CN111337817A - 一种高速pcb测试集成卡扣式高速连接器 - Google Patents

Abstract

本发明公开一种高速PCB测试集成卡扣式高速连接器，包括用于与测试单板信号连接的连接基座、开设于所述连接基座表面上的若干个形成预设规格阵列的通孔、插设于各所述通孔内的SMA接口、连接于各所述SMA接口中的射频同轴线缆、用于与测试仪器信号连接的若干根测试线缆，各根所述测试线缆与对应的所述射频同轴线缆之间通过卡接组件形成卡接连接。本发明所公开的高速PCB测试集成卡扣式高速连接器，在连接基座的表面上形成高密度SMA连接器接口端子，以对测试单板完成高密度高速测试。同时，各根射频同轴线缆与各根测试线缆之间均通过卡接组件形成卡接连接，拆装操作非常方便，有利于提高测试链路的切换，简化与测试线缆之间的拆装操作。

Description

一种高速PCB测试集成卡扣式高速连接器

技术领域

本发明涉及服务器技术领域，特别涉及一种高速PCB测试集成卡扣式高速连接器。

背景技术

随着中国电子技术的发展，越来越多的电子设备已得到广泛使用。

服务器是电子设备中的重要组成部分，是提供计算服务的设备。由于服务器需要响应服务请求，并进行处理，因此一般来说服务器应具备承担服务并且保障服务的能力。根据服务器提供的服务类型不同，分为文件服务器，数据库服务器，应用程序服务器，WEB服务器等。

在大数据时代，大量的IT设备会集中放置在数据中心。这些数据中心包含各类型的服务器、存储、交换机及大量的机柜及其它基础设施。每种IT设备都是有各种硬件板卡组成，各类硬件板卡在出厂前均需要经过信号测试。

在高速单板测试过程中，为了准确地测试被测件的相关高速性能参数，需要测试系统提供对于被测件尽可能小的影响的测试环境和测试夹具。在测试时，测试单板需要与测试仪器进行连接，连接的时候需要连接器与测试仪器的线缆进行连接，连接器本身的性能将影响测试系统的测试结果。射频连接器的精度较高，因此在高速信号测试单板设计的时候引入了射频连接器。目前，在高速PCB测试系统中SMA头使用较多。

SMA connector(Sub Miniature version A，超小型射频同轴连接器)以测试稳定性高、阻抗匹配性能好、测试带宽大等优点在高速信号测试验证领域得到了广泛的使用。但是SMA连接器由于是单一端口存在的，虽然体积已经做的较小，但是在需要密集放置测试连接点的区域使用有局限性，无法实现高密度测试连接，如此导致测试单板的尺寸需要增大，但同时与测试单板的间距也随之变大，从而影响测试结果的准确性。

同时，SMA连接器与测试线缆一般通过螺纹连接，此种连接形式可以提高测试连接的稳定性，但是在测试过程中，需要将与测试仪器连接的测试线缆与不同的链路之间进行连接切换，反复的拧螺丝和拆螺丝会对测试线缆和SMA连接器造成较强磨损，并且拆装螺丝的过程会严重影响测试效率，加重测试人员的工作负担。

因此，如何实现测试仪器对测试单板的高密度高速信号测试，简化与测试线缆之间的拆装操作，提高测试链路切换的便利性，是本领域技术人员面临的技术问题。

发明内容

本发明的目的是提供一种高速PCB测试集成卡扣式高速连接器，能够实现测试仪器对测试单板的高密度高速信号测试，简化与测试线缆之间的拆装操作，提高测试链路切换的便利性。

为解决上述技术问题，本发明提供一种高速PCB测试集成卡扣式高速连接器，包括用于与测试单板信号连接的连接基座、开设于所述连接基座表面上的若干个形成预设规格阵列的通孔、插设于各所述通孔内的SMA接口、连接于各所述SMA接口中的射频同轴线缆、用于与测试仪器信号连接的若干根测试线缆，各根所述测试线缆与对应的所述射频同轴线缆之间通过卡接组件形成卡接连接。

优选地，各所述SMA接口可拆卸地插设在各自对应的所述通孔中。

优选地，所述连接基座的表面上可拆卸地设置有接口载板，且各所述SMA接口均集成安装在所述接口载板上。

优选地，所述接口载板可垂向滑动地设置于所述连接基座的表面上。

优选地，各所述通孔在所述连接基座的表面上沿其长度方向均匀排列，并沿其宽度方向并列分布有多排。

优选地，所述卡接组件包括固定于各根所述射频同轴线缆末端上的主体管、开设于所述主体管内壁上的环槽，以及卡接于所述环槽内并沿其周向方向分布、用于从周向夹紧各根所述测试线缆末端的若干个夹紧弹簧。

优选地，所述卡接组件还包括沿周向穿设在各个所述夹紧弹簧内部、用于将其紧抵在所述环槽底面上的环形弹片，且所述环形弹片的周向上开设有用于使其保持周向涨紧弹力的缺口。

优选地，所述夹紧弹簧包括若干个互相连接成环状且均朝向所述主体管的轴心延伸预设距离的三角形框，且所述夹紧弹簧的弹性形变方向为所述主体管的径向。

优选地，所述环槽的底面两侧均开设有内凹的弧形槽，且所述夹紧弹簧的顶端和底端均为与所述弧形槽配合的圆角。

本发明所提供的高速PCB测试集成卡扣式高速连接器，主要包括连接基座、SMA接口、射频同轴线缆和测试线缆。其中，连接基座为本高速连接器的主体结构，主要用于安装其余零部件，同时与测试单板形成信号连接。在连接基座的表面上开设有若干个通孔，并且各个通孔在连接基座的表面上形成预设规格阵列。SMA接口即SMA连接器的接口，各个SMA接口分别插设在各个连接基座的通孔中，可与对应的通孔通过卡接组件形成卡接连接，从而形成高密度SMA接口阵列，相当于将多个SMA连接器进行集成安装。在各个SMA接口中插设有射频同轴线缆，该射频同轴线缆主要用于传输高速测试信号，其信号损耗很低，能很好地适配SMA接口。各根测试线缆的一端与测试仪器信号连接，而各根测试线缆的另一端与对应的SMA接口通过卡接组件形成卡接连接，并保持信号连接，从而可将测试仪器的测试信号引出至各个SMA接口中，进而通过连接基座引出至测试单板上，实现对测试单板的高速信号测试。如此，本发明所提供的高速PCB测试集成卡扣式高速连接器，通过将多个SMA接口分别插设在连接基座表面上形成阵列的通孔中，相当于将多个SMA连接器进行集成安装，并使各个SMA连接器共同一个安装底座(连接基座)，大幅节省了体积，从而在连接基座的表面上形成高密度SMA连接器接口端子，可通过射频同轴线缆同时与多根测试线缆相连，以对测试单板完成高密度高速测试。同时，各根射频同轴线缆与各根测试线缆之间均通过卡接组件形成卡接连接，拆装操作非常方便，有利于提高测试链路的切换，相比于现有技术，无需拧动螺栓等紧固件，简化了与测试线缆之间的拆装操作。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图。

图1为本发明所提供的一种具体实施方式的整体结构示意图。

图2为本发明所提供的一种具体实施方式的模块图。

图3为图1中所示的卡接组件的具体结构剖视图。

图4为图3中所示的主体管的具体结构剖视图。

图5为图3中所示的夹紧弹簧的具体结构示意图。

图6为图3中所示的环形弹片的具体结构示意图。

其中，图1—图6中：

测试单板—a，测试仪器—b；

连接基座—1，SMA接口—2，射频同轴线缆—3，测试线缆—4，卡接组件—5，接口载板—6；

主体管—51，环槽—52，夹紧弹簧—53，环形弹片—54；

弧形槽—521，圆角—531，缺口—541。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

请参考图1和图2，图1为本发明所提供的一种具体实施方式的整体结构示意图，图2为本发明所提供的一种具体实施方式的模块图。

在本发明所提供的一种具体实施方式中，高速PCB测试集成卡扣式高速连接器主要包括连接基座1、SMA接口2、射频同轴线缆3和测试线缆4。

其中，连接基座1为本高速连接器的主体结构，主要用于安装其余零部件，同时与测试单板a形成信号连接。一般的，测试单板a可连接在连接基座1的底部。

在连接基座1的表面上开设有若干个通孔，并且各个通孔在连接基座1的表面上形成预设规格阵列。SMA接口2即SMA连接器的接口，各个SMA接口2分别插设在各个通孔中，具体可通过卡接组件5的结构与各个通孔形成卡接连接，从而形成高密度SMA接口2阵列，相当于将多个SMA连接器进行集成安装。

在各个SMA接口2中插设有射频同轴线缆3，该射频同轴线缆3主要用于传输高速测试信号，其信号损耗很低，能很好地适配SMA接口2。同时，各根射频同轴线缆3的另一端可直接与测试仪器b相连，实现对测试单板a的高速信号测试。当然，考虑到接口适配问题，在需要进行接口转接的情况下，各根射频同轴线缆3还可通过卡接组件5与各根测试线缆4相连，此时各根测试线缆4的另一端与测试仪器b信号连接，从而可将测试仪器b的测试信号引出至各个SMA接口2中，进而通过连接基座1引出至测试单板a上，实现对测试单板a的高速信号测试。

如此，本实施例所提供的高速PCB测试集成卡扣式高速连接器，通过将多个SMA接口2分别插设在连接基座1表面上形成阵列的通孔中，相当于将多个SMA连接器进行集成安装，并使各个SMA连接器共同一个安装底座(连接基座1)，大幅节省了体积，从而在连接基座1的表面上形成高密度SMA连接器接口端子，可通过射频同轴线缆3同时与多根测试线缆4相连，以对测试单板a完成高密度高速测试。同时，各根射频同轴线缆3与各根测试线缆4之间以及各个SMA接口2与连接基座1之间可均通过卡接组件5形成卡接连接，拆装操作非常方便，有利于提高测试链路的切换，相比于现有技术，无需拧动螺栓等紧固件，简化了与测试线缆之间的拆装操作。

此外，本实施例还在连接基座1的表面上增设了接口载板6。该接口载板6可与连接基座1一体成型设计，也可以可拆卸地进行连接，从而方便地在连接基座1的表面上进行拆装。该接口载板6主要用于集成安装各个SMA接口2，如此设置，在遇到测试单板a的尺寸或类型变化而需要改变测试密度的情况时，可首先将接口载板6拆卸，然后再在连接基座1内拔插射频同轴线缆3。

不仅如此，本实施例中，该接口载板6还可在连接基座1的表面上沿垂向进行滑动，从而调节接口载板6的高度位置。如此设置，当接口载板6的高度位置变化时，可以相应地调节射频同轴线缆3的长度和测试线缆4的所需长度。

在关于通孔的一种优选实施方式中，考虑到连接基座1一般呈矩形，因此各个通孔可在连接基座1的表面上沿其长度方向均匀排列，并且各个通孔还可同时沿着连接基座1的宽度方向并列分布成多排。比如，本实施例中，在连接基座1的表面上布置有12×2的阵列通孔，相应的，在连接基座1的表面上可满载形成12×2的SMA接口2阵列，通过各根射频同轴线缆3在各个SMA接口2中的拔插，可方便地调节测试密度。

在关于卡接组件5的一种优选实施方式中，该卡接组件5主要包括主体管51、环槽52、夹紧弹簧53和环形弹片54。如图3所示，图3为图1中所示的卡接组件5的具体结构剖视图。

其中，主体管51为卡接组件5的主体结构，其一端管口固定连接在各根射频同轴线缆3的末端。如图4所示，图4为图3中所示的主体管51的具体结构剖视图。在主体管51的内壁上开设有一圈环槽52，该环槽52主要用于安装夹紧弹簧53。而夹紧弹簧53卡接在环槽52内，并且沿着环槽52的周向方向分布，主要用于从周向方向上同时夹紧插设在主体管51的另一端的管口内的测试线缆4的末端，从而将其卡紧，实现稳定连接。

环形弹片54沿周向穿设在夹紧弹簧53的内部，同样呈环状，但在环形弹片54的周向上设置有缺口541。如图6所示，图6为图3中所示的环形弹片54的具体结构示意图。同时该环形弹片54具有弹性，在安装到夹紧弹簧53内部的过程中，环形弹片54受到弯曲、压缩，具有弹性势能，当其在夹紧弹簧53内部安装成功时，其弹性势能释放一部分，在夹紧弹簧53内部向外扩张，从而对夹紧弹簧53的周向上保持一定预紧压力，使得夹紧弹簧53的周向侧壁压紧抵靠在环槽52的底面上。

如图5所示，图5为图3中所示的夹紧弹簧53的具体结构示意图。

在关于夹紧弹簧53的一种优选实施方式中，该夹紧弹簧53主要包括若干个互相连接成环状的三角形框。具体的，各个三角形框均具有弹性，并且其弹性伸缩方向为主体管51的径向。各个三角形框沿主体管51的环槽52内壁互相堆叠，并且各个三角形框的尖端(顶角)均朝向主体管51的轴心，该尖端主要用于与测试线缆4的外壁相接触。如此，当测试线缆4从主体管51的一端穿插进入时，测试线缆4的外壁将与夹紧弹簧53的各个三角形框的尖端相抵接，使得各个三角形框沿各自径向向外收缩，并与测试线缆4的外壁互相挤压。

为提高夹紧弹簧53与环槽52之间的连接稳定性，本实施例在环槽52的底面两侧位置均开设了向内凹的弧形槽521，同时将夹紧弹簧53的顶端和底端均设置为圆角531，该圆角531的弧度与弧形槽521的弧度相同，可适宜地安装进弧形槽521中。如此，通过弧形槽521对夹紧弹簧53的圆角531的卡接安装作用，提高了夹紧弹簧53与环槽52之间的安装稳定性。

另外，为进一步提高环形弹片54对夹紧弹簧53的压紧力，本实施例中，在夹紧弹簧53内部同时安装了多个环形弹片54，比如2～4个等。为避免多个环形弹片54在夹紧弹簧53内互相干涉，各个环形弹片54可互相重叠、卷曲。如此设置，通过在夹紧弹簧53内通过设置多个环形弹片54，可有效提高对夹紧弹簧53的压紧力和周向预紧力。

需要说明的是，本实施例中，各个SMA接口2在连接基座1内与其各个通孔的连接方式，可采用本实施例中前述各根射频同轴线缆3与对应的测试线缆4之间的卡接组件5的卡接连接方式，即各个SMA接口2通过卡接组件5安装在连接基座1内，与连接基座1上开设的通孔形成弹簧卡扣连接。

同时，若各根射频同轴线缆3的端头接口与测试仪器b的接口适配，则各根射频同轴线缆3的另一端可直接与测试仪器b相连，从而无需使用卡接组件5进行接口转接。

对所公开的实施例的上述说明，使本领域专业技术人员能够实现或使用本发明。对这些实施例的多种修改对本领域的专业技术人员来说将是显而易见的，本文中所定义的一般原理可以在不脱离本发明的精神或范围的情况下，在其它实施例中实现。因此，本发明将不会被限制于本文所示的这些实施例，而是要符合与本文所公开的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。

Claims (9)

1.一种高速PCB测试集成卡扣式高速连接器，其特征在于，包括用于与测试单板(a)信号连接的连接基座(1)、开设于所述连接基座(1)表面上的若干个形成预设规格阵列的通孔、插设于各所述通孔内的SMA接口(2)、连接于各所述SMA接口(2)中的射频同轴线缆(3)、用于与测试仪器(b)信号连接的若干根测试线缆(4)，各根所述测试线缆(4)与对应的所述射频同轴线缆(3)之间通过卡接组件(5)形成卡接连接。

2.根据权利要求1所述的高速PCB测试集成卡扣式高速连接器，其特征在于，各所述SMA接口(2)可拆卸地插设在各自对应的所述通孔中。

3.根据权利要求2所述的高速PCB测试集成卡扣式高速连接器，其特征在于，所述连接基座(1)的表面上可拆卸地设置有接口载板(6)，且各所述SMA接口(2)均集成安装在所述接口载板(6)上。

4.根据权利要求3所述的高速PCB测试集成卡扣式高速连接器，其特征在于，所述接口载板(6)可垂向滑动地设置于所述连接基座(1)的表面上。

5.根据权利要求4所述的高速PCB测试集成卡扣式高速连接器，其特征在于，各所述通孔在所述连接基座(1)的表面上沿其长度方向均匀排列，并沿其宽度方向并列分布有多排。

6.根据权利要求1-5任一项所述的高速PCB测试集成卡扣式高速连接器，其特征在于，所述卡接组件(5)包括固定于各根所述射频同轴线缆(3)末端上的主体管(51)、开设于所述主体管(51)内壁上的环槽(52)，以及卡接于所述环槽(52)内并沿其周向方向分布、用于从周向夹紧各根所述测试线缆(4)末端的若干个夹紧弹簧(53)。

7.根据权利要求6所述的高速PCB测试集成卡扣式高速连接器，其特征在于，所述卡接组件(5)还包括沿周向穿设在各个所述夹紧弹簧(53)内部、用于将其紧抵在所述环槽(52)底面上的环形弹片(54)，且所述环形弹片(54)的周向上开设有用于使其保持周向涨紧弹力的缺口(541)。

8.根据权利要求7所述的高速PCB测试集成卡扣式高速连接器，其特征在于，所述夹紧弹簧(53)包括若干个互相连接成环状且均朝向所述主体管(51)的轴心延伸预设距离的三角形框，且所述夹紧弹簧(53)的弹性形变方向为所述主体管(51)的径向。

9.根据权利要求8所述的高速PCB测试集成卡扣式高速连接器，其特征在于，所述环槽(52)的底面两侧均开设有内凹的弧形槽(521)，且所述夹紧弹簧(53)的顶端和底端均为与所述弧形槽(521)配合的圆角(531)。

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