CN111438066A - 一种卫星用元器件选取方法、装置及电子设备 - Google Patents
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Abstract
本发明公开是一种卫星用元器件选取方法、装置及电子设备，包括：判断待测元器件是否为核心元器件；若待测元器件不是核心元器件，则判断待测元器件是否满足最低质量等级要求；若满足最低质量等级要求，则确定待测元器件的质保等级；根据质保等级对待测元器件进行质保试验，以得到质保试验结果；将包含质保试验结果为合格的单板进行加严筛选试验，以得到加严筛选试验结果；将包含加严筛选试验结果为合格的整机进行整机级试验，以得到整机级试验结果；将整机级试验结果为合格的待测元器件选为卫星用元器件。本发明解决了低等级元器件在短寿命、低轨道卫星上的使用问题、解决了低等级元器件星上使用时质量保证的方案，减小了低等级元器件的使用风险。
Description
技术领域
本发明涉及卫星试验技术领域，特别涉及一种卫星用元器件选取方法、装置及电子设备。
背景技术
卫星等航天器全寿命周期需要经历地面研制、发射主动段和在轨运营等不同研制阶段，承受振动、冲击、真空、热、辐射等诸多环境的考核。为保证卫星满足在轨寿命的要求，设计上需要具备可靠性。而卫星的可靠性很大程度上取决于所使用元器件的可靠性。
一般，卫星研制中所选用的为宇航级、超特军级的高等级元器件。然而高等级元器件价格昂贵，且因技术封锁、贸易摩擦等，进口高等级元器件往往较难采购、有禁运的风险，给卫星研制进度带来不确定性。因此，对于快速响应卫星、低成本商业卫星，选用低等级元器件成为一条必由之路。
低等级元器件具有易于采购、价格低的优点，但由于选用的材料不同，以及生产工艺和测试过程的差异，低等级元器件同时也存在着可靠性不高、质量一致性差的不足。
因此，亟需提供一种适用于低等级尤其是工业级元器件的升级筛选试验方法的技术方案，能够剔除产品的早期失效，确保产品交付后在整星测试和试验，以及在轨运行过程中的可靠性。
发明内容
针对现有技术的上述问题，本发明的目的在于提供一种卫星用元器件选取方法、装置及电子设备，能够解决低等级元器件在短寿命、低轨道卫星上的使用问题，减小低等级元器件的使用风险。
为了解决上述问题，本发明提供一种卫星用元器件选取方法，包括：
判断待测元器件是否为核心元器件；
若所述待测元器件不是所述核心元器件，则判断所述待测元器件是否满足最低质量等级要求；
若满足所述最低质量等级要求，则确定所述待测元器件的质保等级；
根据所述质保等级对所述待测元器件进行质保试验，以得到质保试验结果；
将包含所述质保试验结果为合格的单板进行加严筛选试验，以得到加严筛选试验结果；
将包含所述加严筛选试验结果为合格的整机进行整机级试验，以得到整机级试验结果；
将所述整机级试验结果为合格的所述待测元器件选为所述卫星用元器件。
进一步地、还包括：
若所述待测元器件是所述核心元器件，则判断所述待测元器件是否满足优质质量等级要求；
若满足，则判断包含所述待测元器件的单板是否含有所述最低质量等级的要求元器件；
若否，则对包含所述待测元器件的单板进行筛选试验，以得到筛选试验结果；
相应地、将包含所述筛选试验结果为合格者的整机进行整机级试验，以得到整机级试验结果；
相应地、将所述整机级试验结果为合格的所述待测元器件选为所述卫星用元器件。
进一步地、所述确定所述待测元器件的质保等级，包括：
判断所述待测元器件是否有合格证且判断所述待测元器件是否为塑封器件；
若所述待测元器件有合格证且所述待测元器件为所述塑封器件，则确定所述待测元器件为焊接前质保等级一级；
若所述待测元器件有合格证但所述待测元器件不为所述塑封器件，则确定所述待测元器件为焊接前质保等级二级；
若所述待测元器件没有合格证但所述待测元器件为所述塑封器件，则确定所述待测元器件为焊接前质保等级三级；
若所述待测元器件没有合格证且所述待测元器件不为所述塑封器件，则确定所述待测元器件为焊接前质保等级四级。
进一步地、所述判断所述待测元器件是否为核心元器件，之前还包括：
确定所述待测元器件的重要程度，剔除不符合预设重要程度的所述待测元器件。
另一方面、本发明提供一种卫星用元器件选取装置，包括：
核心元器件判断模块，用于判断待测元器件是否为核心元器件；
最低质量等级要求判断模块，用于若所述待测元器件不是所述核心元器件，则判断所述待测元器件是否满足最低质量等级要求；
质保等级确定模块，用于若满足所述最低质量等级要求，则确定所述待测元器件的质保等级；
保试验结果生成模块，用于根据所述质保等级对所述待测元器件进行质保试验，以得到质保试验结果；
加严筛选试验结果生成模块，用于将包含所述质保试验结果为合格的单板进行加严筛选试验，以得到加严筛选试验结果；
整机级试验结果生成模块，用于将包含所述加严筛选试验结果为合格的整机进行整机级试验，以得到整机级试验结果；
选定模块，用于将所述整机级试验结果为合格的所述待测元器件选为所述卫星用元器件。
进一步地、还包括：
优质质量等级要求判断模块，用于若所述待测元器件是所述核心元器件，则判断所述待测元器件是否满足优质质量等级要求；
最低质量等级的要求元器件判断模块，用于若满足，则判断包含所述待测元器件的单板是否含有所述最低质量等级的要求元器件；
筛选试验结果生成模块，用于若否，则对包含所述待测元器件的单板进行筛选试验，以得到筛选试验结果。
进一步地、所述质保等级确定模块，包括：
判断单元，用于判断所述待测元器件是否有合格证且判断所述待测元器件是否为塑封器件；
质保等级一级确定单元，用于若所述待测元器件有合格证且所述待测元器件为所述塑封器件，则确定所述待测元器件为焊接前质保等级一级；
质保等级二级确定单元，用于若所述待测元器件有合格证但所述待测元器件不为所述塑封器件，则确定所述待测元器件为焊接前质保等级二级；
质保等级三级确定单元，用于若所述待测元器件没有合格证但所述待测元器件为所述塑封器件，则确定所述待测元器件为焊接前质保等级三级；
质保等级四级确定单元，用于若所述待测元器件没有合格证且所述待测元器件不为所述塑封器件，则确定所述待测元器件为焊接前质保等级四级。
进一步地、还包括：
重要程度确定模块，用于确定所述待测元器件的重要程度，剔除不符合预设重要程度的所述待测元器件。
再一方面、本发明提供一种电子设备，所述电子设备包括处理器和存储器，所述存储器中存储有至少一条指令、至少一段程序、代码集或指令集，所述至少一条指令、所述至少一段程序、所述代码集或指令集由所述处理器加载并执行以实现如上述所述的卫星用元器件选取方法。
再一方面、本发明提供一种计算机可读存储介质，所述存储介质中存储有至少一条指令、至少一段程序、代码集或指令集，所述至少一条指令、所述至少一段程序、所述代码集或指令集由处理器加载并执行以实现如上述所述的卫星用元器件选取方法。
由于上述技术方案，本发明具有以下有益效果：
本发明解决了低等级元器件在短寿命、低轨道卫星上的使用问题；
本发明解决了低等级元器件星上使用时质量保证的方案，减小了低等级元器件的使用风险；
本发明提供的适用于选用工业级元器件的短寿命、低轨卫星，对于5年以上的长寿命卫星和中高轨卫星应谨慎使用。
根据所得试验结果，从多批次的待筛选器件中选出，可以用于卫星上的低等级元器件，提高了筛选效率。
采用该方法筛选出的器件可靠性完全能达到相应卫星的使用要求，从而保证了卫星在使用过程中的可靠性。
附图说明
为了更清楚地说明本发明的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单的介绍。显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其它附图。
图1是本发明实施例提供的一种卫星用元器件选取方法的流程图；
图2是本发明实施例提供的另一种卫星用元器件选取方法的流程图；
图3是本发明实施例提供的一种卫星用元器件选取方法的另一种流程图；
图4是本发明实施例提供的一种卫星用元器件选取装置的框图；
图5是本发明实施例提供的电子设备的结构示意图；
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
需要说明的是，本发明的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本发明的实施例能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、装置、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。
以下介绍本发明的一种卫星用元器件选取方法，请参考说明书附图1和图3，其示出了本发明实施例提供的一种卫星用元器件选取方法的流程图，所述方法包括：
S102、判断待测元器件是否为核心元器件；
具体的，核心元器件的具体类别、参数等可以根据实际需要设置，在本说明书实施例中不做具体限定。核心元器件可以是指无冗余备份的接口芯片、处理器芯片、存储芯片元器件，其余为一般元器件。
S104、若所述待测元器件不是所述核心元器件，则判断所述待测元器件是否满足最低质量等级要求；
具体的，最低质量等级要求的具体级别、参数等可以根据实际需要设置，在本说明书实施例中不做具体限定。
示例地、最低质量等级要求可以根据表1进行确定。
表1-一般元器件质量等级要求
S106、若满足所述最低质量等级要求，则确定所述待测元器件的质保等级；
具体地、质保等级在本说明书实施例中不做具体限定，可以根据实际需要进行设置。在本说明书实施例中质保等级优选的可以分为四个等级，如：焊接前质保等级一级、焊接前质保等级二级、焊接前质保等级三级和焊接前质保等级四级。
在一些可能的实施例中，所述确定所述待测元器件的质保等级，包括：
判断所述待测元器件是否有合格证且判断所述待测元器件是否为塑封器件；
若所述待测元器件有合格证且所述待测元器件为所述塑封器件，则确定所述待测元器件为焊接前质保等级一级；
若所述待测元器件有合格证但所述待测元器件不为所述塑封器件，则确定所述待测元器件为焊接前质保等级二级；
若所述待测元器件没有合格证但所述待测元器件为所述塑封器件，则确定所述待测元器件为焊接前质保等级三级；
若所述待测元器件没有合格证且所述待测元器件不为所述塑封器件，则确定所述待测元器件为焊接前质保等级四级。
具体的、合格证可以直接反应待测元器件在出厂时通过相关试验，塑封器件可以反应出待测元器件在出厂时已经进行过封装处理。
S108、根据所述质保等级对所述待测元器件进行质保试验，以得到质保试验结果；
具体地、根据确定的待测元器件的质保等级对待测元器件进行相关质保实验，并得到质保实验结果。质保实验结果可以包括：质保实验结果通过和质保实验结果未通过。
示例地、焊接前质保等级一级的质保实验可以通过表2进行设置。当焊接前质保等级一级的质保实验时
表2-焊接前质保等级一级的质保实验
示例地、焊接前质保等级二级的质保实验可以通过表3进行设置。
表3-焊接前质保等级二级的质保实验
示例地、焊接前质保等级一级的质保实验可以通过表4进行设置。
表4-焊接前质保等级三级的质保实验
示例地、焊接前质保等级一级的质保实验可以通过表5进行设置。
表5-焊接前质保等级四级的质保实验
S110、将包含所述质保试验结果为合格的单板进行加严筛选试验，以得到加严筛选试验结果；
具体的、一般元器件焊接完成后，需开展单板级加严温度循环筛选试验，具体如表6所示。加严筛选试验结果可以包括：加严筛选试验通过结果和加严筛选试验未通过结果。
表6-单板级加严温度循环筛选要求
S112、将包含所述加严筛选试验结果为合格的整机进行整机级试验，以得到整机级试验结果；
具体地、一般元器件所在单板随其它单板一起完成整机级筛选试验，整机级筛选试验可以包括整机随机振动、整机温度循环和整机高温老炼。
示例地、整机随机振动、整机温度循环和整机高温老炼可以如表7-9所示；
表7-整机随机振动试验条件
表8-整机温度循环试验条件
表9-高温老炼试验要求
| 项目 | 试验条件 |
| 产品状态 | 整机通电 |
| 温度范围(℃) | 45或单机工作温度上限 |
| 试验时间(h) | 至少120 |
S114、将所述整机级试验结果为合格的所述待测元器件选为所述卫星用元器件。
具体的、当整机随机振动实验、整机温度循环实验和整机高温老炼实验均通过时，可以选定待测元器件所在批次为卫星用元器件。
在一些可能的实施例中，待测元器件可以选择某一批次中的1-10个分别实施上述选取方法，当选择的待测元器件均通过时，在确定该批次为卫星用元器件。
在上述实施例的基础上，本说明书一个实施例中，如图2所示，所述方法还包括：
S202、若所述待测元器件是所述核心元器件，则判断所述待测元器件是否满足优质质量等级要求；
具体的、优质质量等级要求可以根据实际需要进行设置。
示例地、优质质量等级可以参照表10确定。
表10-核心元器件质量等级要求表
S204、若满足，则判断包含所述待测元器件的单板是否含有所述最低质量等级的要求元器件；
具体的、将通过优质质量等级的元器件焊接到对应的单板上，并判断单板上是否有最低质量等级的要求元器件。
S206、若否，则对包含所述待测元器件的单板进行筛选试验，以得到筛选试验结果；
具体地、对含有待测元器件和最低质量等级的要求元器件的单板进行筛选试验。
其中，筛选试验可以是表11所示。
表11-单板级温度循环筛选要求
S208、相应地、将包含所述筛选试验结果为合格者的整机进行整机级试验，以得到整机级试验结果；
S210、相应地、将所述整机级试验结果为合格的所述待测元器件选为所述卫星用元器件。
在上述实施例的基础上，本说明书一个实施例中，所述判断所述待测元器件是否为核心元器件，之前还包括：
确定所述待测元器件的重要程度，剔除不符合预设重要程度的所述待测元器件。
具体的、待测元器件的重要程度可以根据冗余情况、元器件的作用等综合确定。
在上述实施例的基础上，本说明书一个实施例中，还包括：
若含有所述最低质量等级的要求元器件，则对包含所述待测元器件的单板进行加严筛选试验，以得到加严筛选试验结果；
相应地、将包含所述加严筛选试验结果为合格者的整机进行整机级试验，以得到整机级试验结果；
相应地、将所述整机级试验结果为合格的所述待测元器件选为所述卫星用元器件。
本发明解决了低等级元器件在短寿命、低轨道卫星上的使用问题；
本发明解决了低等级元器件星上使用时质量保证的方案，减小了低等级元器件的使用风险。
本发明提供的适用于选用工业级元器件的短寿命、低轨卫星，对于5年以上的长寿命卫星和中高轨卫星应谨慎使用。
根据所得试验结果，从多批次的待筛选器件中选出，可以用于卫星上的低等级元器件，提高了筛选效率。
采用该方法筛选出的器件可靠性完全能达到相应卫星的使用要求，从而保证了卫星在使用过程中的可靠性。
本发明实施例还提供一种卫星用元器件选取装置500，如图4所示，图4为本发明实施例提供的一种卫星用元器件选取装置的框图，所述装置500包括：
核心元器件判断模块，用于判断待测元器件是否为核心元器件；
最低质量等级要求判断模块，用于若所述待测元器件不是所述核心元器件，则判断所述待测元器件是否满足最低质量等级要求；
质保等级确定模块，用于若满足所述最低质量等级要求，则确定所述待测元器件的质保等级；
保试验结果生成模块，用于根据所述质保等级对所述待测元器件进行质保试验，以得到质保试验结果；
加严筛选试验结果生成模块，用于将包含所述质保试验结果为合格的单板进行加严筛选试验，以得到加严筛选试验结果；
整机级试验结果生成模块，用于将包含所述加严筛选试验结果为合格的整机进行整机级试验，以得到整机级试验结果；
选定模块，用于将所述整机级试验结果为合格的所述待测元器件选为所述卫星用元器件。
在上述实施例的基础上，本说明书一个实施例中，还包括：
优质质量等级要求判断模块，用于若所述待测元器件是所述核心元器件，则判断所述待测元器件是否满足优质质量等级要求；
最低质量等级的要求元器件判断模块，用于若满足，则判断包含所述待测元器件的单板是否含有所述最低质量等级的要求元器件；
筛选试验结果生成模块，用于若否，则对包含所述待测元器件的单板进行筛选试验，以得到筛选试验结果。
在上述实施例的基础上，本说明书一个实施例中，所述质保等级确定模块，包括：
判断单元，用于判断所述待测元器件是否有合格证且判断所述待测元器件是否为塑封器件；
质保等级一级确定单元，用于若所述待测元器件有合格证且所述待测元器件为所述塑封器件，则确定所述待测元器件为焊接前质保等级一级；
质保等级二级确定单元，用于若所述待测元器件有合格证但所述待测元器件不为所述塑封器件，则确定所述待测元器件为焊接前质保等级二级；
质保等级三级确定单元，用于若所述待测元器件没有合格证但所述待测元器件为所述塑封器件，则确定所述待测元器件为焊接前质保等级三级；
质保等级四级确定单元，用于若所述待测元器件没有合格证且所述待测元器件不为所述塑封器件，则确定所述待测元器件为焊接前质保等级四级。
在上述实施例的基础上，本说明书一个实施例中，还包括：
重要程度确定模块，用于确定所述待测元器件的重要程度，剔除不符合预设重要程度的所述待测元器件。
在上述实施例的基础上，本说明书一个实施例中，
加严筛选试验结果生成模块，还用于若含有所述最低质量等级的要求元器件，则对包含所述待测元器件的单板进行加严筛选试验，以得到加严筛选试验结果。
需要说明的是，上述实施例提供的装置，在实现其功能时，仅以上述各功能模块的划分进行举例说明，实际应用中，可以根据需要而将上述功能分配由不同的功能模块完成，即将设备的内部结构划分成不同的功能模块，以完成以上描述的全部或者部分功能。另外，上述实施例提供的装置与方法实施例属于同一构思，其具体实现过程详见方法实施例，这里不再赘述。
另一方面，本发明还提供一种电子设备，所述电子设备包括处理器和存储器，所述存储器中存储有至少一条指令、至少一段程序、代码集或指令集，所述至少一条指令、所述至少一段程序、所述代码集或指令集由所述处理器加载并执行以实现如前述所述的卫星用元器件选取方法
在一个具体的实施例中，如图5所示，其示出了本发明实施例提供的电子设备的结构示意图。所述电子设备800可以包括一个或一个以上计算机可读存储介质的存储器810、一个或者一个以上处理核心的处理器820、输入单元830、显示单元840、射频(RadioFrequency，RF)电路850、无线保真(wireless fidelity，WiFi)模块860以及电源870等部件。本领域技术人员可以理解，图5中示出的电子设备结构并不构成对电子设备800的限定，可以包括比图示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者不同的部件布置。其中：
所述存储器810可用于存储软件程序以及模块，所述处理器820通过运行或执行存储在所述存储器810的软件程序以及模块，以及调用存储在存储器810内的数据，从而执行各种功能应用以及数据处理。所述存储器810可主要包括存储程序区和存储数据区，其中，存储程序区可存储操作系统、至少一个功能所需的应用程序等；存储数据区可存储根据所述电子设备的使用所创建的数据等。此外，存储器810可以包括高速随机存取存储器，还可以包括非易失性存储器，例如硬盘、内存、插接式硬盘，智能存储卡(Smart Media Card，SMC)，安全数字(Secure Digital，SD)卡，闪存卡(Flash Card)、至少一个磁盘存储器件、闪存器件、或其他易失性固态存储器件。相应地，存储器810还可以包括存储器控制器，以提供处理器820对存储器810的访问。
所述处理器820是电子设备800的控制中心，利用各种接口和线路连接整个电子设备的各个部分，通过运行或执行存储在存储器810内的软件程序和/或模块，以及调用存储在存储器810内的数据，执行电子设备800的各种功能和处理数据，从而对电子设备800进行整体监控。所述处理器820可以是中央处理器(Central Processing Unit，CPU)，还可以是其他通用处理器、数字信号处理器(Digital Signal Processor，DSP)、专用集成电路(Application Specific Integrated Circuit，ASIC)、现成可编程门阵列(Field-Programmable Gate Array，FPGA)或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件等。通用处理器可以是微处理器或者该处理器也可以是任何常规的处理器等。
所述输入单元830可用于接收输入的数字或字符信息，以及产生与用户设置以及功能控制有关的键盘、鼠标、操作杆、光学或者轨迹球信号输入。具体地，输入单元830可包括图像输入设备831以及其他输入设备832。图像输入设备831可以是摄像头，也可以是光电扫描设备。除了图像输入设备831，输入单元830还可以包括其他输入设备832。具体地，其他输入设备832可以包括但不限于物理键盘、功能键(比如音量控制按键、开关按键等)、轨迹球、鼠标、操作杆等中的一种或多种。
所述显示单元840可用于显示由用户输入的信息或提供给用户的信息以及电子设备的各种图形用户接口，这些图形用户接口可以由图形、文本、图标、视频和其任意组合来构成。显示单元840可包括显示面板841，可选的，可以采用液晶显示器(Liquid CrystalDisplay，LCD)、有机发光二极管(Organic Light-Emitting Diode，OLED)等形式来配置显示面板841。
所述RF电路850可用于收发信息或通话过程中，信号的接收和发送，特别地，将基站的下行信息接收后，交由一个或者一个以上处理器820处理；另外，将涉及上行的数据发送给基站。通常，RF电路850包括但不限于天线、至少一个放大器、调谐器、一个或多个振荡器、用户身份模块(SIM)卡、收发信机、耦合器、低噪声放大器(Low Noise Amplifier，LNA)、双工器等。此外，RF电路850还可以通过无线通信与网络和其他设备通信。所述无线通信可以使用任一通信标准或协议，包括但不限于全球移动通讯系统(Global System of Mobilecommunication，GSM)、通用分组无线服务(General Packet Radio Service，GPRS)、码分多址(Code Division Multiple Access，CDMA)、宽带码分多址(Wideband Code DivisionMultiple Access，WCDMA)、长期演进(Long Term Evolution，LTE)、电子邮件、短消息服务(Short Messaging Service，SMS)等。
WiFi属于短距离无线传输技术，电子设备800通过WiFi模块860可以帮助用户收发电子邮件、浏览网页和访问流式媒体等，它为用户提供了无线的宽带互联网访问。虽然图5示出了WiFi模块860，但是可以理解的是，其并不属于电子设备800的必须构成，完全可以根据需要在不改变发明的本质的范围内而省略。
所述电子设备800还包括给各个部件供电的电源870(比如电池)，优选的，电源可以通过电源管理系统与处理器820逻辑相连，从而通过电源管理系统实现管理充电、放电、以及功耗管理等功能。电源870还可以包括一个或一个以上的直流或交流电源、再充电系统、电源故障检测电路、电源转换器或者逆变器、电源状态指示器等任意组件。
需要说明的是，尽管未示出，所述电子设备800还可以包括蓝牙模块等，在此不再赘述。
本发明实施例还提供了一种存储介质，所述存储介质中存储有至少一条指令、至少一段程序、代码集或指令集，所述至少一条指令、该至少一段程序、该代码集或指令集可由电子设备的处理器执行以完成上述任一所述的卫星用元器件选取方法。
可选地，在本发明实施例中，上述存储介质可以包括但不限于：U盘、只读存储器(Read-Only Memory，ROM)、随机存取存储器(Random Access Memory，RAM)、移动硬盘、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
需要说明的是：上述本发明实施例先后顺序仅仅为了描述，不代表实施例的优劣。且上述对本说明书特定实施例进行了描述。其它实施例在所附权利要求书的范围内。在一些情况下，在权利要求书中记载的动作或步骤可以按照不同于实施例中的顺序来执行并且仍然可以实现期望的结果。另外，在附图中描绘的过程不一定要求示出的特定顺序或者连续顺序才能实现期望的结果。在某些实施方式中，多任务处理和并行处理也是可以的或者可能是有利的。
本说明书中的各个实施例均采用递进的方式描述，各个实施例之间相同相似的部分互相参见即可，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处。尤其，对于装置、电子设备和存储介质实施例而言，由于其基本相似于方法实施例，所以描述的比较简单，相关之处参见方法实施例的部分说明即可。
本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例的全部或部分步骤可以通过硬件来完成，也可以通过程序来指令相关的硬件完成，所述的程序可以存储于一种计算机可读存储介质中，上述提到的存储介质可以是只读存储器，磁盘或光盘等。
以上所述仅为本发明的较佳实施例，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。
Claims (10)
1.一种卫星用元器件选取方法，其特征在于，包括：
判断待测元器件是否为核心元器件；
若所述待测元器件不是所述核心元器件，则判断所述待测元器件是否满足最低质量等级要求；
若满足所述最低质量等级要求，则确定所述待测元器件的质保等级；
根据所述质保等级对所述待测元器件进行质保试验，以得到质保试验结果；
将包含所述质保试验结果为合格的单板进行加严筛选试验，以得到加严筛选试验结果；
将包含所述加严筛选试验结果为合格的整机进行整机级试验，以得到整机级试验结果；
将所述整机级试验结果为合格的所述待测元器件选为所述卫星用元器件。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，还包括：
若所述待测元器件是所述核心元器件，则判断所述待测元器件是否满足优质质量等级要求；
若满足，则判断包含所述待测元器件的单板是否含有所述最低质量等级的要求元器件；
若否，则对包含所述待测元器件的单板进行筛选试验，以得到筛选试验结果；
将包含所述筛选试验结果为合格者的整机进行整机级试验，以得到整机级试验结果；
将所述整机级试验结果为合格的所述待测元器件选为所述卫星用元器件。
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，确定所述待测元器件的质保等级，包括：
判断所述待测元器件是否有合格证且判断所述待测元器件是否为塑封器件；
若所述待测元器件有合格证且所述待测元器件为所述塑封器件，则确定所述待测元器件为焊接前质保等级一级；
若所述待测元器件有合格证但所述待测元器件不为所述塑封器件，则确定所述待测元器件为焊接前质保等级二级；
若所述待测元器件没有合格证但所述待测元器件为所述塑封器件，则确定所述待测元器件为焊接前质保等级三级；
若所述待测元器件没有合格证且所述待测元器件不为所述塑封器件，则确定所述待测元器件为焊接前质保等级四级。
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述判断所述待测元器件是否为核心元器件，之前还包括：
确定所述待测元器件的重要程度，剔除不符合预设重要程度的所述待测元器件。
5.一种卫星用元器件选取装置，其特征在于，包括：
核心元器件判断模块，用于判断待测元器件是否为核心元器件；
最低质量等级要求判断模块，用于若所述待测元器件不是所述核心元器件，则判断所述待测元器件是否满足最低质量等级要求；
质保等级确定模块，用于若满足所述最低质量等级要求，则确定所述待测元器件的质保等级；
保试验结果生成模块，用于根据所述质保等级对所述待测元器件进行质保试验，以得到质保试验结果；
加严筛选试验结果生成模块，用于将包含所述质保试验结果为合格的单板进行加严筛选试验，以得到加严筛选试验结果；
整机级试验结果生成模块，用于将包含所述加严筛选试验结果为合格的整机进行整机级试验，以得到整机级试验结果；
选定模块，用于将所述整机级试验结果为合格的所述待测元器件选为所述卫星用元器件。
6.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，还包括：
优质质量等级要求判断模块，用于若所述待测元器件是所述核心元器件，则判断所述待测元器件是否满足优质质量等级要求；
最低质量等级的要求元器件判断模块，用于若满足，则判断包含所述待测元器件的单板是否含有所述最低质量等级的要求元器件；
筛选试验结果生成模块，用于若否，则对包含所述待测元器件的单板进行筛选试验，以得到筛选试验结果。
7.根据权利要求5所述的装置可以，其特征在于，所述质保等级确定模块，包括：
判断单元，用于判断所述待测元器件是否有合格证且判断所述待测元器件是否为塑封器件；
质保等级一级确定单元，用于若所述待测元器件有合格证且所述待测元器件为所述塑封器件，则确定所述待测元器件为焊接前质保等级一级；
质保等级二级确定单元，用于若所述待测元器件有合格证但所述待测元器件不为所述塑封器件，则确定所述待测元器件为焊接前质保等级二级；
质保等级三级确定单元，用于若所述待测元器件没有合格证但所述待测元器件为所述塑封器件，则确定所述待测元器件为焊接前质保等级三级；
质保等级四级确定单元，用于若所述待测元器件没有合格证且所述待测元器件不为所述塑封器件，则确定所述待测元器件为焊接前质保等级四级。
8.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，还包括：
重要程度确定模块，用于确定所述待测元器件的重要程度，剔除不符合预设重要程度的所述待测元器件。
9.一种电子设备，其特征在于，所述电子设备包括处理器和存储器，所述存储器中存储有至少一条指令、至少一段程序、代码集或指令集，所述至少一条指令、所述至少一段程序、所述代码集或指令集由所述处理器加载并执行以实现如权利要求1-4任一所述的卫星用元器件选取方法。
10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述存储介质中存储有至少一条指令、至少一段程序、代码集或指令集，所述至少一条指令、所述至少一段程序、所述代码集或指令集由处理器加载并执行以实现如权利要求1-4任一所述的卫星用元器件选取方法。
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