CN111413606A - 显示驱动芯片source的测试装置及方法 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种显示驱动芯片SOURCE的测试装置及方法，该装置包括测试机台、探针卡、级联开关；所述探针卡与测试机台的一端连接，用于连接被测芯片，以及接收测试机台的测试信号，并且根据测试信号将被测芯片的SOURCE PIN经级联开关发送到测试机台；所述级联开关设置在探针卡上，并且与测试机台连接，用于在控制信号的控制下将被测芯片的SOURCE PIN分为若干组分组资源数据，并且分时将每一分组资源数据发送到测试机台；还用于接收测试机台发送的控制信号。本发明通过在SOURCE端串接开关芯片，使得用较少数量探针卡、较低配置机台就可以对驱动芯片的SOURCE进行测试，从而大大降低测试时间和成本，进一步提高产品的竞争力。

Description

显示驱动芯片SOURCE的测试装置及方法
技术领域
本发明属于电子电路技术领域，具体涉及一种显示驱动芯片SOURCE的测试装置及方法。
背景技术
集成电路芯片几乎都会做CP，把坏的DIE挑出来，从而减少后期封装和测试成本，并能了解WAFER的良率。显示驱动芯片主要是将信号源数据进行处理后，产生相应信号对面板的VCOM、GATE和SOURCE进行控制。SOURCE控制着面板的每一根列线，因此PIN数一般会很多。随着手机等显示设备显示分辨率不断提高，SOURCE数比例增加。例如，720P分辨率LCD控制的SOURCE一般为2160根，分辨率更高的1080P LCD面板SOURCE数通常是3240根，AMOLED面板因排布结构不同目前是2160根。CP时需要对如此多的SOURCE PIN进行测试，目前主要是用以下两种方法：1.做两张或更多控制卡，对SOURCE进行分批测试，但这个过程中需要人工换卡，并大幅增加了测试时间和制卡费用；2.用更先进的机台进行测试，例如业内之前主要用ND1，现在分辨率增加需要用到有更多SOURCE PROBE的ND4，而且这些机台通常供不应求，对测试工程师能力要求也较高，而这类测试成本增加往往是很多公司难以承受的。
如图1所示的现有技术，对于测试机台的SOURCE PIN为1026根，需要两张探针卡才能够实现测试。
发明内容
有鉴于此，本发明的主要目的在于提供一种显示驱动芯片SOURCE的测试装置及方法。
为达到上述目的，本发明的技术方案是这样实现的：
本发明实施例提供一种显示驱动芯片SOURCE的测试装置，该装置包括测试机台、探针卡、级联开关；
所述探针卡与测试机台的一端连接，用于连接被测芯片，以及接收测试机台的测试信号，并且根据测试信号将被测芯片的SOURCE PIN经级联开关发送到测试机台；
所述级联开关设置在探针卡上，并且与测试机台连接，用于在控制信号的控制下将被测芯片的SOURCE PIN分为若干组分组资源数据，并且分时将每一分组资源数据发送到测试机台；还用于接收测试机台发送的控制信号。
上述方案中，所述级联开关，用于根据输入信号数量总和将被测芯片的SOURCEPIN均分为相应的分组数量分时发送到测试机台。
上述方案中，所述探针卡上连接的被测芯片的SOURCE端串接级联开关。
上述方案中，所述级联开关中开关芯片MUX的数量由测试数据的总量确定。
上述方案中，所述测试机台，用于向级联开关发送控制信号；所述级联开关，用于根据控制信号控制每一个分组分时发送到测试机台。
本发明实施例还提供一种显示驱动芯片SOURCE的测试方法，应用于如上述方案中任意一项所述的显示驱动芯片SOURCE的测试装置，其特征在于，探针卡将对被测芯片测试获得的测试数据对应若干根SOURCE PIN；
所述级联开关设置在控制信号的控制下，将若干根SOURCE PIN分为若干组分组测试数据并且分时发送每一组分组数据；
所述测试机台分别接收每一组分组数据并且输出测试结果。
上述方案中，所述级联开关根据输入信号数量总和将被测芯片的SOURCE PIN均分为相应的分组数量分时发送到测试机台。
上述方案中，所述级联开关中开关芯片MUX的数量由测试数据的总量确定。
上述方案中，所述测试机台向级联开关发送控制信号；所述级联开关根据控制信号控制每一个分组分时发送到测试机台。
与现有技术相比，本发明通过在SOURCE端串接开关芯片，使得用较少数量探针卡、较低配置机台就可以对驱动芯片的SOURCE进行测试，从而大大降低测试时间和成本，进一步提高产品的竞争力。
附图说明
图1为现有技术的结构示意图；
图2为本发明实施例提供一种显示驱动芯片SOURCE的测试装置的结构示意图；
图3为本发明实施例提供一种显示驱动芯片SOURCE的测试装置中开关芯片MUX的结构示意图；
图4为本发明实施例提供一种显示驱动芯片SOURCE的测试装置中级联开关针对128根测试资源的结构示意图；
图5为本发明实施例提供一种显示驱动芯片SOURCE的测试装置中级联开关针对1026根测试资源的结构示意图。
具体实施方式
为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。
本发明实施例提供一种显示驱动芯片SOURCE的测试装置，如图2所示，该装置包括测试机台、探针卡、级联开关；
所述探针卡与测试机台的一端连接，用于连接被测芯片，以及接收测试机台的测试信号，并且根据测试信号将被测芯片的SOURCE PIN经级联开关发送到测试机台；
所述级联开关设置在探针卡上，并且与测试机台连接，用于在控制信号的控制下将被测芯片的SOURCE PIN分为若干组分组资源数据，并且分时将每一分组资源数据发送到测试机台；还用于接收测试机台发送的控制信号。
这样，本发明通过级联开关使得被测芯片的SOURCE PIN分为若干组分组资源数据，并且分时将每一分组资源数据发送到测试机台，使得用较少数量探针卡、较低配置机台就可以对驱动芯片的SOURCE进行测试，从而大大降低测试时间和成本，进一步提高产品的竞争力。
所述级联开关用于根据输入信号数量总和将探针卡的SOURCE PIN均分为相应的分组数量分时发送到测试机台。
具体地，所述探针卡上连接的被测芯片的SOURCE端串接级联开关。
所述级联开关中开关芯片MUX的数量由测试数据的总量确定。
所述被测芯片的SOURCE PIN的根数与每个开关芯片MUX中的每一个分组资源数据的信号数量相同。
例如，级联开关中每个开关芯片MUX的每一个分组资源数据的信号数量为32个，那么SOURCE PIN的根数就只需要32根。
所述测试机台，用于向级联开关发送控制信号；所述级联开关，用于根据控制信号控制每一个分组分时发送到测试机台。
例如，所述测试机台用于向级联开关发送第一控制信号和第二控制信号；所述级联开关，用于根据第一控制信号和第二控制信号的组合控制每一个分组分时发送到测试机台。
在一些实施例中，所述级联开关包括至少一个开关芯片MUX，如图3所示，该开关芯片MUX4-1可以实现对输入的4个信号选择一个输出，如图4所示，该开关芯片MUX4-1通过第一控制信号EN1和第二控制信号EN2对输入的128个信号分成4组，每组输出32个信号，当{EN2，EN2}＝00时，选择S1A-S32A输出，当{EN2，EN1}＝01时，选择S1B-S32B输出，当{EN2，EN1}＝10时，选择S1C-S32C输出，当{EN2，EN2}＝01时，选择S1D-S32D输出，这样，将原本需要128根SOURCE PIN减少为32根SOURCE PIN。
示例性的，以资源数据总量为1026个为例，如果采用如图1所示的现有技术，则至少需要两个探针卡；而采用本发明则只需要一个探针卡，1026根SOURCE PIN需要用到1026/128＝8颗开关芯片，所以采用八个开关MUX128-32级联，另外1026％128＝2根SOURCE PIN直接连接到机台资源，因此，总共需要的机台SOURCE资源是32*8+2＝258根，比图1所示的现有技术的架构SOURCE资源少了768根。如果用7个MUX级联，则总共需要的机台SOURCE资源数是7*32+(1026-7*128)＝354。本发明此为例，根据实际应用需要，包括但不限于1026根SOURCEPIN、MUX 128个输入/32个输出、7个或8个MUX。
当{EN2，EN2}＝00时，MUX1选择S1A-S32A输出，MUX2选择S33A-S64A，输出当{EN2，EN1}＝01时，MUX1选择S1B-S32B输出，MUX2选择S33B-S64B，当{EN2，EN1}＝10时，MUX1选择S1BC-S32C输出，MUX2选择S33C-S64C，当{EN2，EN2}＝01时，MUX1选择S1D-S32D输出，MUX2选择S33D-S64D，这样，将原本需要1026根SOURCE PIN减少为258根SOURCE PIN。
本发明实施例还提供一种显示驱动芯片SOURCE的测试方法，应用于上述的显示驱动芯片SOURCE的测试装置，其特征在于，探针卡将对被测芯片测试获得的测试数据对应若干根SOURCE PIN；
所述级联开关设置在控制信号的控制下，将被测芯片的若干根SOURCE PIN分为若干组分组测试数据并且分时发送每一组分组数据；
所述测试机台分别接收每一组分组数据并且输出测试结果。
所述级联开关根据输入信号数量总和将被测芯片的SOURCE PIN均分为相应的分组数量分时发送到测试机台。
所述级联开关中开关芯片MUX的数量由测试数据的总量确定。
所述测试机台向级联开关发送控制信号；所述级联开关根据控制信号控制每一个分组分时发送到测试机台。
例如，所述测试机台向级联开关发送第一控制信号和第二控制信号；所述级联开关根据第一控制信号和第二控制信号的组合控制每一个分组分时发送到测试机台。
具体地，对于级联开关只包括一个开关芯片MUX为例，如图4所示，该开关芯片MUX4-1通过第一控制信号EN1和第二控制信号EN2对输入的128个信号分成4组，每组输出32个信号，当{EN2，EN2}＝00时，选择S1A-S32A输出，当{EN2，EN1}＝01时，选择S1B-S32B输出，当{EN2，EN1}＝10时，选择S1C-S32C输出，当{EN2，EN2}＝01时，选择S1D-S32D输出，这样，将原本需要128根SOURCE PIN减少为32根SOURCE PIN。
当{EN2，EN2}＝00时，MUX1选择S1A-S32A输出，MUX2选择S33A-S64A，输出当{EN2，EN1}＝01时，MUX1选择S1B-S32B输出，MUX2选择S33B-S64B，当{EN2，EN1}＝10时，MUX1选择S1BC-S32C输出，MUX2选择S33C-S64C，当{EN2，EN2}＝01时，MUX1选择S1D-S32D输出，MUX2选择S33D-S64D，这样，将原本需要1026根SOURCE PIN减少为258根SOURCE PIN。
以上所述，仅为本发明的较佳实施例而已，并非用于限定本发明的保护范围。

Claims (9)

1.一种显示驱动芯片SOURCE的测试装置，其特征在于，该装置包括测试机台、探针卡、级联开关；
所述探针卡与测试机台的一端连接，用于连接被测芯片，以及接收测试机台的测试信号，并且根据测试信号将被测芯片的SOURCE PIN经级联开关发送到测试机台；
所述级联开关设置在探针卡上，并且与测试机台连接，用于在控制信号的控制下将被测芯片的SOURCE PIN分为若干组分组资源数据，并且分时将每一分组资源数据发送到测试机台；还用于接收测试机台发送的控制信号。
2.根据权利要求1所述的显示驱动芯片SOURCE的测试装置，其特征在于，所述级联开关，用于根据输入信号数量总和将被测芯片的SOURCE PIN均分为相应的分组数量分时发送到测试机台。
3.根据权利要求1或2所述的显示驱动芯片SOURCE的测试装置，其特征在于，所述探针卡上连接的被测芯片的SOURCE端串接级联开关。
4.根据权利要求3所述的显示驱动芯片SOURCE的测试装置，其特征在于，所述级联开关中开关芯片MUX的数量由测试数据的总量确定。
5.根据权利要求4所述的显示驱动芯片SOURCE的测试装置，其特征在于，所述测试机台，用于向级联开关发送控制信号；所述级联开关，用于根据控制信号控制每一个分组分时发送到测试机台。
6.一种显示驱动芯片SOURCE的测试方法，应用于如权利要求1-5任意一项所述的显示驱动芯片SOURCE的测试装置，其特征在于，探针卡将对被测芯片测试获得的测试数据对应若干根SOURCE PIN；
所述级联开关设置在控制信号的控制下，将被测芯片的若干根SOURCEPIN分为若干组分组测试数据并且分时发送每一组分组数据；
所述测试机台分别接收每一组分组数据并且输出测试结果。
7.根据权利要求6所述的显示驱动芯片SOURCE的测试方法，其特征在于，所述级联开关根据输入信号数量总和将被测芯片的SOURCE PIN均分为相应的分组数量分时发送到测试机台。
8.根据权利要求6或7所述的显示驱动芯片SOURCE的测试方法，其特征在于，所述级联开关中开关芯片MUX的数量由测试数据的总量确定。
9.根据权利要求8所述的显示驱动芯片SOURCE的测试方法，其特征在于，所述测试机台向级联开关发送控制信号；所述级联开关根据控制信号控制每一个分组分时发送到测试机台。
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