CN111562812B - 电子设备 - Google Patents

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Abstract

本发明提供了一种电子设备，包括第一折叠主体，设置于第一折叠主体一侧的第二折叠主体，位于第一折叠主体和第二折叠主体之间的转轴，两个折叠主体通过转轴可转动连接，用于检测两个折叠主体之间相对角度的检测组件；检测组件包括第一检测部和第二检测部，第一检测部与两个折叠主体中的其中一个相对固定，第二检测部与两个折叠主体中的另一个相对固定；第二检测部包括沿第一折叠主体和第二折叠主体的转动方向间隔设置的多个电容，且各电容的容值不同，第一检测部与多个电容可切换地相连，在第一检测部与一个电容相连时，两个检测部形成检测回路。本发明可在节省成本和空间，降低设计难度的同时，实现两个折叠主体间任意角度的检测，提升性能。

Description

电子设备
技术领域
本发明涉及通信技术领域，尤其涉及一种电子设备。
背景技术
针对具有柔性折叠屏的电子设备，如果需要通过电子设备的转动动作实现人机交互、功能扩展等需求，则需要能够较为准确地检测到折叠角度。
现有技术中提供一种应用光发射器和接收器来实现折叠角度检测的方案，如图1所示，包括第一折叠主体11、第二折叠主体12、光发射器13以及多个间隔布置的光接收器14来实现折叠角度确认，第一折叠主体11和第二折叠主体12转动连接；光发射器13相对第一折叠主体11固定设置；多个光接收器14相对第二折叠主体12固定设置，多个光接收器14能够择一地与光发射器13匹配；处理单元用于确定当前与光发射器匹配的目标光接收器，并用于根据预设的光接收器与光发射器的位置信息确定折叠屏电子设备的折叠角度。
现有的光传感器方案需要使用很多的光接收器，由于转轴空间很有限，故摆放的光接收器数量有限；另一方面光接收器使用的数量很多，势必造成成本高；同时大量的光接收器应用于较小的转轴上，设计难度加大，同时也会占用很多CPU(Central ProcessingUnit，中央处理器)芯片的检测端口资源。
综上，现有的电子设备折叠角度的检测方法存在成本高、设计难度大以及占用检测端口资源的问题。
发明内容
本发明实施例提供一种电子设备，以解决现有技术的折叠角度检测方法存在的成本高、设计难度大以及占用检测端口资源的问题。
为了解决上述问题，本发明实施例是这样实现的：
本发明实施例提供一种电子设备，包括：
第一折叠主体；
第二折叠主体，所述第二折叠主体设置于所述第一折叠主体的一侧；
转轴，所述转轴位于所述第一折叠主体和所述第二折叠主体之间，所述第一折叠主体和所述第二折叠主体通过所述转轴可转动连接；
检测组件，所述检测组件用于检测所述第一折叠主体和所述第二折叠主体之间的相对角度；
其中，所述检测组件包括第一检测部和第二检测部，所述第一检测部与所述第一折叠主体和所述第二折叠主体中的其中一个相对固定，所述第二检测部与所述第一折叠主体和所述第二折叠主体中的其中另一个相对固定；
所述第二检测部包括多个电容，多个所述电容沿所述第一折叠主体和所述第二折叠主体的转动方向间隔设置，且每个所述电容的容值不同，所述第一检测部与多个所述电容可切换地相连，在所述第一检测部与其中一个所述电容相连的情况下，所述第一检测部与所述第二检测部连通以形成检测回路。
本发明技术方案，通过设置第一检测部与两个折叠主体中的一个相对固定、第二检测部与两个折叠主体中的另一个相对固定，在第一检测部与第二检测部中的多个电容可切换地相连时，形成检测回路，进而通过第一检测部件和第二检测部件检测第一折叠主体和第二折叠主体之间的相对角度，可以节省成本和空间，降低设计难度，同时可实现任意角度的检测，提升检测性能。
附图说明
图1表示现有技术应用光发射器和接收器的示意图；
图2表示本发明实施例电子设备的示意图；
图3表示本发明实施例检测组件示意图；
图4表示本发明实施例转轴与电路板配合示意图之一；
图5表示本发明实施例转轴与电路板配合示意图之二；
图6a表示本发明实施例电容读取器与控制器和第一检测部连接示意图；
图6b表示本发明实施例电容读取器与控制器和电容连接示意图；
图6c表示本发明实施例电容读取器与控制器设置于折叠主体上的示意图；
图7表示本发明实施例电子设备设置多个第一检测部的示意图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
本发明实施例提供一种电子设备，如图2和图3所示，包括：
第一折叠主体1；
第二折叠主体2，所述第二折叠主体2设置于所述第一折叠主体1的一侧；
转轴3，所述转轴3位于所述第一折叠主体1和所述第二折叠主体2之间，所述第一折叠主体1和所述第二折叠主体2通过所述转轴3可转动连接；
检测组件4，所述检测组件4用于检测所述第一折叠主体1和所述第二折叠主体2之间的相对角度；
其中，所述检测组件4包括第一检测部41和第二检测部42，所述第一检测部41与所述第一折叠主体1和所述第二折叠主体2中的其中一个相对固定，所述第二检测部42与所述第一折叠主体1和所述第二折叠主体2中的其中另一个相对固定；
所述第二检测部42包括多个电容421，多个所述电容421沿所述第一折叠主体1和所述第二折叠主体2的转动方向间隔设置，且每个所述电容421的容值不同，所述第一检测部41与多个所述电容421可切换地相连，在所述第一检测部41与其中一个所述电容421相连的情况下，所述第一检测部41与所述第二检测部42连通以形成检测回路。其中，检测回路包括电源，电源分别与第一检测部41和第二检测部42连接，在第一检测部41和第二检测部42接触时，可以形成检测回路。
本发明实施例的电子设备包括第一折叠主体1，位于第一折叠主体1的一侧的第二折叠主体2，设置于第一折叠主体1和第二折叠主体2之间的转轴3，以及检测组件4。
其中，电子设备可以是手机、平板电脑(Tablet Personal Computer)、膝上型电脑(Laptop Computer)、个人数字助理(personal digital assistant，简称PDA)、移动上网装置(Mobile Internet Device，MID)或可穿戴式设备(Wearable Device)等。
其中，第一折叠主体1和第二折叠主体2通过转轴3实现可转动连接，且第一折叠主体1和第二折叠主体2可以不做特别区分，参见图2所示，可以是左侧的折叠主体为第一折叠主体、右侧的折叠主体为第二折叠主体，也可以是左侧的折叠主体为第二折叠主体、右侧的折叠主体为第一折叠主体。本发明实施例中以左侧的折叠主体为第一折叠主体、右侧的折叠主体为第二折叠主体为例进行阐述，其中左侧的折叠主体为第二折叠主体、右侧的折叠主体为第一折叠主体的情况与上述情况类似，不再赘述。
检测组件4包括第一检测部41和第二检测部42，两个检测部设置在不同位置，具体为第一检测部41与第一折叠主体1相对固定，第二检测部42与第二折叠主体2相对固定，或者第一检测部41与第二折叠主体2相对固定，第二检测部42与第一折叠主体1相对固定。
其中，第二检测部42包括沿第一折叠主体1和第二折叠主体2的转动方向间隔设置的多个电容421，在第一折叠主体1沿顺时针方向转动时，第二折叠主体2可以沿顺时针或者逆时针的方向转动。任意相邻两个电容421之间所对应的距离可以相等或不等，且每个电容421对应的容值不同，其中电容421可以为pF级。
由于第一检测部41和第二检测部42之间的相对位置关系，以及第一折叠主体1和第二折叠主体2通过转轴3实现的可转动连接，可以使得第一检测部41与多个电容421可切换地相连，在第一检测部41与其中一个电容421相连的情况下，第一检测部41与第二检测部42连通以形成检测回路。
在形成检测回路之后，可以实现通过检测组件4检测第一折叠主体1和第二折叠主体2之间的相对角度，其中每一个电容421可对应于第一折叠主体1和第二折叠主体2之间的一个折叠角度，在第一检测部41与第二检测部42连通时，可以根据与第一检测部41连接的电容421来确定第一折叠主体1和第二折叠主体2之间的相对角度。
上述结构，通过设置第一检测部与两个折叠主体中的一个相对固定、第二检测部与两个折叠主体中的另一个相对固定，在第一检测部与第二检测部中的多个电容可切换地相连时，形成检测回路，检测第一折叠主体和第二折叠主体之间的相对角度，可以节省成本和空间，降低设计难度，同时可实现任意角度的检测，提升检测性能。
可选的，在本发明一实施例中，如图2和图3所示，所述第一折叠主体1相对于所述转轴3固定，所述第二折叠主体2可转动地安装于所述转轴3上，所述第一检测部41安装于所述第一折叠主体1或所述转轴3，所述第二检测部42与所述第二折叠主体2固定相连。
第一折叠主体1可以与转轴3相对固定连接，第二折叠主体2可转动地安装于转轴3上，由于第一折叠主体1与转轴3相对固定，因此第二折叠主体2可相对于第一折叠主体1转动。此时，第一检测部41与两个折叠主体中的其中一个相对固定，第二检测部42与两个折叠主体中的另一个相对固定的结构形式为：第一检测部41安装于第一折叠主体1，第二检测部42与第二折叠主体2固定相连；或者第一检测部41安装于转轴3，第二检测部42与第二折叠主体2固定相连。
其中，针对第一检测部41安装于第一折叠主体1的情况而言，第一检测部41可设置于第一折叠主体1与转轴3连接的端面上，也可以设置在第一折叠主体1的内部，仅需第一检测部41可以延伸出第一折叠主体1与第二检测部42相连即可。相应的，针对第一检测部41安装于转轴3的情况而言，若第一检测部41为弹性部件，则可设置于转轴3的任意位置以实现与第二检测部42的连接。
针对第二检测部42与第二折叠主体2固定相连的情况而言，第二检测部42所包括的多个电容421可以在第二检测部42与转轴3接触的端面上设置。还可以在第二折叠主体2内部设置一套设在转轴3外的柱体，沿柱体的圆周方向设置多个电容421，使得第二折叠主体2在转动的过程中，第一检测部41与多个电容421可切换地相连。
需要说明的是，任意相邻两个电容421之间所对应的距离可以相等或不等，且每个电容421对应的容值不同，在任意相邻两个电容421之间所对应的距离相等的情况下，则任意相邻两个电容421的容值可以按照预设梯度递增或递减。
上述结构，通过设置第一折叠主体相对于转轴固定，第二折叠主体相对转轴旋转，可以通过第二折叠主体的转动实现设置于第一折叠主体或者转轴上的第一检测部与多个电容可切换地相连，进而可以形成检测回路，进行两个折叠主体之间角度的检测。
其中，如图2至图5所示，在第二检测部42与第二折叠主体2固定相连的情况下，电子设备还包括：电路板5，所述电路板5上设有通孔，所述转轴3贯穿所述通孔，多个所述电容421沿所述转轴3的周向间隔开设置在所述电路板5上，所述电路板5相对于所述第二折叠主体2固定，所述第一检测部41相对于所述第一折叠主体1固定。
在本实施例中，电子设备还包括电路板5，其中电路板5可以为PCB(Printedcircuit boards，印制电路板)板。在电路板5上可形成一通孔，转轴3贯穿通孔后实现与电路板5的连接。多个电容421可以设置在电路板5上，且沿转轴3的周向间隔，由于电路板5相对于第二折叠主体2固定，可以通过第二折叠主体2的转动带动电路板5的转动，在电路板5转动的过程中，第一检测部41可以与多个电容421可切换地相连。其中第一检测部41相对于第一折叠主体1固定，由于第一折叠主体1相对于转轴3固定，因此第一检测部41可以设置于第一折叠主体1或者转轴3上。
其中，电路板5可以为环形或其他形状，在电路板的中央位置或其他位置形成通孔，在电路板与转轴3连接时，转轴3可穿设电路板的通孔，实现将电路板安装在转轴3上。
其中，可以根据多个电容421的排布方式，确定每一个电容421所对应的角度，进而在第一检测部41与电容421接触时，确定所对应的两个折叠主体之间的角度。在本实施例中，多个电容421在电路板5上沿转轴3的周向间隔开设置，可选的可以沿转轴3的一周设置。针对于每一个电容421可以对应于一个角度，在第二折叠主体2相对转轴3转动的过程中，第一检测部41可以与多个电容421可切换地相连，在第一检测部41与电容421连接时，可以形成检测回路，进而可以确定两个折叠主体之间的角度。
多个电容421沿转轴3的周向间隔设置时，可以将转轴3所对应的圆周进行等分，也可以将转轴3所对应的圆周划分为不相同的圆弧。针对将转轴3所对应的圆周划分为不相同的圆弧的情况，需要通过各个圆弧的长度来确定每个电容421所对应的角度。针对将转轴3所对应的圆周进行等分的情况，可以实现任意相邻两个电容421之间对应的圆弧相等，此时任意相邻两个电容421的容值可以按照预设梯度递增或递减，相应的，任意相邻两个电容421所对应的角度按照预设角度差值递增或者递减，使得任意相邻两个电容421所对应的角度之差相等。
下面针对多个电容421将转轴3所对应的圆周进行等分的情况通过一具体实例进行阐述，如图2至图5所示，当第二折叠主体2绕转轴3转动时，环形的电路板5在第二折叠主体2的带动下绕转轴3同角度转动，第一检测部41设置在第一折叠主体1或转轴3上，可以与电路板5上设置的多个电容421可切换连接，从而定位两个折叠主体之间的角度。在电容421的数量为N，N个电容421在360度的圆周上依次等间隔排列时，可以建立电容421与角度之间的对应关系。以N取值为10为例进行说明，电容421的数量为10个，则电容421所对应的角度＝(360/N)*(a-1)，其中a为在10个电容421中的排序，具体见下表所示。
容值 电容编码 角度
0 1 0
10 2 36
20 3 72
30 4 108
40 5 144
50 6 180
60 7 216
70 8 252
80 9 288
90 10 324
如根据表中的对应关系可知，在检测到电容421的容值为10时，根据对应关系确定对应的编码为2，进而确定折叠角度为36度。对于其他情形这里不再一一赘述。
需要说明的是，在确定电容的编码以及对应的角度时，可以首先在转轴所对应的圆周上确定对应角度为零的电容，确定该电容所对应的编码为1，然后计算其他电容与该电容之间的圆弧长度，获取各圆弧长度对应的圆心角，将各圆心角确定为各其他电容对应的角度，并根据角度的递增依次确定电容编码，其中电容编码与角度呈正相关，电容的容值与电容编码正相关。
其中，针对多个电容421将转轴3所对应的圆周划分为不相同的圆弧的情况，可以是相邻两个电容421之间的圆弧长度依次递增，此时相邻两个电容421对应的角度的差值依次递增。此时也可以针对每个电容421进行编号，为了便于记忆，可以设置电容421的容值沿圆弧的延伸方向依次递增或者递减，建立电容421的容值与编号的对应关系，如电容421容值越大编号越大。在电容421与第一检测部41接触的情况下，可以根据获取的容值，确定编号，进而确定两个折叠主体之间的角度。
上述结构，通过将电路板设置于转轴上，在电路板上设置沿转轴的周向排列的多个电容，在第二折叠主体绕转轴运动时带动多个电容转动，使得第一检测部与多个电容可切换地相连，进而可以形成检测回路，进行两个折叠主体之间角度的检测。
可选的，在本发明一实施例中，如图2和图3所示，所述第一折叠主体1相对于所述转轴3可转动，所述第二折叠主体2相对于所述转轴3可转动，所述第一检测部41安装于所述第一折叠主体1，所述第二检测部42与所述第二折叠主体2固定相连。
在本实施例中，第一折叠主体1和第二折叠主体2均可相对于转轴3转动，此时第一检测部41安装于第一折叠主体1上，第二检测部42与第二折叠主体2固定相连。
在仅第一折叠主体1相对于转轴3转动的过程中，设置于第一折叠主体1上的第一检测部41随着第一折叠主体1转动，依次与设置于第二折叠主体2上的多个电容421可切换地相连，进而可以形成检测回路，进行两个折叠主体之间角度的检测。
在仅第二折叠主体2相对于转轴3转动的过程中，设置于第二折叠主体2上的多个电容421随着第二折叠主体2转动，设置于第一折叠主体1上的第一检测部41保持不动，多个电容421依次与第一检测部41连接，进而可以形成检测回路，进行两个折叠主体之间角度的检测。
在第二折叠主体2和第一折叠主体1均相对于转轴3转动的过程中，设置于第二折叠主体2上的多个电容421随着第二折叠主体2转动，设置于第一折叠主体1上的第一检测部41随着第一折叠主体1转动，第一检测部41依次与多个电容421可切换地相连，进而可以形成检测回路，进行两个折叠主体之间角度的检测。
其中，每一个电容421可对应于第一折叠主体1和第二折叠主体2之间的一个折叠角度，在第一检测部41与第二检测部42连通时，可以根据与第一检测部41连接的电容421来确定第一折叠主体1和第二折叠主体2之间的相对角度。
上述结构，通过设置第一折叠主体、第二折叠主体相对转轴旋转，通过第二折叠主体和/或第一折叠主体的转动实现第一检测部与多个电容可切换地相连，进而可以形成检测回路，进行两个折叠主体之间角度的检测。
可选的，在本发明一实施例中，如图2至图5所示，所述第一检测部41包括导电弹片411，所述导电弹片411具有伸出部，所述伸出部与多个所述电容421可切换地相连。
在本实施例中，第一检测部41包括具有伸出部的导电弹片411，导电弹片411通过伸出部实现与多个电容421的可切换连接。具体为：第一折叠主体1和第二折叠主体2通过转轴3实现可转动连接，第一检测部41与两个折叠主体中的其中一个相对固定，多个电容421与两个折叠主体中的其中另一个相对固定，进而可以使得导电弹片411通过伸出部依次与多个电容421实现可切换连接。
上述具有伸出部的导电弹片，可以便于导电弹片在不同的位置设置时均可实现与电容的连接，进而使得导电弹片位置的多样化。
其中，所述第二检测部42还包括多个导电部422，每个所述导电部422与一个所述电容421连接，在所述伸出部与其中一个所述导电部422相连的情况下，所述导电弹片411、所述导电部422和所述电容421连通以形成所述检测回路。
第二检测部42包括多个电容421，以及多个导电部422，其中导电部422可包括露铜区域，且电容421与导电部422的数量相同，每一个电容421与一个导电部422对应连接。在第一检测部41与多个电容421可切换连接实现检测回路时，导电弹片411的伸出部与一个导电部422连接，具体可以为与导电部422的露铜区域连接，由于导电部422与一电容421对应连接，因此可以实现导电弹片411与电容421的连接，进而使得导电弹片411、导电部422和电容421形成检测回路，以使得导电弹片411依次与多个电容421实现可切换连接。
其中，导电弹片411可以为金属弹片，可选为天线弹片，通过金属弹片与露铜区域的接触，实现导电弹片411与导电部422的连接。
上述结构，通过导电弹片、导电部和电容连通形成检测回路，可以在导电弹片与导电部接触的情况下，实现导电弹片依次与多个电容的可切换连接。
可选的，在本发明一实施例中，如图3所示，每个电容421接地，通过设置电容421的接地，可以保证检测回路的形成。
可选的，在本发明一实施例中，如图2、图3以及图6a至图6c所示，所述检测回路还包括电容读取器61和与所述电容读取器61连接的控制器62，在所述第一检测部41与其中一个所述电容421相连的情况下，所述电容读取器61获取与所述第一检测部41连接的当前电容421的当前容值，所述控制器62内存储目标容值，所述控制器62根据所述当前容值和目标容值获得所述第一折叠主体1和第二折叠主体2之间的相对角度。
检测回路在包括第一检测部41与第二检测部42的基础上，还包括电容读取器61和控制器62，电容读取器61和控制器62可以设置于第一折叠主体1、第二折叠主体2或者转轴3上。其中电容读取器61可以与第一检测部41连接，在第一检测部41与其中一个电容421相连的情况下，来读取与第一检测部41连接的当前电容421对应的容值。电容读取器61还可以与各电容421连接，在一电容421与第一检测部41连接时读取当前电容421的容值。
其中，电容读取器61也可以替换为电压读取器，通过读取电容421所对应的电压值来确定电容421的容值，进而获取第一折叠主体1和第二折叠主体2之间的相对角度。
电容读取器61获取与第一检测部41连接的当前电容421的容值之后，可以将当前电容421对应的当前容值发送至控制器62，控制器62内存储有目标容值，根据当前电容421对应的当前容值以及目标容值，可以获得第一折叠主体1和第二折叠主体2之间的相对角度。
根据当前电容421对应的当前容值以及目标容值，获得第一折叠主体1和第二折叠主体2之间的相对角度的情况可以为：将当前容值与目标容值进行比对，在当前容值与目标容值匹配成功的情况下，将目标容值所对应的相对角度确定为当前电容421所对应的第一折叠主体1和第二折叠主体2之间的相对角度。
其中，如图2、图3、图4以及图6a至图6c所示，多个所述电容421均匀间隔设置，目标容值为与多个所述电容421一一对应的多个，每个所述目标容值对应一个所述第一折叠主体1和第二折叠主体2之间的相对角度。
多个电容421均匀间隔设置，可以使得任意相邻两个电容421之间的距离相等，此时可以设置任意相邻两个电容421之间的差值相等，使得多个电容421的容值沿特定方向依次递增。
目标容值的数量与电容421的数量相同，且与多个电容421一一对应，在第一检测部41与其中一个电容421相连的情况下，可以将电容读取器61获取的当前容值与当前电容421对应的目标容值进行比较，在二者一致的情况下，将目标容值对应的相对角度确定为当前电容421所对应的两个折叠主体之间的相对角度。
上述结构，可以在确定当前电容的容值的情况下，根据与目标容值对应的相对角度确定当前电容所对应的相对角度。
需要说明的是，上述实施例均为设置一个第一检测部的实施情况，本领域技术人员还可以设置多个第一检测部，且多个第一检测部与多个电容一一对应设置，一个第一检测部与一个电容形成一个检测回路。如图7所示，可以将包括多个电容421和多个导电部422的第二检测部42设置于第一折叠主体1上，将多个第一检测部41设置于转轴3上，且沿转轴3的轴线延伸，并在转轴3的圆周方向上依次排列，第一折叠主体1可以相对于转轴3转动，此时转轴3相对于第二折叠主体2固定，在第一折叠主体1相对于转轴3转动时，设置于第一折叠主体1上的多个导电部422依次与设置于转轴3上的多个第一检测部41连通，进而使得第一检测部41、导电部422以及电容421连通，形成检测回路，其中每一次连通对应于不同的检测回路，每个检测回路对应的第一检测部41、导电部422以及电容421均不同。其中各第一检测部41可连接至电容读取器61，使得电容读取器61获取与第一检测部41连接的当前电容421的当前容值，电容读取器61可连接至控制器62，使得控制器62根据当前容值和目标容值获得第一折叠主体1和第二折叠主体2之间的相对角度。当然设置多个第一检测部的情况还可以为其他结构，如第一折叠主体和第二折叠主体均可相对于转轴转动，第二检测部设置于第一折叠主体上、多个第一检测部设置于第二折叠主体上，还可以为其他结构形式，这里不再一一阐述。
以上为本发明电子设备的实例，通过设置第一检测部与两个折叠主体中的一个相对固定、第二检测部与两个折叠主体中的另一个相对固定，在第一检测部与第二检测部中的多个电容可切换地相连时，形成检测回路，进而通过第一检测部件和第二检测部件检测第一折叠主体和第二折叠主体之间的相对角度，可以节省成本和空间，降低设计难度，同时可实现任意角度的检测，提升检测性能。
本说明书中的各个实施例均采用递进的方式描述，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处，各个实施例之间相同相似的部分互相参见即可。
尽管已描述了本发明实施例的可选实施例，但本领域内的技术人员一旦得知了基本创造性概念，则可对这些实施例做出另外的变更和修改。所以，所附权利要求意欲解释为包括可选实施例以及落入本发明实施例范围的所有变更和修改。
最后，还需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者终端设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者终端设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者终端设备中还存在另外的相同要素。
上面结合附图对本发明的实施例进行了描述，但是本发明并不局限于上述的具体实施方式，上述的具体实施方式仅仅是示意性的，而不是限制性的，本领域的普通技术人员在本发明的启示下，在不脱离本发明宗旨和权利要求所保护的范围情况下，还可做出很多形式，均属于本发明的保护之内。

Claims (9)

1.一种电子设备，其特征在于，包括：
第一折叠主体；
第二折叠主体，所述第二折叠主体设置于所述第一折叠主体的一侧；
转轴，所述转轴位于所述第一折叠主体和所述第二折叠主体之间，所述第一折叠主体和所述第二折叠主体通过所述转轴可转动连接；
检测组件，所述检测组件用于检测所述第一折叠主体和所述第二折叠主体之间的相对角度；
其中，所述检测组件包括第一检测部和第二检测部，所述第一检测部与所述第一折叠主体和所述第二折叠主体中的其中一个相对固定，所述第二检测部与所述第一折叠主体和所述第二折叠主体中的其中另一个相对固定；
所述第二检测部包括多个电容，多个所述电容沿所述第一折叠主体和所述第二折叠主体的转动方向间隔设置，且每个所述电容的容值不同，所述第一检测部与多个所述电容可切换地相连，在所述第一检测部与其中一个所述电容相连的情况下，所述第一检测部与所述第二检测部连通以形成检测回路；
任意相邻两个所述电容之间所对应的距离相等，且任意相邻两个所述电容的容值可以按照预设梯度递增或递减。
2.根据权利要求1所述的电子设备，其特征在于，所述第一折叠主体相对于所述转轴固定，所述第二折叠主体可转动地安装于所述转轴上，所述第一检测部安装于所述第一折叠主体或所述转轴，所述第二检测部与所述第二折叠主体固定相连。
3.根据权利要求2所述的电子设备，其特征在于，还包括：
电路板，所述电路板上设有通孔，所述转轴贯穿所述通孔，多个所述电容沿所述转轴的周向间隔开设置在所述电路板上，所述电路板相对于所述第二折叠主体固定，所述第一检测部相对于所述第一折叠主体固定。
4.根据权利要求1所述的电子设备，其特征在于，所述第一折叠主体相对于所述转轴可转动，所述第二折叠主体相对于所述转轴可转动，所述第一检测部安装于所述第一折叠主体，所述第二检测部与所述第二折叠主体固定相连。
5.根据权利要求1所述的电子设备，其特征在于，所述第一检测部包括导电弹片，所述导电弹片具有伸出部，所述伸出部与多个所述电容可切换地相连。
6.根据权利要求5所述的电子设备，其特征在于，所述第二检测部还包括多个导电部，每个所述导电部与一个所述电容连接，在所述伸出部与其中一个所述导电部相连的情况下，所述导电弹片、所述导电部和所述电容连通以形成所述检测回路。
7.根据权利要求1所述的电子设备，其特征在于，每个所述电容接地。
8.根据权利要求1所述的电子设备，其特征在于，所述检测回路还包括电容读取器和与所述电容读取器连接的控制器，在所述第一检测部与其中一个所述电容相连的情况下，所述电容读取器获取与所述第一检测部连接的当前电容的当前容值，所述控制器内存储目标容值，所述控制器根据所述当前容值和目标容值获得所述第一折叠主体和所述第二折叠主体之间的相对角度。
9.根据权利要求8所述的电子设备，其特征在于，多个所述电容均匀间隔设置，所述目标容值为与多个所述电容一一对应的多个，每个所述目标容值对应一个所述第一折叠主体和第二折叠主体之间的相对角度。
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