CN111415625A - 具有改进的图像质量的节电显示 - Google Patents
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Abstract
本公开涉及优化具有多个显示功率模式的显示设备上的显示图像质量的系统和方法。每个功率模式具有与之关联的失真像素的相应基线允许百分比以及原始像素值与提升像素值之间的基线第一关系。显示控制电路使用失真像素的基线百分比和基线第一关系来确定基线第二关系。显示控制电路选择多个测试失真原始像素值,并确定相应测试第一关系。使用测试失真原始像素值、相应测试第一关系和基线第二关系,显示控制电路对于每一个测试失真原始像素值确定相应PSNR和指示显示图像质量的改变的值。
Description
技术领域
本公开涉及显示设备,具体地说,涉及具有节电特征的显示设备。
背景技术
现代显示设备(特别是液晶显示(LCD)设备和发光二极管(LED)设备)依赖于背光向彩色面板提供相当强烈的背照,以产生可见输出。这些背光所消耗的功率是相当大的,特别是对于手持式设备和便携式设备(例如,智能电话、平板计算机、膝上型计算机、可穿戴计算机和类似的基于便携式处理器的设备)。一类节电技术包括:选择性地限制显示背光的功耗。这些节电技术虽然些许有效,但通常危及显示图像的质量。照射输出的每次减少都导致某百分比的显示图像的失真。
附图说明
所要求保护的主题的各个实施例的特征和优点随着以下具体实施方式进行并在参考附图时将变得显而易见,其中,相同的附图标记表示相同的部件,并且其中:
图1描绘根据本文所描述的至少一个实施例的说明性系统的框图,该系统包括显示控制电路,其耦合到能够以多个功率设置进行操作的显示设备,其中,显示控制电路优化显示设备在多个功率设置中的每一个功率设置下产生的图像质量;
图2A是根据本文所描述的至少一个实施例的原始像素值与提升像素值的关系的图示,其描绘在基线第一关系(K1)和与所选择的显示功率模式关联的失真原始像素值的基线允许百分比(Xi)的交点处的基线第二关系(K0)的说明性图形确定;
图2B是根据本文所描述的至少一个实施例的原始像素值与提升像素值的关系的图示,其描绘多个第一测试关系(K11-K1n)的说明性图形确定,每个第一测试关系对应于多个测试失真原始像素值(Xi1-Xin)中的相应一个;
图3是根据本文所描述的至少一个实施例的说明性的基于处理器的电子设备的示意图,该设备包括显示控制电路,用于优化以通信方式耦合的显示设备120在多个显示功率模式中的每一个显示功率模式下产生的图像质量;以及
图4是根据本文所描述的至少一个实施例的优化显示设备在多个功率设置中的每一个功率设置下产生的显示图像的质量的说明性方法的高层次逻辑流程图。
虽然将参照说明性实施例进行以下具体实施方式,但很多替选、修改及其变化将对于本领域技术人员是清楚的。
具体实施方式
显示节电技术(DPST)在保持令人满意的感知质量的同时,自适应地减少背光功耗。DPST包括五个节电等级,每一个节点等级平衡图像质量与节电的关系。每个节电等级确定显示中将具有减少的或失真的亮度的像素的百分比及失真的程度。当看作原始像素值(x坐标)与提升像素值(y坐标)的关系的图形图线时,失真的像素的百分比定义拐点,其中,拐点之上的像素基于拐点之上的线段部分的斜率(K1)而失真。拐点(其可以随着图像而变化)和上部斜率确定节电的程度。然而,有时,即使在最高等级的照度下,在某些图像中也会产生亮度的显著损失。因此,使用固定的节电包络无法提供最佳的可能图像质量。
本文公开的系统和方法有益地并且有利地优化显示设备在多个功率设置中的每一个功率设置下产生的图像质量。初始地基于原始的8位色彩值对形成显示图像的像素进行量化,形成色彩分布直方图。本文所公开的系统和方法包括具有与之关联的如下关系的功率等级设置:原始像素值分布与提升像素值分布之间的基线第一关系(例如,具有斜率K1的上部线段);和显示图像中的失真原始像素的基线允许百分比(Xi)。显示功率模式还定义原始像素值分布与提升像素值分布之间的基线第二关系(例如,具有斜率(K0)的下部线段,其中,相对较高的K0值提供较大的节电,而相对较低的K0值提供较小的节电)。
显示控制电路确定用于基线功率设置(即,与所选择的显示功率模式关联的失真像素的基线允许百分比和基线第一关系)的基线峰值信噪比(PSNR)。本文公开的系统和方法选择多个测试失真像素百分比,并且对于每个所选择的测试百分比,确定原始像素色彩值分布与提升像素色彩值分布之间的对应测试第一关系。对于每个所选择的测试百分比,显示控制电路使用显示图像确定关于测试百分比的相应PSNR。本文公开的系统和方法然后确定指示基线允许失真原始像素百分比值与一些或所有测试失真原始像素百分比值中的每一个之间的图像质量的改变的值。本文公开的系统和方法然后选择展现或提供图像质量的最大改进的测试失真原始像素百分比值作为操作失真原始像素百分比值。
提供一种用于具有多个显示功率模式的显示设备的图像质量改进系统。该系统可以包括:显示设备,包括多个像素,以形成显示图像;显示控制电路,耦合到显示设备,用于:接收指示显示功率模式选择的输入;对于所选择的基线显示功率模式下的显示图像,确定:用于形成显示图像的原始像素值的基线数量与提升像素值的基线数量之间的基线功率模式关系;和表示与所选择的显示功率模式关联的失真原始像素值的允许百分比(Xi)的值;对于上失真原始像素边界限与下失真原始像素边界限之间的多个测试失真原始像素百分比(Xin)中的每一个:选择测试失真原始像素百分比;确定所选择的测试失真原始像素百分比、测试原始像素值的数量与测试提升像素值的数量之间的测试模式关系;以及对于显示图像,确定与所选择的测试失真原始像素值百分比关联的测试PSNR,以提供多个测试PSNR;将质量损失值与测试失真原始像素百分比关联,质量损失值是使用显示图像的均方差(MSE)和直方图确定的;以及使用所确定的与多个测试失真原始像素百分比中的每一个关联的质量损失值,从多个测试失真原始像素百分比中选择操作失真原始像素百分比。
提供一种非瞬时性存储设备。该非瞬时性存储设备包括指令,指令当由显示控制电路执行时使显示控制电路:对于所选择的显示功率模式下的显示图像,确定:用于形成显示图像的原始像素值的基线数量与提升像素值的基线数量之间的基线功率模式关系;和表示与所选择的显示功率模式关联的失真原始像素值的允许百分比(Xi)的值;对于上失真原始像素边界限与下失真原始像素边界限之间的多个测试失真原始像素百分比(Xin)中的每一个:选择测试失真原始像素百分比;确定所选择的测试失真原始像素百分比、测试原始像素值的数量与测试提升像素值的数量之间的测试模式关系;以及对于显示图像,确定与所选择的测试失真原始像素值百分比关联的测试PSNR,以提供多个测试PSNR;将质量损失值与测试失真原始像素百分比关联,质量损失值是使用显示图像的均方差(MSE)和直方图确定的;以及使用所确定的与多个测试失真原始像素百分比中的每一个关联的质量损失值,从多个测试失真原始像素百分比中选择操作失真原始像素百分比。
提供一种用于优化具有多个显示功率设置的显示设备上的显示图像的图像质量的系统。该系统可以包括:用于对于所选择的显示功率模式下的显示图像确定以下项的模块:用于形成显示图像的原始像素值的基线数量与提升像素值的基线数量之间的基线功率模式关系;和表示与所选择的显示功率模式关联的失真原始像素值的允许百分比(Xi)的值;对于上失真原始像素边界限与下失真原始像素边界限之间的多个测试失真原始像素百分比(Xin)中的每一个:用于选择测试失真原始像素百分比的模块;用于确定所选择的测试失真原始像素百分比、测试原始像素值的数量与测试提升像素值的数量之间的测试模式关系的模块;和用于对于显示图像确定与所选择的测试失真原始像素值百分比关联的测试PSNR以提供多个测试PSNR的模块;用于将质量损失值与测试失真原始像素百分比关联的模块,质量损失值是使用显示图像的均方差(MSE)和直方图确定的;和用于使用所确定的与多个测试失真原始像素百分比中的每一个关联的质量损失值从多个测试失真原始像素百分比中选择操作失真原始像素百分比的模块。
提供一种优化具有多个显示功率设置的显示设备上的显示图像的图像质量的方法。该方法可以包括:对于所选择的显示功率模式下的显示图像,确定:用于形成显示图像的原始像素值的基线数量与提升像素值的基线数量之间的基线功率模式关系;和表示与所选择的显示功率模式关联的失真原始像素值的允许百分比(Xi)的值;对于上失真原始像素边界限与下失真原始像素边界限之间的多个测试失真原始像素百分比(Xin)中的每一个:选择测试失真原始像素百分比;确定所选择的测试失真原始像素百分比、测试原始像素值的数量与测试提升像素值的数量之间的测试模式关系;以及对于显示图像,确定与所选择的测试失真原始像素值百分比关联的测试PSNR,以提供多个测试PSNR;将质量损失值与测试失真原始像素百分比关联,质量损失值是使用显示图像的均方差(MSE)和直方图确定的;以及使用所确定的与多个测试失真原始像素百分比中的每一个关联的质量损失值,从多个测试失真原始像素百分比中选择操作失真原始像素百分比。
提供一种电子设备。该电子设备包括:印制电路板;一或多个处理器,耦合到印制电路板;显示设备,具有多个像素;和显示控制电路,耦合到印制电路板。显示控制电路用于:接收指示显示功率模式选择的输入;对于所选择的基线显示功率模式下的显示图像,确定:用于形成显示图像的原始像素值的基线数量与提升像素值的基线数量之间的基线功率模式关系;和表示与所选择的显示功率模式关联的失真原始像素值的允许百分比(Xi)的值;对于上失真原始像素边界限与下失真原始像素边界限之间的多个测试失真原始像素百分比(Xin)中的每一个:选择测试失真原始像素百分比;确定所选择的测试失真原始像素百分比、测试原始像素值的数量与测试提升像素值的数量之间的测试模式关系;以及对于显示图像,确定与所选择的测试失真原始像素值百分比关联的测试PSNR,以提供多个测试PSNR;将质量损失值与测试失真原始像素百分比关联,质量损失值是使用显示图像的均方差(MSE)和直方图确定的;以及使用所确定的与多个测试失真原始像素百分比中的每一个关联的质量损失值,从多个测试失真原始像素百分比中选择操作失真原始像素百分比。
如本文所使用的那样,术语“片上”或称为“片上”的元件、组件、系统、电路或设备包括与处理器电路(例如,中央处理单元或CPU,其中,“片上”组件被包括、一体形成、和/或由CPU电路提供)一体制造的或作为形成为多芯片模块(MCM)或片上系统(SoC)的一部分的分离组件而包括的那些项目。
如本文中所使用的那样,术语“大约”或“近似地”当用以修饰所枚举的值时应解释为指示作为所枚举的值的正或负15%的值。因此,列出为“大约100”或“近似100%”的值应理解为表示可以包括85(即-15%)到115(即+15%)之间的任何值或一组值的值。
图1描绘根据本文所描述的至少一个实施例的说明性系统100的框图,系统100包括显示控制电路110,其耦合到能够以多个功率设置进行操作的显示设备120,并且其中,显示控制电路110优化显示设备120在多个功率设置中的每一个功率设置下产生的图像质量。如图1中所描绘的那样,显示控制电路110经由I/O接口电路130接收输入/输出,并且从存储设备140接收机器可读指令集。
显示设备120可以在多个显示功率模式中的任一个下进行操作。多个显示功率模式中的每一个包括:原始像素值分布和提升像素值分布之间的相应基线第一关系(例如,具有固定斜率(K1)的上部线段,其中,相对较高的K1值提供较大的节电,并且相对较低的K1值提供较小的节电);和显示图像122内的允许失真原始像素的相应基线百分比(Xi)。与多个显示功率模式中的每一个关联的数据可以存储在存储设备140中,和/或存储在至少部分地布置于显示控制电路110内的一个或多个存储设备中。
在操作中,显示控制电路110经由I/O接口电路130接收指示所选择的显示功率模式132的信息和/或数据。在实施例中,指示所选择的显示功率模式132的信息和/或数据可以自主地生成并且传递到显示控制电路110。例如,处理器或控制器电路可以基于一个或多个环境条件(例如,环境光条件)和/或一个或多个系统条件(例如,电源/电池功率水平),生成指示所选择的显示功率模式132的信息和/或数据。在实施例中,可以手动地提供指示所选择的显示功率模式的信息和/或数据。例如,系统用户可以手动地选择期望的显示功率模式。响应于此,显示控制电路110获取指示原始像素色彩值分布与提升像素色彩值分布之间的第一关系以及与所选择的显示功率模式关联的相应允许失真原始值像素百分比的信息和/或数据。
在实施例中,使用所获取的与所选择的显示功率模式132关联的信息,显示控制电路110首先确定用于显示设备120在所选择的显示功率模式132下提供的显示图像122的基线PSNR 114。显示控制电路110获取与所选择的显示功率模式132关联的基线第一关系(K1)。基线第一关系(K1)对于显示设备120所提供的每个显示图像122,使8位原始像素色彩值分布与8位提升像素色彩值分布相关。原始像素色彩值分布与提升像素色彩值分布之间的关系可以关于显示设备120所提供的每个显示图像122而改变。使用显示图像122的原始像素色彩值分布与基线提升像素色彩值分布之间的基线第一关系(K1)以及与所选择的显示功率模式132关联的基线允许失真原始值像素百分比(Xi),显示控制电路110确定基线PSNR 114。显示控制电路110然后确定显示图像122的原始像素色彩值分布与提升像素色彩值分布之间的基线第二关系(K0)。在实施例中,显示控制电路110可以确定第二关系。在实施例中,显示控制电路使用以下公式确定基线第二关系(K0):
K0=(255-K1*(255-Xi))/Xi (1)
然后,显示控制电路110对于多个测试失真原始像素百分比(Xi1-Xin)中的每一个保持基准第二关系(K0)恒定,并且对于每一个测试失真原始像素百分比,使用以下公式确定原始像素值分布与提升像素值分布之间的相应测试第一关系(即K11-K1n):
K1j=(255-(Xij*K0))/(255-Xij) (2)
对于每一个测试失真原始像素百分比(Xi1-Xin),显示控制电路110确定相应的测试PSNR 116A-116n。
然后,显示控制电路110对于每一个测试失真原始像素百分比(Xi1-Xin),确定显示图像质量值的相应改变。显示图像质量的改变基于给定显示图像122中的失真原始值像素百分比的变化而提供对图像质量的影响的指示。在实施例中,显示控制电路110使用多个测试PSNR 116A-116n中的每个相应测试PSNR与基线PSNR 114之间的直方图和/或均方差(MSE),确定显示图像质量的改变。然后,显示控制电路110选择展现显示图像质量相对于基线图像的最大改进的测试失真原始值像素百分比(Xij)作为操作失真原始值像素百分比。有益地是,由于显示控制电路110使用基线第二关系(K0)来确定每一个显示图像质量值的改变,因此每一个测试允许失真像素百分比(Xij)和测试第一关系组合(K1j)的功耗是相似或相同的。因此,显示控制电路110在不增加显示设备120的功耗的同时,有利地改进显示图像122的质量。
显示控制电路110包括任何数量的能够执行一个或多个机器可执行指令集的当前可用和/或将来开发的电子组件、半导体器件和/或逻辑元件和/或其组合。在实施例中,显示控制电路110可以包括一个或多个非易失性数据存储或存储器电路,其能够存储指示显示图像122的原始像素值分布与基线提升像素值分布之间的相应基线第一关系(K1)以及与多个显示功率模式132A-132n中的每一个关联的相应基线允许失真原始值像素百分比(Xi)的信息和/或数据。显示控制电路110执行一个或多个机器可读指令集,其使显示控制电路110对于多个测试允许失真原始像素值百分比(Xi1-Xin)中的每一个,确定指示图像质量相对于基线图像质量值的改变的相应值。机器可读指令还使显示控制电路110至少部分地基于提供PSNR 116相对于基线PSNR 114的最大改进的测试PSNR 116,从多个测试允许失真原始像素值百分比显示操作条件中选择操作失真原始像素值百分比。然后,显示控制电路110使显示设备120在与所选择的测试PSNR 116关联的条件下进行操作。
显示控制电路110可以全部或部分地布置在基于处理器的设备(例如,智能电话、基于便携式处理器的设备、膝上型计算机、平板计算机、可穿戴计算机等)内。显示控制电路110可以全部或部分地布置在显示设备120内。显示控制电路110可以全部或部分地布置在图形处理单元(GPU)或类似的向量处理电路内。在实施例中,显示控制电路110可以包括单独的半导体器件(例如,被布置作为片上系统(SoC)或多芯片模块(MCM)的专用集成电路(ASIC)或现场可编程门阵列(FPGA))。
显示设备120可以包括任何数量的能够提供人类可感知的视觉输出的电子组件、半导体器件和/或逻辑元件和/或其组合。在实施例中,显示设备120可以包括一个或多个触摸屏设备,其提供触觉输入以及视频或视觉输出。在实施例中,显示设备120包括一个或多个I/O接口电路124和/或一个或多个背光电路126,其能够生成与多个显示功率模式132A-132n之一对应和/或成比例的电磁输出。显示设备120可以布置在智能电话、便携式计算机、可穿戴计算机、平板计算机、膝上型计算机或上网本中。显示设备120可以使用任何当前可用或将来开发的显示技术(例如,液晶显示器(LCD)显示技术;发光二极管(LED)显示技术;量子点LED(QLED)显示技术;聚合物LED(PLED)显示技术等)。显示设备120可以具有任何显示分辨率,包括但不限于:4:3宽高比分辨率(640x480、800x600、960x720、1024x768、1280x960、1400x1050、1440x1080、1600x1200、1856x1392、1920x1440、2048x1536等);16:10宽高比分辨率(1200x800、1440x900、1680x1050、1920x1200、2560x1600等);或任何其他宽高比和/或显示分辨率。在实施例中,显示设备120包括一个或多个I/O接口,用于从显示控制电路110接收指示显示操作模式112的信息和/或数据。
I/O接口电路130包括任何数量的有线I/O接口电路134和/或无线I/O接口电路136和/或其组合。I/O接口电路130将指示已定义的显示功率模式132的信息和/或数据传递到显示控制电路110。在实施例中,可以自主地选择显示功率模式132。例如,通过耦合到一个或多个传感器和/或传感器阵列(例如,环境光传感器或传感器阵列)的系统控制电路,提供用以调整显示设备120的亮度的输入。在实施例中,可以手动地选择显示功率模式132。例如,系统用户可以提供指示期望的显示功率模式132的输入。
存储设备140可以包括任何数量的能够存储包括一个或多个机器可读指令集的信息和/或数据的设备和/或其组合。在实施例中,存储设备140可以包括一个或多个数据存储、数据结构或数据库,其存储或保留表示以下内容的信息和/或数据:基线原始像素色彩值分布与关联于多个显示功率模式132A-132n中的每一个相应显示功率模式的基线提升像素色彩值分布之间的第一关系(K1);以及与所选择的显示功率模式132关联的失真原始像素值的基线允许百分比(Xi)。
图2A是根据本文所描述的至少一个实施例的原始像素值210与提升像素值220的关系的图示200A,其描绘在基线第一关系(K1)230和与所选择的显示功率模式132关联的失真原始像素值的基线允许百分比(Xi)240的交点处的基线第二关系(K0)250的说明性图形确定。图2B是根据本文所描述的至少一个实施例的原始像素值210与提升像素值220的关系的图示200B,其描绘多个第一测试关系(K11-K1n)的说明性图形确定,每个第一测试关系对应于多个测试失真原始像素值(Xi1-Xin)中的相应一个。
首先转到图2A,原始像素值210包括256个值(从0到255)。原始像素值可以量化为多个“面元(bin)”——每个面元包含相等或不等数量的原始像素值。例如,原始像素值210可以量化为32个面元,每个面元包含8个原始像素值。类似地,提升像素值220包括256个值(从0到255)。提升像素值220可以量化为多个“面元”——每个面元包含相等或不等数量的提升像素值220。例如,提升像素值220可以量化为32个面元,每个面元包含8个原始像素值。
多个显示功率模式132A-132n中的每一个包括对应第一关系(K1)230,其使原始像素值210与提升像素值220相关。通常,随着基线第一关系(K1)230的斜率接近零,失真像素的失真增加,而随着基线第一关系(K1)230的斜率接近1,失真像素的失真降低。如图2A中描绘的那样,基线第二关系(K0)250从原点252延伸到失真原始像素的基线允许百分比(Xi)240和基线第一关系(K1)230的交点242。基线第一关系(K1)230从失真原始像素值240的基线允许百分比(Xi)和基线第一关系(K1)230的交点242延伸到图示200A的终端角点232。基线第二关系(K0)250在给定的显示功率模式132下保持为固定的——显示功率对于第二关系的范围保持恒定。在实施例中,基线第二关系(K0)250被确定为:
K0=(255-K1*(255-Xi))/Xi (3)
显示控制电路110使用从基线第一关系230和失真原始像素值的基线允许百分比(Xi)240获得的信息来确定基线峰值信噪比(PSNR)114。
接下来转到图2B,对于多个测试失真原始像素值(Xi1-Xin)244A-244n(统称为“测试失真原始像素值244”)中的每一个,对应多个第一测试关系(K11-K1n)234A-234n从每个测试失真原始像素值244与基线第二关系250的交点246A-246n延伸到图示200B的终端角点232。多个第一测试关系(K11-K1n)234A-234n中的每一个可以由下式给出:
K1j=(255-(Xij*K0))/(255-Xij) (4)
对于测试失真原始像素值(Xi1-Xin)244A-244n和多个测试第一关系(K11-K1n)234A-234n中的每一个的每个组合,显示控制电路110基于均方差(MSE)和直方图来确定失真导致的质量损失。然后,显示控制电路110基于MSE和直方图,选择测试失真原始像素值244和提供最大改进的图像的测试第一关系234。所选择的测试失真原始像素值244和测试第一关系234有益地共享与基线原始像素值和基线第一关系相同的节电,但有利地通过基于显示图像122的直方图调整显示图像122的失真来改进图像质量。
图3是根据本文所描述的至少一个实施例的说明性的基于处理器的电子设备300的示意图,基于处理器的电子设备300包括显示控制电路110,用于优化以通信方式耦合的显示设备120在多个显示功率模式132A-132n中的每一个下产生的图像质量。基于处理器的设备300可以附加地包括以下中的一个或多个:处理器电路310、处理器缓存电路312、系统存储器340、电源管理电路350、非瞬时性存储设备360和网络接口370。以下讨论提供构成说明性的基于处理器的设备300的组件的简要一般性描述。例如,非限定性的基于处理器的设备300可以包括但不限于:智能电话、可穿戴计算机、便携式计算设备、手持式计算设备、台式计算设备、服务器、刀片服务器设备、工作站等。
在一些实施例中,基于处理器的设备300包括图形处理器电路312,其能够执行机器可读指令集并且生成能够向系统用户提供显示输出的输出信号。本领域技术人员应理解,可以通过其他基于处理器的设备配置来实践所示实施例以及其他实施例,包括便携式电子设备或手持式电子设备(例如,智能电话、便携式计算机、可穿戴计算机、消费电子产品、个人计算机(“PC”)、网络PC、小型计算机、服务器刀片、大型计算机等)。处理器电路120可以包括任何数量的硬连线电路或可配置电路,其中的一些或全部可以包括部分地或全部地布置在PC、服务器或其他能够执行机器可读指令的计算系统中的电子组件、半导体器件和/或逻辑元件的可编程和/或可配置组合。
基于处理器的设备300包括总线或类似的通信链路316,其以通信方式耦合包括处理器电路310、显示控制电路110、一个或多个有线I/O接口134、一个或多个无线I/O接口136、系统存储器170、一个或多个存储设备360和/或一个或多个网络接口370在内的各种系统组件并且促进它们之间的信息和/或数据的交换。基于处理器的设备300在本文中可能以单数形式提及,但这并不旨在将实施例限制为单个基于处理器的设备300,因为在某些实施例中,可以存在合并、包括或包含任何数量的以通信方式耦合的、并置的或远程联网的电路或设备的多于一个的基于处理器的设备300。
处理器电路310可以包括能够执行机器可读指令集的任何数量、类型的当前可用或将来开发的设备或其组合。处理器电路310可以包括但不限于任何当前或将来开发的单核或多核处理器或微处理器,例如:一个或多个片上系统(SOC);中央处理器(CPU);数字信号处理器(DSP);图形处理单元(GPU);专用集成电路(ASIC)、可编程逻辑单元、现场可编程门阵列(FPGA)等。除非另外描述,否则图3所示的各个块的构造和操作是常规设计。因此,本领域技术人员应理解,本文无需进一步详细描述这些块。互连基于处理器的设备300的至少一些组件的总线316可以采用任何当前可用或将来开发的串行或并行总线结构或架构。
系统存储器340可以包括只读存储器(“ROM”)342和随机存取存储器(“RAM”)346。ROM 342的一部分可以用于存储或保存基本输入/输出系统(“BIOS”)344。BIOS 344例如通过使处理器电路310加载和/或执行一个或多个机器可读指令集314,向基于处理器的设备300提供基本功能。在实施例中,一个或多个机器可读指令集中的至少一些使处理器电路310的至少一部分提供、创建、产生、转变和/或运作为专用、具体和特定机器(例如,文字处理机器、数字图像采集机器、媒体播放机器、游戏系统、通信设备、智能电话、自主车辆控制系统等)。
基于处理器的设备300可以包括至少一个无线输入/输出(I/O)接口136。至少一个无线I/O接口136可以以通信方式耦合到一个或多个物理输出设备322(触觉设备、视频显示器、音频输出设备、硬拷贝输出设备等)。至少一个无线I/O接口136可以以通信方式耦合到一个或多个物理输入设备324(定点设备、触摸屏、键盘、触觉设备等)。至少一个无线I/O接口136可以包括任何当前可用或将来开发的无线I/O接口。示例无线I/O接口136包括但不限于:近场通信(NFC)等。
基于处理器的设备300可以包括一个或多个有线输入/输出(I/O)接口134。至少一个有线I/O接口134可以以通信方式耦合到一个或多个物理输出设备322(触觉设备、视频显示器、音频输出设备、硬拷贝输出设备等)。至少一个有线I/O接口134可以以通信方式耦合到一个或多个物理输入设备324(定点设备、触摸屏、键盘、触觉设备等)。有线I/O接口134可以包括任何当前可用或将来开发的I/O接口。示例有线I/O接口134包括但不限于:通用串行总线(USB)、IEEE 1394(“FireWire”)等。
基于处理器的设备300可以包括一个或多个以通信方式耦合的非瞬时性数据存储设备360。数据存储设备360可以包括一个或多个硬盘驱动器(HDD)和/或一个或多个固态存储设备(SSD)。一个或多个数据存储设备360可以包括任何当前或将来开发的存储器具、网络存储设备和/或系统。这些数据存储设备360的非限定性示例可以包括但不限于任何当前或将来开发的非瞬时性存储器具或设备(例如,一个或多个磁存储设备、一个或多个光存储设备、一个或多个电阻性存储设备、一个或多个分子存储设备、一个或多个量子存储设备或其各种组合)。在一些实现方式中,一个或多个数据存储设备360可以包括一个或多个可移除存储设备(例如,一个或多个闪存驱动器、闪存、闪存存储单元,或者能够与基于处理器的设备300以通信方式耦合和解耦的类似的器具或设备)。
一个或多个数据存储设备360可以包括将各个存储设备或系统以通信方式耦合到总线316的接口或控制器(未示出)。一个或多个数据存储设备360可以存储、保存或包含对于处理器电路310和/或在处理器电路310上执行的或由处理器电路310执行的一个或多个应用有用的机器可读指令集、数据结构、程序模块、数据存储、数据库、逻辑结构和/或其他数据。在一些实例中,一个或多个数据存储设备360可以例如经由总线316或经由一个或多个有线通信接口134(例如,通用串行总线或USB)、一个或多个无线通信接口136(例如,近场通信或NFC)和/或一个或多个网络接口370(IEEE802.3或以太网、IEEE802.11或等)以通信方式耦合到处理器电路310。
基于处理器的设备300可以包括控制能量存储设备352的一个或多个操作方面的电源管理电路350。在实施例中,能量存储设备352可以包括一个或多个主(即,不可再充电)或辅(即,可再充电)电池或类似的能量存储设备。在实施例中,能量存储设备352可以包括一个或多个超电容器或超级电容器。在实施例中,电源管理电路350可以更改、调整或控制能量从外部电源354到能量存储设备352和/或到基于处理器的设备300的流动。电源354可以包括但不限于太阳能电力系统、商业电网、便携式发电机、外部能量存储设备或其任意组合。
为了方便,处理器电路310、存储设备360、系统存储器340、无线I/O接口136、有线I/O接口134、电源管理电路350和网络接口370被示为经由总线316以通信方式耦合到彼此,由此在上述组件之间提供连接性。在替选实施例中,上述组件可以通过不同于图3所示的方式以通信方式耦合。例如,上述组件中的一个或多个可以直接耦合到其他组件,或者可以经由一个或多个中间组件(未示出)耦合到彼此。在一些实施例中,可以省略总线316的全部或一部分,并且使用合适的有线或无线连接将组件直接耦合到彼此。
图4是根据本文所描述的至少一个实施例的优化显示设备120在多个功率设置132A-132n中的每一个下产生的显示图像122的质量的说明性方法400的高层次逻辑流程图。在实施例中,显示设备120在多个显示功率模式132A-132n之一下进行操作。例如,显示设备120可以手动地或自主选择地置于五(5)个不同的显示功率模式132A-132E之一下,其中,每一个显示功率模式132在系统上呈现不同的功率抽取/消耗。相应基线第一关系(K1)230和失真原始像素的相应基线允许百分比(Xi)240与多个显示功率模式132A-132n中的每一个关联。与相应显示功率模式132关联的基线第一关系(K1)230和失真原始像素的基线允许百分(Xi)240定义基线第二关系(K0)。在实施例中,基线第一关系(K1)230,失真原始像素的基线允许百分比(Xi)240和基线第二关系(K0)可以用于确定显示设备120上的显示图像122的峰值信噪比(PSNR)。注意,因为失真原始像素的基线允许百分比(Xi)240表示为百分比,所以与失真原始像素的基线允许百分比(Xi)240关联的实际原始像素值210将基于显示图像的色彩和/或色调内容而变化。方法400开始于402。
在404,在接收到包含手动或自主选择的显示功率模式132的信息的输入之后,显示控制电路110选择和/或确定与所选择的显示功率模式132关联的基线第一关系(K1)230。基线第一关系(K1)230定义原始像素值210与提升像素值220之间的第一关系。在实施例中,显示控制电路110可以从系统存储器340和/或一个或多个存储设备140获取表示基线第一关系(K1)230的数据。
在406,显示控制电路110选择和/或确定与所选择的显示功率模式132关联的失真原始像素的基线允许百分比(Xi)240。在实施例中,显示控制电路110可以从系统存储器340和/或一个或多个存储设备140获取表示失真原始像素的基线允许百分比(Xi)240的数据。
在408,显示控制电路110确定原始像素值210与提升像素值220之间的基线第二关系(K0)250。在实施例中,基线第二关系(K0)250可以使用以下公式确定为基线第一关系(K1)230和失真原始像素的基线允许百分比(Xi)240的函数:
K0=(255-K1*(255-Xi))/Xi (5)
在410,显示控制电路110确定和/或选择多个测试失真原始像素百分比(Xi1-Xin)244A-244n。在实施例中,测试失真原始像素百分比(Xi1-Xin)244A-244n的范围可以在失真原始像素的基线允许百分比(Xi)240的上方和/或下方延伸。在实施例中,对于8位像素值,测试失真原始像素百分比(Xi1-Xin)244A-244n的范围可以具有由以下公式给出的最大值:
Xin=255/K0 (6)
在412,显示控制电路110对于在410处选择的每一个测试失真原始像素百分比(Xi1-Xin)244A-244n,确定相应测试第一关系(K11-K1n)234A-234n。在实施例中,每一个测试第一关系(K11-K1n)234A-234n可以使用以下公式确定为在408处确定的基线第二关系(K0)250和相应测试失真原始像素百分比(Xij)244的函数:
K1j=(255-(Xij*K0))/(255-Xij) (7)
注意,由于每一个测试第一关系(K11-K1n)234A-234n与基线第二关系(K0)250相交,因此所有测试失真原始像素百分比(Xi1-Xin)244A-244n将有益地产生与原始选择的基线显示功率模式132相同的功耗。
在414,显示控制电路110对于每一个测试第一关系(K11-K1n)234A-234n,确定相应测试PSNR 116A-116n。
在416,显示控制电路110对于多个测试失真原始像素百分比(Xi1-Xin)244A-244n中的每一个,确定指示图像质量的改变的相应值。在实施例中,显示控制电路基于使用显示设备120上的显示图像122的均方差(MSE)分析以及直方图,确定指示图像质量的改变的值。
在418,显示控制电路110按在416执行的分析所测量的,选择相对于失真原始像素的基线允许百分比(Xi)240提供最佳图像质量改进的操作失真原始像素百分比。在实施例中,显示控制电路110将指示期望的操作原始像素百分比的信息和/或数据作为信号112传递到显示设备120。方法400结束于420。
虽然图4示出根据一个或多个实施例的各种操作,但应理解,并非图4中描绘的所有操作对于其他实施例是必要的。实际上,本文完全预期,在本公开的其它实施例中,图4中所描绘的操作和/或本文所描述的其他操作可以通过任何附图中都未具体示出的方式来组合,但仍然符合本公开。因此,涉及在一个附图中未明确示出的特征和/或操作的权利要求被看作处于本公开的范围和内容内。
如该申请以及权利要求中所使用的那样,术语“和/或”所结合的项的列表可以表示所列出的项的任何组合。例如,短语“A、B和/或C”可以表示A;B;C;A和B;A和C;B和C;或A、B和C。如该申请以及权利要求中所使用的那样,术语“……中的至少一个”所结合的项的列表可以表示所列出的项的任何组合。例如,短语“A、B或C中的至少一个”可以表示A;B;C;A和B;A和C;B和C;或A、B和C。
如本文的任何实施例中所使用的那样,术语“系统”或“模块”可以指代例如被配置为执行任何前述操作的软件、固件和/或电路。软件可以实施为记录在非瞬时性计算机可读存储介质上的软件包、代码、指令、指令集和/或数据。固件可以实施为在存储器设备中硬编码的(例如,非易失性)代码、指令或指令集和/或数据。
如本文的任何实施例中所使用的那样,术语“电路”和“电路系统”可以单独地或以任何组合的方式包括例如硬接线电路、可编程电路(例如,包括一个或多个单独指令处理核的计算机处理器)、状态机电路、和/或存储由可编程电路或将来的计算范例(包括例如大规模并行、模拟或量子计算、加速器的硬件实施例(例如,神经网络处理器)以及上述项的非硅实现方式)执行的指令的固件。电路可以联合地或单独地实施为形成更大系统(例如,集成电路(IC)、片上系统(SoC)、台式计算机、膝上型计算机、平板计算机、服务器、智能电话等)的一部分的电路。
本文描述的任何操作可以实现于系统中,所述系统包括一个或多个介质(例如,非瞬时性存储介质),单独地或组合地在其中存储有指令,所述指令当由一个或多个处理器执行时执行所述方法。在此,处理器可以包括例如服务器CPU、移动设备CPU和/或其他可编程电路。此外,意图在于本文中描述的操作可以分布在多个物理设备(例如,在多于一个的不同物理位置处的处理结构)上。存储介质可以包括任何类型的有形介质,例如任何类型的盘(包括硬盘、软盘、光盘、压缩盘只读存储器(CD-ROM)、压缩盘可读写(CD-RW)和磁光盘)、半导体器件(例如,只读存储器(ROM)、随机存取存储器(RAM)(例如,动态RAM和静态RAM)、可擦除可编程只读存储器(EPROM)、电可擦除可编程只读存储器(EEPROM)、闪存、固态盘(SSD)、嵌入式多媒体卡(eMMC)、安全数字输入/输出(SDIO)卡、磁卡或光卡),或者任何类型的适合于存储电子指令的介质。其他实施例可以实现为由可编程控制器件执行的软件。
因此,本公开涉及优化具有多个显示功率模式的显示设备上的显示图像质量的系统和方法。每个功率模式具有与之关联的失真像素的相应基线允许百分比以及原始像素值与提升像素值之间的基线第一关系。显示控制电路使用失真像素的基线百分比和基线第一关系来确定基线第二关系。显示控制电路选择多个测试失真原始像素值,并确定相应测试第一关系。使用测试失真原始像素值、相应测试第一关系和基线第二关系,显示控制电路对于每一个测试失真原始像素值,确定相应PSNR和指示显示图像质量的改变的值。
以下示例属于其他实施例。本公开的以下示例可以包括例如以下的主题:至少一种设备、一种方法、至少一种用于存储当执行时使机器基于所述方法执行动作的指令的机器可读介质、用于基于所述方法执行动作的模块和/或一种用于优化具有多个显示功率模式的显示设备上的显示图像质量的系统。
根据示例1,提供一种用于具有多个显示功率模式的显示设备的图像质量改进系统。所述系统可以包括:显示设备,包括多个像素,以形成显示图像;显示控制电路,耦合到所述显示设备,用于:接收指示显示功率模式选择的输入;对于所选择的基线显示功率模式下的显示图像,确定:用于形成显示图像的原始像素值的基线数量与提升像素值的基线数量之间的基线功率模式关系;和表示与所选择的显示功率模式关联的失真原始像素值的允许百分比(Xi)的值;对于上失真原始像素边界限与下失真原始像素边界限之间的多个测试失真原始像素百分比(Xin)中的每一个:选择测试失真原始像素百分比;确定所选择的测试失真原始像素百分比、测试原始像素值的数量与测试提升像素值的数量之间的测试模式关系;以及对于显示图像,确定与所选择的测试失真原始像素值百分比关联的测试PSNR,以提供多个测试PSNR;将质量损失值与所述测试失真原始像素百分比关联,所述质量损失值是使用显示图像的均方差(MSE)和直方图确定的;以及使用所确定的与所述多个测试失真原始像素百分比中的每一个关联的质量损失值,从所述多个测试失真原始像素百分比中选择操作失真原始像素百分比。
示例2可以包括示例1的要素,并且所述显示控制电路可以进一步使包括所述多个像素的显示设备以所选择的操作失真原始像素值百分比进行操作。
示例3可以包括示例1或2的要素,其中,用于形成显示图像的原始像素的数量与提升像素的数量之间的基线功率模式关系可以包括:第一线段部分具有与基线原始像素值和基线提升像素值之间的基线功率模式关系关联的斜率K1;以及第二线段部分基于所述基线原始像素值的数量和所述基线提升像素值的数量,并且具有由以下公式给出的斜率K0:
K0=(255-K1*(255-Xi))/Xi。
示例4可以包括示例1-3中任一项的要素,其中,所述测试模式关系包括在所述测试模式关系与所述第一线性部分之间共享至少一个原始像素值和至少一个提升像素值的线性关系。
示例5可以包括示例1-4中任一项的要素,其中,所述基线功率模式关系包括在所述第一线性部分与所述第二线性部分之间共享至少一个原始像素值和至少一个提升像素值的关系。
示例6可以包括示例1-5中任一项的要素,其中,所共享的至少一个原始像素值包括基于使用失真原始像素值的允许百分比选择的像素值。
示例7可以包括示例1-6中任一项的要素,其中,相应测试失真原始像素百分比、所述测试原始像素值的数量与所述测试提升像素值的数量之间的测试模式关系可以包括:第一线段部分基于所述测试原始像素值的数量和所述测试提升像素值的数量,并且具有由以下公式给出的斜率K1n:
K1n=(255-(Xin*k0))/(255-Xin);以及
所述第二线段部分具有基于所述原始像素值的基线数量和所述提升像素值的基线数量的斜率K0。
示例8可以包括示例1-7的要素,其中,所述上失真原始像素边界限是小于255/K0的值。
示例9可以包括示例1-8中任一项的要素,其中,所述测试模式关系包括在所述测试模式关系与所述基线功率模式关系之间共享至少一个原始像素值和至少一个提升像素值的线性关系。
根据示例10,提供一种非瞬时性存储设备。所述非瞬时性存储设备包括指令,所述指令当由显示控制电路执行时使所述显示控制电路:对于所选择的显示功率模式下的显示图像,确定:用于形成显示图像的原始像素值的基线数量与提升像素值的基线数量之间的基线功率模式关系;和表示与所选择的显示功率模式关联的失真原始像素值的允许百分比(Xi)的值;对于上失真原始像素边界限与下失真原始像素边界限之间的多个测试失真原始像素百分比(Xin)中的每一个:选择测试失真原始像素百分比;确定所选择的测试失真原始像素百分比、测试原始像素值的数量与测试提升像素值的数量之间的测试模式关系;以及对于显示图像,确定与所选择的测试失真原始像素值百分比关联的测试PSNR,以提供多个测试PSNR;将质量损失值与所述测试失真原始像素百分比关联,所述质量损失值是使用显示图像的均方差(MSE)和直方图确定的;以及使用所确定的与所述多个测试失真原始像素百分比中的每一个关联的质量损失值,从所述多个测试失真原始像素百分比中选择操作失真原始像素百分比。
示例11可以包括示例10的要素,其中,所述指令进一步使所述显示控制电路:使所耦合的显示设备以所选择的操作失真原始像素百分比进行操作。
示例12可以包括示例10或11中任一项的要素,其中,使所述显示控制电路确定所述基线功率模式关系的指令可以进一步使所述显示控制电路:确定包括以下关系的基线功率模式关系:第一线段部分具有与基线原始像素值和基线提升像素值之间的基线功率模式关系关联的斜率K1;以及第二线段部分基于所述基线原始像素值的数量和所述基线提升像素值的数量,并且具有由以下公式给出的斜率K0:
K0=(255-K1*(255-Xi))/Xi。
示例13可以包括示例10-12中任一项的要素,其中,使所述显示控制电路确定所选择的测试失真原始像素百分比、所述测试原始像素值的数量与所述测试提升像素值的数量之间的测试模式关系的指令进一步使所述显示控制电路:确定测试模式关系,所述测试模式关系包括在所述测试模式关系与所述基线功率模式关系的第一线段部分之间共享至少一个原始像素值和至少一个提升像素值的线性关系。
示例14可以包括示例10-13中任一项的要素,其中,使所述显示控制电路确定所述基线功率模式关系的指令进一步使所述显示控制电路:确定至少一个基线原始像素值和至少一个基线提升像素值对于所述第一线段部分和所述第二线段部分二者是公共的基线功率模式关系。
示例15可以包括示例10-14中任一项的要素,其中,使所述显示控制电路确定至少一个基线原始像素值和至少一个基线提升像素值对于所述第一线段部分和所述第二线段部分二者是公共的基线功率模式关系的指令进一步使所述显示控制电路:确定所述至少一个基线原始像素值和所述至少一个基线提升像素值是基于表示与所选择的显示功率模式关联的失真原始像素值的允许百分比(Xi)选择的基线功率模式关系。
示例16可以包括示例10-15中任一项的要素,其中,使所述显示控制电路确定所述测试模式关系的指令进一步使所述显示控制电路:确定包括以下关系的测试模式关系:
第一线段部分基于所述测试原始像素值的数量和所述测试提升像素值的数量,并且具有由以下公式给出的斜率K1n:
K1n=(255-(Xin*k0))/(255-Xin);以及
所述第二线段部分具有基于所述原始像素值的基线数量和所述提升像素值的基线数量的斜率K0。
示例17可以包括示例10-16中任一项的要素,其中,使所述显示控制电路对于所述上失真原始像素边界限与所述下失真原始像素边界限之间的所述多个测试失真原始像素百分比(Xin)中的每一个选择测试失真原始像素百分比的指令进一步使所述显示控制电路:对于包括小于255/K0的值的上失真原始像素边界限与下失真原始像素边界限之间的所述多个测试失真原始像素百分比(Xin)中的每一个选择所述测试失真原始像素百分比。
根据示例18,提供一种用于优化具有多个显示功率设置的显示设备上的显示图像的图像质量的系统。所述系统可以包括:用于对于所选择的显示功率模式下的显示图像确定以下项的模块:用于形成显示图像的原始像素值的基线数量与提升像素值的基线数量之间的基线功率模式关系;和表示与所选择的显示功率模式关联的失真原始像素值的允许百分比(Xi)的值;对于上失真原始像素边界限与下失真原始像素边界限之间的多个测试失真原始像素百分比(Xin)中的每一个:用于选择测试失真原始像素百分比的模块;用于确定所选择的测试失真原始像素百分比、测试原始像素值的数量与测试提升像素值的数量之间的测试模式关系的模块;和用于对于显示图像确定与所选择的测试失真原始像素值百分比关联的测试PSNR以提供多个测试PSNR的模块;用于将质量损失值与所述测试失真原始像素百分比关联的模块,所述质量损失值是使用显示图像的均方差(MSE)和直方图确定的;和用于使用所确定的与所述多个测试失真原始像素百分比中的每一个关联的质量损失值从所述多个测试失真原始像素百分比中选择操作失真原始像素百分比的模块。
示例19可以包括示例18的要素,并且所述系统可以还包括:用于使以通信方式耦合的显示设备以所选择的操作失真原始像素百分比进行操作的模块。
示例20可以包括示例18或19中任一项的要素,其中,用于使所述显示控制电路确定所述基线功率模式关系的模块可以包括:用于确定包括以下关系的基线功率模式关系的模块:第一线段部分具有与基线原始像素值和基线提升像素值之间的基线功率模式关系关联的斜率K1;以及第二线段部分基于所述基线原始像素值的数量和所述基线提升像素值的数量的,并且具有由以下公式给出的斜率K0:
K0=(255-K1*(255-Xi))/Xi。
示例21可以包括示例18-20中任一项的要素,其中,用于确定所选择的失真原始像素百分比、所述测试原始像素值的数量与所述测试提升像素值的数量之间的测试模式关系的模块可以包括:用于确定测试模式关系的模块,所述测试模式关系包括在所述测试模式关系与所述基线功率模式关系的所述第一线段部分之间共享至少一个原始像素值和至少一个提升像素值的线性关系。
示例22可以包括示例18-21中任一项的要素,其中,用于确定所述基线功率模式关系的模块可以包括:用于确定至少一个基线原始像素值和至少一个基线提升像素值对于所述第一线段部分和所述第二线段部分二者是公共的基线功率模式关系的模块。
示例23可以包括示例18-22中任一项的要素,其中,用于确定所述基线功率模式关系的模块可以还包括:用于确定所述至少一个基线原始像素值和所述至少一个基线提升像素值是基于表示与所选择的显示功率模式关联的失真原始像素值的允许百分比(Xi)选择的基线功率模式关系的模块。
示例24可以包括示例18-23中任一项的要素,其中,用于确定所述测试模式关系的模块可以还包括:用于确定包括以下关系的测试模式关系的模块:第一线段部分基于所述测试原始像素值的数量和所述测试提升像素值的数量,并且具有由以下公式给出的斜率K1n:
K1n=(255-(Xin*k0))/(255-Xin);以及
所述第二线段部分具有基于所述原始像素值的基线数量和所述提升像素值的基线数量的斜率K0。
示例25可以包括示例18-24中任一项的要素,其中,用于对于所述多个测试失真原始像素百分比(Xin)中的每一个选择所述测试失真原始像素百分比的模块可以还包括:用于对于包括小于255/K0的值的上失真原始像素边界限与下失真原始像素边界限之间的所述多个测试失真原始像素百分比(Xin)中的每一个选择所述测试失真原始像素百分比的模块。
根据示例26,提供一种用于优化具有多个显示功率设置的显示设备上的显示图像的图像质量的方法。所述方法可以包括:对于所选择的显示功率模式下的显示图像,确定:用于形成显示图像的原始像素值的基线数量与提升像素值的基线数量之间的基线功率模式关系;和表示与所选择的显示功率模式关联的失真原始像素值的允许百分比(Xi)的值;对于上失真原始像素边界限与下失真原始像素边界限之间的多个测试失真原始像素百分比(Xin)中的每一个:选择测试失真原始像素百分比;确定所选择的测试失真原始像素百分比、测试原始像素值的数量与测试提升像素值的数量之间的测试模式关系;以及对于显示图像,确定与所选择的测试失真原始像素值百分比关联的测试PSNR,以提供多个测试PSNR;将质量损失值与所述测试失真原始像素百分比关联,所述质量损失值是使用显示图像的均方差(MSE)和直方图确定的;以及使用所确定的与所述多个测试失真原始像素百分比中的每一个关联的质量损失值从所述多个测试失真原始像素百分比中选择操作失真原始像素百分比。
示例27可以包括示例26的要素,并且所述方法可以附加地包括:使以通信方式耦合的显示设备以所选择的操作失真原始像素百分比进行操作。
示例28可以包括示例26或27中任一项的要素,其中,使所述显示控制电路确定所述基线功率模式关系包括:确定包括以下关系的基线功率模式关系:第一线段部分具有与基线原始像素值和基线提升像素值之间的基线功率模式关系关联的斜率K1;以及第二线段部分基于所述基线原始像素值的数量和所述基线提升像素值的数量,并且具有由以下公式给出的斜率K0:
K0=(255-K1*(255-Xi))/Xi。
示例29可以包括示例26-28中任一项的要素,其中,确定所选择的测试失真原始像素百分比、所述测试原始像素值的数量与所述测试提升像素值的数量之间的测试模式关系可以包括:确定测试模式关系,所述测试模式关系包括在所述测试模式关系与所述基线功率模式关系的所述第一线段部分之间共享至少一个原始像素值和至少一个提升像素值的线性关系。
示例30可以包括示例26-29中任一项的要素,其中,确定所述基线功率模式关系可以包括:确定至少一个基线原始像素值和至少一个基线提升像素值对于所述第一线段部分和所述第二线段部分二者是公共的基线功率模式关系。
示例31可以包括示例26-30中任一项的要素,其中,确定所述基线功率模式关系可以还包括:确定所述至少一个基线原始像素值和所述至少一个基线提升像素值是基于表示与所选择的显示功率模式关联的失真原始像素值的允许百分比(Xi)选择的基线功率模式关系。
示例32可以包括示例26-31中任一项的要素,其中,确定所述测试模式关系可以还包括:确定包括以下关系的测试模式关系:第一线段部分基于所述测试原始像素值的数量和所述测试提升像素值的数量,并且具有由以下公式给出的斜率K1n:
K1n=(255-(Xin*k0))/(255-Xin);以及
所述第二线段部分具有基于所述原始像素值的基线数量和所述提升像素值的基线数量的斜率K0。
示例33可以包括示例26-32中任一项的要素,其中,对于所述多个测试失真原始像素百分比(Xin)中的每一个选择所述测试失真原始像素百分比可以还包括:对于包括小于255/K0的值的上失真原始像素边界限与下失真原始像素边界限之间的所述多个测试失真原始像素百分比(Xin)中的每一个选择所述测试失真原始像素百分比。
根据示例34,提供一种电子设备。所述电子设备包括:印制电路板;一个或多个处理器,耦合到所述印制电路板;显示设备,具有多个像素;和显示控制电路,耦合到所述印制电路板。所述显示控制电路用于:接收指示显示功率模式选择的输入;对于所选择的基线显示功率模式下的显示图像,确定:用于形成显示图像的原始像素值的基线数量与提升像素值的基线数量之间的基线功率模式关系;和表示与所选择的显示功率模式关联的失真原始像素值的允许百分比(Xi)的值;对于上失真原始像素边界限与下失真原始像素边界限之间的多个测试失真原始像素百分比(Xin)中的每一个:选择测试失真原始像素百分比;确定所选择的测试失真原始像素百分比、测试原始像素值的数量与测试提升像素值的数量之间的测试模式关系;以及对于显示图像,确定与所选择的测试失真原始像素值百分比关联的测试PSNR,以提供多个测试PSNR;将质量损失值与所述测试失真原始像素百分比关联,所述质量损失值是使用显示图像的均方差(MSE)和直方图确定的;以及使用所确定的与所述多个测试失真原始像素百分比中的每一个关联的质量损失值从所述多个测试失真原始像素百分比中选择操作失真原始像素百分比。
示例35可以包括示例34的要素,并且所述显示控制电路可以进一步使所述显示设备以所选择的操作失真原始像素值百分比进行操作。
示例36可以包括示例34或35的要素,其中,用于形成显示图像的原始像素的数量与提升像素的数量之间的基线功率模式关系可以包括:第一线段部分具有与基线原始像素值和基线提升像素值之间的基线功率模式关系关联的斜率K1;以及第二线段部分基于所述基线原始像素值的数量和所述基线提升像素值的数量,并且具有由以下公式给出的斜率K0:
K0=(255-K1*(255-Xi))/Xi。
示例37可以包括示例34-36中任一项的要素,其中,所述测试模式关系包括在所述测试模式关系与所述第一线性部分之间共享至少一个原始像素值和至少一个提升像素值的线性关系。
示例38可以包括示例34-37中任一项的要素,其中,所述基线功率模式关系包括在所述第一线性部分与所述第二线性部分之间共享至少一个原始像素值和至少一个提升像素值的关系。
示例39可以包括示例34-38中任一项的要素,其中,所共享的至少一个原始像素值包括基于使用失真原始像素值的允许百分比选择的像素值。
示例40可以包括示例34-39中任一项的要素,其中,相应测试失真原始像素百分比、所述测试原始像素值的数量与所述测试提升像素值的数量之间的测试模式关系可以包括:第一线段部分基于所述测试原始像素值的数量和所述测试提升像素值的数量,并且具有由以下公式给出的斜率K1n:
K1n=(255-(Xin*k0))/(255-Xin);以及
所述第二线段部分具有基于所述原始像素值的基线数量和所述提升像素值的基线数量的斜率K0。
示例41可以包括示例34-40的要素,其中,所述上失真原始像素边界限是小于255/K0.的值。
示例42可以包括示例34-41中任一项的要素,其中,所述测试模式关系包括在所述测试模式关系与所述基线功率模式关系之间共享至少一个原始像素值和至少一个提升像素值的线性关系。
本文已经采用的术语和表述用作描述而非限制的术语,在使用这些术语和表述时,无意排除所示出并且描述的特征的等同物(或其部分),并且应理解,各种修改在权利要求的范围内是可能的。因此,权利要求意图覆盖所有这些等同物。本文已经描述了各种特征、方面和实施例。本领域技术人员应理解,特征、方面和实施例易受与彼此的组合以及变形和修改的影响。本公开因此应看作囊括这些组合、变形和修改。
如本文所描述的那样,可以使用硬件元件、软件元件或其任何组合来实现各种实施例。硬件元件的示例可以包括处理器、微处理器、电路、电路元件(例如,晶体管、电阻器、电容器、电感器等)、集成电路、专用集成电路(ASIC)、可编程逻辑器件(PLD)、数字信号处理器(DSP)、现场可编程门阵列(FPGA)、逻辑门、寄存器、半导体器件、芯片、微芯片、芯片组等。
贯穿本说明书对“一个实施例”或“实施例”的引用表示,至少一个实施例中包括结合实施例描述的特定特征、结构或特性。因此,贯穿该说明书在各个地方出现短语“在一个实施例中”或“在实施例中”不一定全指代同一实施例。此外,可以在一个或多个实施例中以任何合适的方式组合特定特征、结构或特性。
Claims (25)
1.一种系统,包括:
显示设备,包括多个像素,以形成显示图像;
显示控制电路,耦合到所述显示设备,用于:
接收指示显示功率模式选择的输入;
对于所选择的显示功率模式下的显示图像,使用以下项确定基线峰值信噪比(PSNR):
用于形成显示图像的原始像素值的基线数量与提升像素值的基线数量之间的基线功率模式关系;和
表示与所选择的显示功率模式关联的失真原始像素值的允许百分比(Xi)的值;
对于上失真原始像素边界限与下失真原始像素边界限之间的多个测试失真原始像素百分比(Xin)中的每一个:
选择测试失真原始像素百分比;
确定所选择的测试失真原始像素百分比、测试原始像素值的数量与测试提升像素值的数量之间的测试模式关系;以及
对于显示图像,确定与所选择的测试失真原始像素值百分比关联的测试PSNR,以提供多个测试PSNR;
将误差值与所述测试失真原始像素百分比关联,所述误差值是基于所述基线PSNR与所述测试PSNR之间的均方差(MSE)确定的;以及
使用所确定的与所述多个测试失真原始像素百分比中的每一个关联的误差值,从所述基线PSNR和所述多个测试PSNR中选择操作PSNR。
2.如权利要求1所述的系统,所述电路还用于:
使包括所述多个像素的显示设备以与所选择的操作PSNR对应的测试失真原始像素值百分比进行操作。
3.如权利要求1所述的系统,其中,用于形成显示图像的原始像素的数量与提升像素的数量之间的基线功率模式关系包括:
第一线段部分具有与基线原始像素值和基线提升像素值之间的基线功率模式关系关联的斜率K1;以及
第二线段部分基于基线原始像素值的数量和基线提升像素值的数量的,并且具有由以下公式给出的斜率K0:
K0=(255-K1*(255-Xi))/Xi。
4.如权利要求3所述的系统,其中,所述测试模式关系包括在所述测试模式关系与所述第一线性部分之间共享至少一个原始像素值和至少一个提升像素值的线性关系。
5.如权利要求3所述的系统,其中,所述基线功率模式关系包括在所述第一线性部分与所述第二线性部分之间共享至少一个原始像素值和至少一个提升像素值的关系。
6.如权利要求5所述的系统,其中,所共享的至少一个原始像素值包括基于使用失真原始像素值的允许百分比选择的像素值。
7.如权利要求3所述的系统,其中,各测试失真原始像素百分比、测试原始像素值的数量与测试提升像素值的数量之间的测试模式关系包括:
第一线段部分基于所述测试原始像素值的数量和所述测试提升像素值的数量,并且具有由以下公式给出的斜率K1n:
K1n=(255-(Xin*K0))/(255-Xin);以及
所述第二线段部分具有基于所述原始像素值的基线数量和所述提升像素值的基线数量的斜率K0。
8.如权利要求3所述的系统,其中,所述上失真原始像素边界限是小于K0/255的值。
9.如权利要求1所述的系统,其中,所述测试模式关系包括在所述测试模式关系与所述基线功率模式关系之间共享至少一个原始像素值和至少一个提升像素值的线性关系。
10.一种用于显示图像的系统,包括:
用于对于所选择的显示功率模式下的显示图像,使用以下项确定基线峰值信噪比(PSNR)的模块:
用于形成显示图像的原始像素值的基线数量与提升像素值的基线数量之间的基线功率模式关系;和
表示与所选择的显示功率模式关联的失真原始像素值的允许百分比(Xi)的值;
对于上失真原始像素边界限与下失真原始像素边界限之间的多个测试失真原始像素百分比(Xin)中的每一个:
用于选择测试失真原始像素百分比的模块;
用于确定所选择的测试失真原始像素百分比、测试原始像素值的数量与测试提升像素值的数量之间的测试模式关系的模块;和
用于使用显示图像确定与所选择的测试失真原始像素值百分比关联的测试PSNR的模块,所述测试PSNR包括于多个测试PSNR中;
用于将误差值与所述测试失真原始像素百分比关联的模块;和
用于使用所确定的与所述多个测试失真原始像素百分比中的每一个关联的误差值来选择操作失真原始像素百分比的模块。
11.如权利要求10所述的系统,还包括:
用于使显示器以与所选择的操作PSNR对应的测试失真原始像素值百分比进行操作的模块。
12.如权利要求10所述的方法,其中,用于使用所述原始像素值的基线数量与所述提升像素值的基线数量之间的基线功率模式关系确定所述基线PSNR的模块包括:
用于使用包括以下关系的基线功率模式关系确定所述基线PSNR的模块:
第一线段部分具有与基线原始像素值和基线提升像素值之间的基线功率模式关系关联的斜率K1;以及
第二线段部分基于所述基线原始像素值的数量和所述基线提升像素值的数量,并且具有由以下公式给出的斜率K0:
K0=(255-K1*(255-Xi))/Xi。
13.如权利要求12所述的系统,其中,用于确定所选择的测试失真原始像素百分比、所述测试原始像素值的数量与所述测试提升像素值的数量之间的测试模式关系的模块包括:
用于确定测试模式关系的模块,所述测试模式关系包括在所述测试模式关系与所述基线功率模式关系的第一线段部分之间共享至少一个原始像素值和至少一个提升像素值的线性关系。
14.如权利要求12所述的系统,其中,用于使用所述基线原始像素值的数量与所述基线提升像素值的数量之间的基线功率模式关系确定所述基线PSNR的模块包括:
用于使用以下基线功率模式关系确定所述基线PSNR的模块:至少一个基线原始像素值和至少一个基线提升像素值对于所述第一线段部分和所述第二线段部分二者是公共的。
15.一种显示图像的方法,包括:
由显示控制电路对于所选择的显示功率模式下的显示图像,使用以下项确定基线峰值信噪比(PSNR):
用于形成显示图像的原始像素值的基线数量与提升像素值的基线数量之间的基线功率模式关系;和
表示与所选择的显示功率模式关联的失真原始像素值的允许百分比(Xi)的值;
对于上失真原始像素边界限与下失真原始像素边界限之间的多个测试失真原始像素百分比(Xin)中的每一个:
由所述显示控制电路选择测试失真原始像素百分比;
由所述显示控制电路确定所选择的测试失真原始像素百分比、测试原始像素值的数量与测试提升像素值的数量之间的测试模式关系;以及
由所述显示控制电路使用显示图像确定与所选择的测试失真原始像素值百分比关联的测试PSNR,所述测试PSNR包括于多个测试PSNR中;
由所述显示控制电路将误差值与所述测试失真原始像素百分比关联;以及
由所述显示控制电路使用所确定的与所述多个测试失真原始像素百分比中的每一个关联的误差值,选择操作失真原始像素百分比。
16.如权利要求15所述的方法,所述方法还包括:
由所述显示控制电路使显示器以与所选择的操作PSNR对应的测试失真原始像素值百分比进行操作。
17.如权利要求15所述的方法,其中,使用所述原始像素值的基线数量与所述提升像素值的基线数量之间的基线功率模式关系确定所述基线PSNR包括:
由所述显示控制电路使用包括以下关系的基线功率模式关系确定所述基线PSNR:
第一线段部分具有与基线原始像素值和基线提升像素值之间的基线功率模式关系关联的斜率K1;以及
第二线段部分基于所述基线原始像素值的数量和所述基线提升像素值的数量,并且具有由以下公式给出的斜率K0:
K0=(255-K1*(255-Xi))/Xi。
18.如权利要求17所述的方法,其中,确定所选择的测试失真原始像素百分比、所述测试原始像素值的数量与所述测试提升像素值的数量之间的测试模式关系包括:
由所述显示控制电路确定测试模式关系,所述测试模式关系包括在所述测试模式关系与所述基线功率模式关系的第一线段部分之间共享至少一个原始像素值和至少一个提升像素值的线性关系。
19.如权利要求17所述的方法,其中,使用所述基线原始像素值的数量与所述基线提升像素值的数量之间的基线功率模式关系确定所述基线PSNR包括:
由所述显示控制电路使用至少一个基线原始像素值和至少一个基线提升像素值对于所述第一线段部分和所述第二线段部分二者是公共的基线功率模式关系确定所述基线PSNR。
20.如权利要求19所述的方法,其中,使用至少一个基线原始像素值和至少一个基线提升像素值对于所述第一线段部分和所述第二线段部分二者是公共的基线功率模式关系确定所述基线PSNR包括:
由所述显示控制电路使用以下基线功率模式关系确定所述基线PSNR:所述至少一个基线原始像素值和所述至少一个基线提升像素值是基于表示与所选择的显示功率模式关联的失真原始像素值的允许百分比(Xi)选择的。
21.如权利要求17所述的方法,其中,确定所选择的测试失真原始像素百分比、所述测试原始像素值的数量与所述测试提升像素值的数量之间的测试模式关系包括:
由所述显示控制电路确定包括以下关系的测试模式关系:
第一线段部分基于所述测试原始像素值的数量和所述测试提升像素值的数量,并且具有由以下公式给出的斜率K1n:
K1n=(255-(Xin*K0))/(255-Xin);以及
所述第二线段部分具有基于所述原始像素值的基线数量和所述提升像素值的基线数量的斜率K0。
22.如权利要求15所述的方法,其中,将所述误差值与所述测试失真原始像素百分比关联包括:
由所述显示控制电路将基于所述基线PSNR与所述测试PSNR之间的均方差(MSE)确定的误差值与所述测试失真原始像素百分比关联。
23.如权利要求22所述的方法,其中,使用所确定的与所述多个测试失真原始像素百分比中的每一个关联的误差值选择所述操作失真原始像素百分比包括:
由所述显示控制电路选择与最大MSE关联的测试失真原始像素百分比作为所述操作失真原始像素百分比。
24.如权利要求17所述的方法,其中,对于所述上失真原始像素边界限与所述下失真原始像素边界限之间的所述多个测试失真原始像素百分比(Xin)中的每一个选择所述测试失真原始像素百分比包括:
由所述显示控制电路对于包括小于K0/255的值的上失真原始像素边界限与下失真原始像素边界限之间的所述多个测试失真原始像素百分比(Xin)中的每一个选择所述测试失真原始像素百分比。
25.一种非瞬时性存储设备,包括多个指令,所述指令响应于由计算设备执行而使所述计算设备执行如权利要求15-24中任一项所述的方法。
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PB01 | Publication | ||
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SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
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