CN111397652A - 霍尔元件检测电路及方法 - Google Patents

Abstract

本申请提供了一种霍尔元件检测电路及方法，包括电压变换电路、第一继电器、线圈、第二继电器和控制电路。电压变换电路的第一端用于电连接第一电源。电压变换电路的第二端用于输出第一电压。第一继电器的第一端与电压变换电路的第二端电连接。线圈的第一端与第一继电器的第二端电连接。线圈用于与待测霍尔元件相邻设置。第二继电器的第一端与电压变换电路的第二端电连接。第二继电器的第二端与线圈的第二端电连接。第二继电器的第三端与第一继电器的第三端均用于电连接第二电源。控制电路的第一端与第一继电器的第四端和第二继电器的第四端共接。控制电路用于输出控制信号至第一继电器和第二继电器。控制电路的第二端用于与待测霍尔元件电连接。

Description

霍尔元件检测电路及方法

技术领域

本申请涉及半导体检测技术领域，特别是涉及霍尔元件检测电路及方法。

背景技术

近年来，半导体技术得到迅速发展。而霍尔元件又具有广泛的应用场景，受到人们的普遍重视。霍尔元件是一种基于霍尔效应的磁传感器，具有许多优点。例如它们的结构牢固，体积小，重量轻，寿命长，安装方便，功耗小，频率高(可达1MHz)，耐震动，不怕灰尘、油污、水汽及盐雾等的污染或腐蚀。霍尔元件已发展成一个品种多样的磁传感器产品族，在电机测速、位置检测、隔离控制等领域得到了广泛应用。

霍尔元件一般应用在产品的关键部位，霍尔元件的质量、性能对产品具有重要意义。现在电子元件市场品牌繁多，质量性能参差不齐。要保证原材料质量，除了选择固定供应商外，还应加强原料检验。

目前，市场上还没有专门针对霍尔元件的检测装置，仅凭产品外观、可焊性的检测无法确保霍尔元件的可靠性。

发明内容

基于此，有必要针对现有市场上还没有专门针对霍尔元件的检测装置，仅凭产品外观、可焊性的检测无法确保霍尔元件的可靠性的问题，提供一种霍尔元件检测电路及方法。

一种霍尔元件检测电路，包括：

电压变换电路，所述电压变换电路的第一端用于电连接第一电源，所述电压变换电路的第二端用于输出第一电压；

第一继电器，所述第一继电器的第一端与所述电压变换电路的第二端电连接；

线圈，所述线圈的第一端与所述第一继电器的第二端电连接，所述线圈用于与待测霍尔元件相邻设置；

第二继电器，所述第二继电器的第一端与所述电压变换电路的第二端电连接，所述第二继电器的第二端与所述线圈的第二端电连接，所述第二继电器的第三端与所述第一继电器的第三端均用于电连接第二电源；以及

控制电路，所述控制电路的第一端与所述第一继电器的第四端和所述第二继电器的第四端共接，用于输出控制信号至所述第一继电器和所述第二继电器，所述控制电路的第二端用于与所述待测霍尔元件电连接；

当所述控制信号为高电平时，所述第一继电器和所述第二继电器不动作，所述待测霍尔元件获取所述线圈基于所述第一电压产生的磁场得到第一磁感应强度，当所述控制信号为低电平时，所述第一继电器和所述第二继电器吸合，所述待测霍尔元件获取所述线圈基于所述第一电压产生的磁场得到第二磁感应强度，所述控制电路基于所述第一磁感应强度、所述第二磁感应强度以及预设磁感应强度确定所述待测霍尔元件是否合格。

在其中一个实施例中，所述控制电路用于将所述第一磁感应强度和所述第二磁感应强度分别与所述预设磁感应强度比较；

若所述第一磁感应强度和所述第二磁感应强度均与所述预设磁感应强度相同，则确定所述待测霍尔元件合格；

若所述第一磁感应强度和所述第二磁感应强度均与所述预设磁感应强度不相同，则确定所述待测霍尔元件不合格。

在其中一个实施例中，所述第一磁感应强度与所述第二磁感应强度大小相同、方向相反。

在其中一个实施例中，所述的霍尔元件检测电路还包括：

电压调节电路，所述电压调节电路的第一端与所述电压变换电路的第三端电连接，所述电压调节电路的第二端与所述控制电路的第三端电连接，所述控制电路通过所述电压调节电路调节所述第一电压，以改变所述线圈基于所述第一电压产生的磁场大小。

在其中一个实施例中，所述电压变换电路包括：

电压变换器，所述电压变换器的第一端用于电连接所述第一电源；以及

电阻，所述电阻的第一端与所述电压调节电路的第一端和所述电压变换器的第二端共接，所述电阻的第二端与所述电压变换器的第三端、所述第一继电器的第一端和所述第二继电器的第一端共接。

在其中一个实施例中，所述电压变换电路还包括：

保护电路，所述保护电路的第一端与所述电压变换器的第三端电连接，所述保护电路的第二端与所述电阻的第二端电连接，所述保护电路的第三端接地。

在其中一个实施例中，所述第一继电器和所述第二继电器均为常开型继电器。

在其中一个实施例中，所述第一继电器包括：

第一开关，所述第一开关的第一端与所述电压变换电路的第二端电连接，所述第一开关的第二端与所述线圈的第一端电连接，所述第一开关的第三端接地；以及

第一线圈，所述第一线圈的第一端用于电连接所述第二电源，所述第一线圈的第二端与所述控制电路的第一端电连接，用于接收所述控制信号；

当所述控制信号为高电平时，所述第一开关不动作，当所述控制信号为低电平时，所述第一线圈控制所述第一开关切换，以使所述电压变换电路与所述线圈的第一端之间形成回路。

在其中一个实施例中，所述第二继电器包括：

第二开关，所述第二开关的第一端与所述电压变换电路的第二端电连接，所述第二开关的第二端与所述线圈的第二端电连接，所述第二开关的第三端接地；以及

第二线圈，所述第二线圈的第一端用于电连接所述第二电源，所述第二线圈的第二端与所述控制电路的第一端电连接，用于接收所述控制信号；

当所述控制信号为高电平时，所述第二开关不动作，以使所述电压变换电路与所述线圈的第二端之间形成回路，当所述控制信号为低电平时，所述第二线圈控制所述第二开关切换，以断开所述电压变换电路与所述线圈的第二端之间的回路。

一种霍尔元件检测方法，应用于上述任一项所述的霍尔元件检测电路，所述方法包括：

当所述控制信号为高电平时，通过所述待测霍尔元件获取所述线圈基于所述第一电压产生的磁场，得到所述第一磁感应强度；

当所述控制信号为低电平时，控制所述第一继电器和所述第二继电器吸合，并通过所述待测霍尔元件获取所述线圈基于所述第一电压产生的磁场得到所述第二磁感应强度；

基于所述第一磁感应强度、所述第二磁感应强度以及所述预设磁感应强度确定所述待测霍尔元件是否合格。

与现有技术相比，上述霍尔元件检测电路及方法，通过所述电压变换电路将第一电源提供的供电电压转换为第一电压，并将所述第一电压输出至所述第一继电器和所述第二继电器。同时与所述控制电路配合，当所述控制电路输出的控制信号为高电平时，通过所述待测霍尔元件获取所述线圈基于所述第一电压产生的磁场得到第一磁感应强度。而当所述控制信号为低电平时，所述第一继电器和所述第二继电器吸合，同时通过所述待测霍尔元件获取所述线圈基于所述第一电压产生的磁场得到第二磁感应强度，所述控制电路基于所述第一磁感应强度、所述第二磁感应强度以及预设磁感应强度确定所述待测霍尔元件是否合格。本申请采用上述结果不仅可以提高对所述待测霍尔元件检测的可靠性，还能够提高检测效率。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例或传统技术中的技术方案，下面将对实施例或传统技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本申请一实施例提供的霍尔元件检测电路的电路原理图；

图2为本申请一实施例提供的霍尔元件检测电路的电路框图；

图3为本申请一实施例提供的霍尔元件检测电路的电路示意图；

图4为本申请一实施例提供的霍尔元件检测方法的流程图。

附图标记说明：

10 霍尔元件检测电路

100 电压变换电路

101 第一电源

102 第二电源

110 电压变换器

120 电阻

130 保护电路

200 第一继电器

210 第一开关

220 第一线圈

300 线圈

310 待测霍尔元件

400 第二继电器

410 第二开关

420 第二线圈

500 控制电路

600 电压调节电路

具体实施方式

为使本申请的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图对本申请的具体实施方式做详细的说明。在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本申请。但是本申请能够以很多不同于在此描述的其它方式来实施，本领域技术人员可以在不违背本申请内涵的情况下做类似改进，因此本申请不受下面公开的具体实施的限制。

需要说明的是，当元件被称为“固定于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件。当一个元件被认为是“连接”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。

除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本申请的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本申请的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在于限制本申请。本文所使用的术语“及/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。

请参见图1，本申请一实施例提供一种霍尔元件检测电路10，包括：电压变换电路100、第一继电器200、线圈300、第二继电器400和控制电路500。所述电压变换电路100的第一端用于电连接第一电源101。所述电压变换电路100的第二端用于输出第一电压。所述第一继电器200的第一端与所述电压变换电路100的第二端电连接。所述线圈300的第一端与所述第一继电器200的第二端电连接。所述线圈300用于与待测霍尔元件310相邻设置。

所述第二继电器400的第一端与所述电压变换电路100的第二端电连接。所述第二继电器400的第二端与所述线圈300的第二端电连接。所述第二继电器400的第三端与所述第一继电器200的第三端均用于电连接第二电源102。所述控制电路500的第一端与所述第一继电器200的第四端和所述第二继电器400的第四端共接。所述控制电路500用于输出控制信号至所述第一继电器200和所述第二继电器400。所述控制电路500的第二端用于与所述待测霍尔元件310电连接。

当所述控制信号为高电平时，所述第一继电器200和所述第二继电器400不动作，所述待测霍尔元件310获取所述线圈300基于所述第一电压产生的磁场得到第一磁感应强度。当所述控制信号为低电平时，所述第一继电器200和所述第二继电器400吸合，所述待测霍尔元件310获取所述线圈300基于所述第一电压产生的磁场得到第二磁感应强度。所述控制电路500基于所述第一磁感应强度、所述第二磁感应强度以及预设磁感应强度确定所述待测霍尔元件310是否合格。

可以理解，所述电压变换电路100的具体电路结构不限制，只要具有基于所述第一电源101输出所述第一电压的功能即可。在一个实施例中，所述电压变换电路100可以是电压变换器和滤波电容组成。在一个实施例中，所述电压变换电路100也可以是LMR14030芯片、滤波电容和稳压电阻组成。在一个实施例中，所述第一电源101给所述电压变换电路100提供的供电电压范围可为8V-28V。所述电压变换电路100基于所述第一电源101提供的供电电压输出所述第一电压。在一个实施例中，所述第一电压可以是+5V。

在一个实施例中，所述第一继电器200可以为常开型继电器。在一个实施例中，所述第二继电器400可以为常开型继电器。即所述第一继电器200与所述第二继电器400的结构相同。在一个实施例中，所述第二电源102输出的电压可以为+5V。在一个实施例中，所述第二电源102可以为蓄电池。

在一个实施例中，所述线圈300与所述待测霍尔元件310相邻设置是指：所述线圈300与所述待测霍尔元件310之间可以贴合设置。所述线圈300与所述待测霍尔元件310之间也可间隔一定距离设置，只要保证所述待测霍尔元件310能够检测到所述线圈300产生的磁场大小即可。

可以理解，所述控制电路500的具体电路结构不限制，只要能够输出所述控制信号至所述第一继电器200和所述第二继电器400即可。所述控制电路500的具体电路结构，可根据实际需求进行选择。在一个实施例中，所述控制电路500可以是MCU(微控制单元)。在一个实施例中，所述控制电路500也可以是集成控制芯片。

在一个实施例中，当所述控制电路500输出的所述控制信号为高电平时，所述第一继电器200和所述第二继电器400均不动作。即所述第一继电器200和所述第二继电器400处于默认状态。也就是说，此时所述电压变换电路100输出的所述第一电压经所述第二继电器400输入至所述线圈300的第二端。即所述第二继电器400与所述线圈300的第二端之间形成回路。所述线圈300在接受到所述第一电压后，可基于该第一电压产生对应的磁场。假设此时所述线圈300产生正向电流，则此时可通过所述待测霍尔元件310检测所述线圈300产生的磁场大小，得到所述第一磁感应强度。同时所述待测霍尔元件310将所述第一磁感应强度发送至所述控制电路500。

而当所述控制电路500输出的所述控制信号为低电平时，所述第一继电器200和所述第二继电器400均吸合。即所述第二继电器400与所述线圈300的第二端之间形成的回路因所述第二继电器400的吸合动作而断开。与此同时，所述第一继电器200与所述线圈300的第一端之间因所述第一继电器200的吸合而形成回路。即此时所述电压变换电路100输出的所述第一电压经所述第一继电器200输入至所述线圈300的第一端。所述线圈300在接受到所述第一电压后，可基于该第一电压产生对应的磁场。即所述线圈300产生反向电流。则此时可通过所述待测霍尔元件310检测所述线圈300产生的磁场大小，得到所述第二磁感应强度。同时所述待测霍尔元件310将所述第二磁感应强度发送至所述控制电路500。在一个实施例中，所述第一磁感应强度与所述第二磁感应强度大小相同、方向相反。

所述控制电路500在获取到所述第一磁感应强度和所述第二磁感应强度后，可将所述第一磁感应强度和所述第二磁感应强度分别与所述预设磁感应强度进行比较，得到比较结果。若所述比较结果为所述第一磁感应强度和所述第二磁感应强度均与所述预设磁感应强度相同，或者所述比较结果为所述第一磁感应强度和所述第二磁感应强度均与所述预设磁感应强度存在一定误差，且该误差在预设误差范围内，则确定所述待测霍尔元件310是合格的。

若所述比较结果为所述第一磁感应强度和所述第二磁感应强度均与所述预设磁感应强度存在一定误差，且该误差未在所述预设误差范围内，则确定所述待测霍尔元件310是不合格的。即确定所述测霍尔元件310存在故障。在一个实施例中，所述预设磁感应强度可基于所述测霍尔元件310在出厂时的各个参数设定。在一个实施例中，所述一定误差可根据实际需求进行设定。例如，所述一定误差可为所述预设磁感应强度的千分之一。

由上述内容可知，通过所述控制电路500分别与所述第一继电器200和所述第二继电器400配合，可改变所述线圈310产生的电流方向，从而改变对应磁场的方向。同时通过所述待测霍尔元件310分别对所述线圈310产生的正反磁场进行测量，使得所述控制电路500基于所述第一磁感应强度、所述第二磁感应强度以及所述预设磁感应强度确定所述待测霍尔元件310是否合格，进而提高对所述待测霍尔元件310检测的可靠性。

本实施例中，通过所述电压变换电路100将第一电源101提供的供电电压转换为第一电压，并将所述第一电压输出至所述第一继电器200和所述第二继电器400。同时与所述控制电路500配合，当所述控制电路500输出的控制信号为高电平时，通过所述待测霍尔元件310获取所述线圈300基于所述第一电压产生的磁场得到第一磁感应强度。而当所述控制信号为低电平时，所述第一继电器200和所述第二继电器400吸合，同时通过所述待测霍尔元件310获取所述线圈300基于所述第一电压产生的磁场得到第二磁感应强度，所述控制电路500基于所述第一磁感应强度、所述第二磁感应强度以及预设磁感应强度确定所述待测霍尔元件310是否合格，从而可以提高对所述待测霍尔元件310检测的可靠性，还能够提高检测效率。

请参见图2，在一个实施例中，所述的霍尔元件检测电路10还包括：电压调节电路600。所述电压调节电路600的第一端与所述电压变换电路100的第三端电连接。所述电压调节电路600的第二端与所述控制电路500的第三端电连接。所述控制电路500通过所述电压调节电路600调节所述第一电压，以改变所述线圈300基于所述第一电压产生的磁场大小。

在一个实施例中，所述电压调节电路600的具体电路拓扑不限制，只有具有调节所述第一电压，以改变所述线圈300基于所述第一电压产生的磁场大小的功能即可。在一个实施例中，所述电压调节电路600可以为电压调节器。在一个实施例中，所述电压调节电路600也可以为TPL0102芯片。所述控制电路500可通过所述电压调节电路600对所述电压变换电路100输出的所述第一电压进行调节，从而改变所述线圈300内流过的电流，进而可实现改变所述线圈300产生的磁场大小。由此即可确定所述待测霍尔元件310检测不同磁场大小时的可靠性。

请参见图3，在一个实施例中，所述电压变换电路100包括：电压变换器110和电阻120。所述电压变换器110的第一端用于电连接所述第一电源101。所述电阻120的第一端与所述电压调节电路600的第一端和所述电压变换器110的第二端共接。所述电阻120的第二端与所述电压变换器110的第三端、所述第一继电器200的第一端和所述第二继电器400的第一端共接。在一个实施例中，所述电阻120为固定阻值的电阻。为保证所述第一电压的输出精度，所述电阻120可为高精度电阻。

在一个实施例中，所述控制电路500通过所述电压调节电路600可调节所述电压变换器110输出的所述第一电压。具体的，所述第一电压的计算公式如下：

其中，为R_FET为所述电阻120的阻值。V_OUT为所述第一电压。R_FBB为所述电压调节电路600的等效电阻。由上述公式可知，所述控制电路500通过所述电压调节电路600即可对所述第一电压进行调节。即所述电压调节电路600可以等效为滑动变阻器，改变该滑动变阻器对应的阻值即可改变所述第一电压的大小。

在一个实施例中，所述电压变换电路100还包括：保护电路130。所述保护电路130的第一端与所述电压变换器110的第三端电连接。所述保护电路130的第二端与所述电阻120的第二端电连接。所述保护电路130的第三端接地。在一个实施例中，所述保护电路130可由电感、电容以及二极管组成(如图3所示)。该二极管D1为续流二极管，其额定整流电流大于或等于5A、导通电压小于0.5V，从而可减少该二极管D1的发热量。所述电压变换电路100通过设置所述保护电路130，可保证所述第一电压输出的稳定性。

在一个实施例中，所述电压变换电路100还包括：多个滤波电容(C1、C2、C3以及C4)。所述电压变换电路100通过多个滤波电容可对所述第一电源101提供的供电电压进行滤波处理，从而降低干扰。在一个实施例中，所述电压变换电路100还包括：使能电阻R2。即所述电压变换电路100内的使能引脚通过所述使能电阻R2接地。

在一个实施例中，所述第一继电器200包括：第一开关210和第一线圈220。所述第一开关210的第一端与所述电压变换电路100的第二端电连接。所述第一开关210的第二端与所述线圈300的第一端电连接。所述第一开关210的第三端接地。所述第一线圈220的第一端用于电连接所述第二电源102，所述第一线圈220的第二端与所述控制电路500的第一端电连接。用于接收所述控制信号。当所述控制信号为高电平时，所述第一开关210不动作。当所述控制信号为低电平时，所述第一线圈220控制所述第一开关210切换，以使所述电压变换电路100与所述线圈300的第一端之间形成回路。

在一个实施例中，所述第一开关210的第一端即为所述第一开关210的常开触点。所述第一开关210的第二端即为所述第一开关210的公共端。所述第一开关210的第三端即为所述第一开关210的常闭触点。在一个实施例中，当所述第一线圈220的第二端接收的所述控制信号为高电平时，所述第一线圈220未对所述第一开关210进行触发。即此时所述第一开关210处于默认状态(公共端与常闭触点电连接)。

而当第一线圈220的第二端接收的所述控制信号为低电平时，所述第一线圈220对所述第一开关210进行触发。即所述第一开关210的公共端由常闭触点切换至常开触点，使得所述电压变换电路100与所述线圈300的第一端之间形成回路，从而使得所述线圈300产生对应的磁场，以便于对所述待测霍尔元件310的可靠性进行检测。

在一个实施例中，所述第二继电器400包括：第二开关410和第二线圈420。所述第二开关410的第一端与所述电压变换电路100的第二端电连接。所述第二开关410的第二端与所述线圈300的第二端电连接。所述第二开关410的第三端接地。所述第二线圈420的第一端用于电连接所述第二电源102。所述第二线圈420的第二端与所述控制电路500的第一端电连接。所述第二线圈420用于接收所述控制信号。当所述控制信号为高电平时，所述第二开关410不动作，以使所述电压变换电路100与所述线圈300的第二端之间形成回路。当所述控制信号为低电平时，所述第二线圈420控制所述第二开关410切换，以断开所述电压变换电路100与所述线圈300的第二端之间的回路。

在一个实施例中，所述第二开关410的第一端即为所述第二开关410的常闭触点。所述第二开关410的第二端即为所述第二开关410的公共端。所述第二开关410的第三端即为所述第二开关410的常开触点。在一个实施例中，当所述第二线圈420的第二端接收的所述控制信号为高电平时，所述第二线圈420未对所述第二开关410进行触发。即此时所述第二开关410处于默认状态(公共端与常闭触点电连接)。此时所述电压变换电路100与所述线圈300的第二端之间形成回路。即所述线圈300可基于所述第一电压产生对应的磁场，以便于对所述待测霍尔元件310的可靠性进行检测。

而当所述第二线圈420的第二端接收的所述控制信号为低电平时，所述第二线圈420对所述第二开关410进行触发。即所述第二开关410的公共端由常闭触点切换至常开触点，使得所述电压变换电路100与所述线圈300的第二端之间形成的回路断开。此时所述线圈300的第一端与所述电压变换电路100之间因所述第一开关210的动作而形成回路。由上述内容可知，所述控制电路500通过所述第一继电器200和所述第二继电器400配合，可改变所述线圈310产生的电流方向，从而改变对应磁场的方向。

请参见图4，本申请一实施例提供一种霍尔元件检测方法，应用于上述任一项实施例所述的霍尔元件检测电路10。所述方法包括：

S102：当所述控制信号为高电平时，通过所述待测霍尔元件310获取所述线圈300基于所述第一电压产生的磁场，得到所述第一磁感应强度。

在一个实施例中，当所述控制电路500输出的所述控制信号为高电平时，所述控制电路500可通过所述待测霍尔元件310获取所述线圈300基于所述第一电压产生的磁场，得到所述第一磁感应强度。具体的，所述控制电路500的具体电路拓扑可采用上述实施例所述的电路拓扑，此处不再赘述。

在一个实施例中，当控制信号为高电平时，所述第一继电器200和所述第二继电器400处于默认状态。也就是说，此时所述电压变换电路100输出的所述第一电压经所述第二继电器400输入至所述线圈300的第二端。即所述第二继电器400与所述线圈300的第二端之间形成回路。假设所述线圈300产生正向电流，则此时可通过所述待测霍尔元件310检测所述线圈300产生的磁场大小，得到所述第一磁感应强度。

S104：当所述控制信号为低电平时，控制所述第一继电器200和所述第二继电器400吸合，并通过所述待测霍尔元件310获取所述线圈300基于所述第一电压产生的磁场得到所述第二磁感应强度。

在一个实施例中，当所述控制电路500输出的所述控制信号为低电平时，所述第一继电器200和所述第二继电器400均吸合，并通过所述待测霍尔元件310获取所述线圈300基于所述第一电压产生的磁场得到所述第二磁感应强度。即所述第二继电器400与所述线圈300的第二端之间形成的回路因所述第二继电器400的吸合动作而断开。

与此同时，所述第一继电器200与所述线圈300的第一端之间因所述第一继电器200的吸合而形成回路。即此时所述电压变换电路100输出的所述第一电压经所述第一继电器200输入至所述线圈300的第一端。所述线圈300在接受到所述第一电压后，可基于该第一电压产生对应的磁场。即所述线圈300产生反向电流，则此时所述控制电路500。可通过所述待测霍尔元件310检测所述线圈300产生的磁场大小，得到所述第二磁感应强度。在一个实施例中，所述第一磁感应强度与所述第二磁感应强度大小相同、方向相反。

S106：基于所述第一磁感应强度、所述第二磁感应强度以及所述预设磁感应强度确定所述待测霍尔元件310是否合格。

在一个实施例中，可通过所述控制电路500基于所述第一磁感应强度、所述第二磁感应强度以及所述预设磁感应强度确定所述待测霍尔元件310是否合格。具体的，所述控制电路500可将所述第一磁感应强度和所述第二磁感应强度分别与所述预设磁感应强度进行比较，得到比较结果。

若所述比较结果为所述第一磁感应强度和所述第二磁感应强度均与所述预设磁感应强度相同，或者所述比较结果为所述第一磁感应强度和所述第二磁感应强度均与所述预设磁感应强度存在一定误差，且该误差在预设误差范围内，则确定所述待测霍尔元件310是合格的。若所述比较结果为所述第一磁感应强度和所述第二磁感应强度均与所述预设磁感应强度存在一定误差，且该误差未在所述预设误差范围内，则确定所述待测霍尔元件310是不合格的。即确定所述测霍尔元件310存在故障。

由上述内容可知，本实施中所述的检测方法，通过所述控制电路500分别与所述第一继电器200和所述第二继电器400配合，可改变所述线圈310产生的电流方向，从而改变对应磁场的方向。同时通过所述待测霍尔元件310分别对所述线圈310产生的正反磁场进行测量，使得所述控制电路500基于所述第一磁感应强度、所述第二磁感应强度以及所述预设磁感应强度确定所述待测霍尔元件310是否合格，进而提高对所述待测霍尔元件310检测的可靠性，以及检测效率。

综上所述，本申请通过所述电压变换电路100将第一电源101提供的供电电压转换为第一电压，并将所述第一电压输出至所述第一继电器200和所述第二继电器400。同时与所述控制电路500配合，当所述控制电路500输出的控制信号为高电平时，通过所述待测霍尔元件310获取所述线圈300基于所述第一电压产生的磁场得到第一磁感应强度。而当所述控制信号为低电平时，所述第一继电器200和所述第二继电器400吸合，同时通过所述待测霍尔元件310获取所述线圈300基于所述第一电压产生的磁场得到第二磁感应强度，所述控制电路500基于所述第一磁感应强度、所述第二磁感应强度以及预设磁感应强度确定所述待测霍尔元件310是否合格。从而可以提高对所述待测霍尔元件310检测的可靠性，以及提高检测效率。

以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。

以上所述实施例仅表达了本申请的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本申请构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本申请的保护范围。因此，本申请专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (10)

1.一种霍尔元件检测电路，其特征在于，包括：

电压变换电路(100)，所述电压变换电路(100)的第一端用于电连接第一电源(101)，所述电压变换电路(100)的第二端用于输出第一电压；

第一继电器(200)，所述第一继电器(200)的第一端与所述电压变换电路(100)的第二端电连接；

线圈(300)，所述线圈(300)的第一端与所述第一继电器(200)的第二端电连接，所述线圈(300)用于与待测霍尔元件(310)相邻设置；

第二继电器(400)，所述第二继电器(400)的第一端与所述电压变换电路(100)的第二端电连接，所述第二继电器(400)的第二端与所述线圈(300)的第二端电连接，所述第二继电器(400)的第三端与所述第一继电器(200)的第三端均用于电连接第二电源(102)；以及

控制电路(500)，所述控制电路(500)的第一端与所述第一继电器(200)的第四端和所述第二继电器(400)的第四端共接，用于输出控制信号至所述第一继电器(200)和所述第二继电器(400)，所述控制电路(500)的第二端用于与所述待测霍尔元件(310)电连接；

当所述控制信号为高电平时，所述第一继电器(200)和所述第二继电器(400)不动作，所述待测霍尔元件(310)获取所述线圈(300)基于所述第一电压产生的磁场得到第一磁感应强度，当所述控制信号为低电平时，所述第一继电器(200)和所述第二继电器(400)吸合，所述待测霍尔元件(310)获取所述线圈(300)基于所述第一电压产生的磁场得到第二磁感应强度，所述控制电路(500)基于所述第一磁感应强度、所述第二磁感应强度以及预设磁感应强度确定所述待测霍尔元件(310)是否合格。

2.如权利要求1所述的霍尔元件检测电路，其特征在于，所述控制电路(500)用于将所述第一磁感应强度和所述第二磁感应强度分别与所述预设磁感应强度比较；

若所述第一磁感应强度和所述第二磁感应强度均与所述预设磁感应强度相同，则确定所述待测霍尔元件(310)合格；

若所述第一磁感应强度和所述第二磁感应强度均与所述预设磁感应强度不相同，则确定所述待测霍尔元件(310)不合格。

3.如权利要求2所述的霍尔元件检测电路，其特征在于，所述第一磁感应强度与所述第二磁感应强度大小相同、方向相反。

4.如权利要求1所述的霍尔元件检测电路，其特征在于，还包括：

电压调节电路(600)，所述电压调节电路(600)的第一端与所述电压变换电路(100)的第三端电连接，所述电压调节电路(600)的第二端与所述控制电路(500)的第三端电连接，所述控制电路(500)通过所述电压调节电路(600)调节所述第一电压，以改变所述线圈(300)基于所述第一电压产生的磁场大小。

5.如权利要求4所述的霍尔元件检测电路，其特征在于，所述电压变换电路(100)包括：

电压变换器(110)，所述电压变换器(110)的第一端用于电连接所述第一电源(101)；以及

电阻(120)，所述电阻(120)的第一端与所述电压调节电路(600)的第一端和所述电压变换器(110)的第二端共接，所述电阻(120)的第二端与所述电压变换器(110)的第三端、所述第一继电器(200)的第一端和所述第二继电器(400)的第一端共接。

6.如权利要求5所述的霍尔元件检测电路，其特征在于，所述电压变换电路(100)还包括：

保护电路(130)，所述保护电路(130)的第一端与所述电压变换器(110)的第三端电连接，所述保护电路(130)的第二端与所述电阻(120)的第二端电连接，所述保护电路(130)的第三端接地。

7.如权利要求1-6任一项所述的霍尔元件检测电路，其特征在于，所述第一继电器(200)和所述第二继电器(400)均为常开型继电器。

8.如权利要求7所述的霍尔元件检测电路，其特征在于，所述第一继电器(200)包括：

第一开关(210)，所述第一开关(210)的第一端与所述电压变换电路(100)的第二端电连接，所述第一开关(210)的第二端与所述线圈(300)的第一端电连接，所述第一开关(210)的第三端接地；以及

第一线圈(220)，所述第一线圈(220)的第一端用于电连接所述第二电源(102)，所述第一线圈(220)的第二端与所述控制电路(500)的第一端电连接，用于接收所述控制信号；

当所述控制信号为高电平时，所述第一开关(210)不动作，当所述控制信号为低电平时，所述第一线圈(220)控制所述第一开关(210)切换，以使所述电压变换电路(100)与所述线圈(300)的第一端之间形成回路。

9.如权利要求7所述的霍尔元件检测电路，其特征在于，所述第二继电器(400)包括：

第二开关(410)，所述第二开关(410)的第一端与所述电压变换电路(100)的第二端电连接，所述第二开关(410)的第二端与所述线圈(300)的第二端电连接，所述第二开关(410)的第三端接地；以及

第二线圈(420)，所述第二线圈(420)的第一端用于电连接所述第二电源(102)，所述第二线圈(420)的第二端与所述控制电路(500)的第一端电连接，用于接收所述控制信号；

当所述控制信号为高电平时，所述第二开关(410)不动作，以使所述电压变换电路(100)与所述线圈(300)的第二端之间形成回路，当所述控制信号为低电平时，所述第二线圈(420)控制所述第二开关(410)切换，以断开所述电压变换电路(100)与所述线圈(300)的第二端之间的回路。

10.一种霍尔元件检测方法，其特征在于，应用于如权利要求1-6任一项所述的霍尔元件检测电路(10)，所述方法包括：

当所述控制信号为高电平时，通过所述待测霍尔元件(310)获取所述线圈(300)基于所述第一电压产生的磁场，得到所述第一磁感应强度；

当所述控制信号为低电平时，控制所述第一继电器(200)和所述第二继电器(400)吸合，并通过所述待测霍尔元件(310)获取所述线圈(300)基于所述第一电压产生的磁场得到所述第二磁感应强度；

基于所述第一磁感应强度、所述第二磁感应强度以及所述预设磁感应强度确定所述待测霍尔元件(310)是否合格。

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