CN111289030A - 一种电容传感器稳定性测试装置 - Google Patents

Abstract

本发明公开一种电容传感器稳定性测试装置，包括底座、连接体和上盖；所述底座与所述连接体可拆卸连接，所述上盖与所述连接体可拆卸连接；所述连接体包括连接环，所述连接环固定连接有安装座，所述连接环与所述安装座一体化成型；所述安装座上开设有第一通槽，所述第一通槽内壁设有若干个不同尺寸的凹槽；所述第一通槽内放置有电容传感器；所述上盖顶面设有限位块，所述上盖底面开设有第二通槽；所述上盖与所述安装座可拆卸连接。本发明结构简单，装夹拆卸方便，可实现不同直径电容传感器的稳定性测试需求；测试面为研磨面，研磨等级为K级，有效提高了电容传感器稳定性的检测精度。

Description

一种电容传感器稳定性测试装置

技术领域

本发明涉及测试计量领域，特别是涉及一种电容传感器稳定性测试装置。

背景技术

电容式传感器是将被测量的变化转换为电容量变化的一种装置，它本身就是一种可变电容器。由于电容式传感器具有结构简单、体积小、动态响应好、灵敏度高、分辨率高、能实现非接触测量等特点，因而被广泛应用于位移、加速度、振动、压力、压差、液位等分含量的检测领域。

随着电容传感器的性能逐渐提高，其良好的稳定性对总体性能的提高至关重要。目前，有电容传感器厂家标称其产品可达到4小时内示值漂移范围不超过1nm，但是没有相应的检测装置能够对电容传感器的稳定性进行精确地检测。为了提高和完善实验室对电容传感器稳定性的检测能力，满足常用不同直径的电容传感器的稳定性检测，迫切需要一套装拆方便、测量精度高的检测装置。

发明内容

本发明的目的是提供一种电容传感器稳定性测试装置，以解决上述现有技术存在的问题，实现对电容传感器稳定性的精确测试。

为实现上述目的，本发明提供了一种电容传感器稳定性测试装置，包括底座、连接体和上盖；所述底座与所述连接体可拆卸连接，所述上盖与所述连接体可拆卸连接；所述连接体包括连接环，所述连接环固定连接有安装座，所述连接环与所述安装座一体化成型；所述安装座上开设有第一通槽，所述第一通槽内壁设有若干个不同直径规格的凹槽；所述第一通槽内放置有电容传感器；所述上盖顶面设有限位块，所述上盖底面开设有第二通槽；所述上盖与所述安装座可拆卸连接。

优选的，所述底座包括第一圆柱体，所述第一圆柱体一端固定连接有第二圆柱体，所述第一圆柱体与所述第二圆柱体一体化成型。

优选的，所述第二圆柱体远离所述第一圆柱体的一端为研磨面，所述研磨面的研磨等级为K级。

优选的，所述连接环为圆环结构，所述安装座为半圆柱体结构，所述连接环与所述安装座外径相同，且同轴连接；所述第一通槽的中心轴与所述安装座半圆柱体纵切面的中心轴平行。

优选的，所述第二圆柱体圆周面上设有外螺纹，所述连接环内表面设有内螺纹，所述连接环内螺纹与所述第二圆柱体外螺纹相匹配，所述连接环与所述第二圆柱体螺纹连接。

优选的，所述上盖的两端开设有对称设置的通孔，所述安装座上开设有对称设置的螺纹孔，所述通孔与所述螺纹孔上下对应设置，所述上盖的通孔与所述安装座的螺纹孔插入连接有第一螺钉，所述上盖与所述安装座通过所述第一螺钉螺纹连接。

优选的，所述连接环圆周面上设有螺纹通孔，所述螺纹通孔内插接有第二螺钉，所述第二螺钉长度大于所述连接环的壁厚。

优选的，所述上盖底面朝下连接于所述安装座，所述第二通槽与所述电容传感器接触连接。

优选的，所述上盖顶面朝下连接于所述安装座，所述限位块与所述电容传感器接触连接。

本发明的有益效果是：

1.本发明用于电容传感器的稳定性测试装置的底座与连接体通过螺纹相连接，上盖与连接体通过螺钉相连接，连接体与底座通过连接环侧壁安装的螺钉进一步加固，保证电容传感器稳定性测试的过程中，安装座与底座研磨面的距离保持不变，从而提高电容传感器稳定性的测量精度；上盖与连接体形成的空腔能够放置多个不同直径的标准尺寸电容传感器，上盖还设有限位块，适用于微小尺寸电容传感器稳定性测试，从而保证对各种尺寸电容传感器稳定的夹持力，实现了不同直径电容传感器的稳定性测试。因此，本发明结构简单，装夹拆卸方便，实现了对不同直径电容传感器稳定性的精确测试。

2.本发明用于电容传感器的稳定性测试装置的测试面为研磨面，研磨等级为K级，测试精度高。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明实施例一整体结构示意图；

图2为本发明底座结构示意图；

图3为本发明连接体结构示意图；

图4为本发明上盖结构示意图；

图5为本发明实施例二整体结构示意图；

其中，1为底座，1.1为第一圆柱体，1.2为第二圆柱体，2为连接体，2.1为连接环，2.2为安装座；2.3为螺纹通孔，2.4为第一通槽，2.5为螺纹孔，3为上盖，3.1为第二通槽，3.2为通孔，3.3为限位块，4为电容传感器。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

为使本发明的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图和具体实施方式对本发明作进一步详细的说明。

参照附图1-5所示，本发明提供一种电容传感器稳定性测试装置，包括底座1、连接体2、和上盖3；底座1与连接体2可拆卸连接，上盖3与连接体2可拆卸连接；连接体2包括连接环2.1，连接环2.1固定连接有安装座2.2，连接环2.1与安装座2.2一体化成型；连接环2.1为圆环结构，安装座2.2为半圆柱体结构，连接环2.1与安装座2.2外径相同，且同轴连接；沿安装座2.2半圆柱体纵切面的中心轴开设有第一通槽2.4，第一通槽2.4内放置有电容传感器4。

根据市面上标准电容传感器的尺寸，第一通槽2.4内壁设有3种不同直径规格的凹槽，可以装夹多种不同直径的电容传感器，进行稳定性测试。上盖3顶面中部固接有限位块3.3，限位块3.3与上盖3为一体化成型；上盖3底面中部开设有第二通槽3.1，第二通槽3.1与第一通槽2.4的尺寸和位置相匹配；将上盖3底面朝下连接于安装座2.2半圆柱体的纵切面上，第二通槽3.1与电容传感器4接触连接，适用于市面上常用尺寸电容传感器的稳定性测试；将上盖3顶面朝下连接于安装座2.2半圆柱体的纵切面上，限位块3.3与电容传感器4接触连接，适用于微小尺寸电容传感器的稳定性测试，从而保证对各种尺寸电容传感器4稳定的夹持力。

底座1包括第一圆柱体1.1，第一圆柱体1.1一端固定连接有第二圆柱体1.2，第一圆柱体1.1的直径大于第二圆柱体1.2。

第二圆柱体1.2远离第一圆柱体1.1的一端为研磨面，研磨面的研磨等级为K级；研磨面为电容传感器4的测试面，实验证明，测试面的研磨等级影响电容传感器稳定性的测试精度；电容传感器稳定性测试对测试面的技术要求为：平面度不大于0.3μm，平行度不大于0.6μm，表面粗糙度不大于0.1μm。

第二圆柱体1.2圆周面上设有外螺纹，连接环2.1内表面设有内螺纹，连接环2.1内螺纹与第二圆柱体1.2外螺纹相匹配，连接环2.1与第二圆柱体1.2螺纹连接，连接环2.1与第二圆柱体1.2螺纹连接后，第二圆柱体1.2研磨面与安装座2.2半圆柱体的距离极为微小。

上盖3的两端开设有对称设置的两个通孔3.2，安装座2.2半圆柱体的纵切面上开设有两个对称设置的螺纹孔2.5，通孔3.2与螺纹孔2.5上下对应设置，上盖3的通孔3.2与安装座2.2的螺纹孔2.5内插入连接有第一螺钉，上盖3与安装座2.2通过第一螺钉螺纹连接。

连接环2.1圆周面上设有一个螺纹通孔2.3，螺纹通孔2.3内插接有第二螺钉，第二螺钉长度大于连接环2.1的壁厚，连接环2.1与第二圆柱体1.2螺纹连接后，将第二螺钉拧紧，通过第二螺钉的底面顶紧第二圆柱体1.2，加固底座1与连接体2的连接，保证在电容传感器4的稳定性测试过程中，安装座2.2半圆柱体与第二圆柱体1.2研磨面的距离保持不变，从而提高电容传感器4稳定性的测量精度。

实施例一：标准尺寸电容传感器的稳定性测试。

如图1所示，本实施例电容传感器的稳定性测试方法如下：

S1、将第二圆柱体1.2圆周面上的外螺纹与连接环2.1内表面的内螺纹拧紧，完成底座1与连接体2的连接；

S2、将电容传感器4放入连接体2的第一通槽2.4内，电容传感器4的工作面朝向底座1，通过旋转第二圆柱体1.2，使电容传感器4的工作面与第二圆柱体1.2研磨面之间的距离保持在电容传感器4的工作范围内；

S3、将连接体2的螺纹通孔2.3内的第二螺钉拧紧；

S4、将上盖3底面朝下扣到安装座2.2半圆柱体的纵切面上，并用螺钉将上盖3固定在安装座2.2半圆柱体的纵切面上，使上盖3压紧电容传感器4，从而实现多种不同直径的标准尺寸电容传感器4的稳定性测试；

S5、夹紧电容传感器4后，持续观察电容传感器4的示值，测得电容传感器4的稳定性。

实施例二：微小尺寸电容传感器的稳定性测试。

如图5所示，本实施例电容传感器的稳定性测试方法如下：

S1、将第二圆柱体1.2圆周面上的外螺纹与连接环2.1内表面的内螺纹拧紧，完成底座1与连接体2的连接；

S2、将电容传感器4放入连接体2的第一通槽2.4内，电容传感器4的工作面朝向底座1，通过旋转第二圆柱体1.2，使电容传感器4的工作面与第二圆柱体1.2研磨面之间的距离保持在电容传感器4的工作范围内；

S3、将连接体2的螺纹通孔2.3内的螺钉拧紧；

S4、将上盖3顶面朝下扣到安装座2.2半圆柱体的纵切面上，并用螺钉将上盖3固定在安装座2.2半圆柱体的纵切面上，使上盖3顶面上的限位块3.3压紧电容传感器4，从而实现微小尺寸电容传感器4的稳定性测试；

S5、夹紧电容传感器4后，持续观察电容传感器4的示值，测得电容传感器4的稳定性。

在本发明的描述中，需要理解的是，术语“纵向”、“横向”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。

以上所述的实施例仅是对本发明的优选方式进行描述，并非对本发明的范围进行限定，在不脱离本发明设计精神的前提下，本领域普通技术人员对本发明的技术方案做出的各种变形和改进，均应落入本发明权利要求书确定的保护范围内。

Claims (9)

1.一种电容传感器稳定性测试装置，其特征在于：包括底座(1)、连接体(2)和上盖(3)；所述底座(1)与所述连接体(2)可拆卸连接，所述上盖(3)与所述连接体(2)可拆卸连接；所述连接体(2)包括连接环(2.1)，所述连接环(2.1)固定连接有安装座(2.2)，所述连接环(2.1)与所述安装座(2.2)一体化成型；所述安装座(2.2)上开设有第一通槽(2.4)，所述第一通槽(2.4)内壁设有若干个不同直径规格的凹槽；所述第一通槽(2.4)内放置有电容传感器(4)；所述上盖(3)顶面设有限位块(3.3)，所述上盖(3)底面开设有第二通槽(3.1)；所述上盖(3)与所述安装座(2.2)可拆卸连接。

2.根据权利要求1所述的电容传感器稳定性测试装置，其特征在于：所述底座(1)包括第一圆柱体(1.1)，所述第一圆柱体(1.1)一端固定连接有第二圆柱体(1.2)，所述第一圆柱体(1.1)与所述第二圆柱体(1.2)一体化成型。

3.根据权利要求2所述的电容传感器稳定性测试装置，其特征在于：所述第二圆柱体(1.2)远离所述第一圆柱体(1.1)的一端为研磨面，所述研磨面的研磨等级为K级。

4.根据权利要求1所述的电容传感器稳定性测试装置，其特征在于：所述连接环(2.1)为圆环结构，所述安装座(2.2)为半圆柱体结构，所述连接环(2.1)与所述安装座(2.2)外径相同，且同轴连接；所述第一通槽(2.4)的中心轴与所述安装座(2.2)半圆柱体纵切面的中心轴平行。

5.根据权利要求2所述的电容传感器稳定性测试装置，其特征在于：所述第二圆柱体(1.2)圆周面上设有外螺纹，所述连接环(2.1)内表面设有内螺纹，所述连接环(2.1)内螺纹与所述第二圆柱体(1.2)外螺纹相匹配，所述连接环(2.1)与所述第二圆柱体(1.2)螺纹连接。

6.根据权利要求1所述的电容传感器稳定性测试装置，其特征在于：所述上盖(3)的两端开设有对称设置的通孔(3.2)，所述安装座(2.2)上开设有对称设置的螺纹孔(2.5)，所述通孔(3.2)与所述螺纹孔(2.5)上下对应设置，所述上盖(3)的通孔(3.2)与所述安装座(2.2)的螺纹孔(2.5)插入连接有第一螺钉，所述上盖(3)与所述安装座(2.2)通过所述第一螺钉螺纹连接。

7.根据权利要求1所述的电容传感器稳定性测试装置，其特征在于：所述连接环(2.1)圆周面上设有螺纹通孔(2.3)，所述螺纹通孔(2.3)内插接有第二螺钉，所述第二螺钉长度大于所述连接环(2.1)的壁厚。

8.根据权利要求1所述的电容传感器稳定性测试装置，其特征在于：所述上盖(3)底面朝下连接于所述安装座(2.2)，所述第二通槽(3.1)与所述电容传感器(4)接触连接。

9.根据权利要求1所述的电容传感器稳定性测试装置，其特征在于：所述上盖(3)顶面朝下连接于所述安装座(2.2)，所述限位块(3.3)与所述电容传感器(4)接触连接。

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