CN111458353B - 一种电阻基板正反检测方法 - Google Patents

一种电阻基板正反检测方法 Download PDF

Info

Publication number
CN111458353B
CN111458353B CN202010478928.6A CN202010478928A CN111458353B CN 111458353 B CN111458353 B CN 111458353B CN 202010478928 A CN202010478928 A CN 202010478928A CN 111458353 B CN111458353 B CN 111458353B
Authority
CN
China
Prior art keywords
line
substrate
distance
resistor
resistance substrate
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN202010478928.6A
Other languages
English (en)
Other versions
CN111458353A (zh
Inventor
杨从新
冯军
李永传
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Wuxi Hebo Yongxin Technology Co ltd
Original Assignee
Wuxi Hebo Yongxin Technology Co ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Wuxi Hebo Yongxin Technology Co ltd filed Critical Wuxi Hebo Yongxin Technology Co ltd
Priority to CN202010478928.6A priority Critical patent/CN111458353B/zh
Publication of CN111458353A publication Critical patent/CN111458353A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN111458353B publication Critical patent/CN111458353B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
    • G01N21/956—Inspecting patterns on the surface of objects
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
    • G01N21/956—Inspecting patterns on the surface of objects
    • G01N2021/95638—Inspecting patterns on the surface of objects for PCB's

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

本发明涉及电阻基板正反检测领域,公开了一种电阻基板正反检测方法，通过将采集的电阻基板图像的N条线中的每两条相邻线条的间距的最大值与最小值的差与提前设定的判断阈值D进行比较来判断是否印刷错误，不用向CCD检测系统录入每种基板的模板信息，减少了工作量，而且适用性广。

Description

一种电阻基板正反检测方法
技术领域
本发明涉及电阻基板正反检测领域，具体涉及一种电阻基板正反检测方法。
背景技术
电阻生产采用的原材料是60(mm)*70(mm)大小并且反面刻有等间距线条的陶瓷基板，而陶瓷基板正面存在不规律的线条，电阻的印刷层必须是在反面印刷。但是在实际生产当中，即使企业的管理人员严格要求作业员，但还是不可避免的出现基板放反的问题，特别是上晚班的作业员，一旦疏忽大意，等发现问题的时候已经印刷了数百片的基板，无疑给企业带来了很大的原材料浪费和成本的增加。
现有实时监控CCD检测系统通常根据基板缺口方向来判断基板是否防反，然而由于各个基板生产厂家的生产标准不同，CCD检测系统在使用时必须要录入每个生产厂家基板的模板信息，这样不仅增加了作业员的工作量，而且通用性和扩展性较差。
发明内容
鉴于背景技术的不足，本发明是提供了一种电阻基板正反检测方法，所要解决的技术问题是现有CCD检测系统检测电阻基板是否放反时需提前录入每种电阻基板的模板信息，工作量大。
为解决以上技术问题，本实用新型提供了如下技术方案：一种电阻基板正反检测方法，其特征在于：包括以下步骤：
S1：设定要搜索的线条的条数N和线条间距判定阈值D；
S2：在电阻基板图像上寻找第一条线条的位置，以第一条线条的位置为基准计算第二条线条与第一条线条的距离Dx1、第三条线条与第二条线条的距离Dx2......第N条线条与第N-1条线条的距离DxN-1，最终形成线条距离集合DIS{Dx1，Dx2......DxN-1}；
S3：求出线条距离集合DIS中的最小值Dmin和最大值Dmax，如果|Dmax-Dmin|>D,电阻基板印刷错误，否则印刷正确。
进一步，步骤S2中寻找第一条线条的位置的具体步骤如下：先提前设定好第一条线条的搜索位置范围，然后在电阻基板图像上提取基板边缘线，以基板边缘线为基准，在第一条线条的搜索位置范围内寻找第一条线条的具体位置。
本发明与现有技术相比所具有的有益效果是：通过判断采集的电阻基板的图像表面的线条间距来检测是否印刷错误，不用向CCD检测系统录入每种基板的模板信息，减少了工作量。另外电阻基板反面的线条间隔分布在电阻基板上，而不同生产厂家的电阻基板的反面的线条分布规律不同，本发明通过将N条线条中每两条相邻线条的间距的最大值与最小值的差与提前设定的判断阈值D进行比较来判断是否印刷错误，不仅适用性广，还提高了检测准确度。
附图说明
本发明有如下附图：
图1为电阻基板的反面的线条的示意图；
图2为本发明寻找第一条线条位置的坐标示意图。
图中：1、电阻基板，2、第一条线条，3、缺口。
具体实施方式
现在结合附图对本发明作进一步详细的说明。这些附图均为简化的示意图，仅以示意方式说明本发明的基本结构，因此其仅显示与本发明有关的构成。
一种电阻基板正反检测方法，其特征在于：包括以下步骤：
S1：设定要搜索的线条的条数N和线条间距判定阈值D；
S2：在电阻基板图像上寻找第一条线条的位置，以第一条线条的位置为基准计算第二条线条与第一条线条的距离Dx1、第三条线条与第二条线条的距离Dx2......第N条线条与第N-1条线条的距离DxN-1，最终形成线条距离集合DIS{Dx1，Dx2......DxN-1}；
S3：求出线条距离集合DIS中的最小值Dmin和最大值Dmax，如果|Dmax-Dmin|>D,电阻基板印刷错误，否则印刷正确。
进一步，步骤S2中寻找第一条线条的位置的具体步骤如下：先提前设定好第一条线条的搜索位置范围，然后在电阻基板图像上提取基板边缘线，以基板边缘线为基准，在第一条线条的搜索位置范围内寻找第一条线条的具体位置。
如图1-2所示，坐标A和坐标B之间的区域作为第一条线条2的搜索范围，在计算每两条相邻线条的间距时，可以将电阻基板1的左侧边缘线作为判断起点，该判断起点为图2中的坐标原点，然后在坐标A与坐标B之间寻找第一条线条2的位置，然后以第一条线条2的位置为基准计算计算第二条线条与第一条线条的距离Dx1、第三条线条与第二条线条的距离Dx2......第N条线条与第N-1条线条的距离DxN-1。
本发明通过判断采集的电阻基板图像表面的线条间距来检测是否印刷错误，不用向CCD检测系统录入每种基板的模板信息，减少了工作量。另外电阻基板反面的线条间隔分布在电阻基板上，而不同生产厂家的电阻基板的反面的线条分布规律不同，本发明通过将N条线条中每两条相邻线条的间距的最大值与最小值的差与提前设定的判断阈值D进行比较来判断是否印刷错误，不仅适用性广，还提高了检测准确度。
上述依据本发明为启示，通过上述的说明内容，相关工作人员完全可以在不偏离本项发明技术思想的范围内，进行多样的变更以及修改。本项发明的技术性范围并不局限于说明书上的内容，必须要根据权利要求范围来确定其技术性范围。

Claims (1)

1.一种电阻基板正反检测方法，其特征在于：包括以下步骤：
S1：设定要搜索的线条的条数N和线条间距判定阈值D；
S2：在电阻基板图像上寻找第一条线条的位置，以第一条线条的位置为基准计算第二条线条与第一条线条的距离Dx1、第三条线条与第二条线条的距离Dx2......第N条线条与第N-1条线条的距离DxN-1，最终形成线条距离集合DIS{Dx1，Dx2......DxN-1}；其中步骤S2中寻找第一条线条的位置的具体步骤如下：先提前设定好第一条线条的搜索位置范围，然后在电阻基板图像上提取基板边缘线，以基板边缘线为基准，在第一条线条的搜索位置范围内寻找第一条线条的具体位置；
S3：求出线条距离集合DIS中的最小值Dmin和最大值Dmax，如果|Dmax-Dmin|>D,电阻基板印刷错误，否则印刷正确。
CN202010478928.6A 2020-05-29 2020-05-29 一种电阻基板正反检测方法 Active CN111458353B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202010478928.6A CN111458353B (zh) 2020-05-29 2020-05-29 一种电阻基板正反检测方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202010478928.6A CN111458353B (zh) 2020-05-29 2020-05-29 一种电阻基板正反检测方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN111458353A CN111458353A (zh) 2020-07-28
CN111458353B true CN111458353B (zh) 2023-03-10

Family

ID=71678845

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202010478928.6A Active CN111458353B (zh) 2020-05-29 2020-05-29 一种电阻基板正反检测方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN111458353B (zh)

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102840824A (zh) * 2011-06-23 2012-12-26 杭州古思科技有限公司 检测基板上贴片电阻位置的方法和设备
CN103380366A (zh) * 2011-03-09 2013-10-30 夏普株式会社 缺陷检查方法、缺陷检查装置以及基板的制造方法
CN105181706A (zh) * 2015-09-23 2015-12-23 电子科技大学 一种基板上的贴片电阻不良缺陷检测方法
CN109752393A (zh) * 2018-12-26 2019-05-14 五邑大学 一种基于图像特征的贴片电阻型号检测方法及其装置
CN110132978A (zh) * 2019-04-28 2019-08-16 无锡和博永新科技有限公司 电阻片整片检测装置及检测方法

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103380366A (zh) * 2011-03-09 2013-10-30 夏普株式会社 缺陷检查方法、缺陷检查装置以及基板的制造方法
CN102840824A (zh) * 2011-06-23 2012-12-26 杭州古思科技有限公司 检测基板上贴片电阻位置的方法和设备
CN105181706A (zh) * 2015-09-23 2015-12-23 电子科技大学 一种基板上的贴片电阻不良缺陷检测方法
CN109752393A (zh) * 2018-12-26 2019-05-14 五邑大学 一种基于图像特征的贴片电阻型号检测方法及其装置
CN110132978A (zh) * 2019-04-28 2019-08-16 无锡和博永新科技有限公司 电阻片整片检测装置及检测方法

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
叶亭 ; 吴开华 ; 马莉 ; 庄霏 ; .一种基于线阵CCD技术印刷电路板胶片的尺寸及缺陷在线检测方法.2008,第6卷(第02期),74-77. *

Also Published As

Publication number Publication date
CN111458353A (zh) 2020-07-28

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN102693431B (zh) 一种白色车牌类型的识别方法及装置
CN101251892B (zh) 一种字符切分方法和装置
CN106530275A (zh) 元件错件检测方法和系统
CN107516085B (zh) 一种基于文档图像自动去除黑边的方法
CN103439348B (zh) 基于差影法的遥控器按键缺陷检测方法
CN115049638A (zh) 一种基于图像处理的丝网印刷玻璃缺陷检测方法及装置
WO2014086277A1 (zh) 方便电子化的专业笔记本及其页码自动识别方法
CN111458353B (zh) 一种电阻基板正反检测方法
CN113112496A (zh) 一种基于自适应阈值的亚像素轴类零件尺寸测量方法
CN112926563B (zh) 一种钢卷喷印标记故障诊断系统
CN107036560B (zh) 光学玻璃精密磨削加工的表面粗糙度检测方法
CN104182728A (zh) 一种基于模式识别的车标自动定位与识别方法
CN112419260A (zh) 一种pcb文字区域缺陷检测方法
CN108161048A (zh) 一种一体化pcb自动钻孔方法
CN203337559U (zh) 印品质量数字化全自动检测系统
CN111914508A (zh) 元器件检测方法、装置、电子设备及可读存储介质
CN106096713B (zh) 一种基于空间和灰度特征的粗精二级纸张计数方法
CN103175839A (zh) 胶印版材表面检测的处理方法及系统
CN111583254B (zh) 一种曲轴瓦盖组摆放方向和顺序异常的视觉检测方法
EP3298583B1 (en) Methods for inspecting cellular articles
CN103688528A (zh) 在大型扫描系统中借助图像信息探测文档的宽度和位置的方法
CN203203936U (zh) 一种印品质量数字化检测装置
CN115924455A (zh) 一种复杂工况下基于深度学习的皮带跑偏检测方法
CN108827974A (zh) 一种瓷砖缺陷检测方法及系统
CN110751631B (zh) 一种快速高精度的矩形检测方法

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant