CN111521354B - 一种电芯气密性检测方法及装置 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种电芯气密性检测方法，包括以下步骤：检测装置气密性并对CCD测量系统进行校准，将电芯竖立状态放入流拉筐中，将流拉筐放至在检测台上，带有电芯的流拉筐放入检测室中并将检测室密封，通过CCD面阵测量系统检测电芯厚度并记录，检测室抽真空，再次检测电芯厚度并记录，比对检测室真空前后的电芯厚度数据，判断电芯是否合格。本发明能一次性检测30个以上电芯，检测效率高，有利于运用到实际生产中；本发明采用CCD检测系统测的采用面检测，结果更真实准确；本发明电芯立放，两面受重力影响极小，电芯厚度明显，大大的提高了不良检测准确率。
Description
技术领域
本发属于电池技术领域，尤其涉及一种电芯气密性检测方法及装置。
背景技术
现有的电气气密性检测方法多通过以下方式实现，对激光测厚系统进行校对，设定漂移值和一个校正系数，拉出滑动载物台并将待测软包装电池放在滑动载物台上，软包装电池通常为1-5个，再将载有软包装电池的滑动载物台推入检测室并密封检测室，打开通断阀，对检测室进行快速抽真空，激光测厚系统开始持续检测软包装电池的厚度变化，并记录检测室的真空度、电池厚度随检测时间的变化，根据设定的判漏标准判断是否是良品。检测完毕后，对检测室进行充气，取出软包装电池、挑选出密封不良的软包电池。
现有的检测方式存在以下不足：
1)生产效率低，一次只能测量少数的电芯，很难应用到实际生产中；
2)现有技术采用激光测厚系统测量的是一个点或几个点，测量数据较片面；
3)现有技术电芯为平放检测，抽真空后底面因受自身重力厚度变化不明显，存在漏检风险；
4)现有技术是在流动相脱气机上终封后立即进行检测，存在虚封电芯的可能。导致出现漏检风险。
发明内容
本发明的目的是针对现有技术的缺陷，提供了一种电芯气密性检测方法及装置。
为了实现以上目的，本发明采用以下技术方案：
步骤一、检测装置气密性并对CCD测量系统进行校准；
步骤二、将5-100电芯竖立状态放入流拉筐中；
步骤三、将流拉筐放至在检测台上；
步骤四、将步骤三中带有电芯的流拉筐放入检测室中并将检测室密封；
步骤五、通过CCD面阵测量系统检测电芯厚度并记录；
步骤六、将检测室抽真空，达到设定值并稳定后，再次通过CCD面阵测量系统检测电芯厚度并记录；
步骤七、通过步骤五及步骤六中电芯厚度的数据判断电芯是否合格。
进一步的，其中步骤一中校准包括设定校正系数。
进一步的，步骤五中具体包括：启动CCD面阵测量系统，依次对通过CCD 面阵测量系统的电芯进行垂直面图像采集，测量抽真空前电芯厚度的最大值和平均值并记录。
进一步的，步骤五中具体包括：步骤六中具体包括：打开通断阀，对检测室抽真空，真空稳定到设定值后，依次对通过CCD面阵测量系统的电芯进行垂直面图像采集，测量抽真空后电芯厚度的最大值和平均值并记录。
进一步的，所述电芯为动力软包双头出极耳电芯。
进一步的，本发明还包括一种电芯气密性检测装置，包括CCD面阵测量系统、流拉筐物流线、检测台及流拉筐，所述流拉筐物流线上方设有检测台，所述流拉筐物流线的一侧且位于检测台处设有CCD面阵测量系统，所述检测室放置于检测台上，所述流拉筐放置于检测室内，所述流拉筐用于竖立放置多个电芯。
进一步的，所述流拉筐内设有30-100个电芯放置位。
进一步的，CCD面阵测量系统，包括CCD摄像头支撑架和CCD摄像头，所述CCD摄像头支撑架设有滑轨，所述滑轨位于检测室正上方，所述滑轨上装设有CCD摄像头。
进一步的，所述检测室上表面透明。
进一步的，步骤三中将5-100电芯竖立状态放入流拉筐中，并将整筐的电芯进行高温老化。
采用本发明技术方案，本发明的有益效果为：与现有技术相比，本发明能一次性检测30个以上电芯，检测效率高，有利于运用到实际生产中；相比常见非接触式测厚测的是一个点或几个点，本发明采用CCD检测系统测的采用面检测，结果更真实准确；并且现有技术电芯平放检测，抽真空后底面因受自身重力厚度变化不明显，本发明电芯立放，两面受重力影响极小，电芯厚度明显，大大的提高了不良检测准确率。本发明电芯终封后经过高温老化，能更有效检出虚封电芯。
附图说明
图1是本发明提供的一种电芯气密性检测方法流程图；
图2是本发明提供的一种电芯气密性检测装置结构图。
其中，1、电芯，2、流拉筐，3、检测室，4、CCD摄像头，5、滑轨，6、 CCD摄像头支撑架，7、检测台，8、流拉筐物流线。
具体实施方式
结合附图对本发明具体方案具体实施例作进一步的阐述。
如图1所示，一种电芯1气密性检测方法，包括以下步骤：
步骤一、该将检测装置进行组装，检测装置的气密性并对CCD测量系统进行校准；此处进一步的，可以根据校准的结果设定校正系数，并确认读数正确。设定校正系数是指把校准标准件放入检测台7上，用CCD测量标准件测得检测值，将检测值与标准件真实值计算得到校正系数，一般为测量系统自动设定校准系数。
步骤二、将5-100电芯1竖立状态放入流拉筐2中；
步骤三、将流拉筐2放至在检测台7上；
先将电芯1放入流拉筐2中，在将带有电芯1的流拉筐2滑动、拉动或者直接摆放在检测台7上。优选的，在放入后进行电芯1的通常可进行2-7天的高温老化，可有效检出虚封电芯1。
步骤四、将带有电芯1的流拉筐2放入检测室3中并将检测室3密封
步骤五、通过CCD面阵测量系统检测电芯1厚度并记录。
进一步的，该步骤包括启动CCD面阵测量系统，依次对通过CCD面阵测量系统的电芯1进行垂直面图像采集，测量抽真空前电芯1厚度的最大值和平均值并记录。
步骤六、将检测室3抽真空，达到设定值并稳定后，再次通过CCD面阵测量系统检测电芯1厚度并记录。
进一步的，该步骤包括打开通断阀，对检测室3进行快速抽真空过程，真空稳定到设定值后，CCD面阵测量系统的电芯1进行垂直面图像采集，测量抽真空后电芯1厚度的最大值和平均值并记录。设定值取决于终封前除气腔体的最大真空值，一般为0.2-2Kpa。
步骤七、通过步骤五及步骤六中电芯1厚度的数据判断电芯1是否合格。
具体操作时，步骤五和步骤六包括了记录检测室3的真空度、电芯1真空前的厚度，电芯1真空后的厚度，以及前后厚度的变化。再通过步骤七，CCD 面阵测量系统根据设定的合格标准判断是否是良品。检测完毕后，对检测室3 进行充气，根据判断结果，取出电芯1，并挑选出密封性不良电芯1。
上述一流拉筐电芯检测完毕后，进行下一筐电芯的检测，即重复步骤二至步骤七，进行批量的流水检测操作。
如图2所示，本发明还包括一种电芯1气密性检测装置，包括CCD面阵测量系统、流拉筐物流线8、检测台7及流拉筐2，所述流拉筐物流线8上方设有检测台7，所述流拉筐物流线8的一侧且位于检测台7处设有CCD面阵测量系统，所述检测室3放置于检测台7上，所述流拉筐2放置于检测室3内，所述流拉筐2用于竖立放置多个电芯1。竖立放置的方式图中并未显示，通过以下结构实现：流拉筐2两侧或者底面设有若干排卡槽，竖立放置将电芯1两端卡设在卡槽中；或者流拉筐2两侧和底面均设有若干排卡槽，底面的卡槽可与侧面连通为U字形使其摆放更稳固，或者底面和侧面的卡槽不连通，用于节省材料。
CCD面阵测量系统，包括CCD摄像头支撑架6和CCD摄像头4，所述CCD 摄像头支撑架6设有滑轨5，所述滑轨5位于检测室3正上方，所述滑轨5上装设有CCD摄像头4。也可设置为检测室3下方设有左右移动的传送带，上方摄像头固定的结构，可根据实际需求进行配置或者改装。
所述流拉筐2内设有30-100个电芯1放置位。图中所示意的为五个电芯1，常用的设置为30-50个卡槽，便于设备的检测，例如摄像头导轨长度不会过长，检测室3、流拉筐2体积适中，不会占用较大的空间，并且使其单次挑选不合格电芯1数目合理，不易产生差错。
所述检测室3上表面透明。检测室3至少要上表面透明，其余的侧面、底面可为透明或者不透明。优选的，面向观测者一面可设置为透明，便于观测检测状态。
本发明方法和装置优选的检测电芯1对象为动力软包双头出极耳电芯1。
本发明中的CCD面阵测量系统为现有的系统，其中CCD摄像头4也为现有摄像头，CCD系统是利用CCD摄像机进行图像采集，并采集来的图像进行处理、分析、判断、最后得出处理后的结果。
注意，上述仅为本发明的较佳实施例及所运用技术原理。本领域技术人员会理解，本发明不限于这里所述的特定实施例，对本领域技术人员来说能够进行各种明显的变化、重新调整和替代而不会脱离本发明的保护范围。因此，虽然通过以上实施例对本发明进行了较为详细的说明，但是本发明不仅仅限于以上实施例，在不脱离本发明构思的情况下，还可以包括更多其他等效实施例，而本发明的范围由所附的权利要求范围决定。
Claims (7)
1.用于实现电芯气密性检测方法的装置，其特征在于，包括CCD面阵测量系统、流拉筐物流线、检测台及流拉筐，所述流拉筐物流线上方设有检测台，所述流拉筐物流线的一侧且位于检测台处设有CCD面阵测量系统，所述检测室放置于检测台上，所述流拉筐放置于 检测室内，所述流拉筐用于竖立放置多个电芯；所述流拉筐内设有30-100个电芯放置位；
电芯气密性检测方法，包括以下步骤：
步骤一、检测装置气密性并对CCD测量系统进行校准；
步骤二、将5-100电芯竖立状态放入流拉筐中；
步骤三、将流拉筐放至在检测台上；
步骤四、将步骤三中带有电芯的流拉筐放入检测室中并将检测室密封；
步骤五、通过CCD面阵测量系统检测电芯厚度并记录；
步骤六、将检测室抽真空，达到设定值并稳定后，再次通过CCD面阵测量系统检测电芯厚度并记录；
步骤七、通过步骤五及步骤六中电芯厚度的数据判断电芯是否合格；
步骤三中，将5-100电芯竖立状态放入流拉筐中，并将整筐的电芯进行高温老化。
2.如权利要求1所述的用于实现电芯气密性检测方法的装置，其特征在于，CCD面阵测量系统，包括CCD摄像头支撑架和CCD摄像头，所述CCD摄像头支撑架设有滑轨，所述滑轨位于检测室正上方，所述滑轨上装设有CCD摄像头。
3.如权利要求1所述的用于实现电芯气密性检测方法的装置，其特征在于，所述检测室上表面透明。
4.如权利要求1所述的用于实现电芯气密性检测方法的装置，其特征在于，步骤一中校准包括设定校正系数。
5.如权利要求1所述的用于实现电芯气密性检测方法的装置，其特征在于，步骤五中具体包括：启动CCD面阵测量系统，依次对通过CCD面阵测量系统的电芯进行垂直面图像采集，测量抽真空前电芯厚度的最大值和平均值并记录。
6.如权利要求1所述的用于实现电芯气密性检测方法的装置，其特征在于，步骤六中具体包括：打开通断阀，对检测室抽真空，真空稳定到设定值后，依次对通过CCD面阵测量系统的电芯进行垂直面图像采集，测量抽真空后电芯厚度的最大值和平均值并记录。
7.如权利要求1所述的用于实现电芯气密性检测方法的装置，其特征在于，所述电芯为动力软包双头出极耳电芯。
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