，这对本领域技术人员而言是显而易见的。因此，在不偏离本发明精神的基础上所做的这些修改或改进，均属于本发明要求保护的范围。

Claims (5)

1.一种随机静态存储芯片SRAM功能测试装置，包括主体外壳(1)，其特征在于：所述主体外壳(1)的内部固定安装有内胆(2)，所述内胆(2)的内部一侧设置有内架(3)，所述内胆(2)的内部固定安装有电路板(4)；

所述内胆(2)的内部位于内架(3)的上方开设有卡槽(31)，所述内架(3)的一侧开设有滑槽(32)，所述内胆(2)的内部位于内架(3)的一侧固定安装有滑杆(33)，所述滑杆(33)的外表面一侧设置第一磁块(34)，所述滑杆(33)的外表面位于第一磁块(34)的一侧固定安装有第二磁块(35)，所述第一磁块(34)的一端与滑槽(32)的内壁固定连接，所述第一磁块(34)与滑杆(33)滑动连接，所述第一磁块(34)与第二磁块(35)的规格大小相同，所述卡槽(31)的内部固定安装有弹簧(36)，所述卡槽(31)的内部位于弹簧(36)的底端设置有卡柱(37)，所述弹簧(36)的一端与卡柱(37)固定连接，所述卡柱(37)通过卡槽(31)与内胆(2)滑动连接，所述内架(3)的内部位于卡槽(31)的下方开设有底槽(38)，所述底槽(38)的内壁底端固定安装有电磁铁(39)，所述卡柱(37)为不锈钢材质，所述内架(3)的内部开设有插槽(311)，所述插槽(311)的上下两端固定安装有半导体制冷片(312)，所述内架(3)的上下外表面开设有若干个通孔(313)；

所述电路板(4)外表面固定安装有电源(41)，所述电路板(4)的外表面位于电源(41)的一侧固定安装有散热器(42)；

所述主体外壳(1)的内部四角处插入有固定销(11)，所述固定销(11)为中空结构，所述内胆(2)的外表面位于内架(3)的一侧固定安装有温度表(21)，所述内胆(2)的外表面位于温度表(21)的一侧固定安装有电压表(22)；

所述电源(41)的顶端固定安装有气缸(43)，所述电路板(4)的一侧设置有接头(44)；

所述内胆(2)的内部四角处开设有连接槽(23)，所述内胆(2)的内部设置有螺杆(24)，内胆(2)与螺杆(24)螺纹连接，内胆(2)的后端设置有转盘(25)，所述内胆(2)与转盘(25)活动连接；所述螺杆(24)的一端与转盘(25)固定连接，所述螺杆(24)的一端固定安装有挡板(26)，该内胆(2)的内壁与挡板(26)对应的位置固定安装有定位板(27)，所述挡板(26)与定位板(27)相匹配。

2.根据权利要求1所述的一种随机静态存储芯片SRAM功能测试装置，其特征在于：所述接头(44)通过导线与电源(41)电性连接，所述内架(3)的后端开设有接口，所述接头(44)的一端与内架(3)的后端接口相匹配。

3.根据权利要求2所述的一种随机静态存储芯片SRAM功能测试装置，其特征在于：所述接头(44)的顶端固定安装有连接板(45)，所述气缸(43)的活塞杆一端与连接板(45)固定连接。

4.根据权利要求3所述的一种随机静态存储芯片SRAM功能测试装置，其特征在于：所述电路板(4)的一侧固定安装有两根导杆(46)，所述导杆(46)贯穿于接头(44)的两侧，所述接头(44)与导杆(46)滑动连接。

5.根据权利要求4所述的一种随机静态存储芯片SRAM功能测试装置，其特征在于：所述连接槽(23)的内部固定安装有连接杆(28)，所述连接杆(28)的外表面顶端部分设置有螺纹，所述连接杆(28)与固定销(11)相匹配，所述连接杆(28)与固定销(11)通过螺纹固定连接。

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