CN111349964A - 一种单晶面积占比大、位错密度低的铸造单晶硅制备方法 - Google Patents
一种单晶面积占比大、位错密度低的铸造单晶硅制备方法 Download PDFInfo
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Abstract
本发明公开了一种单晶面积占比大、位错密度低的铸造单晶硅制备方法,籽晶拼接缝理想状态下,位错源产生的概率较小;实际操作中存在一定的误差,籽晶的拼接缝放大后观察无法形成绝对的“十字型”,相同籽晶连接在一起无法形成晶界,从而产生位错源;方法包括以下步骤:S1,直拉单晶棒截掉头尾后得到直拉单晶圆棒,沿不同旋转角度去除边皮得到无圆角的单晶方棒,加工得到0°籽晶、11.5°籽晶、23°籽晶、34.5°籽晶;S2,将四种籽晶依次铺设在坩埚底部,形成完整的籽晶层,每块籽晶的八个方向不与同种籽晶相连;S3,在所述籽晶层上放置原生多晶硅料和头尾边等循环料;S4,将所述装满多晶硅料的坩埚放入铸锭炉中,采用半融工艺得到铸造单晶硅锭。
Description
技术领域
本发明涉及光伏制造技术领域,尤其涉及一种单晶面积占比大、位错密度低的铸造单晶硅制备方法。
背景技术
目前生产铸造单晶的一般步骤为:在坩埚底部铺设一层单晶籽晶,在单晶籽晶上面装正常铸锭的头料、尾料、边皮和原生多晶硅料,采用半融工艺得到铸造单晶。其中籽晶层铺设至关重要,常规方法中籽晶分为两种,籽晶A:上表面为(100)晶向,单晶圆棒开方时与棱线夹角成A°,如图1所示;籽晶B:上表面为(100)晶向,单晶圆棒开方时与棱线夹角成B°,如图2所示,其中A与B大小不相等,籽晶A和籽晶B交替铺设在坩埚底部,形成籽晶层,如图3所示。肉眼观察到相邻四个籽晶形成“十字型”拼接缝,籽晶拼接缝理想状态下是绝对的“十字型”,如图4所示,在理想状态下,位错源产生的概率较小;但是在实际操作中存在一定的误差,籽晶的拼接缝放大后观察无法形成绝对的“十字型”,存在一种A籽晶与A籽晶连接在一起的情况,相同籽晶连接在一起无法形成晶界,从而产生位错源,如图5所示;另一种情况是B籽晶与B籽晶连接在一起,相同籽晶连接在一起无法形成晶界,从而产生位错源,如图6所示,位错源在后期长晶过程中会大量增殖,影响铸造单晶的晶体质量。铸造单晶的单晶面积也是考量铸造单晶质量的重要指标,在实际生产中经常会在晶界处产生生长面为非(100)晶向的晶粒,严重影响了铸造单晶的推广。
为了解决上述问题,本法明提供了一种铸造单晶的制备方法,采用本发明后,生产的铸造单晶硅片单晶面积占比大、位错密度低。
发明内容
本发明的目的是:提供一种单晶面积占比大、位错密度低的铸造单晶硅制备方法,包括以下步骤:
S1:直拉单晶棒截掉头尾后得到直拉单晶圆棒,如图7所示,四个小圆圈代表棱线,四条棱线连接成正方形,沿着此正方形去除边皮得到无圆角的单晶方棒,将单晶方棒沿垂直于晶体生长的方向截断成一定厚度的0°籽晶。
S2:直拉单晶棒截掉头尾后得到直拉单晶圆棒,如图8所示,四个小圆圈代表棱线,将四条棱线连接成的正方形顺时针方向旋转11.5°,沿着旋转11.5°后的正方形去除边皮得到无圆角的单晶方棒,将单晶方棒沿垂直于晶体生长的方向截断成一定厚度的11.5°籽晶。
S3:直拉单晶棒截掉头尾后得到直拉单晶圆棒,如图9所示,四个小圆圈代表棱线,将四条棱线连接成的正方形顺时针方向旋转23°,沿着旋转23°后的正方形去除边皮得到无圆角的单晶方棒,将单晶方棒沿垂直于晶体生长的方向截断成一定厚度的23°籽晶。
S4:直拉单晶棒截掉头尾后得到直拉单晶圆棒,如图10所示,四个小圆圈代表棱线,将四条棱线连接成的正方形顺时针方向旋转34.5°,沿着旋转34.5°后的正方形去除边皮得到无圆角的单晶方棒,将单晶方棒沿垂直于晶体生长的方向截断成一定厚度的34.5°籽晶。
S5:将0°籽晶、11.5°籽晶、23°籽晶、34.5°籽晶依次铺设在坩埚底部,每块籽晶的上、下、左、右、左上、左下、右上、右下八个方向不与同种籽晶相连,直到把坩埚底部铺满,形成完整的籽晶铺设层,如图11所示。
S6:在所述籽晶铺设层上放置原生硅料和回收硅料,如图12所示。
S7:将所述装满多晶硅料的坩埚放入铸锭炉中,采用半融工艺得到铸造单晶硅锭。
本发明具有以下有益效果:
如图13所示,0°籽晶、11.5°籽晶、23°籽晶、34.5°籽晶形成了理想的“十字型”拼接缝,相邻籽晶的侧面之间的都存在11.5°的角度差,可以形成理想的晶界,阻止了位错源的产生;但是在实际生产过程中无法形成绝对的“十字型”拼接缝,将拼接缝放大后观察就存在如图14所示的非“十字型”拼接缝,因0°籽晶和11.5°籽晶的侧面存在11.5°的角度差,11.5°籽晶和23°籽晶的侧面存在11.5°的角度差,23°籽晶和34.5°籽晶的侧面存在11.5°的角度差,11.5°籽晶和34.5°籽晶的侧面存在23°的角度差,所以即使拼接缝不是理想的“十字型”拼接缝也可以形成理想的晶界,从而阻止了位错源的产生;将拼接缝放大后观察还存在如图15所示的非“十字型”拼接缝,因0°籽晶和11.5°籽晶的侧面存在11.5°的角度差,11.5°籽晶和34.5°籽晶的侧面存在23°的角度差,23°籽晶和34.5°籽晶的侧面存在11.5°的角度差,0°籽晶和34.5°籽晶的侧面存在34.5°的角度差,所以即使拼接缝不是理想的“十字型”拼接缝也可以形成理想的晶界,从而阻止了位错源的产生;
1)受晶界的宽度和晶界能量等因素的影响,当长晶方向为(100)晶向时,侧面晶向角度差为11.5°、23°、34.5°时,无论是“十字型”籽晶拼接缝还是“一字型”籽晶拼接缝,在长晶过程中产生位错源的概率低于10%,有效保证了铸造单晶的晶体质量;
2)受晶界的宽度和晶界能量等因素的影响,当长晶方向为(100)晶向时,侧面晶向角度差为11.5°、23°、34.5°时,无论是“十字型”籽晶拼接缝还是“一字型”籽晶拼接缝,长晶过程在晶界处产生非(100)晶向晶粒的概率很小,有效保证了铸造单晶的单晶面积。
附图说明
图1为常规铸造单晶的籽晶A示意图;
图2为常规铸造单晶的籽晶B示意图;
图3为常规铸造单晶的籽晶铺设示意图;
图4为常规铸造单晶的籽晶理想拼接缝;
图5为常规铸造单晶的籽晶实际第一拼接缝1;
图6为常规铸造单晶的籽晶实际第二拼接缝2;
图7为0°籽晶示意图;
图8为11.5°籽晶示意图;
图9为23°籽晶示意图;
图10为34.5°示意图;
图11为优化后的籽晶铺设示意图;
图12为装料示意图;
图13为籽晶理想拼接缝a示意图;
图14为籽晶实际第一拼接缝示意图1;
图15为籽晶实际第二拼接缝示意图2;
图16为常规方法生产的铸造单晶硅片1;
图17为常规方法生产的铸造单晶硅片2;
图18为利用本发明生产的铸造单晶硅片。
附图标记:回收硅料 1、原生硅料 2、籽晶铺设层 3、坩埚 4、常规单晶理想拼接缝11、常规单晶实际第一拼接缝 12、常规单晶实际第二拼接缝 13、理想拼接缝 21、实际第一拼接缝 22、实际第二拼接缝 23。
具体实施方式
实施例1
参照图7-图12,为了清楚的看清籽晶的铺设方法,以G6铸造单晶硅锭为例,但是本发明提供的籽晶铺设方法同样适用于G5、G6、G7、G8铸造单晶硅锭,提供一种单晶面积占比大、位错密度低的铸造单晶硅制备方法,包括以下步骤:
S1直拉单晶棒截掉头尾后得到直拉单晶圆棒,如图7所示,四个小圆圈代表棱线,四条棱线连接成正方形,沿着此正方形去除边皮得到无圆角的单晶方棒,将单晶方棒沿垂直于晶体生长的方向截断成0°籽晶,尺寸厚度为158mm×158mm×10mm。
S2直拉单晶棒截掉头尾后得到直拉单晶圆棒,如图8所示,四个小圆圈代表棱线,将四条棱线连接成的正方形顺时针方向旋转11.5°,沿着旋转11.5°后的正方形去除边皮得到无圆角的单晶方棒,将单晶方棒沿垂直于晶体生长的方向截断成11.5°籽晶,尺寸厚度为158mm×158mm×10mm。
S3直拉单晶棒截掉头尾后得到直拉单晶圆棒,如图9所示,四个小圆圈代表棱线,将四条棱线连接成的正方形顺时针方向旋转23°,沿着旋转23°后的正方形去除边皮得到无圆角的单晶方棒,将单晶方棒沿垂直于晶体生长的方向截断成23°籽晶,尺寸厚度为158mm×158mm×10mm。
S4直拉单晶棒截掉头尾后得到直拉单晶圆棒,如图10所示,四个小圆圈代表棱线,将四条棱线连接成的正方形顺时针方向旋转34.5°,沿着旋转34.5°后的正方形去除边皮得到无圆角的单晶方棒,将单晶方棒沿垂直于晶体生长的方向截断成34.5°籽晶,尺寸厚度为158mm×158mm×10mm。
S5从坩埚4左上角位置开始铺设籽晶,第一横排依次是0°籽晶、11.5°籽晶、23°籽晶、34.5°籽晶、0°籽晶、11.5°籽晶;第二横排依次是23°籽晶、34.5°籽晶、0°籽晶、11.5°籽晶、23°籽晶、34.5°籽晶;第三横排依次是0°籽晶、11.5°籽晶、23°籽晶、34.5°籽晶、0°籽晶、11.5°籽晶;第四横排依次是23°籽晶、34.5°籽晶、0°籽晶、11.5°籽晶、23°籽晶、34.5°籽晶;第五横排依次是0°籽晶、11.5°籽晶、23°籽晶、34.5°籽晶、0°籽晶、11.5°籽晶;第六横排依次是23°籽晶、34.5°籽晶、0°籽晶、11.5°籽晶、23°籽晶、34.5°籽晶,共36块籽晶铺设在坩埚底部形成完整的籽晶铺设层3,如图11所示。
S6在所述籽晶铺设层3上放置原生硅料2和回收硅料1,如图12所示。
S7将所述装满多晶硅料的坩埚4放入铸锭炉中,采用半融工艺得到铸造单晶硅锭。
实施例2
参照图7-图12,为了清楚的看清籽晶的铺设方法,以G6铸造单晶硅锭为例,但是本发明提供的籽晶铺设方法同样适用于G5、G6、G7、G8铸造单晶硅锭,提供一种单晶面积占比大、位错密度低的铸造单晶硅制备方法,包括以下步骤:
S1直拉单晶棒截掉头尾后得到直拉单晶圆棒,如图7所示,四个小圆圈代表棱线,四条棱线连接成正方形,沿着此正方形去除边皮得到无圆角的单晶方棒,将单晶方棒沿垂直于晶体生长的方向截断成0°籽晶,尺寸为158mm×158mm×20mm。
S2直拉单晶棒截掉头尾后得到直拉单晶圆棒,如图8所示,四个小圆圈代表棱线,将四条棱线连接成的正方形顺时针方向旋转11.5°,沿着旋转11.5°后的正方形去除边皮得到无圆角的单晶方棒,将单晶方棒沿垂直于晶体生长的方向截断成11.5°籽晶,尺寸为158mm×158mm×20mm。
S3直拉单晶棒截掉头尾后得到直拉单晶圆棒,如图9所示,四个小圆圈代表棱线,将四条棱线连接成的正方形顺时针方向旋转23°,沿着旋转23°后的正方形去除边皮得到无圆角的单晶方棒,将单晶方棒沿垂直于晶体生长的方向截断成23°籽晶,尺寸为158mm×158mm×20mm。
S4直拉单晶棒截掉头尾后得到直拉单晶圆棒,如图10所示,四个小圆圈代表棱线,将四条棱线连接成的正方形顺时针方向旋转34.5°,沿着旋转34.5°后的正方形去除边皮得到无圆角的单晶方棒,将单晶方棒沿垂直于晶体生长的方向截断成34.5°籽晶,尺寸为158mm×158mm×20mm。
S5从坩埚4左上角位置开始铺设籽晶,第一横排依次是0°籽晶、11.5°籽晶、23°籽晶、34.5°籽晶、0°籽晶、11.5°籽晶;第二横排依次是23°籽晶、34.5°籽晶、0°籽晶、11.5°籽晶、23°籽晶、34.5°籽晶;第三横排依次是0°籽晶、11.5°籽晶、23°籽晶、34.5°籽晶、0°籽晶、11.5°籽晶;第四横排依次是23°籽晶、34.5°籽晶、0°籽晶、11.5°籽晶、23°籽晶、34.5°籽晶;第五横排依次是0°籽晶、11.5°籽晶、23°籽晶、34.5°籽晶、0°籽晶、11.5°籽晶;第六横排依次是23°籽晶、34.5°籽晶、0°籽晶、11.5°籽晶、23°籽晶、34.5°籽晶,共36块籽晶铺设在坩埚底部形成完整的籽晶铺设层3,如图11所示。
S6在所述籽晶铺设层3上放置原生硅料2和回收硅料1,如图12所示。
S7将所述装满多晶硅料的坩埚放入铸锭炉中,采用半融工艺得到铸造单晶硅锭。
实施例3
参照图7-图12,为了清楚的看清籽晶的铺设方法,以G6铸造单晶硅锭为例,但是本发明提供的籽晶铺设方法同样适用于G5、G6、G7、G8铸造单晶硅锭,提供一种单晶面积占比大、位错密度低的铸造单晶硅制备方法,包括以下步骤:
S1直拉单晶棒截掉头尾后得到直拉单晶圆棒,如图7所示,四个小圆圈代表棱线,四条棱线连接成正方形,沿着此正方形去除边皮得到无圆角的单晶方棒,将单晶方棒沿垂直于晶体生长的方向截断成0°籽晶,尺寸为158mm×158mm×30mm。
S2直拉单晶棒截掉头尾后得到直拉单晶圆棒,如图8所示,四个小圆圈代表棱线,将四条棱线连接成的正方形顺时针方向旋转11.5°,沿着旋转11.5°后的正方形去除边皮得到无圆角的单晶方棒,将单晶方棒沿垂直于晶体生长的方向截断成11.5°籽晶,尺寸为158mm×158mm×30mm。
S3直拉单晶棒截掉头尾后得到直拉单晶圆棒,如图9所示,四个小圆圈代表棱线,将四条棱线连接成的正方形顺时针方向旋转23°,沿着旋转23°后的正方形去除边皮得到无圆角的单晶方棒,将单晶方棒沿垂直于晶体生长的方向截断成23°籽晶,尺寸为158mm×158mm×30mm。
S4直拉单晶棒截掉头尾后得到直拉单晶圆棒,如图10所示,四个小圆圈代表棱线,将四条棱线连接成的正方形顺时针方向旋转34.5°,沿着旋转34.5°后的正方形去除边皮得到无圆角的单晶方棒,将单晶方棒沿垂直于晶体生长的方向截断成34.5°籽晶,尺寸为158mm×158mm×30mm。
S5从坩埚4左上角位置开始铺设籽晶,第一横排依次是0°籽晶、11.5°籽晶、23°籽晶、34.5°籽晶、0°籽晶、11.5°籽晶;第二横排依次是23°籽晶、34.5°籽晶、0°籽晶、11.5°籽晶、23°籽晶、34.5°籽晶;第三横排依次是0°籽晶、11.5°籽晶、23°籽晶、34.5°籽晶、0°籽晶、11.5°籽晶;第四横排依次是23°籽晶、34.5°籽晶、0°籽晶、11.5°籽晶、23°籽晶、34.5°籽晶;第五横排依次是0°籽晶、11.5°籽晶、23°籽晶、34.5°籽晶、0°籽晶、11.5°籽晶;第六横排依次是23°籽晶、34.5°籽晶、0°籽晶、11.5°籽晶、23°籽晶、34.5°籽晶,共36块籽晶铺设在坩埚底部形成完整的籽晶铺设层,如图11所示。
S6在所述籽晶铺设层3上放置原生硅料2和回收硅料1,如图12所示。
S7将所述装满多晶硅料的坩埚4放入铸锭炉中,采用半融工艺得到铸造单晶硅锭。
如图16所示为常规方法生产的铸造单晶硅片1,因籽晶拼接时不能形成绝对的“十字型”拼接缝,导致同种籽晶连接在一起不能形成理想的晶界,在“十字型”拼接缝处产生位错源,位错源在后续长晶过程中会大量增殖,严重影响了铸造单晶的晶体质量;如图17所示为常规方法生产的铸造单晶硅片2,受晶界的宽度和晶界能量等因素的影响,长晶方向为(100)晶向时,因侧面晶向角度差设置不合理而导致在长晶过程在晶界处产生非(100)晶向孪晶,如图17左上角白色长条所示;如图18所示为采用本发明生产的铸造单晶硅片,因每块籽晶的上、下、左、右、左上、左下、右上、右下八个方向不与同种籽晶相连,即使籽晶之间不能形成绝对的“十字型”拼接缝,也可以形成理想的晶界,较少了位错源的产生,同时受晶界宽度和晶界能量等因素的影响,当晶界的夹角为11.5°、23°、34.5°时,在“十字型”拼接缝和“一字型”拼接缝处产生位错源和非(100)晶向晶粒的概率很小,保证了铸造单晶的晶体质量和铸造单晶的单晶面积。
Claims (4)
1.一种单晶面积占比大、位错密度低的铸造单晶硅制备方法,其特征在于包括以下步骤:
S1:直拉单晶棒截掉头尾后得到直拉单晶圆棒,四条棱线连接成正方形,沿着此正方形去除边皮得到无圆角的单晶方棒,将单晶方棒沿垂直于晶体生长的方向截断成块状0°籽晶;
S2:直拉单晶棒截掉头尾后得到直拉单晶圆棒,将四条棱线连接成的正方形顺时针方向旋转11.5°,沿着旋转11.5°后的正方形去除边皮得到无圆角的单晶方棒,将单晶方棒沿垂直于晶体生长的方向截断成块状11.5°籽晶;
S3:直拉单晶棒截掉头尾后得到直拉单晶圆棒,将四条棱线连接成的正方形顺时针方向旋转23°,沿着旋转23°后的正方形去除边皮得到无圆角的单晶方棒,将单晶方棒沿垂直于晶体生长的方向截断成块状23°籽晶;
S4:直拉单晶棒截掉头尾后得到直拉单晶圆棒,将四条棱线连接成的正方形顺时针方向旋转34.5°,沿着旋转34.5°后的正方形去除边皮得到无圆角的单晶方棒,将单晶方棒沿垂直于晶体生长的方向截断成块状34.5°籽晶;
S5:将0°籽晶、11.5°籽晶、23°籽晶、34.5°籽晶依次铺设在坩埚底部,每块籽晶的上、下、左、右、左上、左下、右上、右下八个方向不与同种籽晶相连,直到把坩埚底部铺满,形成完整的籽晶铺设层;
S6:在所述籽晶铺设层上放置原生硅料和回收硅料;
S7:将所述装满多晶硅料的坩埚放入铸锭炉中,采用半融工艺得到铸造单晶硅锭。
2.根据权利要求书1所述的一种单晶面积占比大、位错密度低的铸造单晶硅制备方法,其特征在于,S5中所述坩埚的选用可以是G5、G6、G7或G8坩埚中任一种。
3.根据权利要求书1所述的一种单晶面积占比大、位错密度低的铸造单晶硅制备方法,其特征在于,所述0°籽晶、11.5°籽晶、23°籽晶、34.5°籽晶厚度范围是10mm-30mm。
4.根据权利要求书1所述的一种单晶面积占比大、位错密度低的铸造单晶硅制备方法,其特征在于,S5所述0°籽晶、11.5°籽晶、23°籽晶、34.5°籽晶铺设在坩埚底部之后,四块籽晶之间形成“十字型”拼接缝。
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