CN111528892A - 放线控制方法、装置、ct设备及ct系统 - Google Patents

放线控制方法、装置、ct设备及ct系统 Download PDF

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Abstract

本发明实施例提供一种放线控制方法、装置、CT设备及CT系统。本发明实施例通过预先获取受检对象的预设部位在平片扫描中Z方向上各个位置与断层衰减信息之间的第一对应关系，获取一次完整放线过程中所有射线源对应的第一衰减信息，根据第一衰减信息和第一对应关系，确定一次完整放线过程的下一次完整放线过程中各射线源对应的第二衰减信息，根据第二衰减信息和各射线源对应的准直宽度，预测下一次完整放线过程中各射线源的散射分布信息，根据散射分布信息和预设条件，在下一次完整放线过程中对各射线源进行放线控制，能够灵活满足应用场景中对于散射和时间分辨率的要求。

Description

放线控制方法、装置、CT设备及CT系统
技术领域
本发明涉及医学扫描处理技术领域，尤其涉及一种放线控制方法、装置、CT设备及CT系统。
背景技术
目前，电子计算机断层扫描(Computed Tomography，CT)技术已在医学成像领域获得广泛应用。其中，静态CT系统由于球管(也称为射线源)和检测器不需要运动，可以突破CT成像的速度极限，并且能够解决由于球管运动导致的运动伪影等问题，因此具有广阔的应用前景。
静态CT系统有多个射线源，同时放线的射线源数量越多，散射越严重。而同时放线的射线源数量越少，时间分辨率越低。
发明内容
为克服相关技术中存在的问题，本发明提供了一种放线控制方法、装置、CT设备及CT系统，满足应用场景中对散射和时间分辨率的要求。
根据本发明实施例的第一方面，提供一种放线控制方法，应用于静态CT系统，所述静态CT系统包含多个射线源，所述多个射线源均匀分布在环形轨道上；所述方法包括：
预先获取受检对象的预设部位在平片扫描中Z方向上各个位置与断层衰减信息之间的第一对应关系；
获取一次完整放线过程中所有射线源对应的第一衰减信息；
根据所述第一衰减信息和所述第一对应关系，确定所述一次完整放线过程的下一次完整放线过程中各射线源对应的第二衰减信息；
根据所述第二衰减信息和各射线源对应的准直宽度，预测所述下一次完整放线过程中各射线源的散射分布信息；
根据所述散射分布信息和预设条件，在所述下一次完整放线过程中对各射线源进行放线控制。
根据本发明实施例的第二方面，提供一种放线控制装置，应用于静态CT系统，所述静态CT系统包含多个射线源，所述多个射线源均匀分布在环形轨道上；所述装置包括：
关系获取模块，用于预先获取受检对象的预设部位在平片扫描中Z方向上各个位置与断层衰减信息之间的第一对应关系；
衰减信息获取模块，用于获取一次完整放线过程中所有射线源对应的第一衰减信息；
衰减信息确定模块，用于根据所述第一衰减信息和所述第一对应关系，确定所述一次完整放线过程的下一次完整放线过程中各射线源对应的第二衰减信息；
散射预测模块，用于根据所述第二衰减信息和各射线源对应的准直宽度，预测所述下一次完整放线过程中各射线源的散射分布信息；
控制模块，用于根据所述散射分布信息和预设条件，在所述下一次完整放线过程中对各射线源进行放线控制。
根据本发明实施例的第三方面，提供一种CT设备，包括：内部总线，以及通过内部总线连接的存储器、处理器和外部接口；其中，所述外部接口，用于连接CT系统的检测器，所述检测器包括多个检测器室及相应的处理电路；
所述存储器，用于存储放线控制逻辑对应的机器可读指令；所述机器可读指令应用于静态CT系统，所述静态CT系统包含多个射线源，所述多个射线源均匀分布在环形轨道上；
所述处理器，用于读取所述存储器上的所述机器可读指令，并执行如下操作：
预先获取受检对象的预设部位在平片扫描中Z方向上各个位置与断层衰减信息之间的第一对应关系；
获取一次完整放线过程中所有射线源对应的第一衰减信息；
根据所述第一衰减信息和所述第一对应关系，确定所述一次完整放线过程的下一次完整放线过程中各射线源对应的第二衰减信息；
根据所述第二衰减信息和各射线源对应的准直宽度，预测所述下一次完整放线过程中各射线源的散射分布信息；
根据所述散射分布信息和预设条件，在所述下一次完整放线过程中对各射线源进行放线控制。
根据本发明实施例的第四方面，提供一种CT系统，所述CT系统为静态CT系统，所述静态CT系统包含多个射线源，所述多个射线源均匀分布在环形轨道上；所述CT系统还包括检测器、扫描床和CT设备，所述检测器包括多个检测器室及相应的处理电路；其中：
所述检测器室，用于在所述CT系统扫描过程中，探测穿过扫描对象的X射线并转换为电信号；
所述处理电路，用于将所述电信号转换成脉冲信号，采集脉冲信号的能量信息；
所述CT设备，用于：
预先获取受检对象的预设部位在平片扫描中Z方向上各个位置与断层衰减信息之间的第一对应关系；
获取一次完整放线过程中所有射线源对应的第一衰减信息；
根据所述第一衰减信息和所述第一对应关系，确定所述一次完整放线过程的下一次完整放线过程中各射线源对应的第二衰减信息；
根据所述第二衰减信息和各射线源对应的准直宽度，预测所述下一次完整放线过程中各射线源的散射分布信息；
根据所述散射分布信息和预设条件，在所述下一次完整放线过程中对各射线源进行放线控制。
本发明实施例提供的技术方案可以包括以下有益效果：
本发明实施例，通过预先获取受检对象的预设部位在平片扫描中Z方向上各个位置与断层衰减信息之间的第一对应关系，获取一次完整放线过程中所有射线源对应的第一衰减信息，根据第一衰减信息和第一对应关系，确定一次完整放线过程的下一次完整放线过程中各射线源对应的第二衰减信息，根据第二衰减信息和各射线源对应的准直宽度，预测下一次完整放线过程中各射线源的散射分布信息，根据散射分布信息和预设条件，在下一次完整放线过程中对各射线源进行放线控制，能够灵活满足应用场景中对于散射和时间分辨率的要求。
应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的，并不能限制本说明书。
附图说明
此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本说明书的实施例，并与说明书一起用于解释本说明书的原理。
图1是本发明实施例提供的放线控制方法的流程示例图。
图2是平片扫描中Z方向位置的示意图。
图3是断层衰减面积的计算原理示意图。
图4是位置-等效水模直径关系曲线图。
图5是预测衰减信息的原理示意图。
图6是射线源与检测器的位置关系示意图。
图7是射线源0对应的检测器与散射信息之间的关系曲线示意图。
图8是本发明实施例提供的放线控制装置的功能方块图。
图9是本发明实施例提供的CT设备的一个硬件结构图。
图10是通道示意图。
具体实施方式
这里将详细地对示例性实施例进行说明，其示例表示在附图中。下面的描述涉及附图时，除非另有表示，不同附图中的相同数字表示相同或相似的要素。以下示例性实施例中所描述的实施方式并不代表与本发明相一致的所有实施方式。相反，它们仅是与如所附权利要求书中所详述的、本发明实施例的一些方面相一致的装置和方法的例子。
在本发明实施例使用的术语是仅仅出于描述特定本发明实施例的目的，而非旨在限制本发明实施例。在本发明实施例和所附权利要求书中所使用的单数形式的“一种”、“所述”和“该”也旨在包括多数形式，除非上下文清楚地表示其他含义。还应当理解，本文中使用的术语“和/或”是指并包含一个或多个相关联的列出项目的任何或所有可能组合。
应当理解，尽管在本发明实施例可能采用术语第一、第二、第三等来描述各种信息，但这些信息不应限于这些术语。这些术语仅用来将同一类型的信息彼此区分开。例如，在不脱离本发明实施例范围的情况下，第一信息也可以被称为第二信息，类似地，第二信息也可以被称为第一信息。取决于语境，如在此所使用的词语“如果”可以被解释成为“在……时”或“当……时”或“响应于确定”。
静态CT系统中包括X射线系统和检测器系统。其中，X射线系统包括多个射线源，这些射线源均匀分布在一个环形轨道上。同样的，检测器系统也包括多个检测器，检测器系统通过特殊方式排布，用于接收X射线系统发射的射线。
静态CT系统中，每个射线源位置固定不变，并且每个射线源对应一个角度。射线源对应的角度是该射线源与旋转中心的连线与X轴(X轴位于与扫描床平行的平面上且垂直于扫描床的移动方向)之间的夹角。每个射线源发射的所有射线形成一个锥束，该锥束在平面上显示为扇形。图10是通道示意图。如图10所示，该平面上处于该扇形的圆弧上的通道会接收到该射线源发射的射线。其中每个通道对应一个检测单元，每个通道接收射线源的一部分射线，每个通道对应一个衰减值。这样，每个射线源发射的射线分布在多个通道中，这些通道为射线源对应的通道。例如，假设射线源发射的射线被672个通道接收到，则该射线源对应672个通道。
虽然静态CT系统有多个射线源，但是由于散射存在，如果所有射线源同时放线，会使得散射情况加重，影响图像质量；如果每个射线源依次放线，会使得扫描时间变长，无法满足时间分辨率要求高的扫描。
其中，时间分辨率是指单次完整放线所需要的时间。一次完整放线是指静态CT系统中的每个射线源都放线一次。本文中，“放线”是指静态CT系统的射线源发射X射线。
在静态CT系统的使用中，通常存在两种应用场景。一种应用场景中，要求在保证时间分辨率的前提下，散射影响尽可能小。另一种应用场景中，要求保证散射满足需求的前提下，时间分辨率尽可能高。
下面通过实施例对本发明的放线控制方法进行详细说明。
图1是本发明实施例提供的放线控制方法的流程示例图。该放线控制方法可以应用于静态CT系统，所述静态CT系统包含多个射线源，所述多个射线源均匀分布在环形轨道上。
如图1所示，本实施例中，放线控制方法可以包括：
S101，预先获取受检对象的预设部位在平片扫描中Z方向上各个位置与断层衰减信息之间的第一对应关系。
S102，获取一次完整放线过程中所有射线源对应的第一衰减信息。
S103，根据所述第一衰减信息和所述第一对应关系，确定所述一次完整放线过程的下一次完整放线过程中各射线源对应的第二衰减信息。
S104，根据所述第二衰减信息和各射线源对应的准直宽度，预测所述下一次完整放线过程中各射线源的散射分布信息。
S105，根据所述散射分布信息和预设条件，在所述下一次完整放线过程中对各射线源进行放线控制。
本发明实施例的放线控制方法可以应用于螺旋扫描，也可以应用于断层扫描。
首先说明CT系统中的空间坐标系。该空间坐标系中，Z方向为扫描床运动方向，XZ平面平行于扫描床，X方向与扫描床运动方向垂直，Y方向垂直于扫描床。
本实施例中，断层衰减信息可以是受检对象的各个扫描断层对应的等效水模直径。其中，扫描断层为人体平行于上述空间坐标系的XY平面的横截面。
在一个示例性的实现过程中，步骤S101中，预先获取受检对象的预设部位在平片扫描中Z方向上各个位置与断层衰减信息之间的第一对应关系，可以包括：
在所述预设部位对应的Z方向上各个位置处，分别采用同一组射线源对所述受检对象进行平片扫描，得到各个通道对应的X射线的发射强度和接收强度；
对于每个位置，根据所述位置处各个通道对应的X射线的发射强度和接收强度确定所述位置处各个通道对应的衰减值；
根据所述各个通道对应的衰减值，确定所述位置处的断层衰减面积；
根据所述位置处的断层衰减面积，确定所述位置处的等效水模直径，将所述等效水模直径作为所述位置对应的断层衰减信息。
本实施例中，预设部位可以是需要进行扫描的人体部位。图2是平片扫描中Z方向位置的示意图。如图2所示，预设部位可以是由a至d的范围。
在平片扫描时，用一组射线源(每组射线源可以包括至少一个射线源)对受检对象进行扫描。例如，扫描正平片时，使用扫描床正上方的射线源进行扫描，此时射线源对应的角度为0°。
其中，每个通道的衰减值μl与该通道对应的X射线的接收强度I与发射强度I0的关系可以表示为I＝I0*exp(μl)，其中，exp()表示以e为底的指数。
图3是断层衰减面积的计算原理示意图。每个Z坐标处的断层衰减面积可以采用如下的公式(1)计算：
Figure BDA0002486986950000081
公式(1)中的Δ通过如下的公式(2)计算：
Figure BDA0002486986950000082
公式(1)和公式(2)中，S是断层衰减面积，μili是通道i的衰减值，F是射线源覆盖的检测器数量，R是射线源到检测器的距离，α是射线源的扇角。
每个Z坐标处的等效水模直径可以采用如下的公式(3)计算：
Dscan＝2*sqrt(mean(S)/(PI*μwater)) (3)
公式(3)中，Dscan是等效水模直径，mean()表示求平均值sqrt()表示开平方，PI是π，μwater是水的吸收系数。
这样，Z方向上每个断层衰减面积都对应一个等效水模直径，以该等效水模直径作为断层所在位置(用Z坐标表示)对应的断层衰减信息，得到图4所示的曲线。图4是位置-等效水模直径关系曲线图。图4中，位置是指断层位置，用Z坐标表示，D表示等效水模直径，D_b是指Z方向位置坐标为b处的等效水模直径。
在一个示例性的实现过程中，步骤S102中，获取一次完整放线过程中所有射线源对应的第一衰减信息，可以包括：
在一次完整放线过程中分M个时序进行放线，每个时序中有至少一个射线源放线，其中M为大于1的整数；
对于每个射线源，根据所述射线源的X射线的发射强度和所述射线源对应的检测器的接收强度确定该所述射线源对应的第一衰减信息。
本实施例中，所有射线源是指静态CT中的全部射线源。
M个时序中，每个时序有K(K＝floor(N/M)，为一次完整放线过程中时序的数量，N为静态CT中的全部射线源的数量)个或K+1个射线源放线。例如，第一个时序放线的射线源编号为0、M、2M……，第二个时序放线的射线源编号为1、M+1、2M+1……，第M个时序的射线源编号为M-1、2M-1、3M-1……。
在一个示例性的实现过程中，步骤S103中，根据所述第一衰减信息和所述第一对应关系，确定所述一次完整放线过程的下一次完整放线过程中各射线源对应的第二衰减信息，可以包括：
根据所述第一衰减信息，预测所述下一次完整放线过程中各射线源对应的预测衰减信息；
根据所述第一对应关系对所述预测衰减信息进行校正，得到第二衰减信息。
本实施例中，用已经完成的完整放线过程中各射线源对应的实际衰减信息，来预测下一次完整放线过程中各射线源对应的衰减信息。例如，假设螺旋扫描过程中共需要20个完整放线过程，则用第1个完整放线过程中各射线源的实际衰减信息预测第2个完整放线过程中各射线源的衰减信息，第2个完整放线过程中各射线源的实际衰减信息预测第3个完整放线过程中各射线源的衰减信息，……依此类推。
需要说明的是，为便于描述，以下将静态CT系统中的射线源在已经完成的完整放线过程中称为第一射线源，将静态CT系统中的射线源在已经完成的完整放线过程的下一次完整放线过程中称为第二射线源。这样，就可以区分需要预测的是第二射线源的衰减信息，而已知的是第一射线源的实际衰减信息。
在一个示例性的实现过程中，根据所述第一衰减信息，预测所述下一次完整放线过程中各射线源对应的预测衰减信息，可以包括：
将所述一次完整放线过程中的射线源作为第一射线源，将所述下一次完整放线过程中的射线源作为第二射线源；
对于每个第二射线源，在所有第一射线源中，确定目标射线源，所述目标射线源中的第一目标通道与所述第二射线源中的第二目标通道经过所述受检对象的路径相似；
将所述第一目标通道对应的第一衰减信息确定为所述第二射线源对应的第二衰减信息；
根据所述第一对应关系对所述预测衰减信息进行校正，得到第二衰减信息，包括：
对于每个第二射线源，确定所述第二射线源对应的目标射线源在扫描时所对应的Z方向的第一位置，以及所述第二射线源在扫描时所对应的Z方向的第二位置；
从所述第一对应关系中，查找所述第一位置对应的第一断层衰减信息和所述第二位置对应的第二断层衰减信息；
根据所述第二射线源对应的预测衰减信息、所述第一断层衰减信息和所述第二断层衰减信息，获得所述第二射线源对应的第二衰减信息。
本实施例中目标射线源是基于光路可逆原则确定的。第一目标通道与第二目标通道经过受检对象的路径相似，而且关于中心通道对称。
图5是预测衰减信息的原理示意图。假设每个射线源对应c1～c5共5个通道。中心通道c3经过旋转中心(Rotate Center)。根据图5中箭头所示的旋转方向(RotateDirection)，射线源i在射线源j和射线源k之后。如图5所示，可以使用射线源j的c4通道的衰减值作为射线源i的c2通道的衰减值的估计值，可以使用射线源k的c1通道的衰减值作为射线源i的c5通道的衰减值的估计值，因为这两对通道中的每一对通道经过物体(Object)的路径相似，而且每对通道关于中心通道c3对称。以此类推，其它通道的衰减值也可以这样估计。
图5中，射线源j的位置是180°－A，射线源k的位置是180°+B，其中，角度A等于2×α、角度B等于2×β，α是c2与中心通道c3的夹角，β是c5通道与中心通道c3的夹角。
由于螺旋扫描过程中，扫描床不断移动，Z方向的位置不断发生改变，因此需要对根据第一衰减信息估计得到的预测衰减信息进行校正。可以根据如下的公式(4)进行校正：
RayAtt＝RayAtt’*(D(j)/D(i))^cof2 (4)
公式(4)中，RayAtt为预测衰减信息校正后得到的第二衰减信息，RayAtt’为预测衰减信息，D(i)为已知第一衰减信息的通道(例如前述示例中的射线源j的c4通道，如图5所示)所在位置的等效水模直径，即第一断层衰减信息，D(j)为需要进行衰减信息校正的通道所在位置(例如前述示例中的射线源i的c2通道，如图5所示)的等效水模直径，即第二断层衰减信息，Cof2是校正系数。
D(i)和D(j)可以通过图4所示的位置-等效水模直径关系中得到。
在一个示例性的实现过程中，根据所述第二衰减信息和各射线源对应的准直宽度，预测所述下一次完整放线过程中各射线源的散射分布信息，可以包括：
对于每个射线源，根据所述射线源对应的第二衰减信息、所述射线源对应的准直宽度，以及所述射线源与各检测器之间的位置关系，构建所述射线源对应的检测器与散射信息之间的第二对应关系，将所述第二对应关系作为所述射线源的散射分布信息。
举例说明。假设静态CT系统有N个射线源和N个检测器，N个射线源编号分别为0、1、2……N-1，相应地，N个检测器编号分别为0’、1’、2’……(N-1)’。其中，射线源0对应检测器0’，射线源1对应检测器1’，射线源2对应检测器2’，……射线源N-1对应检测器(N-1)’。以射线源0为例，射线源0对应检测器0’。请参见图6，图6是射线源与检测器的位置关系示意图。图7是射线源0对应检测器与散射信息之间的关系曲线示意图。请参见图7，图7中的横坐标为检测器编号，纵坐标为散射强度。由图7可见，散射强度近似呈现正态分布，因此可以使用正态分布曲线进行模拟，得到检测器与散射信息之间的函数关系，如公式(5)所示。
Figure BDA0002486986950000111
公式(5)中，x表示检测器编号，f(x)表示编号为x的检测器对应的散射强度；b为射线源正对的检测器所在位置；c与检测器在X方向的长度有关，检测器在X方向的长度越长，c的值越大；a为幅值，a与准直宽度和衰减信息有关，a可以通过如下的公式(6)计算得到：
a＝(MAX(ul)*d)^cof (6)
公式(6)中，MAX()表示取最大值，ul表示衰减信息，d表示准直宽度，cof为调整系数。
公式(5)即为射线源0对应的检测器与散射信息之间的第二对应关系。
同理，可获得静态CT系统中其他各射线源对应的检测器与散射信息之间的第二对应关系。
在一个示例性的实现过程中，根据所述散射分布信息和预设条件，在所述下一次完整放线过程中对各射线源进行放线控制，可以包括：
根据所述散射分布信息和预设条件，确定所述下一次完整放线过程中每个时序对应的射线源；
对于每个射线源，控制所述射线源在对应的时序中放线。
本实施例中，预设条件可以根据应用场景的要求确定。
在一个示例性的实现过程中，根据所述散射分布信息和预设条件，确定所述下一次完整放线过程中每个时序对应的射线源，可以包括：
确定当前时序中未放线的各射线源对应的所有第二衰减信息中的最大衰减信息，将所述最大衰减信息对应的射线源作为当前射线源；
将当前射线源添加到当前时序对应的射线源集合中；根据射线源集合中所有射线源对应的第二对应关系，确定射线源集合对应的所有检测器中每个检测器的叠加散射信息；根据所述叠加散射信息，确定所述射线源集合对应的所有检测器的总叠加散射信息，以及确定最大叠加散射信息；若所述总叠加散射信息或所述最大叠加散射信息符合预设条件，在射线源集合对应的检测器中确定具有最小散射信息的目标检测器，将所述目标检测器对应的射线源作为当前射线源，重复本步骤；
若所述总叠加散射信息或所述最大叠加散射信息不符合预设条件，将最后一次符合条件时射线源集合中的射线源确定为当前时序对应的射线源。
举例说明。假设静态CT系统中射线源的数量N＝12，编号分别为0～11，相应地，12个检测器编号分别为0’～11’。则确定各时序对应的射线源的过程如下：
F1，当前时序为第一时序时，未放线的射线源包括射线源0～11；
F2，射线源0～11中，射线源0的第二衰减信息最大，则射线源0为当前射线源，将射线源0添加到第一时序对应的射线源集合1中；
F3，根据射线源0对应的第二对应关系，确定在只有射线源0放线的情况下检测器0’～11’分别对应的散射强度m0-0、m0-1、m0-2……m0-11；
F4，计算散射强度m0-0、m0-1、m0-2……m0-11的和，记为和值1，并假设散射强度m0-0、m0-1、m0-2……m0-11中的最大值为散射强度m0-1；
F5，假设和值1或散射强度m0-1符合预设条件，将散射强度m0-0、m0-1、m0-2……中的最小值(假设最小值是m0-11)——散射强度m0-11对应的检测器11’对应的射线源11作为当前射线源；
F6，将射线源11添加到第一时序对应的射线源集合1中，此时射线源集合1中有2个射线源：射线源0和射线源11；
F7，根据射线源0对应的第二对应关系以及射线源11对应的第二对应关系，确定在只有射线源0和射线源11放线的情况下检测器0’～11’对应的散射强度分别为m0-0+m11-0、m0-1+m11-1、m0-2+m11-2……m0-11+m11-11(其中m11-0、m11-1、m11-2……m11-11是在射线源11放线的作用下产生的散射)；
F8，计算散射强度m0-0+m11-0、m0-1+m11-1、m0-2+m11-2……m0-11+m11-11的和，记为和值2，并假设散射强度m0-0+m11-0、m0-1+m11-1、m0-2+m11-2……m0-11+m11-11中的最大值为散射强度m0-0+m11-0；
F9，假设和值2或散射强度m0-0+m11-0符合预设条件，则将散射强度m0-0+m11-0、m0-1+m11-1、m0-2+m11-2……m0-11+m11-11中的最小值(假设最小值为m0-1+m11-1)——散射强度m0-1+m11-1对应的检测器1’对应的射线源1作为当前射线源；
F10，重复F6～F9，假设得到和值3和最大散射强度，若和值3或最大散射强度不符合预设条件，则确定第一时序对应的射线源为射线源0和射线源11；以下确定其他时序对应的射线源；
F11，当前时序为第二时序时，未放线的射线源包括射线源1～10；按照与F2～F10类似的过程确定出第二时序对应的射线源。
同理，根据与F11类似的步骤确定出其他各个时序对应的射线源。
本实施例中，若当前时序为第一时序，则全部射线源为当前时序中的未放线的射线源；若当前时序不为第一时序，则从全部射线源中去除所述下一次完整放线过程中当前时序之前的所有时序对应的射线源，剩余的射线源为当前时序中的未放线的射线源。
在一个示例性的实现过程中，所述预设条件为：所述总叠加散射信息小于或等于第一散射阈值；或者，所述最大叠加散射信息小于或等于第二散射阈值。
在应用中，可以用总叠加散射信息或最大叠加散射信息之中的一个来作为判断的参数。
在应用中，可以通过调节第一散射阈值或第二散射阈值的大小来满足实际应用对于时间分辨率和散射效果的要求。
假设阈值为Thre。
在一个示例中，根据各射线源对应的第二对应关系预测所有检测器的散射值，并预测下一次完整放线过程中所有检测器的总散射值，总散射值记为ScatterSum。假设要求的时间分辨率是K(K个时序完成一个完整放线)，那么可以设置Thre＝ScatterSum/K。保证时间分辨率的控制方式为：单个时序所有检测器接收的散射之和小于或等于Thre，最后可能会剩余少量射线源，可以将这些剩余的射线源加到影响最小的时序中。
保证散射达到要求的控制方式为：设置符合散射要求的Thre值，控制在一个时序内，所有检测器接收到的散射之和，或是某个检测接收到的散射，小于阈值Thre。
本发明实施例提供的放线控制方法，通过预先获取受检对象的预设部位在平片扫描中Z方向上各个位置与断层衰减信息之间的第一对应关系，获取一次完整放线过程中所有射线源对应的第一衰减信息，根据第一衰减信息和第一对应关系，确定一次完整放线过程的下一次完整放线过程中各射线源对应的第二衰减信息，根据第二衰减信息和各射线源对应的准直宽度，预测下一次完整放线过程中各射线源的散射分布信息，根据散射分布信息和预设条件，在下一次完整放线过程中对各射线源进行放线控制，能够灵活满足应用场景中对于散射和时间分辨率的要求。
基于上述的方法实施例，本发明实施例还提供了相应的装置、设备及存储介质实施例。
图8是本发明实施例提供的放线控制装置的功能方块图。所述放线控制装置应用于静态CT系统，所述静态CT系统包含多个射线源，所述多个射线源均匀分布在环形轨道上。如图8所示，本实施例中，放线控制装置可以包括：
关系获取模块810，用于预先获取受检对象的预设部位在平片扫描中Z方向上各个位置与断层衰减信息之间的第一对应关系；
衰减信息获取模块820，用于获取一次完整放线过程中所有射线源对应的第一衰减信息；
衰减信息确定模块830，用于根据所述第一衰减信息和所述第一对应关系，确定所述一次完整放线过程的下一次完整放线过程中各射线源对应的第二衰减信息；
散射预测模块840，用于根据所述第二衰减信息和各射线源对应的准直宽度，预测所述下一次完整放线过程中各射线源的散射分布信息；
控制模块850，用于根据所述散射分布信息和预设条件，在所述下一次完整放线过程中对各射线源进行放线控制。
在一个示例性的实现过程中，关系获取模块810可以具体用于：
在所述预设部位对应的Z方向上各个位置处，分别采用同一组射线源对所述受检对象进行平片扫描，得到各个通道对应的X射线的发射强度和接收强度；
对于每个位置，根据所述位置处各个通道对应的X射线的发射强度和接收强度确定所述位置处各个通道对应的衰减值；
根据所述各个通道对应的衰减值，确定所述位置处的断层衰减面积；
根据所述位置处的断层衰减面积，确定所述位置处的等效水模直径，将所述等效水模直径作为所述位置对应的断层衰减信息。
在一个示例性的实现过程中，衰减信息获取模块820可以具体用于：
在一次完整放线过程中分M个时序进行放线，每个时序中有至少一个射线源放线，其中M为大于1的整数；
对于每个射线源，根据所述射线源的X射线的发射强度和所述射线源对应的检测器的接收强度确定该所述射线源对应的第一衰减信息。
在一个示例性的实现过程中，衰减信息确定模块830可以具体用于：
根据所述第一衰减信息，预测所述下一次完整放线过程中各射线源对应的预测衰减信息；
根据所述第一对应关系对所述预测衰减信息进行校正，得到第二衰减信息。
在一个示例性的实现过程中，衰减信息确定模块830在用于根据所述第一衰减信息，预测所述下一次完整放线过程中各射线源对应的预测衰减信息时，可以具体用于：
将所述一次完整放线过程中的射线源作为第一射线源，将所述下一次完整放线过程中的射线源作为第二射线源；
对于每个第二射线源，在所有第一射线源中，确定目标射线源，所述目标射线源中的第一目标通道与所述第二射线源中的第二目标通道经过所述受检对象的路径相似；
将所述第一目标通道对应的第一衰减信息确定为所述第二射线源对应的第二衰减信息；
根据所述第一对应关系对所述预测衰减信息进行校正，得到第二衰减信息，包括：
对于每个第二射线源，确定所述第二射线源对应的目标射线源在扫描时所对应的Z方向的第一位置，以及所述第二射线源在扫描时所对应的Z方向的第二位置；
从所述第一对应关系中，查找所述第一位置对应的第一断层衰减信息和所述第二位置对应的第二断层衰减信息；
根据所述第二射线源对应的预测衰减信息、所述第一断层衰减信息和所述第二断层衰减信息，获得所述第二射线源对应的第二衰减信息。
在一个示例性的实现过程中，散射预测模块840可以具体用于：
对于每个射线源，根据所述射线源对应的第二衰减信息、所述射线源对应的准直宽度，以及所述射线源与各检测器之间的位置关系，构建所述射线源对应的检测器与散射信息之间的第二对应关系，将所述第二对应关系作为所述射线源的散射分布信息。
在一个示例性的实现过程中，确定模块850可以具体用于：
根据所述散射分布信息和预设条件，确定所述下一次完整放线过程中每个时序对应的射线源；
对于每个射线源，控制所述射线源在对应的时序中放线。
在一个示例性的实现过程中，确定模块850在用于根据所述散射分布信息和预设条件，确定所述下一次完整放线过程中每个时序对应的射线源时，可以具体用于：
确定当前时序中未放线的各射线源对应的所有第二衰减信息中的最大衰减信息，将所述最大衰减信息对应的射线源作为当前射线源；
将当前射线源添加到当前时序对应的射线源集合中；根据射线源集合中所有射线源对应的第二对应关系，确定射线源集合对应的所有检测器中每个检测器的叠加散射信息；根据所述叠加散射信息，确定所述射线源集合对应的所有检测器的总叠加散射信息，以及确定最大叠加散射信息；若所述总叠加散射信息和/或所述最大叠加散射信息符合预设条件，在射线源集合对应的检测器中确定具有最小散射信息的目标检测器，将所述目标检测器对应的射线源作为当前射线源，重复本步骤；
若所述总叠加散射信息和/或所述最大叠加散射信息不符合预设条件，将最后一次符合预设条件时射线源集合中的射线源确定为当前时序对应的射线源。
在一个示例性的实现过程中，若当前时序为第一时序，则全部射线源为当前时序中的未放线的射线源；若当前时序不为第一时序，则从全部射线源中去除所述下一次完整放线过程中当前时序之前的所有时序对应的射线源，剩余的射线源为当前时序中的未放线的射线源。
在一个示例性的实现过程中，所述预设条件为：所述总叠加散射信息小于或等于第一散射阈值；或者，所述最大叠加散射信息小于或等于第二散射阈值。
本发明实施例还提供了一种CT设备。图9是本发明实施例提供的CT设备的一个硬件结构图。如图9所示，CT设备包括：内部总线901，以及通过内部总线连接的存储器902，处理器903和外部接口904，其中，所述外部接口，用于连接CT系统的检测器，所述检测器包括多个检测器室及相应的处理电路；
所述存储器902，用于存储放线控制逻辑对应的机器可读指令；所述机器可读指令应用于静态CT系统，所述静态CT系统包含多个射线源，所述多个射线源均匀分布在环形轨道上；
所述处理器903，用于读取存储器902上的机器可读指令，并执行所述指令以实现如下操作：
预先获取受检对象的预设部位在平片扫描中Z方向上各个位置与断层衰减信息之间的第一对应关系；
获取一次完整放线过程中所有射线源对应的第一衰减信息；
根据所述第一衰减信息和所述第一对应关系，确定所述一次完整放线过程的下一次完整放线过程中各射线源对应的第二衰减信息；
根据所述第二衰减信息和各射线源对应的准直宽度，预测所述下一次完整放线过程中各射线源的散射分布信息；
根据所述散射分布信息和预设条件，在所述下一次完整放线过程中对各射线源进行放线控制。
在一个示例性的实现过程中，预先获取受检对象的预设部位在平片扫描中Z方向上各个位置与断层衰减信息之间的第一对应关系，包括：
在所述预设部位对应的Z方向上各个位置处，分别采用同一组射线源对所述受检对象进行平片扫描，得到各个通道对应的X射线的发射强度和接收强度；
对于每个位置，根据所述位置处各个通道对应的X射线的发射强度和接收强度确定该所述位置处各个通道对应的衰减值；
根据所述各个通道对应的衰减值，确定所述位置处的断层衰减面积；
根据所述位置处的断层衰减面积，确定所述位置处的等效水模直径，将所述等效水模直径作为所述位置对应的断层衰减信息。
在一个示例性的实现过程中，获取一次完整放线过程中所有射线源对应的第一衰减信息，包括：
在一次完整放线过程中分M个时序进行放线，每个时序中有至少一个射线源放线，其中M为大于1的整数；
对于每个射线源，根据所述射线源的X射线的发射强度和所述射线源对应的检测器的接收强度确定该所述射线源对应的第一衰减信息。
在一个示例性的实现过程中，根据所述第一衰减信息和所述第一对应关系，确定所述一次完整放线过程的下一次完整放线过程中各射线源对应的第二衰减信息，包括：
根据所述第一衰减信息，预测所述下一次完整放线过程中各射线源对应的预测衰减信息；
根据所述第一对应关系对所述预测衰减信息进行校正，得到第二衰减信息。
在一个示例性的实现过程中，根据所述第一衰减信息，预测所述下一次完整放线过程中各射线源对应的预测衰减信息，包括：
将所述一次完整放线过程中的射线源作为第一射线源，将所述下一次完整放线过程中的射线源作为第二射线源；
对于每个第二射线源，在所有第一射线源中，确定目标射线源，所述目标射线源中的第一目标通道与所述第二射线源中的第二目标通道经过所述受检对象的路径相似；
将所述第一目标通道对应的第一衰减信息确定为所述第二射线源对应的第二衰减信息；
根据所述第一对应关系对所述预测衰减信息进行校正，得到第二衰减信息，包括：
对于每个第二射线源，确定所述第二射线源对应的目标射线源在扫描时所对应的Z方向的第一位置，以及所述第二射线源在扫描时所对应的Z方向的第二位置；
从所述第一对应关系中，查找所述第一位置对应的第一断层衰减信息和所述第二位置对应的第二断层衰减信息；
根据所述第二射线源对应的预测衰减信息、所述第一断层衰减信息和所述第二断层衰减信息，获得所述第二射线源对应的第二衰减信息。
在一个示例性的实现过程中，根据所述第二衰减信息和各射线源对应的准直宽度，预测所述下一次完整放线过程中各射线源的散射分布信息，包括：
对于每个射线源，根据所述射线源对应的第二衰减信息、所述射线源对应的准直宽度，以及所述射线源与各检测器之间的位置关系，构建所述射线源对应的检测器与散射信息之间的第二对应关系，将所述第二对应关系作为所述射线源的散射分布信息。
在一个示例性的实现过程中，根据所述散射分布信息和预设条件，在所述下一次完整放线过程中对各射线源进行放线控制，包括：
根据所述散射分布信息和预设条件，确定所述下一次完整放线过程中每个时序对应的射线源；
对于每个射线源，控制所述射线源在对应的时序中放线。
在一个示例性的实现过程中，根据所述散射分布信息和预设条件，确定所述下一次完整放线过程中每个时序对应的射线源，包括：
确定当前时序中未放线的各射线源对应的所有第二衰减信息中的最大衰减信息，将所述最大衰减信息对应的射线源作为当前射线源；
将当前射线源添加到当前时序对应的射线源集合中；根据射线源集合中所有射线源对应的第二对应关系，确定射线源集合对应的所有检测器中每个检测器的叠加散射信息；根据所述叠加散射信息，确定所述射线源集合对应的所有检测器的总叠加散射信息，以及确定最大叠加散射信息；若所述总叠加散射信息和/或所述最大叠加散射信息符合预设条件，在射线源集合对应的检测器中确定具有最小散射信息的目标检测器，将所述目标检测器对应的射线源作为当前射线源，重复本步骤；
若所述总叠加散射信息和/或所述最大叠加散射信息不符合预设条件，将最后一次符合预设条件时射线源集合中的射线源确定为当前时序对应的射线源。
在一个示例性的实现过程中，若当前时序为第一时序，则全部射线源为当前时序中的未放线的射线源；若当前时序不为第一时序，则从全部射线源中去除所述下一次完整放线过程中当前时序之前的所有时序对应的射线源，剩余的射线源为当前时序中的未放线的射线源。
在一个示例性的实现过程中，所述预设条件为：所述总叠加散射信息小于或等于第一散射阈值；或者，所述最大叠加散射信息小于或等于第二散射阈值。
本发明实施例还提供一种CT系统，所述CT系统为静态CT系统，所述静态CT系统包含多个射线源，所述多个射线源均匀分布在环形轨道上；所述CT系统还包括检测器、扫描床和CT设备，所述检测器包括多个检测器室及相应的处理电路；其中：
所述检测器室，用于在所述CT系统扫描过程中，探测穿过扫描对象的X射线并转换为电信号；
所述处理电路，用于将所述电信号转换成脉冲信号，采集脉冲信号的能量信息；
所述CT设备，用于：
预先获取受检对象的预设部位在平片扫描中Z方向上各个位置与断层衰减信息之间的第一对应关系；
获取一次完整放线过程中所有射线源对应的第一衰减信息；
根据所述第一衰减信息和所述第一对应关系，确定所述一次完整放线过程的下一次完整放线过程中各射线源对应的第二衰减信息；
根据所述第二衰减信息和各射线源对应的准直宽度，预测所述下一次完整放线过程中各射线源的散射分布信息；
根据所述散射分布信息和预设条件，在所述下一次完整放线过程中对各射线源进行放线控制。
所述CT设备能够用于执行前述的任一种放线控制方法。
本发明实施例还提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述程序应用于静态CT系统，所述静态CT系统包含多个射线源，所述多个射线源均匀分布在环形轨道上；其中，所述程序被处理器执行时实现如下操作：
预先获取受检对象的预设部位在平片扫描中Z方向上各个位置与断层衰减信息之间的第一对应关系；
获取一次完整放线过程中所有射线源对应的第一衰减信息；
根据所述第一衰减信息和所述第一对应关系，确定所述一次完整放线过程的下一次完整放线过程中各射线源对应的第二衰减信息；
根据所述第二衰减信息和各射线源对应的准直宽度，预测所述下一次完整放线过程中各射线源的散射分布信息；
根据所述散射分布信息和预设条件，在所述下一次完整放线过程中对各射线源进行放线控制。
在一个示例性的实现过程中，预先获取受检对象的预设部位在平片扫描中Z方向上各个位置与断层衰减信息之间的第一对应关系，包括：
在所述预设部位对应的Z方向上各个位置处，分别采用同一组射线源对所述受检对象进行平片扫描，得到各个通道对应的X射线的发射强度和接收强度；
对于每个位置，根据所述位置处各个通道对应的X射线的发射强度和接收强度确定该所述位置处各个通道对应的衰减值；
根据所述各个通道对应的衰减值，确定所述位置处的断层衰减面积；
根据所述位置处的断层衰减面积，确定所述位置处的等效水模直径，将所述等效水模直径作为所述位置对应的断层衰减信息。
在一个示例性的实现过程中，获取一次完整放线过程中所有射线源对应的第一衰减信息，包括：
在一次完整放线过程中分M个时序进行放线，每个时序中有至少一个射线源放线，其中M为大于1的整数；
对于每个射线源，根据所述射线源的X射线的发射强度和所述射线源对应的检测器的接收强度确定该所述射线源对应的第一衰减信息。
在一个示例性的实现过程中，根据所述第一衰减信息和所述第一对应关系，确定所述一次完整放线过程的下一次完整放线过程中各射线源对应的第二衰减信息，包括：
根据所述第一衰减信息，预测所述下一次完整放线过程中各射线源对应的预测衰减信息；
根据所述第一对应关系对所述预测衰减信息进行校正，得到第二衰减信息。
在一个示例性的实现过程中，根据所述第一衰减信息，预测所述下一次完整放线过程中各射线源对应的预测衰减信息，包括：
将所述一次完整放线过程中的射线源作为第一射线源，将所述下一次完整放线过程中的射线源作为第二射线源；
对于每个第二射线源，在所有第一射线源中，确定目标射线源，所述目标射线源中的第一目标通道与所述第二射线源中的第二目标通道经过所述受检对象的路径相似；
将所述第一目标通道对应的第一衰减信息确定为所述第二射线源对应的第二衰减信息；
根据所述第一对应关系对所述预测衰减信息进行校正，得到第二衰减信息，包括：
对于每个第二射线源，确定所述第二射线源对应的目标射线源在扫描时所对应的Z方向的第一位置，以及所述第二射线源在扫描时所对应的Z方向的第二位置；
从所述第一对应关系中，查找所述第一位置对应的第一断层衰减信息和所述第二位置对应的第二断层衰减信息；
根据所述第二射线源对应的预测衰减信息、所述第一断层衰减信息和所述第二断层衰减信息，获得所述第二射线源对应的第二衰减信息。
在一个示例性的实现过程中，根据所述第二衰减信息和各射线源对应的准直宽度，预测所述下一次完整放线过程中各射线源的散射分布信息，包括：
对于每个射线源，根据所述射线源对应的第二衰减信息、所述射线源对应的准直宽度，以及所述射线源与各检测器之间的位置关系，构建所述射线源对应的检测器与散射信息之间的第二对应关系，将所述第二对应关系作为所述射线源的散射分布信息。
在一个示例性的实现过程中，根据所述散射分布信息和预设条件，在所述下一次完整放线过程中对各射线源进行放线控制，包括：
根据所述散射分布信息和预设条件，确定所述下一次完整放线过程中每个时序对应的射线源；
对于每个射线源，控制所述射线源在对应的时序中放线。
在一个示例性的实现过程中，根据所述散射分布信息和预设条件，确定所述下一次完整放线过程中每个时序对应的射线源，包括：
确定当前时序中未放线的各射线源对应的所有第二衰减信息中的最大衰减信息，将所述最大衰减信息对应的射线源作为当前射线源；
将当前射线源添加到当前时序对应的射线源集合中；根据射线源集合中所有射线源对应的第二对应关系，确定射线源集合对应的所有检测器中每个检测器的叠加散射信息；根据所述叠加散射信息，确定所述射线源集合对应的所有检测器的总叠加散射信息，以及确定最大叠加散射信息；若所述总叠加散射信息和/或所述最大叠加散射信息符合预设条件，在射线源集合对应的检测器中确定具有最小散射信息的目标检测器，将所述目标检测器对应的射线源作为当前射线源，重复本步骤；
若所述总叠加散射信息和/或所述最大叠加散射信息不符合预设条件，将最后一次符合预设条件时射线源集合中的射线源确定为当前时序对应的射线源。
在一个示例性的实现过程中，若当前时序为第一时序，则全部射线源为当前时序中的未放线的射线源；若当前时序不为第一时序，则从全部射线源中去除所述下一次完整放线过程中当前时序之前的所有时序对应的射线源，剩余的射线源为当前时序中的未放线的射线源。
在一个示例性的实现过程中，所述预设条件为：所述总叠加散射信息小于或等于第一散射阈值；或者，所述最大叠加散射信息小于或等于第二散射阈值。
对于装置和设备实施例而言，由于其基本对应于方法实施例，所以相关之处参见方法实施例的部分说明即可。以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，其中所述作为分离部件说明的模块可以是或者也可以不是物理上分开的，作为模块显示的部件可以是或者也可以不是物理模块，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络模块上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部模块来实现本说明书方案的目的。本领域普通技术人员在不付出创造性劳动的情况下，即可以理解并实施。
上述对本说明书特定实施例进行了描述。其它实施例在所附权利要求书的范围内。在一些情况下，在权利要求书中记载的动作或步骤可以按照不同于实施例中的顺序来执行并且仍然可以实现期望的结果。另外，在附图中描绘的过程不一定要求示出的特定顺序或者连续顺序才能实现期望的结果。在某些实施方式中，多任务处理和并行处理也是可以的或者可能是有利的。
本领域技术人员在考虑说明书及实践这里申请的发明后，将容易想到本说明书的其它实施方案。本说明书旨在涵盖本说明书的任何变型、用途或者适应性变化，这些变型、用途或者适应性变化遵循本说明书的一般性原理并包括本说明书未申请的本技术领域中的公知常识或惯用技术手段。说明书和实施例仅被视为示例性的，本说明书的真正范围和精神由下面的权利要求指出。
应当理解的是，本说明书并不局限于上面已经描述并在附图中示出的精确结构，并且可以在不脱离其范围进行各种修改和改变。本说明书的范围仅由所附的权利要求来限制。
以上所述仅为本说明书的较佳实施例而已，并不用以限制本说明书，凡在本说明书的精神和原则之内，所做的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本说明书保护的范围之内。

Claims (13)

1.一种放线控制方法，其特征在于，应用于静态CT系统，所述静态CT系统包含多个射线源，所述多个射线源均匀分布在环形轨道上；所述方法包括：
预先获取受检对象的预设部位在平片扫描中Z方向上各个位置与断层衰减信息之间的第一对应关系；
获取一次完整放线过程中所有射线源对应的第一衰减信息；
根据所述第一衰减信息和所述第一对应关系，确定所述一次完整放线过程的下一次完整放线过程中各射线源对应的第二衰减信息；
根据所述第二衰减信息和各射线源对应的准直宽度，预测所述下一次完整放线过程中各射线源的散射分布信息；
根据所述散射分布信息和预设条件，在所述下一次完整放线过程中对各射线源进行放线控制。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，预先获取受检对象的预设部位在平片扫描中Z方向上各个位置与断层衰减信息之间的第一对应关系，包括：
在所述预设部位对应的Z方向上各个位置处，分别采用同一组射线源对所述受检对象进行平片扫描，得到各个通道对应的X射线的发射强度和接收强度；
对于每个位置，根据所述位置处各个通道对应的X射线的发射强度和接收强度确定所述位置处各个通道对应的衰减值；
根据所述各个通道对应的衰减值，确定所述位置处的断层衰减面积；
根据所述位置处的断层衰减面积，确定所述位置处的等效水模直径，将所述等效水模直径作为所述位置对应的断层衰减信息。
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，获取一次完整放线过程中所有射线源对应的第一衰减信息，包括：
在一次完整放线过程中分M个时序进行放线，每个时序中有至少一个射线源放线，其中M为大于1的整数；
对于每个射线源，根据所述射线源的X射线的发射强度和所述射线源对应的检测器的接收强度确定该所述射线源对应的第一衰减信息。
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据所述第一衰减信息和所述第一对应关系，确定所述一次完整放线过程的下一次完整放线过程中各射线源对应的第二衰减信息，包括：
根据所述第一衰减信息，预测所述下一次完整放线过程中各射线源对应的预测衰减信息；
根据所述第一对应关系对所述预测衰减信息进行校正，得到第二衰减信息。
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，根据所述第一衰减信息，预测所述下一次完整放线过程中各射线源对应的预测衰减信息，包括：
将所述一次完整放线过程中的射线源作为第一射线源，将所述下一次完整放线过程中的射线源作为第二射线源；
对于每个第二射线源，在所有第一射线源中，确定目标射线源，所述目标射线源中的第一目标通道与所述第二射线源中的第二目标通道经过所述受检对象的路径相似；
将所述第一目标通道对应的第一衰减信息确定为所述第二射线源对应的第二衰减信息；
根据所述第一对应关系对所述预测衰减信息进行校正，得到第二衰减信息，包括：
对于每个第二射线源，确定所述第二射线源对应的目标射线源在扫描时所对应的Z方向的第一位置，以及所述第二射线源在扫描时所对应的Z方向的第二位置；
从所述第一对应关系中，查找所述第一位置对应的第一断层衰减信息和所述第二位置对应的第二断层衰减信息；
根据所述第二射线源对应的预测衰减信息、所述第一断层衰减信息和所述第二断层衰减信息，获得所述第二射线源对应的第二衰减信息。
6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据所述第二衰减信息和各射线源对应的准直宽度，预测所述下一次完整放线过程中各射线源的散射分布信息，包括：
对于每个射线源，根据所述射线源对应的第二衰减信息、所述射线源对应的准直宽度，以及所述射线源与各检测器之间的位置关系，构建所述射线源对应的检测器与散射信息之间的第二对应关系，将所述第二对应关系作为所述射线源的散射分布信息。
7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据所述散射分布信息和预设条件，在所述下一次完整放线过程中对各射线源进行放线控制，包括：
根据所述散射分布信息和预设条件，确定所述下一次完整放线过程中每个时序对应的射线源；
对于每个射线源，控制所述射线源在对应的时序中放线。
8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，根据所述散射分布信息和预设条件，确定所述下一次完整放线过程中每个时序对应的射线源，包括：
确定当前时序中未放线的各射线源对应的所有第二衰减信息中的最大衰减信息，将所述最大衰减信息对应的射线源作为当前射线源；
将当前射线源添加到当前时序对应的射线源集合中；根据射线源集合中所有射线源对应的第二对应关系，确定射线源集合对应的所有检测器中每个检测器的叠加散射信息；根据所述叠加散射信息，确定所述射线源集合对应的所有检测器的总叠加散射信息，以及确定最大叠加散射信息；若所述总叠加散射信息和/或所述最大叠加散射信息符合预设条件，在射线源集合对应的检测器中确定具有最小散射信息的目标检测器，将所述目标检测器对应的射线源作为当前射线源，重复本步骤；
若所述总叠加散射信息和/或所述最大叠加散射信息不符合预设条件，将最后一次符合预设条件时射线源集合中的射线源确定为当前时序对应的射线源。
9.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，若当前时序为第一时序，则全部射线源为当前时序中的未放线的射线源；若当前时序不为第一时序，则从全部射线源中去除所述下一次完整放线过程中当前时序之前的所有时序对应的射线源，剩余的射线源为当前时序中的未放线的射线源。
10.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，所述预设条件为：所述总叠加散射信息小于或等于第一散射阈值；或者，所述最大叠加散射信息小于或等于第二散射阈值。
11.一种放线控制装置，其特征在于，应用于静态CT系统，所述静态CT系统包含多个射线源，所述多个射线源均匀分布在环形轨道上；所述装置包括：
关系获取模块，用于预先获取受检对象的预设部位在平片扫描中Z方向上各个位置与断层衰减信息之间的第一对应关系；
衰减信息获取模块，用于获取一次完整放线过程中所有射线源对应的第一衰减信息；
衰减信息确定模块，用于根据所述第一衰减信息和所述第一对应关系，确定所述一次完整放线过程的下一次完整放线过程中各射线源对应的第二衰减信息；
散射预测模块，用于根据所述第二衰减信息和各射线源对应的准直宽度，预测所述下一次完整放线过程中各射线源的散射分布信息；
控制模块，用于根据所述散射分布信息和预设条件，在所述下一次完整放线过程中对各射线源进行放线控制。
12.一种CT设备，其特征在于，包括：内部总线，以及通过内部总线连接的存储器、处理器和外部接口；其中，所述外部接口，用于连接CT系统的检测器，所述检测器包括多个检测器室及相应的处理电路；
所述存储器，用于存储放线控制逻辑对应的机器可读指令；所述机器可读指令应用于静态CT系统，所述静态CT系统包含多个射线源，所述多个射线源均匀分布在环形轨道上；
所述处理器，用于读取所述存储器上的所述机器可读指令，并执行如下操作：
预先获取受检对象的预设部位在平片扫描中Z方向上各个位置与断层衰减信息之间的第一对应关系；
获取一次完整放线过程中所有射线源对应的第一衰减信息；
根据所述第一衰减信息和所述第一对应关系，确定所述一次完整放线过程的下一次完整放线过程中各射线源对应的第二衰减信息；
根据所述第二衰减信息和各射线源对应的准直宽度，预测所述下一次完整放线过程中各射线源的散射分布信息；
根据所述散射分布信息和预设条件，在所述下一次完整放线过程中对各射线源进行放线控制。
13.一种CT系统，其特征在于，所述CT系统为静态CT系统，所述静态CT系统包含多个射线源，所述多个射线源均匀分布在环形轨道上；所述CT系统还包括检测器、扫描床和CT设备，所述检测器包括多个检测器室及相应的处理电路；其中：
所述检测器室，用于在所述CT系统扫描过程中，探测穿过扫描对象的X射线并转换为电信号；
所述处理电路，用于将所述电信号转换成脉冲信号，采集脉冲信号的能量信息；
所述CT设备，用于：
预先获取受检对象的预设部位在平片扫描中Z方向上各个位置与断层衰减信息之间的第一对应关系；
获取一次完整放线过程中所有射线源对应的第一衰减信息；
根据所述第一衰减信息和所述第一对应关系，确定所述一次完整放线过程的下一次完整放线过程中各射线源对应的第二衰减信息；
根据所述第二衰减信息和各射线源对应的准直宽度，预测所述下一次完整放线过程中各射线源的散射分布信息；
根据所述散射分布信息和预设条件，在所述下一次完整放线过程中对各射线源进行放线控制。
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