CN111508427B - 显示装置 - Google Patents

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Abstract

本发明提供一种以高精度校正亮度不均的显示装置。该显示装置包括：电流生成电路，其生成成为基准的电流；相邻连接的多个像素(11)；源极驱动器(30)，其向像素(11)的每一个流通相同的电流；积分电路(32)，其测量所述电流；以及控制器电路(20)，其根据将测量结果转换为数字数据的ADC(33)与ADC(33)的所述数字数据，以成为所述基准的电流为基准，进行其他像素(11)的劣化校正。

Description

显示装置
技术领域
本发明涉及一种对显示图像的亮度不均进行校正的显示装置。
背景技术
有源矩阵式的有机发光显示装置具有响应速度快且发光效率、亮度以及视野角大之类的优点。因此，有机发光显示装置的开发正积极进行中。
有机发光显示装置通常将控制在有机发光二极管(Organic Light EmittingDiode；下文仅以“OLED”进行简单标记)中流通的驱动电流的驱动晶体管和由OLED构成的像素电路排列成矩阵状，并根据影像信号来调整像素的亮度，并显示任意的图像。像素的亮度通过由驱动晶体管的栅极电压控制驱动电流可以进行调整。
OLED随时间劣化、因在局部长时间的高亮度显示等而劣化(烧屏/残影导致)，成为局部亮度降低而与周围像素产生显著的亮度差的原因，且显示图像中产生亮度不均。在以OLED为像素的图像显示装置中，需要校正由这样的劣化引起的亮度不均。
在专利文献1中记载了如下方案：在显示装置的各列设置电流测量电路，并测量由各线路选择到的像素的电流值。测量出的电流值根据随时间劣化的影响而变动，因此使用该电流值并基于已预先准备的校正数据对影像信号进行校正。
在专利文献2中记载了如下方案：在专利文献1的电流测量步骤的基础上设置噪声测量步骤，确认有无基准值以上的噪声，并防止由噪声引起的校正精度的降低。
现有技术文献
专利文献
专利文献1：国际公开WO2015/093097号说明书(2015年6月25日公开)
专利文献2：国际公开WO2015/016196号说明书(2015年2月5日国际公开)
发明内容
本发明所要解决的技术问题
在专利文献1中，通过每一列的电流测量电路来测量像素的电流，但测量电流根据测量环境(温度、噪声等)而变动。另一方面，存在如下问题：校正数据是预先准备好的，预测各种测量环境来做成校正数据存在难度，不能高精度的校正影像信号。
在专利文献2中，在噪声测量步骤中，当存在由基准值以上的噪声等的测量环境而引起的变动时，不进行影像信号的校正，且仅在未达到基准值时进行影像信号的校正，因此，可以防止测量电流的S/N比的恶化。然而，存在通过噪声测量步骤的追加和重复再测量来校正需要花费时间的问题。
本发明的一个方式是鉴于上述的问题而完成的，其目的在于实现一种能够高精度校正亮度不均匀的显示装置。
解决问题的方案
(1)本发明的一实施方式的显示装置包括：电流生成电路，其生成成为基准的电流；相邻连接的多个像素电路；驱动部，其向所述像素电路的每一个像素电路流通相同的电流；测量部，其通过积分电路测量所述电流；以及校正部，其根据所述测量部的测量结果，以成为所述基准的电流为基准，进行其他像素电路的劣化校正。
(2)此外，本发明的一实施方式的显示装置是在所述(1)的结构的基础上，所述电流生成电路包含能够通过寄存器控制而调整为任意的电流量的电流源。
(3)此外，本发明的一实施方式的显示装置是在上述(1)的结构的基础上，所述电流生成电路包含与所述像素电路相同结构的基准像素电路。
(4)此外，本发明的一实施方式的显示装置是在上述(3)的结构的基础上，所述基准像素电路仅在电流测量时动作，且不随时间劣化。
(5)此外，本发明的一实施方式的显示装置是在上述(3)的结构的基础上，所述驱动部向所述基准像素电路流通成为所述基准的电流，且不向与所述基准像素电路相邻的像素电路流通电流，所述测量部根据在相邻的像素电路中流通的电流的差分，测量成为所述基准的电流。
(6)此外，本发明的一实施方式的显示装置是在上述(1)的结构的基础上，所述积分电路包含能够通过调整电容比率来调整增益的积分电路。
(7)此外，本发明的一实施方式是在上述(1)的结构的基础上，将所述像素电路与所述测量部AC耦合。
(8)此外，本发明的一实施方式的显示装置是在上述(1)～(7)的任一个结构的基础上，还包括开关，其对所述像素电路与所述测量部的连接进行切换，所述测量部测量在相邻的像素电路中流通的电流的差分。
(9)此外，本发明的一实施方式的显示装置是在上述(8)的结构的基础上，所述测量部测量在相邻的同色的像素电路中流通的电流的差分。
(10)此外，本发明的一实施方式的显示装置是在上述(8)的结构的基础上，所述测量部切换所述像素电路与所述测量部的连接，多次测量在相邻的像素电路中流通的电流的差分，并除去所述测量部的偏移。
(11)此外，本发明的一实施方式的显示装置包括：电流生成电路，其生成成为基准的电流；与所述电流生成电路相邻连接的多个像素电路；驱动部，其向所述像素电路的每一个像素电路流通相同的电流；测量部，其测量多个有机发光素子的每一个的阳极电压，并通过积分电路测量所述像素电路的驱动晶体管与有机发光素子中串联流通的电流；以及校正部，其根据所述测量部的测量结果，以成为所述基准的电流为基准，进行其他像素电路的劣化校正。
(12)此外，本发明的一实施方式的显示装置是在所述(11)的结构的基础上，所述电流生成电路包含能够通过寄存器控制而调整为任意的电流量的电流源。
(13)此外，本发明的一实施方式的显示装置是在上述(11)的结构的基础上，所述电流生成电路包含与所述像素电路相同结构的基准像素电路。
(14)此外，本发明的一实施方式的显示装置是在上述(13)的结构的基础上，所述基准像素电路仅在电流测量时动作，且不随时间劣化。
(15)此外，本发明的一实施方式的显示装置是在上述(13)的结构的基础上，所述驱动部向所述基准像素电路流通成为所述基准的电流，且不向与所述基准像素电路相邻的像素电路流通电流，所述测量部根据在相邻的像素电路中流通的电流的差分，测量成为所述基准的电流。
(16)此外，本发明的一实施方式的显示装置是在上述(11)的结构的基础上，所述积分电路包含能够通过调整电容比率来调整增益的积分电路。
(17)此外，本发明的一实施方式的显示装置是在上述(11)的结构的基础上，将所述像素电路与所述测量部AC耦合。
(18)此外，本发明的一实施方式的显示装置是在上述(11)～(17)的任一个结构的基础上，还包括开关，其对所述像素电路与所述测量部的连接进行切换，所述测量部测量在相邻的像素电路中流通的电流的差分。
(19)此外，本发明的一实施方式的显示装置是在上述(18)的结构的基础上，所述测量部测量在相邻的同色的像素电路中流通的电流的差分。
(20)此外，本发明的一实施方式的显示装置是在上述(18)的结构的基础上，所述测量部切换所述像素电路与所述测量部的连接，多次测量在相邻的像素电路中流通的电流的差分，并除去所述测量部的偏移。
有益效果
根据本发明的一个方式，能够起到以高精度校正亮度不均的效果。
附图说明
图1是示出本发明的实施方式1所涉及的显示装置的结构的框图。
图2a是示出源极驱动器与像素电路的连接例的电路图。
图2b是示出所述像素电路的结构例的电路图。
图3是示出所述显示装置的动作的时序图。
图4的(a)以及(b)是示出积分电路的输出形态的图。
图5是示出源极驱动器与像素电路的连接例的电路图。
图6是示出源极驱动器与像素电路的连接例的电路图。
图7是示出源极驱动器与像素电路的连接例的电路图。
图8是示出源极驱动器与像素电路的连接例的电路图。
图9是示出源极驱动器与像素电路的连接例的电路图。
图10是示出积分电路的输出形态的图。
图11是示出源极驱动器与像素电路的连接例的电路图。
图12是示出源极驱动器与像素电路的连接例的电路图。
图13是示出所述显示装置的动作的时序图。
图14是示出图11所记载的像素电路的测量结果以及各素子的电流以及电压的关系的相关图。
具体实施方式
〔实施方式1〕
图2a是本发明的实施方式1的显示面板10与源极驱动器(驱动部)30的连接图，并示出了图1所示的第i行的第j-1列至第j+1列的像素(电流生成电路，像素电路)11与源极驱动器30的连接。首先，对显示面板10的像素结构进行说明。
像素(P)11包括有一个OLED(D1)、三个晶体管(T1～T3)以及一个存储电容器(Cst)，T1～T3的晶体管由P型构成。并且，N型的像素结构在图2b示出，并改变Cst的连接。
P型、N型中均在T2的栅极-源极之间配置有Cst，目的在于使电流测量时的T2的栅极-源极间电压保持恒定，并使驱动电流保持恒定。
T1作为选择像素11的输入晶体管发挥作用，并由栅极线路Gs控制。T2作为控制向OLED的电流的供给的驱动晶体管发挥作用，T2的栅极电压经由T1从源极线路S被供给。
T3作为控制与监测线路的连接/非连接的监测控制晶体管发挥作用，并由栅极线路Gm控制。此外，ELVDD、ELVSS是驱动像素11的驱动电压，并从图1中未图示的电源IC被供给。
接着，对源极驱动器30的结构进行说明。源极驱动器30由输出电路31、相位开关、(开关和电容器)积分电路32以及ADC(测量部)33构成。输出电路31与源极线路连接，在通常动作时输出对应于影像信号的规定的电压，并在监测动作时输出监测用的监测电压。
相位开关在监测动作时根据控制信号Ph来切换向积分电路32输入的监测线路。Ph为低电平(Low)时(Phase0)，反转输入vinn与M(j-1)连接，非反转输入vinp与M(j)连接。
另一方面，Ph为高电平(High)时(Phase1)，反转输入vinn与M(j)连接，非反转输入vinp与M(j+1)连接。
如图2a所示，积分电路32由全差分放大电路、样本电容(C1、C2＝Cs)、保持电容(C3，C4＝Ch)、五个开关(SW1，2，3，4，5)构成，并能够通过调整Cs与Ch之比来调整增益。
此处，全差分放大电路的输入经由C1、C2与监测线路连接。监测线路通过C1、C2而被AC耦合，因此DC分量被过滤。因此，积分电路32不受到监测线路的动作范围即像素11的驱动电压范围的影响，且能以低电源电压范围构成，并能够使面积缩小，实现低功耗化。
全差分放大电路的输出为在两个监测线路中流通的电流的时间积分值的差分，该差分被输入至ADC1(33)，并被转换为数字数据。
接着，用图3的时序图对实施方式1的电路动作进行详细说明。图3是通常动作至第i-1行的像素11、第i行的像素11执行驱动晶体管的监测动作、并从i+1行开始通常动作时的时序图。在此，示出了像素11中使用了P型晶体管的情况。这里，AMP_En、ADC_En、Ph、重置信号(Reset)、样本信号(Sample)为控制信号。
(通常动作)
Tni-1是第i-1行的通常动作期间，第i-1行的栅极线路的信号Gs(i-1)变为低电平、Gm(i-1)变为高电平，第i-1行以外的栅极线路的信号Gs变为高电平，Gm变为高电平。
第i-1行的像素11中，T1变为导通(ON)，T3变为截止(OFF)，T2的栅极中从源极驱动器30供给有对应于数据Data(i-1)的数据电压。第i-1行以外的像素(P)11中，T1截止，T3截止。AMP_En、ADC_En为低电平，积分电路32与ADC1(33)“禁用(Disable)”，监测线路M是重置电压(Vrst)。
(校正动作)
Tr0为监测动作的Phase0的重置期间，第i行的栅极线路的信号Gs(i)变为低电平、Gm(i)变为低电平，第i行以外的栅极线路的信号Gs变为高电平、Gm变为高电平。
第i行的像素11中，T1变为导通，T3变为导通，T2的栅极中从源极驱动器30供给监测电压Vmon(i)，T2的漏极与监测线路连接。Vmon(i)为相同灰度的数据电压。
然而，Vmon(i)只要是向T2流通规定的驱动电流的栅极电压，则不限定为相同灰度的数据电压。这里，为了反映前一次的监测动作的校正结果，使用在前一次的监测动作中已计算出的校正数据来调制Vmon(i)。
施加了校正过的Vmon(i)的各像素11的驱动电流在理论上相同，但实际上由于源自前一次的监测动作随时间劣化而产生差异。
第i行以外的像素(P)11中，T1截止，T3截止，这种状态持续至第i行的特性检测动作完成。Phase0的重置期间的控制信号变为如下。
AMP_En、样本信号、重置信号为高电平，ADC_En、Ph为低电平。积分电路32从“禁用(Disable)”变为“启用(Enable)”，全差分放大电路的输出voutp、voutn被初始化为Vcm1。此外，反转输入vinn与M(j-1)连接，非反转输入vinp与M(j)连接，并分别被初始化为Vrst。Vrst远低于OLED的正向电压，且只要是根据后述的取样期间内的电位变动而OLED的阳极电压不超过正向电压即可。
Ts0为监测动作的Phase0的取样期间，第i行的栅极线路的信号Gs(i)变为高电平，第i行的像素中，T1变为截止。同时，重置信号从高电平变为低电平，基于P(i，j-1)的T2的驱动电流对C1进行电荷的充电，基于P(i，j)的T2的驱动电流对C2进行电荷的充电，且M(j-1)与M(j)的电位变高。
其结果是，将各像素11的T2的驱动电流在取样期间内以时间积分的电荷被存储至C1、C2中。在此期间内，监测线路的电位变高，T2的源极-漏极间电压变低。然而，栅极-源极间电压通过Cst而保持恒定，因此T2的驱动电流被保持恒定。此外，当根据取样期间的监测线路的电位变动而产生测量误差时，通过Cs与Ch的比率调整来增加增益，能够使监测线路的电位变动减小，并减小测量误差。
Th0为监测动作的Phase0的保持期间，第i行的栅极线路的信号Gm(i)变为高电平。第i行的像素中，T3变为截止，T2的漏极与监测线路不连接，T2的驱动电流不再流通监测线路。
同时，重置信号、ADC_En从低电平变为高电平，样本信号从高电平变为低电平，电荷从C1传送至C3，并从C2传送至C4，积分电路32的输出变为P(i，j)与P(i，j-1)的驱动电流的时间积分值的差分和增益的乘积Cs/Ch×(Vsj-Vsj-1)，并保持直到由ADC1(33)处理。
积分电路32的输出依次输入至ADC1(33)中，并被转换为数字数据。由于以相邻像素的差分进行处理，因此监测线路以及电源电压的共模噪声被去除，且测量误差变小。由此，监测动作的Phase0完成，转到Phase1。
Tr1、Ts1、Th1为监测动作的Phase1的重置期间、取样期间、保持期间。Phase1的电路动作与在Phase0中说明的动作相同，但如下的动作不同。
在Phase0中的重置期间内已进行了向第i行的像素的T2写入监测电压Vmon(i)，因此在Phase1中无需进行写入。然而，即使在Phase1中写入与Phase0相同的监测电压也能得到相同的效果。
若开始Phase1的监测动作，则Ph从低电平变为高电平，且反转输入vinn与M(j)连接，非反转输入vinp与M(j+1)连接，并从积分电路32输出P(i，j+1)与P(i，j)的驱动电流的时间积分值的差分和增益的乘积Cs/Ch×(Vsj+1-Vsj)。
积分电路32的输出信号被保持，且由ADC1(33)依次转换为数字数据。由此，第i行的监测完成，并得到第i行的相邻像素之间的驱动电流的时间积分值的差分，能够计算出各像素11的驱动电流。这里说明了进行一次电流测量的情况，但可以通过进行相同的电路动作而测量多次。
接着，使用图4来说明从相邻像素之间的驱动电流的差分计算出驱动电流的方法。图4的(a)以及(b)示出了源极线路为960条的情况下的监测动作的积分电路32的输出。
在图4的(a)的情况下，积分电路32在Phase0中输出奇数列的监测线路与偶数列的监测线路之差(Vsja-Vsja-1)，且在Phase1中输出偶数列的监测线路与奇数列的监测线路之差(Vsja+1-Vsja)(ja＝1，3，··957，959)。
这里，Cs＝Ch。此外，Phase0的积分电路32的结果为Vs1-Vs0，Vs0为电流生成电路中的成为基准电流的积分值Vref，基准值即Vref将在后续详细说明。
如图4的(a)所示，能够计算出以电流生成电路的电流的时间积分即积分值Vref为基准的各像素11的驱动电流的时间积分。各像素11的驱动电流的时间积分与Vref的差分能够去除由测量环境引起的共模噪声，并能够以高精度测量由随时间劣化引起的各像素11的驱动电流的变化量。
此外，本发明的测量方法是相邻像素之间的比较测量，由于是直接测量相邻像素之间的驱动电流的差分，因此能够以高精度校正相邻像素之间的亮度差。
图4的(a)中说明了从相邻像素的差分计算出各像素11的驱动电流的实施例，但例如，如图4的(b)所示，像素11排列成RGB的情况下，也可以得到相同颜色的相邻像素之间的差分。
即，本专利申请中不限定为测量物理上相邻的像素的差分，也可以是相同特性的相邻像素的差分。对于R_Phase0/1而言，积分电路32输出Vsjb1+3-Vsjb1(jb1＝1，4，7，··952，955)，对于G_Phase0/1而言，积分电路32输出Vsjb2+3-Vsjb2(jb2＝2，5，8，··953，956)，并且对于B_Phase0/1而言，积分电路32输出Vsjb3+3-Vsjb3(jb3＝3，6，9，··954，957)。这里，对根据RGB而不同的Vref进行设定(Vref1，2，3)，并计算出以各颜色的Vref为基准的各像素11的驱动电流的时间积分值。
图5以及图6中示出了本发明的电流生成电路的结构。图5是图2的(a)的j＝1时的结构，P(i，0)为电流生成电路，且在通常动作下具有不使用的基准像素。
因此，基准像素的驱动晶体管不随时间劣化。只要根据出货检查时的电流测量来校正制造偏差，则基准像素能够生成监测动作的目标值即成为基准的电流。出货检查时的电流测量是用检查装置通过电流测量或图7所示的方法进行测量。
图6的电流生成电路中连接有源极驱动器30的电流源12(电流生成电路)，且被设为监测动作中的成为基准的电流。已知电流源12的电流量通过源极驱动器30的出货检查而被调整。此外，也可以通过寄存器控制来调整为任意的电流量。
对于图6所示的电路而言，由于没有图5所示的基准像素，因此能够简化显示面板10的结构。然而，存在如下问题：由于电流源12存在于源极驱动器30中，因此在电流生成电路中不包含显示面板10的电源噪声等的影响。
在图6中，由于将显示面板10的驱动电源ELVDD用于电流源12的电源，因此在测量了电流源12与像素电路的驱动电流的差分的情况下，也能够去除显示面板10的电源噪声的影响。
图7示出使用源极驱动器30的电路来测量图5的基准像素的电流的方法。P(i，1)是常黑显示的电压Vblack，基准像素P(i，0)中，施加Vmon(0)并实施实施方式1的Phase0的监测动作。由于P(i，1)是常黑显示，因此T2的驱动电流为不流通的状态。因此，在取样期间内，对C1进行基于基准像素的T2的驱动电流的电荷的充电，而不对C2充电，能够测量基准像素的驱动电流的绝对值。
本发明的一实施方式所涉及的显示装置包括：生成成为基准的电流的像素P(i，0)、与像素P(i，0)相邻连接的多个像素11、像素11的每一个流通相同的电流的源极驱动器30、测量所述电流的积分电路32、将测量结果转换为数字数据的ADC33以及控制器电路(校正部)20，该控制器电路(校正部)20根据ADC33的所述数字数据，以成为所述基准的电流为基准，进行其他像素11的劣化校正(图1参照)。像素P(i，0)包含与像素11相同结构的基准像素。所述基准像素仅在电流测量时动作，且不随时间劣化。
校正数据被存储于控制器电路20中，控制器电路20基于该校正数据，对监测电压Vmon(i)进行校正。控制器电路20中，通过对源极驱动器30施加数据信号DA以及源极控制信号SCTL来控制控制源极驱动器30的动作，并通过对栅极驱动器40施加栅极控制信号GCTL来控制栅极驱动器40的动作。
源极控制信号SCTL中，例如，包含有常规使用的源极开始脉冲信号、源极时钟信号、锁存频闪信号。栅极控制信号GCTL中，例如，包含有栅极开始脉冲信号、栅极时钟信号以及输出使能信号。
此外，控制器电路20接收从源极驱动器30施加的监测数据MO，并进行存储至校正数据存储部50的校正数据的更新。并且，监测数据MO是指，为得到TFT特性、OLED特性而测量到的数据。
栅极驱动器40与n条扫描线Gi连接。栅极驱动器40由移位寄存器以及逻辑电路等构成。然而，在本实施方式所涉及的显示装置中，基于TFT特性以及OLED特性，对从外部发送的影像信号(来源于所述数据信号DA的数据)实施校正。
本发明的一实施方式所涉及的显示装置还包括对像素11与积分电路32的连接进行切换的开关，积分电路32测量在相邻的像素11中流通的电流的差分。
并且，积分电路32以及ADC33的作用与本实施方式1以及后述的实施方式2与后述的实施方式3不同。在本实施方式1以及实施方式2中，ADC33将通过积分电路32分别对像素11的驱动晶体管(T2)与OLED(D1)的电流进行时间积分的结果转换为数字数据。
在后述的实施方式3中，ADC33将多个OLED(D1)的各自的阳极电压转化为数字数据，并将用积分电路32对在像素11的驱动晶体管与OLED(D1)中串联流通的电流进行时间积分的结果转换为数字数据。
本发明的一实施方式所涉及的显示装置中追加向显示部的矩阵的外侧流通成为测量基准的基准电流的基准像素列。此外，由基准像素构成的所述基准像素列在监测动作以外不动作。
此外，包含基准像素列并在每两列中具备比较电路。通过测量配置成一行的像素的相邻之间的误差，计算与基准像素的误差而进行校正。
根据上述的显示装置，由于测量基准像素与显示部的像素电路的电流的差分，因此能够不受因测量环境引起的变动误差而能够高精度地进行校正。此外，由于直接测量相邻之间误差，因此能够高精度地校正相邻像素之间的亮度差。
〔实施方式2〕
图8是实施方式2的显示面板10与源极驱动器30的连接图，并示出了图1的第i行的第j-1列至第j+1列的像素(P)11的连接。显示面板10的像素结构与图2a相同。在下文，说明源极驱动器30的结构中改变了开关的连接。
开关以切换Phase0/1的控制信号Ph与控制偏移消除动作的OC进行切换。这里，偏移消除是指消除积分电路32的差动输入的不匹配。
差动输入的不匹配是指晶体管以及电容的不匹配。Ph为低电平且OC为低电平时(Phase0&OC0)，反转输入vinn与M(j-1)连接，且非反转输入vinp与M(j)连接。
另一方面，Ph为高电平、OC为低电平时(Phase1&OC0)、反转输入vinn与M(j)连接，非反转输入vinp与M(j+1)连接。这是与实施方式1相同的动作。
Ph为低电平且OC为高电平时(Phase0&OC1)，反转输入vinn与M(j)连接，且非反转输入vinp与M(j-1)连接。另一方面，Ph为高电平时，OC为高电平时(Phase1&OC1)，反转输入vinn与M(j+1)连接，且非反转输入vinp与M(j)连接。
图10示出了源极线路为960条时的监测动作的积分电路32的输出。OC0时与图4的(a)所示的实施方式1的积分电路32的输出相同。
OC1时，可以获得实施方式1的积分电路32的输出与将正负反相而得到的结果。即，通过设置OC0的输出(Vsja-Vsja-1+ΔVmis)与OC1的输出(Vsja-1-Vsja+ΔVmis)之差，能够消除由积分电路32的差动输入的不匹配引起的误差ΔVmis。与此同时，由于能够同时进行平均处理，因此能够进一步改善测量精度。
图8中，在C1、C2的显示面板10侧通过OC来切换反转输入与非反转输入，但如图9所示，用C1、C2的放大器侧的开关SW6来切换也可以得到相同的效果。
〔实施方式3〕
在实施方式1、2中，需要与专利文献1同样地分别独立地测量驱动晶体管以及OLED的电流。在实施方式3中，说明同时测量驱动晶体管与OLED的电流的方法。图11是实施方式3的显示面板10与源极驱动器30的连接图，并示出了图1的第i行的第j-1列至第j+1列的像素(P)11的连接。首先，对显示面板10的像素结构进行说明。
像素(P)11包括有一个OLED(D1)、五个晶体管(T1～T5)以及一个存储电容器(Cst)，T1～T5的晶体管由P型构成。T1作为选择像素11的输入晶体管发挥作用，并由栅极线路(Gs)控制。
T2作为控制向OLED供给电流的驱动晶体管发挥作用，T2的栅极电压经由T1从源极线路(S)被供给。T3作为控制OLED的阳极与监测线路的连接/非连接的电压监测控制晶体管发挥作用，并由栅极线路(Gmv)控制。
T4作为控制OLED的阴极与源极线路的连接/非连接的电流监测控制晶体管发挥作用，并由栅极线路(Gmi)控制。T5作为控制OLED的阴极与驱动电源(ELVSS)的连接/非连接的发光控制晶体管发挥作用，并由栅极线路(EL)控制。
当图12的像素为N型时，将T4与T5的连接从OLED的阴极改变为T2的漏极。像素为P型时，OLED的阴极位于T2的漏极侧，且P型、N型均在T2的漏极侧连接有T4与T5。这是因为，如实施方式1中所述的那样与积分电路32连接的线路在取样期间内产生电位变动。目的在于使T2的栅极-源极间电压不受此电位变动，保持栅极-源极间电压恒定，并保持电流测量时的T2的驱动电流恒定。
接着，对源极驱动器30的结构进行说明。源极驱动器30由输出电路31、相位开关、输出选择开关、(开关和电容器)积分电路32、样本保持(SH)电路35以及ADC1、ADC2(33)构成。此外，积分电路32为与实施例1相同的结构。在此，使用了两个ADC，但由于按时间序列处理，使用一个ADC也没关系。
实施方式3的图11的电路动作使用图13的时序图进行说明。图13是通常动作至第i-1行的像素、第i行的像素为驱动晶体管的监测动作、从第i+1行开始通常动作时的时序图。这里，OUTSEL、AMP_En、ADC_En、Ph、重置信号、样本信号为控制信号。
(通常动作)
Tni-1是第i-1行的通常动作期间，第i-1行的栅极线路的信号Gs(i-1)、EL(i-1)为低电平，Gmi(i-1)与Gmv(i-1)变为高电平，且第i-1行以外的栅极线路的信号EL为低电平，Gs、Gmi以及Gmv变为高电平。
此外，控制信号OUTSEL为高电平，源极驱动器30的输出选择开关连接输出电路31与源极线路。(Output)第i-1行的像素11中，T1变为导通，T3、T4变为截止，T2的栅极中从源极驱动器30供给对应于数据Data(i-1)的数据电压。
第i-1行以外的像素11中，T1、T3、T4为截止。此外，所有像素11的T5为导通，且OLED的阴极与ELVSS连接。
(校正动作)
Twr是进行监测动作的监测电压的写入与OLED的阳极电压的读出的期间，第i行的栅极线路的信号Gs(i)、Gmv(i)变为低电平，第i行以外的栅极线路的信号Gs变为高电平。所有像素(P)11的T4、T5与通常动作时同样地，T4为截止、T5为导通，OLED的阴极与ELVSS连接。
第i行的像素中，T1变为导通，T3变为导通，T2的栅极中从源极驱动器30供给监测电压Vmon(i)，监测线路变为与T2的漏极(OLED的阳极)连接的状态。
监测线路变为OLED的阳极电压Voled_an，并被输入至各列的源极驱动器30的SH电路35中。ADC2(33)将各列的SH电路35的输出即Voled_an(j)依次转换为数字数据。通过以上的动作，可以测量监测行的像素11的数据写入与OLED的阳极电压。第i行以外的像素(P)11中，T1为截止，T3为截止，这种状态持续至第i行的特性检测动作完成。
Tr0、Ts0、Th0、Tr1、Ts1、Th1是监测动作的Phase0/1的重置期间、取样期间、保持期间，是与实施方式1相同的动作。在实施方式3中，从源极线路开始测量串联连接了驱动晶体管与OLED的电流，但也可以与实施方式1同样地从监测线路开始测量。
监测动作的Phase0的重置期间的控制信号变为如下。AMP_En、样本信号、重置信号为高电平，OUTSEL、ADC_En、Ph为低电平。
积分电路32从“不可”变为“可以，全差分放大电路的输出voutp、voutn被初始化为Vcm1。此外，反转输入vinn与S(j-1)，非反转输入vinp与S(j)连接，且vinn，vinp被初始化为Vrst。Vrst期望为ELVSS，图12的Nch时，期望为ELVDD。
第i行的栅极线路的信号Gmi(i)为低电平，EL(i)为高电平，第i行的像素的T4变为导通，T5变为截止，OLED的阴极的连接从ELVSS变更为源极线路。第i行以外的像素(P)11中，OLED的阴极处于与ELVSS连接的状态，但持续到检测动作完成。
监测动作的Phase0的取样期间内，重置信号从高电平变为低电平，C1基于串联连接了P(i，j-1)的T2与D1的电流而充电，C2基于串联连接了P(i，j)的T2与D1的电流而充电，S(j-1)与S(j)的电位变高。
其结果是，将串联连接了各像素11的T2与D1的电流在取样期间内以时间积分的电荷被存储于C1、C2中。在此期间内，源极线路的电位变高，T2的源极-漏极间电压变低。然而，栅极-源极间电压通过Cst而保持恒定，因此T2的驱动电流被保持恒定。此外，当由于取样期间的源极线路的电位变动而产生测量误差时，如实施方式1中所说明的那样，通过调整Cs与Ch的比率调整能够减小测量误差。
监测动作的Phase0的保持期间内，第i行的栅极线路的信号Gmi(i)变为高电平、EL(i)为低电平，第i行的像素的T4变为截止、T5变为导通，OLED的阴极的连接从源极线路变更为ELVSS，电流不再向源极线路流通。
同时，重置信号、ADC_En从低电平变为高电平，且样本信号从高电平变为低电平，电荷从C1传送至C3，并从C2传送C4，积分电路32的输出变为串联连接了P(i，j)与P(i，j-1)的T2和D1的电流的时间积分值的差分与增益的乘积Cs/Ch×(Vsj-Vsj-1)，并保持至由ADC1(33)处理。
积分电路32的输出被依次输入至ADC1(33)中，并转换为数字数据。由于以相邻像素的差分进行处理，因此监测线路以及电源电压的共模噪声被去除，且测量误差减小。由此，监测动作的Phase0完成，并过渡到Phase1。
通过Phase0、1的动作，能够获得各列的OLED的阳极电压Voled_an、驱动晶体管以及OLED的电流Imon的数字数据。如图14所示，能够计算出驱动晶体管与OLED的电流电压特性，并能够计算出驱动晶体管与OLED的校正数据。
〔附加说明〕
本发明不限于上述各实施方式，能在权利要求所示的范围中进行各种变更，将不同的实施方式中分别公开的技术手段适当组合得到的实施方式也包含于本发明的技术范围。而且，能够通过组合各实施方式分别公开的技术方法来形成新的技术特征。
附图标记说明
10 显示面板
11 像素(电流生成电路，像素电路)
12 电流源(电流生成电路)
20 控制器电路(校正部)
30 源极驱动器(驱动部)
31 输出电路
32 积分电路
33 ADC或ADC1，2(测量部)
35 SH电路
SW1～SW6 开关。

Claims (16)

1.一种显示装置，其特征在于，包括：
电流生成电路，其生成成为基准的电流；
相邻连接的多个像素电路；
驱动部，其向所述像素电路的每一个像素电路流通相同的电流；
测量部，其通过积分电路测量所述电流；以及
校正部，其根据所述测量部的测量结果，以成为所述基准的电流为基准，进行其他像素电路的劣化校正，
所述电流生成电路包含与所述像素电路相同结构的基准像素电路，
所述驱动部向所述基准像素电路流通成为所述基准的电流，且不向与所述基准像素电路相邻的像素电路流通电流，
所述测量部根据在相邻的像素电路中流通的电流的差分，测量成为所述基准的电流。
2.根据权利要求1所述的显示装置，其特征在于，
所述电流生成电路包含能够通过寄存器控制而调整为任意的电流量的电流源。
3.根据权利要求1所述的显示装置，其特征在于，
所述基准像素电路仅在电流测量时动作，且不随时间劣化。
4.根据权利要求1所述的显示装置，其特征在于，
所述积分电路包含能够通过调整电容比率来调整增益的积分电路。
5.根据权利要求1所述的显示装置，其特征在于，
将所述像素电路与所述测量部AC耦合。
6.根据权利要求1至5中任一项所述的显示装置，其特征在于，
还包括开关，其对所述像素电路与所述测量部的连接进行切换，
所述测量部测量在相邻的像素电路中流通的电流的差分。
7.根据权利要求6所述的显示装置，其特征在于，
所述测量部测量在相邻的同色的像素电路中流通的电流的差分。
8.根据权利要求6所述的显示装置，其特征在于，
所述测量部切换所述像素电路与所述测量部的连接，多次测量在相邻的像素电路中流通的电流的差分，并除去所述测量部的偏移。
9.一种显示装置，其特征在于，包括：
电流生成电路，其生成成为基准的电流；
与所述电流生成电路相邻连接的多个像素电路；
驱动部，其向所述像素电路的每一个像素电路流通相同的电流；
测量部，其测量多个有机发光素子的每一个的阳极电压，并通过积分电路测量所述像素电路的驱动晶体管与有机发光素子中串联流通的电流；以及
校正部，其根据所述测量部的测量结果，以成为所述基准的电流为基准，进行其他像素电路的劣化校正，
所述电流生成电路包含与所述像素电路相同结构的基准像素电路，
所述驱动部向所述基准像素电路流通成为所述基准的电流，且不向与所述基准像素电路相邻的像素电路流通电流，
所述测量部根据在相邻的像素电路中流通的电流的差分，测量成为所述基准的电流。
10.根据权利要求9所述的显示装置，其特征在于，
所述电流生成电路包含能够通过寄存器控制而调整为任意的电流量的电流源。
11.根据权利要求9所述的显示装置，其特征在于，
所述基准像素电路仅在电流测量时动作，且不随时间劣化。
12.根据权利要求9所述的显示装置，其特征在于，
所述积分电路包含能够通过调整电容比率来调整增益的积分电路。
13.根据权利要求9所述的显示装置，其特征在于，
将所述像素电路与所述测量部AC耦合。
14.根据权利要求9至13中任一项所述的显示装置，其特征在于，
还包括：开关，其对所述像素电路与所述测量部的连接进行切换，
所述测量部测量在相邻的像素电路中流通的电流的差分。
15.根据权利要求14所述的显示装置，其特征在于，
所述测量部测量在相邻的同色的像素电路中流通的电流的差分。
16.根据权利要求14所述的显示装置，其特征在于，
所述测量部切换所述像素电路与所述测量部的连接，多次测量在相邻的像素电路中流通的电流的差分，并除去所述测量部的偏移。
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