CN111579888A - 一种天线测试用环形测试架 - Google Patents

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付会强
郭英杰
石蛟
李朝阳
杜建宇
魏少鹏
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Abstract

本发明公开了一种天线测试用环形测试架，包括用于环向安装多个探头的环形架；于环形架的底部设有滑台，滑台包括固定座、滑动座以及驱动部，所述固定座上具有与环形架弧度相同、中心相同的弧形导轨，所述滑动座具有能够沿弧形导轨滑动的滑槽，所述驱动部用于驱动滑槽沿弧形导轨往复运动；于滑动座上竖向固定有天线支架。多个测试探头安装在整环的弧形架上，能够实现对天线的多角度测试，测试范围更广；由于滑台的设置，使得天线在沿弧形架摆动的同时其上方不被支架遮挡，测试准确性高；滑台的滑动轨迹与弧形导轨的弧度和中心相同，保证被测试天线的中心始终指向弧形导轨的中心，能够接收到不同角度探头发射的信号，进一步提高测试的准确性。

Description

一种天线测试用环形测试架
技术领域
本发明涉及天线测试技术领域，尤其涉及一种天线测试用环形测试架。
背景技术
天线近场测试分为球面、柱面和平面三种，平面近场测试一般用于波束较窄且法向辐射的天线，柱面近场测试一般用于在方位和俯仰其中一个扫描面有较宽波束而另一个面波束较窄的天线，而球面近场测试一般用于各种类型的天线。
一般来说，有源天线的测试采用远场测试的方式，但对于口径较大或是工作频段较高的天线，其远场距离较大，一般的远场测试条件无法满足，对于这种情况，可以采用近场测试。现有技术中，对有源天线的近场测试需采用发射机或者矢量网络分析仪，分别从发射源或者功率放大器端耦合一路参考信号至测量仪表，与测量天线的相位进行对比，得到采样的相位信息。
传统的测试为单探头天线测量系统，测量中被测天线必须在一个单探头前二维旋转，以确保包围该被测天线在一个球面上的场，由于这种二维旋转需要耗费大量时间，导致单探头测量系统测量效率低下，测量时间长；传统的单探头测量系统为了得到较高的效率，往往降低了采样密度；且传统的远场测试系统在搭建时需要非常大的测试场地，场地区域需要近千平米甚至更大，另外，小型多探头近场天线测量系统其被测物最大尺寸受到限制。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是提供一种提高测量准确性的天线测试用环形测试架。
为解决上述技术问题，本发明所采取的技术方案是：
一种天线测试用环形测试架，其特征在于，包括：
环形架，其内缘上固定有多个环向分布且朝向环形架中心的探头安装座；
滑台，设于环形架的底部，包括固定座、滑动座以及驱动部，所述固定座上具有与环形架弧度相同、中心相同的弧形导轨，所述滑动座具有能够沿弧形导轨滑动的滑槽，所述驱动部用于驱动滑动座沿弧形导轨往复运动；及
天线支架，竖向设置，其下端与滑动座固定，其顶部具有水平的天线承载面。
进一步的技术方案在于，所述弧形导轨的中部设有第一导向槽，所述滑槽内可转动的固定有能够沿第一导向槽运动的转轮。
进一步的技术方案在于，所述驱动部包括相互啮合传动的齿条和齿轮，所述齿条固定于固定座上，并具有与弧形导轨相同的弧度，所述齿轮固定于滑动座上，并连接有驱动其旋转的电机。
进一步的技术方案在于，所述弧形导轨具有分设于环形架两侧的两道，所述滑动座横跨于环形架上。
进一步的技术方案在于，所述弧形导轨的内缘具有第二导向槽，所述滑动座上还具有位于第二导向槽内并沿其滑动的滑块。
进一步的技术方案在于，所述天线支架的伸长高度可调。
进一步的技术方案在于，所述天线支架包括固定杆和插接于固定杆上的支撑套，所述支撑套由泡沫材质制得。
进一步的技术方案在于，所述天线承载面上具有与被测天线背面凹凸配合的固定结构。
采用上述技术方案所产生的有益效果在于：
该环形测试架中，多个测试探头安装在整环的弧形架上，能够实现对天线的多角度测试，测试范围更广；
由于滑台的设置，使得天线在沿弧形架摆动的同时其上方不被支架遮挡，测试准确性高；
滑台的滑动轨迹与弧形导轨的弧度和中心相同，使得支架在运动过程中始终指向弧形导轨的中心，从而保证被测试天线的中心始终指向弧形导轨的中心，能够接收到不同角度探头发射的信号，进一步提高测试的准确性。
附图说明
下面结合附图和具体实施方式对本发明作进一步详细的说明。
图1是本发明的结构示意图；
图2是本发明中滑台的机构示意图；
图3是本发明中滑台的内部结构示意图。
具体实施方式
下面结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本发明，但是本发明还可以采用其他不同于在此描述的其它方式来实施，本领域技术人员可以在不违背本发明内涵的情况下做类似推广，因此本发明不受下面公开的具体实施例的限制。
如图1～图3所示，一种天线测试用环形测试架，配合测量系统软件载体、与测量系统软件载体经有源切换装置连接的若干个探头近场天线测量设备使用，测量系统软件载体经矢量网络分析仪或无线通讯仪首先与有源切换装置连接，以测试天线的近场性能。
本公开的天线测试用环形测试架的一实施方式包括环形架100、滑台200和天线支架300。
环形架100的内缘上固定有多个环向分布且朝向环形架100中心的探头安装座101，用于安装测试用探头。滑台200设于环形架100的底部，包括固定座201、滑动座202以及驱动部，所述固定座201上具有与环形架100弧度相同、中心相同的弧形导轨203，所述滑动座202具有能够沿弧形导轨203滑动的滑槽204，所述驱动部用于驱动滑槽204沿弧形导轨203往复运动。天线支架300竖向设置，其下端与滑动座202固定，其顶部具有水平的天线承载面。
在测试时，将被测天线安装在天线支架300上，将若干个探头安装在环形架100的探头安装座101上，并连接各电路及控制系统等。在测试过程中，驱动部驱动滑动座202沿弧形导轨203往复运动，即实现了天线支架300带动被测天线俯仰摆动，且在摆动过程中被测天线始终指向环形架100的中心。
该环形测试架中，多个测试探头安装在整环的弧形架上，能够实现对天线的多角度测试，测试范围更广。由于滑台200的设置，使得天线在沿弧形架摆动的同时其上方不被支架遮挡，测试准确性高。滑台200的滑动轨迹与弧形导轨203的弧度和中心相同，使得支架在运动过程中始终指向弧形导轨203的中心，从而保证被测试天线的中心始终位于弧形导轨203的中心，能够接收到不同角度探头发射的信号，进一步提高测试的准确性。
根据公开的一实施方式，弧形导轨203的中部设有第一导向槽，所述滑槽204内可转动的固定有能够沿第一导向槽运动的转轮205，以降低在滑动过程中固定座201与滑动座202间的摩擦力，使天线的摆动更加敏捷，以提高测量精准性。
根据公开的一实施方式，驱动部包括相互啮合传动的齿条207和齿轮208，所述齿条207固定于固定座201上，并具有与弧形导轨203相同的弧度，所述齿轮208固定于滑动座202上，并连接有驱动其旋转的电机，电动驱动齿轮208旋转，使得齿轮208沿齿条207运行，实现弧形运动。
根据公开的一实施方式，弧形导轨203具有分设于环形架100两侧的两道，使滑台200运行更加平滑，所述滑动座202横跨于环形架100上。
根据公开的一实施方式，弧形导轨203的内缘具有第二导向槽，所述滑动座202上还具有位于第二导向槽内并沿其滑动的滑块209，进一步提高运行的稳定性。
根据公开的一实施方式，天线支架300的伸长高度可调，以适应对不同型号的天线进行测试。
根据公开的一实施方式，天线支架300包括固定杆和插接于固定杆上的支撑套，所述支撑套由泡沫材质制得，泡沫不仅能够绝缘、降低重量而且还能够不免与天线的刚性碰撞，对天线起到保护作用。
根据公开的一实施方式，天线承载面上具有与被测天线背面凹凸配合的固定结构，提高天线测试时的稳定性。
以上仅是本发明的较佳实施例，任何人根据本发明的内容对本发明作出的些许的简单修改、变形及等同替换均落入本发明的保护范围。

Claims (8)

1.一种天线测试用环形测试架，其特征在于，包括：
环形架(100)，其内缘上固定有多个环向分布且朝向环形架(100)中心的探头安装座(101)；
滑台(200)，设于环形架(100)的底部，包括固定座(201)、滑动座(202)以及驱动部，所述固定座(201)上具有与环形架(100)弧度相同、中心相同的弧形导轨(203)，所述滑动座(202)具有能够沿弧形导轨(203)滑动的滑槽(204)，所述驱动部用于驱动滑动座(202)沿弧形导轨(203)往复运动；及
天线支架(300)，竖向设置，其下端与滑动座(202)固定，其顶部具有水平的天线承载面。
2.根据权利要求1所述的环形测试架，其特征在于，所述弧形导轨(203)的中部设有第一导向槽，所述滑槽(204)内可转动的固定有能够沿第一导向槽运动的转轮(205)。
3.根据权利要求1所述的环形测试架，其特征在于，所述驱动部包括相互啮合传动的齿条(207)和齿轮(208)，所述齿条(207)固定于固定座(201)上，并具有与弧形导轨(203)相同的弧度，所述齿轮(208)固定于滑动座(202)上，并连接有驱动其旋转的电机。
4.根据权利要求1所述的环形测试架，其特征在于，所述弧形导轨(203)具有分设于环形架(100)两侧的两道，所述滑动座(202)横跨于环形架(100)上。
5.根据权利要求4所述的环形测试架，其特征在于，所述弧形导轨(203)的内缘具有第二导向槽，所述滑动座(202)上还具有位于第二导向槽内并沿其滑动的滑块(209)。
6.根据权利要求1所述的环形测试架，其特征在于，所述天线支架(300)的伸长高度可调。
7.根据权利要求1所述的环形测试架，其特征在于，所述天线支架(300)包括固定杆和插接于固定杆上的支撑套，所述支撑套由泡沫材质制得。
8.根据权利要求1所述的环形测试架，其特征在于，所述天线承载面上具有与被测天线背面凹凸配合的固定结构。
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