CN111313505B - 目标充电时间的确定方法、充电方法、装置及显示装置 - Google Patents

目标充电时间的确定方法、充电方法、装置及显示装置 Download PDF

Info

Publication number
CN111313505B
CN111313505B CN202010238394.XA CN202010238394A CN111313505B CN 111313505 B CN111313505 B CN 111313505B CN 202010238394 A CN202010238394 A CN 202010238394A CN 111313505 B CN111313505 B CN 111313505B
Authority
CN
China
Prior art keywords
charging time
pixel
charging
ideal
determining
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN202010238394.XA
Other languages
English (en)
Other versions
CN111313505A (zh
Inventor
何敏
曹春
谢恩明
陈伟
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
BOE Technology Group Co Ltd
Hefei BOE Zhuoyin Technology Co Ltd
Original Assignee
BOE Technology Group Co Ltd
Hefei BOE Zhuoyin Technology Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by BOE Technology Group Co Ltd, Hefei BOE Zhuoyin Technology Co Ltd filed Critical BOE Technology Group Co Ltd
Priority to CN202010238394.XA priority Critical patent/CN111313505B/zh
Publication of CN111313505A publication Critical patent/CN111313505A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN111313505B publication Critical patent/CN111313505B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/20—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters
    • G09G3/2007—Display of intermediate tones
    • G09G3/2074—Display of intermediate tones using sub-pixels
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01M—PROCESSES OR MEANS, e.g. BATTERIES, FOR THE DIRECT CONVERSION OF CHEMICAL ENERGY INTO ELECTRICAL ENERGY
    • H01M10/00—Secondary cells; Manufacture thereof
    • H01M10/42—Methods or arrangements for servicing or maintenance of secondary cells or secondary half-cells
    • H01M10/44—Methods for charging or discharging
    • H01M10/441—Methods for charging or discharging for several batteries or cells simultaneously or sequentially
    • H—ELECTRICITY
    • H02—GENERATION; CONVERSION OR DISTRIBUTION OF ELECTRIC POWER
    • H02J—CIRCUIT ARRANGEMENTS OR SYSTEMS FOR SUPPLYING OR DISTRIBUTING ELECTRIC POWER; SYSTEMS FOR STORING ELECTRIC ENERGY
    • H02J7/00—Circuit arrangements for charging or depolarising batteries or for supplying loads from batteries
    • H02J7/0013—Circuit arrangements for charging or depolarising batteries or for supplying loads from batteries acting upon several batteries simultaneously or sequentially
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G2330/00—Aspects of power supply; Aspects of display protection and defect management
    • Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
    • Y02E60/00—Enabling technologies; Technologies with a potential or indirect contribution to GHG emissions mitigation
    • Y02E60/10—Energy storage using batteries

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Electrochemistry (AREA)
  • General Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Control Of Indicators Other Than Cathode Ray Tubes (AREA)

Abstract

本申请提供了一种目标充电时间的确定方法、充电方法、装置及显示装置。该目标充电时间的确定方法包括：目标充电时间为显示面板中任一像素集合的目标充电时间，方法包括：确定出每一像素集合的若干像素单元中的每一像素单元的理想充电时间；显示面板的像素划分为若干像素集合，每一像素集合包括若干像素单元；从每一像素集合中各像素单元的各理想充电时间中，确定出最大理想充电时间，作为像素集合的目标充电时间，得到每一像素集合的目标充电时间。本申请实现了使显示面板的各像素集合可以获得个性化的充电时间，各像素集合之间不存在充电时间的相互制约，可提高显示面板的充电精度，进而保证显示面板的显示质量。

Description

目标充电时间的确定方法、充电方法、装置及显示装置
技术领域
本申请涉及显示技术领域，具体而言，本申请涉及一种目标充电时间的确定方法、充电方法、装置及显示装置。
背景技术
显示面板包括阵列分布的多个像素单元，每一像素单元的驱动器件通常包括储能元件，例如电容。为使显示面板正常工作，通常需要对每一像素单元的进行充电。
现有的显示面板的充电方式为：对显示面板的所有像素单元给定同一充电时间进行充电。但是每一像素单元的驱动器件的特性存在差异，例如阈值电压不同、NBTS(Negative Bias TemperatureStress，负偏压温度特性，用于表征TFT特性优劣，理想状态是在0值附近)不同等，即不同驱动器件充电到饱和状态所需的充电时间不同。因此，现有的显示面板的充电方式精度低，易出现部分像素单元充电不足，或部分像素单元过充的现象，影响显示面板的显示质量，或影响充电效率。
发明内容
本申请针对现有方式的缺点，提出一种目标充电时间的确定方法、充电方法、装置及显示装置，用以解决现有技术存在显示面板的充电精度低的技术问题。
第一个方面，本申请实施例提供了一种目标充电时间的确定方法，前述目标充电时间为显示面板中任一像素集合的目标充电时间，该方法包括：
确定出每一像素集合的若干像素单元中的每一像素单元的理想充电时间；显示面板的像素划分为若干像素集合，每一像素集合包括若干像素单元；
从每一像素集合中各像素单元的各理想充电时间中，确定出最大理想充电时间，作为像素集合的目标充电时间，得到每一像素集合的目标充电时间。
第二个方面，本申请实施例提供了一种显示面板的充电方法，包括：
获取显示面板的每一像素集合的目标充电时间；目标充电时间采用第一个方面提供的目标充电时间的确定方法确定；
对每一像素集合中每一像素单元，都以像素集合的目标充电时间进行充电。
第三个方面，本申请实施例提供了目标充电时间的确定装置，包括：
理想充电时间确定模块，用于确定出每一像素集合的若干像素单元中的每一像素单元的理想充电时间；显示面板的像素划分为若干像素集合，每一像素集合包括若干像素单元；
目标充电时间确定模块，用于从每一像素集合中各像素单元的各理想充电时间中，确定出最大理想充电时间，作为像素集合的目标充电时间，得到每一像素集合的目标充电时间。
第四个方面，本申请实施例提供了一种显示面板的充电装置，包括：
充电时间获取模块，用于获取显示面板的每一像素集合的目标充电时间；目标充电时间采用第一个方面提供的目标充电时间的确定方法确定；
充电模块，用于对每一像素集合中每一像素单元，都以像素集合的目标充电时间进行充电。
第五个方面，本申请实施例提供了一种显示装置，包括：充电电路、显示面板、处理器和存储器；
充电电路和存储器分别与处理器通信连接；
充电电路与显示面板中的每一像素单元都电连接，用于对每一像素集合中每一像素单元，都以像素集合的目标充电时间进行充电；
存储器配置用于存储计算机程序，计算机程序由处理器执行时，实现如第一个方面提供的目标充电时间的确定方法，和/或实现如第二个方面提供的显示面板的充电方法。
第六个方面，本申请实施例提供了一种计算机可读存储介质，计算机可读存储介质上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现如第一个方面提供的目标充电时间的确定方法，和/或实现如第二个方面提供的显示面板的充电方法。
本申请提供的技术方案带来的有益效果包括：
1、将显示面板的所有像素单元划分为若干像素集合，针对每个像素集合确定对应的目标充电时间，使显示面板的各像素集合可以获得个性化的充电时间，各像素集合之间不存在充电时间的相互制约，可提高显示面板的充电精度；
2、确定得到每一像素集合中每一像素单元的理想充电时间后，取最大理想充电时间作为该像素集合的目标充电时间，可以保证该像素集合中每一像素单元都能充电饱和，进而保证显示面板的显示质量。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对本申请实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍。
图1为本申请实施例提供的一种目标充电时间的确定方法的流程示意图；
图2为本申请实施例提供的一种步骤S101的确定出每一像素集合的若干像素单元中的每一像素单元的理想充电时间的方法的流程示意图；
图3为本申请实施例提供的另一种步骤S101的确定出每一像素集合的若干像素单元中的每一像素单元的理想充电时间的方法的流程示意图；
图4为本申请实施例提供的一种步骤S102的从每一像素集合中各像素单元的各理想充电时间中，确定出最大理想充电时间的方法的流程示意图；
图5为本申请实施例提供的一种显示面板的充电方法的流程示意图；
图6为本申请实施例提供的一种目标充电时间的确定装置的结构示意图；
图7为本申请实施例提供的一种显示面板的充电装置的结构示意图；
图8为本申请实施例提供的一种显示装置的结构示意图。
具体实施方式
下面详细描述本申请，本申请的实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的部件或具有相同或类似功能的部件。此外，如果已知技术的详细描述对于示出的本申请的特征是不必要的，则将其省略。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，仅用于解释本申请，而不能解释为对本申请的限制。
本技术领域技术人员可以理解，除非另外定义，这里使用的所有术语(包括技术术语和科学术语)，具有与本申请所属领域中的普通技术人员的一般理解相同的意义。还应该理解的是，诸如通用字典中定义的那些术语，应该被理解为具有与现有技术的上下文中的意义一致的意义，并且除非像这里一样被特定定义，否则不会用理想化或过于正式的含义来解释。
本技术领域技术人员可以理解，除非特意声明，这里使用的单数形式“一”、“一个”、“所述”和“该”也可包括复数形式。应该进一步理解的是，本申请的说明书中使用的措辞“包括”是指存在所述特征、整数、步骤、操作、元件和/或组件，但是并不排除存在或添加一个或多个其他特征、整数、步骤、操作、元件、组件和/或它们的组。应该理解，当我们称元件被“连接”或“耦接”到另一元件时，它可以直接连接或耦接到其他元件，或者也可以存在中间元件。此外，这里使用的“连接”或“耦接”可以包括无线连接或无线耦接。这里使用的措辞“和/或”包括一个或更多个相关联的列出项的全部或任一单元和全部组合。
为使本申请的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本申请实施方式作可选地详细描述。
首先对本申请涉及的几个名词进行介绍和解释：
理想充电时间：指任一像素单元从开始充电到充电饱和所用的时间。
目标充电时间：指给定的充电时间。
本申请的发明人进行研究发现，现有的显示面板的充电方式为：对显示面板的所有像素单元给定同一充电时间进行充电。但是由于每一像素单元的驱动器件的特性(如阈值电压、NTPS等)存在差异，不同驱动器件充电到饱和状态所需的充电时间不同。
以驱动器件为TFT(Thin Film Transistor，薄膜晶体管)为例，TFT1、TFT2和TFT3的理想充电时间分别为t1、t2和t3，其中t1＞t2＞t3。如果给定的显示面板的充电时间等于t2，则TFT2和TFT3可以充电饱和，而TFT1充电不足。如果为了防止TFT1充电不足，给定显示面板的充电时间远大于t3，则会造成至少TFT3的严重过充，TFT3可能会出现损坏；并且，显示面板的充电时间过长，也会影响充电效率。
可见，现有的显示面板的充电方式精度低，易出现部分像素单元充电不足，或部分像素单元过充的现象，影响显示面板的显示质量，或影响充电效率。
本申请提供的目标充电时间的确定方法、充电方法、装置及显示装置，旨在解决现有技术的如上技术问题。
下面以具体地实施例对本申请的技术方案以及本申请的技术方案如何解决上述技术问题进行详细说明。下面这几个具体的实施例可以相互结合，对于相同或相似的概念或过程可能在某些实施例中不再赘述。下面将结合附图，对本申请的实施例进行描述。
本申请实施例提供了一种目标充电时间的确定方法，前述目标充电时间为显示面板中任一像素集合的目标充电时间，该方法的流程示意图如图1所示，该方法包括步骤S101和S102：
S101：确定出每一像素集合的若干像素单元中的每一像素单元的理想充电时间；显示面板的像素划分为若干像素集合，每一像素集合包括若干像素单元。
S102：从每一像素集合中各像素单元的各理想充电时间中，确定出最大理想充电时间，作为像素集合的目标充电时间，得到每一像素集合的目标充电时间。
在本实施例中，将显示面板的所有像素单元划分为若干像素集合，针对每个像素集合确定对应的目标充电时间，使显示面板的各像素集合可以获得个性化的充电时间，各像素集合之间不存在充电时间的相互制约，可提高显示面板的充电精度。
确定得到每一像素集合中每一像素单元的理想充电时间后，取最大理想充电时间作为该像素集合的目标充电时间，可以保证该像素集合中每一像素单元都能充电饱和，进而保证显示面板的显示质量。
在一些可能的实施方式中，显示面板的像素划分为若干像素集合，可以包括：将显示面板的像素进行阵列划分，每一行的若干像素单元构成一个像素集合。
在一个示例中，显示面板的像素经过阵列划分后得到m行n列像素阵列，其中像素集合有m个，每个像素集合中有n个像素单元。
经过上述步骤S101可以确认得到第i个像素集合中n个像素单元的理想充电时间：ti1，ti2，……，tin，其中，1≤i≤m。
经过上述步骤S102确定第i个像素集合的目标充电时间ti，即取n个像素单元的理想充电时间中的最大理想充电时间，ti＝max(ti1，ti2，……，tin)。
同理，可以确定显示面板中m个像素集合的m个目标充电时间：t1～tm。可以将t1～tm进行存储，以便后续执行显示面板的充电方法的时候直接读取t1～tm，而不必重复以上目标充电时间的确定方法的相关步骤。
在一些可能的实施方式中，显示面板的像素划分为若干像素集合，也可以包括：将显示面板的像素进行阵列划分，每一列的若干像素单元构成一个像素集合。
在一个示例中，显示面板的像素经过阵列划分后得到m行n列像素阵列，其中像素集合有n个，每个像素集合中有m个像素单元。
经过上述步骤S101可以确认得到第j个像素集合中m个像素单元的理想充电时间：t1j，t2j，……，tmj，其中，1≤j≤n。
经过上述步骤S102确定第j个像素集合的目标充电时间tj，即取m个像素单元的理想充电时间中的最大理想充电时间，tj＝max(t1j，t2j，……，tmj)。
同理，可以确定显示面板中n个像素集合的n个目标充电时间：t1～tn。可以将t1～tn进行存储，以便后续执行显示面板的充电方法的时候直接读取t1～tn，而不必重复以上目标充电时间的确定方法的相关步骤。
在一些可能的实施方式中，上述步骤S101的确定出每一像素集合的若干像素单元中的每一像素单元的理想充电时间的方法，包括步骤：对每一像素集合进行周期性充电和检测。
具体地，如图2所示，第p个周期的充电和检测，包括下述步骤S201-S204：
S201：对每一像素集合以步进充电时间进行第p次充电，p为正整数。
S202：确定第一差值与第一预设参照值之间的大小关系；第一差值为每一像素集合中一个像素单元以步进充电时间进行第p次充电后的电量采样值、与一个像素单元以步进充电时间进行第p-1次充电后的电量采样值的差值，之后执行步骤S203或S204。
S203：若第一差值不大于第一预设参照值，则确定一个像素单元的理想充电时间为p倍的步进充电时间，并结束整个充电和检测流程。
S204：若第一差值大于第一预设参照值，则进行第p+1个周期的充电和检测。
在本实施例中，对每一像素集合进行周期性充电和检测，即对每一像素集合采用多次步进充电时间进行充电，并且每次以步进充电时间执行充电后，都对每一像素单元的电量进行采样。针对每一像素单元，计算每一像素单元当前的电量采样值与该像素单元前一次以步进充电时间执行充电后的电量采样值的差值，得到第一差值，该第一差值即为一个像素单元当前以步进充电时间执行充电后的像素单元的电量增幅。通过比较第一差值与第一预设参照值的大小，可判断该像素单元当前的电量是否达到饱和或达到认定饱和的标准。这样可以确定出每一像素集合中的每一像素单元的理想充电时间，并且确定出的理想充电时间精确度高，还可以根据实际情况，通过调节第一预设参照值的大小，来调节确定出的理想充电时间的精度。
在一个示例中，为便于理解，以显示面板的像素经过阵列划分后得到m行n列像素阵列为例进行说明，其中像素集合有m个，每个像素集合中有n个像素单元。
一个像素单元TFTij(1≤i≤m，1≤j≤n)以步进充电时间△t执行p次充电后的电量采样值记为ADCp，该像素单元TFTij以步进充电时间执行p-1次充电后的电量采样值记为ADCp-1，第一差值△ADC1＝ADCp-ADCp-1，将△ADC1与第一预设参照值VT1进行比较：
若△ADC1≤VT1，则可以确定像素单元TFTij当前的电量已达到饱和，可确认从开始到当前的总充电时间为该像素单元的理想充电时间，即像素单元TFTij的理想充电时间tij＝p×△t。
若△ADC1＞VT1，则可以确定像素单元TFTij当前的电量还未饱和，因此继续下一周期，即进行第p+1个周期的以步进充电时间△t执行充电和检测，直到判定像素单元TFTij的电量已达到饱和。
在另一些可能的实施方式中，上述步骤S101的确定出每一像素集合的若干像素单元中的每一像素单元的理想充电时间的方法，包括：
对每一像素集合以初始充电时间进行充电后，对每一像素集合进行周期性充电和检测。
具体地，如图3所示，第q个周期的充电和检测，包括下述步骤S301-S304：
S301：对每一像素集合以步进充电时间进行第q次充电，q为正整数。
S302：确定第二差值与第二预设参照值之间的大小关系；第二差值为每一像素集合中一个像素单元进行第q次充电后的电量采样值、与前一周期中一个像素单元以步进充电时间进行第q-1次充电后的电量采样值的差值，之后执行步骤S303或S304。
S303：若第二差值不大于第二预设参照值，则确定一个像素单元的理想充电时间为初始充电时间与q倍的步进充电时间之和，并结束整个充电和检测流程。
S304：若第二差值大于第二预设参照值，则进行第q+1个周期的充电和检测。
本实施例提供的确定出每一像素集合的若干像素单元中的每一像素单元的理想充电时间的具体方法与前一实施例提供的方法基本相同，区别在于：对每一像素集合以初始充电时间进行充电后，再对每一像素集合进行周期性充电和检测。
在对每一像素集合进行周期性充电和检测之前，先以初始充电时间对每一像素集合进行充电，可以使每一像素集合具备一定的初始电量，使后续进行周期性充电和检测时的起点靠近或进入有效检测范围，即使周期性充电和检测时的起点靠近每一像素单元的理想充电时间，这样可以减少无效检测的次数，提高确定出的理想充电时间的检测效率。
在一个示例中，为便于理解，还是以显示面板的像素经过阵列划分后得到m行n列像素阵列为例进行说明，其中像素集合有m个，每个像素集合中有n个像素单元。
对每一像素集合以初始充电时间t0进行充电后，使该像素集合中的每一像素单元具备一定的初始电量ADC0。再对每一像素集合进行周期性充电和检测。
具体地，一个像素单元TFTij(1≤i≤m，1≤j≤n)以步进充电时间△t执行q次充电后的电量采样值记为ADCq，该像素单元TFTij以步进充电时间执行p-1次充电后的电量采样值记为ADCq-1，第二差值△ADC2＝ADCq-ADCq-1，将△ADC与第二预设参照值VT2进行比较：
若△ADC2≤VT2，则可以确定像素单元TFTij当前的电量已达到饱和，可确认从开始到当前的总充电时间为该像素单元的理想充电时间，即像素单元TFTij的理想充电时间tij＝t0+q×△t。
若△ADC2＞VT2，则可以确定像素单元TFTij当前的电量还未饱和，因此继续下一周期，即进行第q+1个周期的以步进充电时间△t执行充电和检测，直到判定像素单元TFTij的电量已达到饱和。
本申请的发明人考虑到，若显示面板内出现坏点或者其他故障，将造成检测得到的该像素单元的理想充电时间异常，从而影响像素集合的目标充电时间的确定精度。例如，某一像素单元发生短路，根据前述确定该像素单元的理想充电时间的方法，对该像素单元进行周期性充电和检测的过程中，该像素单元将无法达到饱和状态，其理想充电时间也会非常大，该像素单元所在的像素集合的目标充电时间也会被拉到非常大，这很显然是不合理的。
为此，本申请在一些可能的实施方式中提出，上述步骤S102的从每一像素集合中各像素单元的各理想充电时间中，确定出最大理想充电时间的方法，该方法的流程示意图如图4所示，包括步骤S401和S402：
S401：确定第三差值的绝对值与第三预设参照值之间的大小关系；第三差值为一个像素单元的理想充电时间、与初始充电时间的差值；若第三差值的绝对值不大于第三预设参照值，则确定一个像素单元的理想充电时间为有效理想充电时间；若第三差值的绝对值大于第三预设参照值，则确定一个像素单元的理想充电时间为无效理想充电时间。
S402：在每一像素集合中若干像素单元的各有效理想充电时间中确定最大理想充电时间。
在本实施例中，对每一像素集合中每一像素单元确定得到的理想充电时间进行验证，具体是计算每一像素单元确定得到的理想充电时间与初始充电时间的差值，得到第三差值，该第三差值即为一个像素单元当前以步进充电时间执行充电的总步进充电时间。通过比较第三差值与第三预设参照值的大小，可判断该像素单元确定得到的理想充电时间是否有效。
在每一像素集合中，确定各像素单元的各理想充电时间中的最大理想充电时间时，去掉无效的理想充电时间，仅在各有效理想充电时间中确定最大理想充电时间，可以排除干扰，保证每一像素集合中确定得到的最大理想充电时间准确有效，进而确保后续针对每一像素集合确定的目标充电时间的准确有效。还可以根据实际情况，通过调节第三预设参照值的大小，来调节对各理想充电时间的有效性判断的精度。
在一个示例中，为便于理解，还是以显示面板的像素经过阵列划分后得到m行n列像素阵列为例进行说明，其中像素集合有m个，每个像素集合中有n个像素单元。
在一个像素集合中，所有像素单元为：TFT1j，TFT2j，……，TFTmj，1≤i≤m，1≤j≤n。所有像素单元对应的理想充电时间为：t1j，t2j，……，tnj，即确定得到的任一像素单元的理想充电时间为tij，初始充电时间为t0。第三差值为tij-t0。
取第三差值的绝对值|tij-t0|与第三预设参照值tref进行比较：
若|tij-t0|≤tref，则可以确认该理想充电时间tij没有偏离允许范围，即判断该像素单元确定得到的理想充电时间为有效理想充电时间，可以用于后续确定该像素单元所在的像素集合的最大理想充电时间的确定。
若|tij-t0|＞tref，则可以确认该理想充电时间tij偏离了允许范围，即判断该像素单元确定得到的理想充电时间为无效理想充电时间，不能用于后续确定该像素单元所在的像素集合的最大理想充电时间的确定。
本申请实施例提供了一种显示面板的充电方法，该方法的流程示意图如图5所示，包括步骤S501和S502：
S501：获取显示面板的每一像素集合的目标充电时间；目标充电时间采用前述任一种目标充电时间的确定方法确定。
S502：对每一像素集合中每一像素单元，都以像素集合的目标充电时间进行充电。
在本实施例提供的一种显示面板的充电方法，将显示面板的所有像素划分为若干像素集合，给予各像素集合个性化的目标充电时间，并且各像素集合的目标充电时间是采用前述实施例提供的目标充电时间的确定方法获得的，各像素集合的目标充电时间精准度高，使得显示面板的充电饱和度高、充电效率高，进而保证显示面板的显示质量。
本申请实施例提供了一种目标充电时间的确定装置100，该确定装置的结构示意图如图6所示，包括：理想充电时间获取模块110和目标充电时间确定模块120。
理想充电时间获取模块110，用于确定出每一像素集合的若干像素单元中的每一像素单元的理想充电时间。显示面板的像素划分为若干像素集合，每一像素集合包括若干像素单元。
目标充电时间确定模块120，用于从每一像素集合中各像素单元的各理想充电时间中，确定出最大理想充电时间，作为像素集合的目标充电时间，得到每一像素集合的目标充电时间。
在一些可能的实施方式中，理想充电时间获取模块110可以包括充电单元、检测单元和分析单元。
充电单元，用于对每一像素集合以步进充电时间进行第p次充电，p为正整数。
检测单元，用于检测每一像素集合以步进充电时间进行第p次充电后的电量采样值。
分析单元，用于确定第一差值与第一预设参照值之间的大小关系；第一差值为每一像素集合中一个像素单元以步进充电时间进行第p次充电后的电量采样值、与一个像素单元以步进充电时间进行第p-1次充电后的电量采样值的差值；若第一差值不大于第一预设参照值，则确定一个像素单元的理想充电时间为p倍的步进充电时间，并结束整个充电和检测流程；若第一差值大于第一预设参照值，则进行第p+1个周期的充电和检测。
在一些可能的实施方式中，理想充电时间获取模块110可以包括充电单元和检测单元。
充电单元，用于对每一像素集合以初始充电时间进行充电，并在此之后对每一像素集合以步进充电时间进行第q次充电，q为正整数。
检测单元，用于检测每一像素集合以步进充电时间进行第q次充电后的电量采样值。
分析单元，用于确定第二差值与第二预设参照值之间的大小关系；第二差值为每一像素集合中一个像素单元进行第q次充电后的电量采样值、与前一周期中一个像素单元以步进充电时间进行第q-1次充电后的电量采样值的差值；若第二差值不大于第二预设参照值，则确定一个像素单元的理想充电时间为初始充电时间与q倍的步进充电时间之和，并结束整个充电和检测流程；若第二差值大于第二预设参照值，则进行第q+1个周期的充电和检测。
可选地，分析单元还用于确定第三差值的绝对值与第三预设参照值之间的大小关系；第三差值为一个像素单元的理想充电时间、与初始充电时间的差值；若第三差值的绝对值不大于第三预设参照值，则确定一个像素单元的理想充电时间为有效理想充电时间；若第三差值的绝对值大于第三预设参照值，则确定一个像素单元的理想充电时间为无效理想充电时间；在每一像素集合中若干像素单元的各有效理想充电时间中确定最大理想充电时间。
以上各实施例提供的目标充电时间的确定装置可执行本申请前述任一实施例提供的目标充电时间的确定方法，其实现原理相类似，此处不再赘述。
本申请实施例提供了一种显示面板的充电装置200，该充电装置的结构示意图如图7所示，包括：充电时间获取模块210和充电模块220。
充电时间获取模块210，用于获取显示面板的每一像素集合的目标充电时间。目标充电时间采用前述实施例提供的任一种目标充电时间的确定方法确定。
充电模块220，用于对每一像素集合中每一像素单元，都以像素集合的目标充电时间进行充电。
在一些可能的实施方式中，充电时间获取模块210具体用于：对每一像素集合以初始充电时间进行充电后，对每一像素集合进行周期性充电和检测，第q个周期的充电和检测包括：对每一像素集合以步进充电时间进行第q次充电，q为正整数；确定第二差值与第二预设参照值之间的大小关系；第二差值为每一像素集合中一个像素单元进行第q次充电后的电量采样值、与前一周期中一个像素单元以步进充电时间进行第q-1次充电后的电量采样值的差值；若第二差值不大于第二预设参照值，则确定一个像素单元的理想充电时间为初始充电时间与q倍的步进充电时间之和，并结束整个充电和检测流程；若第二差值大于第二预设参照值，则进行第q+1个周期的充电和检测。
在一些可能的实施方式中，充电时间获取模块210具体还用于：确定第三差值的绝对值与第三预设参照值之间的大小关系；第三差值为一个像素单元的理想充电时间、与初始充电时间的差值；若第三差值的绝对值不大于第三预设参照值，则确定一个像素单元的理想充电时间为有效理想充电时间；若第三差值的绝对值大于第三预设参照值，则确定一个像素单元的理想充电时间为无效理想充电时间；在每一像素集合中若干像素单元的各有效理想充电时间中确定最大理想充电时间。
以上各实施例提供的显示面板的充电装置可执行本申请前述实施例提供的显示面板的充电方法，其实现原理相类似，此处不再赘述。
本申请实施例提供了一种显示装置300，该充电设备的结构示意图如图7所示，包括：充电电路310、显示面板(图中未绘出)、处理器320和存储器330；
充电电路310和存储器330分别与处理器320通信连接，如通过总线340相连。
充电电路310与显示面板中的每一像素单元都电连接，用于对每一像素集合中每一像素单元，都以像素集合的目标充电时间进行充电。
存储器330配置用于存储计算机程序，计算机程序由处理器220执行时，实现前述实施例提供的任一种目标充电时间的确定方法，和/或实现前述实施例提供的显示面板的充电方法。
充电电路310可以是IC(integrated circuit)驱动电路。需要说明的是，实际应用中充电电路210不限于一个，该充电设备的结构并不构成对本申请实施例的限定。
处理器320可以是CPU(Central Processing Unit，中央处理器)、通用处理器，DSP(Digital Signal Processor，数据信号处理器)、ASIC(Application SpecificIntegrated Circuit，专用集成电路)、FPGA(Field-Programmable Gate Array，现场可编程门阵列)或者其他可编程逻辑器件、晶体管逻辑器件、硬件部件或者其任意组合。其可以实现或执行结合本申请公开内容所描述的各种示例性的逻辑方框，模块和电路。处理器也可以是实现计算功能的组合，例如包含一个或多个微处理器组合，DSP和微处理器的组合等。
总线340可包括一通路，在上述组件之间传送信息。总线可以是PCI(PeripheralComponent Interconnect，外设部件互连标准)总线或EISA(Extended Industry StandardArchitecture，扩展工业标准结构)总线。总线可以分为地址总线、数据总线、控制总线等。为便于表示，图7中仅用一条粗线表示，但并不表示仅有一根总线或一种类型的总线。
存储器330可以是ROM(Read-Only Memory，只读存储器)或可存储静态信息和指令的其他类型的静态存储设备，可以是RAM(Random Access Memory，随机存取存储器)或者可存储信息和指令的其他类型的动态存储设备，也可以是EEPROM(Electrically ErasableProgrammable Read Only Memory，电可擦可编程只读存储器)、CD-ROM(Compact DiscRead-Only Memory，只读光盘)或其他光盘存储、光碟存储(包括压缩光碟、激光碟、光碟、数字通用光碟、蓝光光碟等)、磁盘存储介质或者其他磁存储设备、或者能够用于携带或存储具有指令或数据结构形式的期望的程序代码并能够由计算机存取的任何其他介质，但不限于此。
本技术领域技术人员可以理解，本申请实施例提供的数据设备可以为所需的目的而专门设计和制造，或者也可以包括通用计算机中的已知设备。这些设备具有存储在其内的计算机程序，这些计算机程序选择性地激活或重构。这样的计算机程序可以被存储在设备(例如，计算机)可读介质中或者存储在适于存储电子指令并分别耦联到总线的任何类型的介质中。
以上各实施例提供的显示装置可执行本申请前述任一实施例提供的目标充电时间的确定方法和/或显示面板的充电方法，其实现原理相类似，此处不再赘述。
本申请实施例提供了一种计算机可读存储介质，计算机可读存储介质上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现前述实施例提供的任一种目标充电时间的确定方法，和/或实现前述实施例提供的显示面板的充电方法。
本实施例提供的计算机可读存储介质包括但不限于任何类型的盘(包括软盘、硬盘、光盘、CD-ROM、和磁光盘)、ROM、RAM、EPROM(Erasable Programmable Read-OnlyMemory，可擦写可编程只读存储器)、EEPROM、闪存、磁性卡片或光线卡片。也就是，可读介质包括由设备(例如，计算机)以能够读的形式存储或传输信息的任何介质。
本申请实施例提供的一种计算机可读存储介质适用于前述任一种目标充电时间的确定方法及该目标充电时间的确定方法的各种可选的实施方式，和/或实现前述实施例提供的显示面板的充电方法，在此不再赘述。
应用本申请实施例，至少能够实现如下有益效果：
1、将显示面板的所有像素单元划分为若干像素集合，针对每个像素集合确定对应的目标充电时间，使显示面板的各像素集合可以获得个性化的充电时间，各像素集合之间不存在充电时间的相互制约，可提高显示面板的充电精度。
2、确定得到每一像素集合中每一像素单元的理想充电时间后，取最大理想充电时间作为该像素集合的目标充电时间，可以保证该像素集合中每一像素单元都能充电饱和，进而保证显示面板的显示质量。
3、对每一像素集合进行周期性充电和检测，即对每一像素集合采用多次步进充电时间进行充电，并且每次以步进充电时间执行充电后，都对每一像素单元的电量进行采样。通过比较第一差值与第一预设参照值的大小，可判断该像素单元当前的电量是否达到饱和或达到认定饱和的标准。这样可以确定出每一像素集合中的每一像素单元的理想充电时间，并且确定出的理想充电时间精确度高，还可以根据实际情况，通过调节第一预设参照值的大小，来调节确定出的理想充电时间的精度。
4、在对每一像素集合进行周期性充电和检测之前，先以初始充电时间对每一像素集合进行充电，可以使每一像素集合具备一定的初始电量，使后续进行周期性充电和检测时的起点靠近或进入有效检测范围，即使周期性充电和检测时的起点靠近每一像素单元的理想充电时间，这样可以减少无效检测的次数，提高确定出的理想充电时间的检测效率。
5、对每一像素集合中每一像素单元确定得到的理想充电时间进行验证，判断该像素单元确定得到的理想充电时间是否有效。在每一像素集合中，确定各像素单元的各理想充电时间中的最大理想充电时间时，去掉无效的理想充电时间，仅在各有效理想充电时间中确定最大理想充电时间，可以排除干扰，保证每一像素集合中确定得到的最大理想充电时间准确有效，进而确保后续针对每一像素集合确定的目标充电时间的准确有效。还可以根据实际情况，通过调节第三预设参照值的大小，来调节对各理想充电时间的有效性判断的精度。
本技术领域技术人员可以理解，本申请中已经讨论过的各种操作、方法、流程中的步骤、措施、方案可以被交替、更改、组合或删除。进一步地，具有本申请中已经讨论过的各种操作、方法、流程中的其他步骤、措施、方案也可以被交替、更改、重排、分解、组合或删除。进一步地，现有技术中的具有与本申请中公开的各种操作、方法、流程中的步骤、措施、方案也可以被交替、更改、重排、分解、组合或删除。
术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本申请的描述中，除非另有说明，“多个”的含义是两个或两个以上。
应该理解的是，虽然附图的流程图中的各个步骤按照箭头的指示依次显示，但是这些步骤并不是必然按照箭头指示的顺序依次执行。除非本文中有明确的说明，这些步骤的执行并没有严格的顺序限制，其可以以其他的顺序执行。而且，附图的流程图中的至少一部分步骤可以包括多个子步骤或者多个阶段，这些子步骤或者阶段并不必然是在同一时刻执行完成，而是可以在不同的时刻执行，其执行顺序也不必然是依次进行，而是可以与其他步骤或者其他步骤的子步骤或者阶段的至少一部分轮流或者交替地执行。

Claims (9)

1.一种目标充电时间的确定方法，其特征在于，所述目标充电时间为显示面板中任一像素集合的目标充电时间，所述方法包括：
确定出每一像素集合的若干像素单元中的每一像素单元的理想充电时间；显示面板的像素划分为若干像素集合，每一所述像素集合包括若干像素单元；
从每一所述像素集合中各所述像素单元的各理想充电时间中，确定出最大理想充电时间，包括：确定第三差值的绝对值与第三预设参照值之间的大小关系；所述第三差值为一个像素单元的所述理想充电时间、与初始充电时间的差值；若所述第三差值的绝对值不大于所述第三预设参照值，则确定所述一个像素单元的所述理想充电时间为有效理想充电时间；若所述第三差值的绝对值大于所述第三预设参照值，则确定所述一个像素单元的所述理想充电时间为无效理想充电时间；在每一所述像素集合中所述若干像素单元的各有效理想充电时间中确定最大理想充电时间；将所述最大理想充电时间作为所述像素集合的目标充电时间，得到每一所述像素集合的目标充电时间；所述第三预设参照值的大小与各所述理想充电时间的有效性判断的精度相对应。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述确定出每一像素集合的若干像素单元中的每一像素单元的理想充电时间，包括：
对每一所述像素集合进行周期性充电和检测，第p个周期的充电和检测包括：
对每一所述像素集合以步进充电时间进行第p次充电，所述p为正整数；
确定第一差值与第一预设参照值之间的大小关系；所述第一差值为每一所述像素集合中一个像素单元以步进充电时间进行第p次充电后的电量采样值、与所述一个像素单元以步进充电时间进行第p-1次充电后的电量采样值的差值；
若所述第一差值不大于所述第一预设参照值，则确定所述一个像素单元的所述理想充电时间为p倍的所述步进充电时间，并结束整个充电和检测流程；
若所述第一差值大于所述第一预设参照值，则进行第p+1个周期的充电和检测。
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述确定出每一像素集合的若干像素单元中的每一像素单元的理想充电时间，包括：
对每一所述像素集合以初始充电时间进行充电后，对每一所述像素集合进行周期性充电和检测，第q个周期的充电和检测包括：
对每一所述像素集合以步进充电时间进行第q次充电，所述q为正整数；
确定第二差值与第二预设参照值之间的大小关系；所述第二差值为每一所述像素集合中一个像素单元进行第q次充电后的电量采样值、与前一周期中所述一个像素单元以步进充电时间进行第q-1次充电后的电量采样值的差值；
若所述第二差值不大于所述第二预设参照值，则确定所述一个像素单元的所述理想充电时间为所述初始充电时间与q倍的所述步进充电时间之和，并结束整个充电和检测流程；
若所述第二差值大于所述第二预设参照值，则进行第q+1个周期的充电和检测。
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述显示面板的像素划分为若干像素集合，包括：
将显示面板的像素进行阵列划分，每一行的若干像素单元构成一个像素集合；或，将显示面板的像素进行阵列划分，每一列的若干像素单元构成一个像素集合。
5.一种显示面板的充电方法，其特征在于，包括：
获取显示面板的每一像素集合的目标充电时间；所述目标充电时间采用权利要求1-4中任一项所述目标充电时间的确定方法确定；
对每一所述像素集合中每一像素单元，都以所述像素集合的目标充电时间进行充电。
6.一种目标充电时间的确定装置，其特征在于，包括：
理想充电时间确定模块，用于确定出每一像素集合的若干像素单元中的每一像素单元的理想充电时间；显示面板的像素划分为若干像素集合，每一所述像素集合包括若干像素单元；
目标充电时间确定模块，用于从每一所述像素集合中各所述像素单元的各理想充电时间中，确定出最大理想充电时间，包括：确定第三差值的绝对值与第三预设参照值之间的大小关系；所述第三差值为一个像素单元的所述理想充电时间、与初始充电时间的差值；若所述第三差值的绝对值不大于所述第三预设参照值，则确定所述一个像素单元的所述理想充电时间为有效理想充电时间；若所述第三差值的绝对值大于所述第三预设参照值，则确定所述一个像素单元的所述理想充电时间为无效理想充电时间；在每一所述像素集合中所述若干像素单元的各有效理想充电时间中确定最大理想充电时间；将所述最大理想充电时间作为所述像素集合的目标充电时间，得到每一所述像素集合的目标充电时间；所述第三预设参照值的大小与各所述理想充电时间的有效性判断的精度相对应。
7.一种显示面板的充电装置，其特征在于，包括：
充电时间获取模块，用于获取显示面板的每一像素集合的目标充电时间；所述目标充电时间采用权利要求1-4中任一项所述目标充电时间的确定方法确定；
充电模块，用于对每一所述像素集合中每一像素单元，都以所述像素集合的目标充电时间进行充电。
8.一种显示装置，其特征在于，包括：充电电路、显示面板、处理器和存储器；
所述充电电路和所述存储器分别与所述处理器通信连接；
所述充电电路与所述显示面板中的每一所述像素单元都电连接，用于对每一所述像素集合中每一像素单元，都以所述像素集合的目标充电时间进行充电；
所述存储器配置用于存储计算机程序，所述计算机程序由所述处理器执行时，实现如权利要求1-4中任一项所述的目标充电时间的确定方法，和/或实现如权利要求5所述的显示面板的充电方法。
9.一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机可读存储介质的特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1-4中任一项所述的目标充电时间的确定方法，和/或实现如权利要求5所述的显示面板的充电方法。
CN202010238394.XA 2020-03-30 2020-03-30 目标充电时间的确定方法、充电方法、装置及显示装置 Active CN111313505B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202010238394.XA CN111313505B (zh) 2020-03-30 2020-03-30 目标充电时间的确定方法、充电方法、装置及显示装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202010238394.XA CN111313505B (zh) 2020-03-30 2020-03-30 目标充电时间的确定方法、充电方法、装置及显示装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN111313505A CN111313505A (zh) 2020-06-19
CN111313505B true CN111313505B (zh) 2022-04-15

Family

ID=71162499

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202010238394.XA Active CN111313505B (zh) 2020-03-30 2020-03-30 目标充电时间的确定方法、充电方法、装置及显示装置

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN111313505B (zh)

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103825458A (zh) * 2014-03-21 2014-05-28 大陆汽车投资（上海）有限公司 直流-直流转换器及预充电方法
US20160125779A1 (en) * 2014-10-29 2016-05-05 Novatek Microelectronics Corp. Display driving apparatus, method for driving display panel and display panel
CN107516504A (zh) * 2017-10-18 2017-12-26 深圳市华星光电技术有限公司 液晶显示器的驱动方法
CN110111740A (zh) * 2019-06-26 2019-08-09 京东方科技集团股份有限公司 显示面板充电时间的控制装置及其方法、电子设备

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103825458A (zh) * 2014-03-21 2014-05-28 大陆汽车投资（上海）有限公司 直流-直流转换器及预充电方法
US20160125779A1 (en) * 2014-10-29 2016-05-05 Novatek Microelectronics Corp. Display driving apparatus, method for driving display panel and display panel
CN107516504A (zh) * 2017-10-18 2017-12-26 深圳市华星光电技术有限公司 液晶显示器的驱动方法
CN110111740A (zh) * 2019-06-26 2019-08-09 京东方科技集团股份有限公司 显示面板充电时间的控制装置及其方法、电子设备

Also Published As

Publication number Publication date
CN111313505A (zh) 2020-06-19

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US11953980B2 (en) Memory sub-system with dynamic calibration using component-based function(s)
US10115457B2 (en) Threshold voltage distribution determination by sensing common source line currents
EP2471069B1 (en) Methods, devices, and systems for dealing with threshold voltage change in memory devices
CN101395673B (zh) 对浮动栅极耦合具有补偿的非易失性存储装置的读取操作
CN101385089B (zh) 用于非易失性存储器的基于行的交替读写
CN102428520A (zh) 非易失性存储器的两遍擦除
CN102246241A (zh) 非易失性存储器的数据刷新
EP2519950B1 (en) Flash memory system having cross-coupling compensation during read operation
US8295095B2 (en) Programming methods for a memory device
CN102067233B (zh) 使用索引编程和减少的验证的非易失性存储器和方法
US9177651B2 (en) Programming methods and memories
US11854623B2 (en) Memory controller, memory device and memory system having improved threshold voltage distribution characteristics and related operating methods
KR20170008849A (ko) 임계 전압 분석
US20140185385A1 (en) Memories and methods of programming memories
US7974131B2 (en) Nonvolatile memory comprising a circuit capable of memory life time recognizing
CN101317235A (zh) 具有定时信息的反向耦合效应
CN103811070B (zh) 一种高可靠性NAND Flash的读取方法及其系统
US20220270704A1 (en) Test method for self-refresh frequency of memory array and memory array test device
US7633797B2 (en) Flash memory and method for determining logic states thereof
CN111313505B (zh) 目标充电时间的确定方法、充电方法、装置及显示装置
EP2667382A1 (en) Erasing a non-volatile memory (NVM) system having error correction code (ECC)
CN103811071A (zh) 一种高可靠性NAND Flash的读取方法及其系统
CN109215717B (zh) Nand型浮栅存储器的读取方法及装置
CN116540059B (zh) 半导体芯片测试方法、装置、设备及存储介质
US8923083B2 (en) Method of identifying damaged bitline address in non-volatile

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant