CN111504198B - 一种电阻切割刀口的检测方法 - Google Patents

一种电阻切割刀口的检测方法 Download PDF

Info

Publication number
CN111504198B
CN111504198B CN202010510353.1A CN202010510353A CN111504198B CN 111504198 B CN111504198 B CN 111504198B CN 202010510353 A CN202010510353 A CN 202010510353A CN 111504198 B CN111504198 B CN 111504198B
Authority
CN
China
Prior art keywords
cutting edge
resistor
resistance
boundary coordinate
image
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN202010510353.1A
Other languages
English (en)
Other versions
CN111504198A (zh
Inventor
杨从新
夏云
李永传
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Wuxi Hebo Yongxin Technology Co ltd
Original Assignee
Wuxi Hebo Yongxin Technology Co ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Wuxi Hebo Yongxin Technology Co ltd filed Critical Wuxi Hebo Yongxin Technology Co ltd
Priority to CN202010510353.1A priority Critical patent/CN111504198B/zh
Publication of CN111504198A publication Critical patent/CN111504198A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN111504198B publication Critical patent/CN111504198B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/002Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring two or more coordinates
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/02Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/28Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring areas

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Apparatuses And Processes For Manufacturing Resistors (AREA)

Abstract

本发明涉及电阻检测领域,公开了一种电阻切割刀口的检测方法,在对电阻的切割刀口进行检测时,通过判断切割刀口在电阻上的位置、切割刀口的宽度和切割刀口的面积来判断该切割刀口是否是正常切割、内切、外切或者切导体,在切割刀口异常时显示错误类型,这样作业员能根据显示的错误类型及时调节切割刀口,进而避免电阻基板被错误切割和原材料的浪费。

Description

一种电阻切割刀口的检测方法
技术领域
本发明涉及电阻检测领域,具体涉及一种电阻切割刀口的检测方法。
背景技术
在电阻的生产工艺中,印刷烧成后的电阻阻值大约低于目标值的30%,所以要通过激光来切割电阻,使电阻阻值达到目标值。激光切割调阻时,被切割的电阻体图形主要有以下几种:单刀切割电阻法、双刀切割电阻法、L型刀口切割电阻法、交叉对切电阻法、曲线型L刀口的切法和曲线型U型刀口的切法。
如图1、2和3所示,在实际生产当中,即使企业的管理人员严格要求作业员,但还是不可避免的出现外切,内切,切导体等问题。特别是上晚班的作业员,一旦疏忽大意,等发现问题的时候已经印刷了数百片的基板,无疑给企业带来了很大的原材料浪费和成本增加。
发明内容
鉴于背景技术的不足,本发明是提供了一种电阻切割刀口的检测方法,对激光切割后的电阻进行检测,防止在电阻的切割刀口不对时激光切割装置仍对后续电阻基板进行切割。
为解决以上技术问题,本发明提供了如下技术方案:一种电阻切割刀口的检测方法,包括以下步骤:
S1:获取电阻基板的图像上所有要进行检测的电阻的位置;
S2:依次检测电阻基板的图像上的每个电阻的切割刀口是否符合要求。
其中,步骤S1具体为:
S10:设定单颗电阻的面积;
S11:根据单颗电阻的面积获取电阻基板图像上的所有电阻,个数计为N,然后计算每颗电阻的中心点坐标,最后将每颗电阻的中心点坐标生成中心点集合CENTER{{X1,Y1},{X2,Y2}......{XN,YN}};
S12:根据中心点集合CERTER,确定每颗电阻在电阻基板上的位置。
步骤S2具体为:
S20:设定切割刀口的类型,每种类型的切割刀口包括相应的刀口参数;
S21:根据每颗电阻图像的明暗变化得到实际切割刀口的左边界坐标ROW1和右边界坐标ROW2,并通过左边界坐标ROW1和右边界坐标ROW2判断切割刀口在电阻上的位置是否符合设定的切割刀口的要求,将右边界坐标ROW1减去左边界坐标ROW2得到实际切割刀口的宽度H,并判断宽度H是否符合设定的切割刀口的要求,提取并计算电阻图像中的亮斑面积,通过亮斑面积判断实际切割刀口的大小是否符合设定的切割刀口的要求。
在检测过程中,如果步骤S21中实际切割刀口在电阻上的位置、实际切割刀口的宽度和面积中的任一项或者多项不符合设定的切割刀口的要求时,显示相应的错误类型,否则显示检测合格。
本发明与现有技术相比所具有的有益效果是:在电阻切割完成后,通过将实际切割刀口在电阻上的位置、切割刀口的宽度和切割刀口的面积与设定的切割刀口的类型进行比较,判断电阻切割是否出现异常,并在出现异常时进行报警提示,能使作业员在电阻切割出现异常时及时停止电阻切割,降低成本损失。
附图说明
本发明有如下附图:
图1为采用L型切割刀口的正常切割示意图;
图2为采用L型切割刀口的内切示意图;
图3为采用L型切割刀口的外切示意图;
图4为实施例中的显示窗口显示的各种类型切割刀口的示意图;
图5为实施例中的显示窗口显示电阻基板模板图像的示意图;
图6为实施例中L型切割刀口正常切割时在电阻位置的坐标示意图。
具体实施方式
现在结合附图对本发明作进一步详细的说明。这些附图均为简化的示意图,仅以示意方式说明本发明的基本结构,因此其仅显示与本发明有关的构成。
一种电阻切割刀口的检测方法,包括以下步骤:
S1:获取电阻基板的图像上所有要进行检测的电阻的位置;
S2:依次检测电阻基板的图像上的每个电阻的切割刀口是否符合要求。
其中,步骤S1具体为:
S10:设定单颗电阻的面积;
S11:根据单颗电阻的面积获取电阻基板图像上的所有电阻,个数计为N,然后计算每颗电阻的中心点坐标,最后将每颗电阻的中心点坐标生成中心点集合CENTER{{X1,Y1},{X2,Y2}......{XN,YN}};
S12:根据中心点集合CERTER,确定每颗电阻在电阻基板上的位置。
其中,步骤S11通过halcon算法实现,具体如下:根据设定的单颗电阻的面积,通过形状选择区域的算法对电阻基板图像进行处理,筛选出电阻基板图像上的所有电阻,接着通过计算区域的面积和中心的算法,计算出每个电阻的中心点坐标。
步骤S2具体为:
S20:设定切割刀口的类型,每种类型的切割刀口包括相应的刀口参数;
S21:根据每颗电阻图像的明暗变化得到实际切割刀口的左边界坐标ROW1和右边界坐标ROW2,并通过左边界坐标ROW1和右边界坐标ROW2判断切割刀口在电阻上的位置是否符合设定的切割刀口的要求,将右边界坐标ROW1减去左边界坐标ROW2得到实际切割刀口的宽度H,并判断宽度H是否符合设定的切割刀口的要求,提取并计算电阻图像中的亮斑面积,通过亮斑面积判断实际切割刀口的大小是否符合设定的切割刀口的要求。
在检测过程中,如果步骤S21中实际切割刀口在电阻上的位置、实际切割刀口的宽度和面积中的任一项或者多项不符合设定的切割刀口的要求时,显示相应的错误类型,否则显示检测合格。例如在判断切割刀口内切时显示内切错误,在判定切割刀口外切时显示外切错误,在判定切割刀口切导体时显示切导体错误,这样作业员能根据显示的错误类型对切割刀口做相应的调整,进而简化调试。
如图4-5所示,在设定切割刀口的类型时,可设置一显示窗口,显示窗口用来显示切割刀口的类型和电阻基基板模板图像,每种类型的切割刀口下方设有勾选框,当选择某一勾选框时则选择该勾选框上方的切割刀口作为检测判断基准,另外在电阻基板模板图像上可框选单个电阻区域来设定单颗电阻的面积,这样作业员不用手动测量单颗电阻的长度和宽度,操作简便。
在图1、2和3中,当切割刀口正常切割、内切或者外切时,左边界坐标ROW1和右边界坐标ROW2与正常切割时的值不同。如图6所示,以对采用L型切割刀口切割的电阻进行检测为例,在正常切割时将该电阻的左边界坐标ROW1和右边界坐标ROW2与该电阻的X中心点坐标X1进行比较来判断该切割刀口在电阻上的位置是否符合要求。
上述依据本发明为启示,通过上述的说明内容,相关工作人员完全可以在不偏离本项发明技术思想的范围内,进行多样的变更以及修改。本项发明的技术性范围并不局限于说明书上的内容,必须要根据权利要求范围来确定其技术性范围。

Claims (1)

1.一种电阻切割刀口的检测方法,其特征在于:包括以下步骤:
S1:获取电阻基板的图像上所有要进行检测的电阻的位置,具体如下:
S10:设定单颗电阻的面积;
S11:根据单颗电阻的面积获取电阻基板图像上的所有电阻,个数计为N,然后计算每颗电阻的中心点坐标,最后将每颗电阻的中心点坐标生成中心点集合CENTER{{X1,Y1},{X2,Y2}......{XN,YN}};
S12:根据中心点集合CERTER,确定每颗电阻在电阻基板上的位置;
S2:依次检测电阻基板的图像上的每个电阻的切割刀口是否符合要求,具体如下:
S20:设定切割刀口的类型,每种类型的切割刀口包括相应的刀口参数;
S21:根据每颗电阻图像的明暗变化得到实际切割刀口的左边界坐标ROW1和右边界坐标ROW2,并通过左边界坐标ROW1和右边界坐标ROW2判断切割刀口在电阻上的位置是否符合设定的切割刀口的要求,将右边界坐标ROW1减去左边界坐标ROW2得到实际切割刀口的宽度H,并判断宽度H是否符合设定的切割刀口的要求,提取并计算电阻图像中的亮斑面积,通过亮斑面积判断实际切割刀口的大小是否符合设定的切割刀口的要求;如果步骤S21中实际切割刀口在电阻上的位置、实际切割刀口的宽度和面积中的任一项或者多项不符合设定的切割刀口的要求时,显示相应的错误类型,否则显示检测合格。
CN202010510353.1A 2020-06-08 2020-06-08 一种电阻切割刀口的检测方法 Active CN111504198B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202010510353.1A CN111504198B (zh) 2020-06-08 2020-06-08 一种电阻切割刀口的检测方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202010510353.1A CN111504198B (zh) 2020-06-08 2020-06-08 一种电阻切割刀口的检测方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN111504198A CN111504198A (zh) 2020-08-07
CN111504198B true CN111504198B (zh) 2022-04-22

Family

ID=71875225

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202010510353.1A Active CN111504198B (zh) 2020-06-08 2020-06-08 一种电阻切割刀口的检测方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN111504198B (zh)

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN106052560A (zh) * 2016-07-25 2016-10-26 上海柏楚电子科技有限公司 一种视觉辅助板材余料排样的方法

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3381462B2 (ja) * 1995-06-13 2003-02-24 ソニー株式会社 実装基板の検査装置
CN101576508B (zh) * 2009-05-27 2011-09-21 华南理工大学 芯片外观缺陷自动检测装置及检测方法
CN101936708B (zh) * 2010-08-13 2012-05-23 河海大学常州校区 Qfp芯片的定位检测方法
CN102023168B (zh) * 2010-11-08 2013-04-17 北京大学深圳研究生院 半导体晶圆表面的芯片检测方法及系统
CN102840824B (zh) * 2011-06-23 2015-10-21 杭州古思科技有限公司 检测基板上贴片电阻位置的方法和设备
CN202119399U (zh) * 2011-06-23 2012-01-18 杭州古思科技有限公司 检测基板上贴片电阻位置的设备
CN102967605A (zh) * 2011-08-31 2013-03-13 鸿骐新技股份有限公司 电路板的标记检知及偏移量检知的方法及其置件方法
CN103808732B (zh) * 2014-01-21 2016-09-28 图灵视控(北京)科技有限公司 基于机器视觉的电容检测系统和方法
CN108918526B (zh) * 2018-04-10 2020-08-18 华南理工大学 一种柔性ic封装基板线路的缺口缺陷检测方法
CN109884070B (zh) * 2019-03-08 2020-06-09 武汉大学 一种基于机器视觉的铝铝泡罩包装药片缺陷检测方法

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN106052560A (zh) * 2016-07-25 2016-10-26 上海柏楚电子科技有限公司 一种视觉辅助板材余料排样的方法

Also Published As

Publication number Publication date
CN111504198A (zh) 2020-08-07

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US8428336B2 (en) Inspecting method, inspecting system, and method for manufacturing electronic devices
JP5865707B2 (ja) 外観検査装置、外観検査方法及びコンピュータプログラム
CN112577969B (zh) 一种基于机器视觉的缺陷检测方法以及缺陷检测系统
CN109886960A (zh) 基于机器视觉的玻璃边缘缺陷检测的方法
CN111504198B (zh) 一种电阻切割刀口的检测方法
CN108445020A (zh) 一种玻璃基板缺陷聚集识别方法
CN110967851B (zh) 一种液晶面板array图像的线路提取方法及系统
CN108121648B (zh) 一种界面错误监控方法
TW202026947A (zh) 智慧判定回饋方法及裝置
JP5411439B2 (ja) 印刷はんだ検査装置
CN105136818B (zh) 印刷基板的影像检测方法
CN114612423A (zh) 一种芯片封装缺陷检测方法
EP3144650B1 (en) Colorimeter and colorimetry method
CN107356601A (zh) 一种缺陷检测机台的自动缺陷预分类报告方法
JP2002133392A (ja) 画像処理システムにおけるパラメータ設定方法及びその画像処理システム
CN111008968A (zh) 图片处理方法、装置及存储介质
CN112150433B (zh) 电路板晶须物质的检测方法、计算机设备和存储介质
CN113012125A (zh) 基于图像识别的半导体cp设备自动化针卡校对方法及系统
CN111273155A (zh) 一种芯片烧录检测方法、系统和计算机可读存储介质
CN104677279B (zh) 确认基板外形尺寸之方法
CN111091556B (zh) 一种汽车仪表盘表面划痕的自动检测方法
CN112184706B (zh) 片式电阻丝印外观检测方法、装置、电子设备和存储介质
TWI737499B (zh) 視覺檢測系統之參數設定方法與智能系統
CN110717902B (zh) 一种显示图像边缘的处理方法
CN110688036B (zh) 一种web界面缺陷关联内容位置变化的展示方法

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant