CN111398719A - 测试机台 - Google Patents
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Abstract
本申请公开了一种测试机台,用于测试电子设备,测试机台包括:机架;测试台,设于机架上,测试台上设有用于放置电子设备的凹槽,凹槽的底壁上设置有沿上下方向贯穿凹槽的检测缺口;第一测试部,在第一方向上,第一测试部位于凹槽相对的两侧中的一侧,第一测试部沿第一方向可移动地设于测试台上;第二测试部,在第一方向上,第二测试部位于凹槽相对的两侧中的另一侧第二测试部沿第一方向可移动地设于测试台上;第三测试部,第三测试部沿上下方向可移动地设于凹槽的下方且与检测缺口相对。根据本发明的测试机台,能够从电子设备的两端和电子设备的底端三个方向对电子设备的SAR传感器进行触发,由此使得测试机台更具有通用性。
Description
技术领域
本申请属于智能设备技术领域,具体而言涉及一种测试机台。
背景技术
如今,随着科技的发展和时代的进步,电子设备例如手机在人们的日常生活中成为不可或缺的电子产品,人们对手机越来越依赖,也加速了手机厂商的研发和新产品的上市。
为了满足消费者的需求,每一款手机在出厂前都需要进行测试,手机的电磁辐射一般由天线产生,为了减少消费者日常使用时手机时带来的电磁辐射,手机一般设有SAR(Special Absorption Rate,比吸收率)传感器用来感应人体接近距离,当人体靠近预设距离时,手机会控制天线降低无线射频的辐射强度,在出厂前会对这一功能进行测试,以保证手机的质量。
发明内容
本申请提出一种测试机台,测试机台能够对多种型号的电子设备进行控制天线降低辐射的功能测试。
根据本申请实施例的测试机台,用于测试电子设备,测试机台包括:机架;测试台,设于机架上,测试台上设有用于放置电子设备的凹槽,凹槽的底壁上设置有沿上下方向贯穿凹槽的检测缺口;第一测试部,在第一方向上,第一测试部位于凹槽相对的两侧中的一侧,第一测试部沿第一方向可移动地设于测试台上;第二测试部,在第一方向上,第二测试部位于凹槽相对的两侧中的另一侧第二测试部沿第一方向可移动地设于测试台上;第三测试部,第三测试部沿上下方向可移动地设于凹槽的下方且与检测缺口相对。
根据本申请实施例的测试机台,能够从电子设备的两端和电子设备的底端三个方向对电子设备的SAR传感器进行触发,当电子设备的一端设有SAR传感器时,测试机台在对电子设备测试时,可以仅控制第一测试部和第三测试部或者第二测试部和第三测试部对SAR传感器触发;当电子设备的两端均设有SAR传感器时,测试机台在对电子设备测试时,可以控制第一测试部、第二测试部以及第三测试部对SAR传感器触发,由此使得测试机台可以有效地检测电子设备在天线控制方面工作的可靠性,并且对于测试不同机型的电子设备的控制天线降低无线射频功能具有通用性。
本申请的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出,部分将从下面的描述中变得明显,或通过本申请的实践了解到。
附图说明
本申请的上述和/或附加的方面和优点从结合下面附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解,其中:
图1是根据本申请实施例的测试机台的俯视图;
图2是根据本申请实施例的测试机台的立体图;
图3是根据本申请实施例的测试机台的另一个角度立体图;
图4是根据本申请实施例的测试机台的又一个角度立体图。
附图标记:
测试机台1,
机架10,
测试台20,凹槽21,检测缺口22,子缺口222,取手槽23,避让槽24,
第一测试部30,第一动力件31,
第二测试部40,第二动力件41,
第三测试部50,第一子测试部502,第二子测试部504,第三动力件51,连接部60,
电子设备2。
具体实施方式
下面详细描述本申请的实施例,实施例的示例在附图中示出,其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的,仅用于解释本申请,而不能理解为对本申请的限制。
下面参考附图描述根据本申请实施例的测试机台1。
如图1、图2和图4所示,根据本申请实施例的测试机台1,用于测试电子设备2,具体地,用于测试电子设备2的控制天线降低无线射频功能是否有效,测试机台1包括:机架10、测试台20、第一测试部30、第二测试部40及第三测试部50。在一些实施例中,电子设备2可以是手机,但本申请不限于此。对于部分电子设备2,电子设备2的相对的两端均设有SAR(Special Absorption Rate,比吸收率)传感器,电子设备2的背部设有SAR传感器的焊接点。对于部分电子设备2,电子设备2的一端设有SAR传感器。
具体地,测试台20设于机架10上,测试台20上设有用于放置电子设备2的凹槽21,在对电子设备2测试时,将电子设备2放置在凹槽21中,将凹槽21的底壁上设置有沿上下方向贯穿凹槽21的检测缺口22,在第一方向上,第一测试部30位于凹槽21相对的两侧中的一侧,第一测试部30沿第一方向可移动地设于测试台20上,在第一方向上,第二测试部40位于凹槽21相对的两侧中的另一侧第二测试部40沿第一方向可移动地设于测试台20上。
当第一测试部30与电子设备2的设有SAR传感器的一端相对,由此第一测试部30能够更好地触发SAR传感器,在对电子设备2测试的过程中,第一测试部30逐渐远离或者逐渐靠近电子设备2,设于电子设备2此端的SAR传感器在第一测试部30与其相距一定距离时会触发SAR传感器向电子设备2的主控发出信号,之后主控会向天线发出信号控制天线降低无线射频频率,从而降低辐射,电子设备2上会搭载相关的测试软件,如果辐射没有降低,电子设备2屏幕会显示相应的提示符号,例如显示NG,或者有相应的提示音,说明电子设备2的控制天线降低无线射频功能无效,则电子设备2不能出厂,如果辐射降低,电子设备2屏幕会显示相应的提示符号,例如显示Y,或者有相应的提示音,说明电子设备2的控制天线降低无线射频功能有效,电子设备2能够出厂。
需要说明的是,测试机台1对电子设备2进行的测试仅针对电子设备2的控制天线降低无线射频的整个响应过程进行测试,这个测试结果无法显示SAR传感器质量问题或者主控质量问题或者天线质量问题。
当第二测试部40与电子设备2的设有SAR传感器的一端相对,由此第二测试部40能够更好地触发SAR传感器,在对电子设备2测试的过程中,第二测试部40逐渐远离或者逐渐靠近电子设备2,设于电子设备2此端的SAR传感器在第二测试部40与其相距一定距离时会触发SAR传感器向电子设备2的主控发出信号,之后主控会向天线发出信号控制天线降低无线射频频率,从而降低辐射,如果辐射没有降低,电子设备2屏幕会显示相应的提示符号,例如显示NG,或者有相应的提示音,说明电子设备2的控制天线降低无线射频功能无效,则电子设备2不能出厂,如果辐射降低,电子设备2屏幕会显示相应的提示符号,例如显示Y,或者有相应的提示音,说明电子设备2的控制天线降低无线射频功能有效,电子设备2能够出厂。
第三测试部50沿上下方向可移动地设于凹槽21的下方且与检测缺口22相对,当电子设备2的底部设有SAR传感器的焊接点时,电子设备2的SAR传感器的焊接点与检测缺口22大体相对,而第三测试部50与检测缺口22相对,使得第三测试部50能够与电子设备2设有SAR传感器焊接点的区域大体相对,由此能够更好地触发SAR传感器,在对电子设备2测试的过程中,第三测试部50沿上下方向逐渐靠近电子设备2或者远离电子设备2,在第三测试部50与电子设备2相距一定距离时会触发相应的SAR传感器向电子设备2的主控发出信号,之后主控会向天线发出信号控制天线降低无线射频频率,从而降低辐射,如果辐射没有降低,电子设备2屏幕会显示相应的提示符号,例如显示NG,或者有相应的提示音,说明电子设备2的控制天线降低无线射频功能无效,则电子设备2不能出厂,如果辐射降低,电子设备2屏幕会显示相应的提示符号,例如显示Y,或者有相应的提示音,说明电子设备2的控制天线降低无线射频功能有效,电子设备2能够出厂。
当电子设备2的一端设有SAR传感器时,测试机台1在对电子设备2测试时,可以仅控制第一测试部30和第三测试部50或者第二测试部40和第三测试部50对SAR传感器触发。当电子设备2的两端均设有SAR传感器时,测试机台1在对电子设备2测试时,可以控制第一测试部30、第二测试部40以及第三测试部50对SAR传感器触发,当三个方向的第一测试部30、第二测试部40及第三测试部50均触发SAR传感器后,电子设备2屏幕均显示相同的提示符号,例如显示Y时,或者有相应的提示音,电子设备2的控制天线降低无线射频功能有效,电子设备2才能够出厂,由此使得测试机台1可以有效地检测电子设备2在天线控制方面工作的可靠性,并且对于测试不同机型的电子设备2的控制天线降低无线射频功能具有通用性。
根据本申请实施例的测试机台1,能够从电子设备2的两端和电子设备2的底端三个方向对电子设备2的SAR传感器进行触发,当电子设备2的一端设有SAR传感器时,测试机台1在对电子设备2测试时,可以仅控制第一测试部30和第三测试部50或者第二测试部40和第三测试部50对SAR传感器触发;当电子设备2的两端均设有SAR传感器时,测试机台1在对电子设备2测试时,可以控制第一测试部30、第二测试部40以及第三测试部50对SAR传感器触发,由此使得测试机台1可以有效地检测电子设备2在天线控制方面工作的可靠性,并且对于测试不同机型的电子设备2的控制天线降低无线射频功能具有通用性。
如图2所示,根据本申请的一些实施例,测试机台1还包括第一动力件31,设于测试台20上且与第一测试部30连接用于驱动第一测试部30移动,由此第一动力件31可以为第一测试部30的移动提供动力。
如图2所示,可选地,测试机台1还包括第二动力件41,设于测试台20上且与第二测试部40连接用于驱动第二测试部40移动,由此第二动力件41可以为第二测试部40的移动提供动力。
如图3和图4所示,可选地,测试机台1还包括第三动力件51,设于机架10上且位于测试台20的下方,第三动力件51与第三测试部50连接用于驱动第三测试部50移动,由此第三动力件51可以为第三测试部50的移动提供动力。
如图2-图4所示,可选地,第一动力件31、第二动力件41和第三动力件51中的至少一个为气缸,由于气缸的使用操作非常的简单方便,将第一动力件31、第二动力件41和第三动力件51中的至少一个设为气缸,安装非常的容易没有太过复杂的步骤和用法,对操作人员的要求不高,此外,气缸的输出力较大,不仅仅是使用简单,对于使用环境的要求也不高,防水防尘,可以适应很多恶劣的环境。可选地,第一动力件31、第二动力件41和第三动力件51均为气缸。
根据本申请的一些实施例,第一测试部30、第二测试部40和第三测试部50中的至少一个为金属件,SAR传感器通常为电容式接近传感器,电容式接近传感器能够检测金属件的靠近也可以检测非金属件的靠近,对于金属件的靠近能够获得最大的动作距离,由此使得当且仅当第一测试部30为金属件时,当第一测试部30距离电子设备2较远距离时即可触发SAR传感器,由此能够更好地对电子设备2的控制天线降低辐射的功能测试。可选地,第一测试部30、第二测试部40以及第三测试部50均为金属件。
如图1和图4所示,根据本申请的一些实施例,第三测试部50包括第一子测试部502和第二子测试部504,检测缺口22包括两个子缺口222,两个子缺口222沿第一方向间隔开,第一子测试部502和第二子测试部504分别与两个子缺口222相对。当电子设备2的两端均设有SAR传感器时,电子设备2的底部两端均有SAR传感器焊接点,设置两个子缺口222分别与电子设备2的底部两端的SAR传感器焊接点相对,使得第一子测试部502和第二子测试部504能够分别与电子设备2的底部两端的SAR传感器焊接点相对,使得第一子测试部502和第二子测试部504均能够从电子设备2的底端触发设有电子设备2两端的SAR传感器,从而能够更为准确的模拟电子设备2在实际使用过程中人体可能从各个方位靠近电子设备2的可能性。
如图4所示,可选地,第一子测试部502和第二子测试部504通过连接部60连接,连接部60与第一子测试部502和第二子测试部504均垂直,由此能够简化第一子测试部502、第二子测试部504以及连接部60的结构设计。
如图1所示,根据本申请的一些实施例,在第二方向上,凹槽21的相对两侧中的至少一侧设有与凹槽21连通的取手槽23,第二方向与第一方向垂直,由此能够方便将被测电子设备2从凹槽21中取出,也方便将被测电子设备2放入凹槽21中。可选地,凹槽21的相对两侧均设有与凹槽21连通的取手槽23。
需要说明的是,当被测电子设备2的长度方向的至少一端设有SAR传感器时,第一方向为当电子设备2放置于凹槽21中的长度方向,第二方向则为电子设备2放置于凹槽21中的宽度方向,当被测电子设备2的宽度方向的至少一端设有SAR传感器时,第一方向为当电子设备2放置于凹槽21中的宽度方向,则第二方向为电子设备2放置于凹槽21中的长度方向,由此在第二方向上,凹槽21的相对两侧中的至少一侧设有与凹槽21连通的取手槽23,便于电子设备2的抓取。
如图1所示,根据本申请的一些实施例,凹槽21的底壁上还设有与电子设备2的摄像头相对的避让槽24,由此能够更好地避让电子设备2的摄像头,使得电子设备2的底端能够更好地贴合凹槽21的底壁,从而使得第三测试部50从电子设备2的底部对SAR传感器进行触发能够更为标准化。
在本申请的描述中,需要理解的是,术语“长度”、“宽度”、“底”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本申请和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本申请的限制。此外,限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本申请的描述中,除非另有说明,“多个”的含义是两个或两个以上。
在本申请的描述中,需要说明的是,除非另有明确的规定和限定,术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解,例如,可以是固定连接,也可以是可拆卸连接,或一体地连接;可以是机械连接,也可以是电连接;可以是直接相连,也可以通过中间媒介间接相连,可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言,可以具体情况理解上述术语在本申请中的具体含义。
在本说明书的描述中,参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示意性实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本申请的至少一个实施例或示例中。在本说明书中,对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或示例。而且,描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。
尽管已经示出和描述了本申请的实施例,本领域的普通技术人员可以理解:在不脱离本申请的原理和宗旨的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型,本申请的范围由权利要求及其等同物限定。
Claims (10)
1.一种测试机台,其特征在于,用于测试电子设备,所述测试机台包括:
机架;
测试台,设于所述机架上,所述测试台上设有用于放置电子设备的凹槽,所述凹槽的底壁上设置有沿上下方向贯穿所述凹槽的检测缺口;
第一测试部,在第一方向上,所述第一测试部位于所述凹槽相对的两侧中的一侧,所述第一测试部沿所述第一方向可移动地设于所述测试台上;
第二测试部,在第一方向上,所述第二测试部位于所述凹槽相对的两侧中的另一侧所述第二测试部沿所述第一方向可移动地设于所述测试台上;
第三测试部,所述第三测试部沿上下方向可移动地设于所述凹槽的下方且与所述检测缺口相对。
2.根据权利要求1所述的测试机台,其特征在于,还包括:
第一动力件,设于所述测试台上且与所述第一测试部连接用于驱动所述第一测试部移动。
3.根据权利要求2所述的测试机台,其特征在于,还包括:
第二动力件,设于所述测试台上且与所述第二测试部连接用于驱动所述第二测试部移动。
4.根据权利要求3所述的测试机台,其特征在于,还包括:
第三动力件,设于所述机架上且位于所述测试台的下方,所述第三动力件与所述第三测试部连接用于驱动所述第三测试部移动。
5.根据权利要求4所述的测试机台,其特征在于,所述第一动力件、所述第二动力件和所述第三动力件中的至少一个为气缸。
6.根据权利要求1所述的测试机台,其特征在于,所述第一测试部、所述第二测试部和所述第三测试部中的至少一个为金属件。
7.根据权利要求1所述的测试机台,其特征在于,所述第三测试部包括第一子测试部和第二子测试部,所述检测缺口包括两个子缺口,两个所述子缺口沿所述第一方向间隔开,所述第一子测试部和所述第二子测试部分别与两个所述子缺口相对。
8.根据权利要求7所述的测试机台,其特征在于,所述第一子测试部和所述第二子测试部通过连接部连接,所述连接部与所述第一子测试部和所述第二子测试部均垂直。
9.根据权利要求1所述的测试机台,其特征在于,在所述第二方向上,所述凹槽的相对两侧中的至少一侧设有与所述凹槽连通的取手槽,所述第二方向与所述第一方向垂直。
10.根据权利要求1所述的测试机台,其特征在于,所述凹槽的底壁上还设有与所述电子设备的摄像头相对的避让槽。
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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PB01 | Publication | ||
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SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
RJ01 | Rejection of invention patent application after publication |
Application publication date: 20200710 |
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