CN215491470U - 一种用于检测锥体基圆到基准面距离的检具 - Google Patents

Abstract

本实用新型提出了一种用于检测锥体基圆到基准面距离的检具，涉及检具技术领域，包括测量组件和校准件，测量组件包括测量台和检测表；测量台的顶部开设有凹槽，凹槽的开口直径与被测零部件的基圆直径相同；检测表具有测量头，测量头延伸出测量台的顶部，测量头用于与被测零部件的基准面和校准件抵触。该检具仅通过校准件、测量台和检测表即可完成检测工作，重复性和稳定性好，满足测量系统分析；且该检具制作成本低，并对测量环境要求不高，无需专门设置恒温实验室进行测量，对于小型加工单位的性价比较高；同时，该检具所需检测时间短，解决了大批量产品检测时间长的问题；此外，该检具便于携带，解决了现场产品的质量及时管控的问题。

Description

一种用于检测锥体基圆到基准面距离的检具

技术领域

本实用新型涉及检具技术领域，更具体地，涉及一种用于检测锥体基圆到基准面距离的检具。

背景技术

在零部件实际生产过程中，往往要通过三坐标测量机对生产的零部件进行尺寸检测。

如图1所示的包括锥度结构的零部件，若生产时需要对其锥度结构的基圆到基准面的距离进行把控，则需要对该距离尺寸进行严格测量，保证其在公差范围内。若采用三坐标测量机进行测量，则投入成本高，一般小型加工单位难以承受，性价比不高；同时，三坐标测量机对环境要求高，需要一个恒温的实验室；若送三坐标测量机检测，检测花费的等待时间长，生产现场的产品质量不能及时的得到控制。

实用新型内容

本实用新型在于提供一种用于检测锥体基圆到基准面距离的检具，检测时间短，对检测环境要求不高，解决了现场产品的质量及时管控的问题，且该检具成本低廉。

本实用新型的实施例是这样实现的：

本实用新型的一些实施例中提供一种用于检测锥体基圆到基准面距离的检具，包括测量组件和校准件，测量组件包括测量台和检测表；

测量台的顶部开设有凹槽，凹槽的开口直径与被测零部件的基圆直径相同；检测表具有测量头，测量头延伸出测量台的顶部，测量头用于与被测零部件的基准面和校准件抵触。

在本实用新型的一些实施例中，校准件可拆卸置于测量台的顶部，校准件具有用于与测量头抵触的校准壁，校准壁到测量台顶壁的距离与被测零部件上基圆到基准面的标准距离相同。

在本实用新型的一些实施例中，测量台的顶部开设有通孔，检测表安装于通孔。

在本实用新型的一些实施例中，检测表活动连接于通孔。

在本实用新型的一些实施例中，检测表包括轴套，测量头滑动延伸出轴套，轴套的外侧壁与通孔螺纹连接。

在本实用新型的一些实施例中，测量台的侧壁开设有螺孔，螺孔延伸进通孔，螺孔旋合有螺纹件；检测表包括轴套，轴套外套设有固定套，螺纹件的端部与固定套的外侧壁抵接。

在本实用新型的一些实施例中，检测表安装在测量台的边缘。

在本实用新型的一些实施例中，检测表的数量为多个。

在本实用新型的一些实施例中，凹槽的侧壁与被测零部件的侧壁贴合。

在本实用新型的一些实施例中，测量台的底部具有支撑底座，测量台的边沿延伸出支撑底座，检测表置于测量台延伸出支撑底座的边沿。

相对于现有技术，本实用新型的实施例至少具有如下优点或有益效果：

本实用新型提供一种用于检测锥体基圆到基准面距离的检具，包括测量组件和校准件，测量组件包括测量台和检测表；测量台的顶部开设有凹槽，凹槽的开口直径与被测零部件的基圆直径相同；检测表具有测量头，测量头从底部延伸出测量台的顶部，测量头用于与被测零部件的基准面和校准件抵触。该检具仅通过校准件、测量台和检测表即可完成检测工作，制作成本低，且该检具对测量环境要求不高，无需专门设置恒温实验室进行测量，对于小型加工单位的性价比较高；同时，该检具检测时间短，将被测零部件放置在校准后的测量台上，检测表的读数即为标准距离与被测零部件上基圆到基准面之间距离的偏差，解决了大批量产品检测所需时间长的问题；此外，该检具便于携带，可以随时随地进行检测，解决了现场产品的质量及时管控的问题。

在实际使用时，将检测表倒置安装在测量台上，检测表的测量头延伸出测量台的顶部；选择适合的校准件，将校准件置于测量台，并使测量头与校准件抵触，此时，测量头延伸出测量台顶部的距离与被测零部件上基圆到基准面的标准距离相同；将检测表读数清零，将校准件取下并将被测零部件置于凹槽，此时，检测表的读数即为标准距离与被测零部件上基圆到基准面之间距离的偏差。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本实用新型的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。

图1为本实用新型实施例被测零部件结构示意图；

图2为本实用新型实施例检具整体结构示意图；

图3为本实用新型实施例被测零部件置于测量组件时整体结构剖视图；

图4为本实用新型实施例校准件与测量台连接结构爆炸图；

图5为本实用新型实施例检测表安装在测量台的边缘的测量组件结构示意图；

图6为本实用新型实施例检测表与测量台活动连接结构示意图；

图7为本实用新型实施例具有两个测量表的测量组件结构示意图；

图8为本实用新型实施例测量台密集开设有通孔的测量组件结构示意图；

图9为本实用新型实施例呈圆锥体腔体状的凹槽结构示意图；

图10为本实用新型实施例呈顶部为圆台状底部为圆柱体状的凹槽结构示意图；

图11为本实用新型实施例检测表与测量台另一种活动连接结构爆炸图；

图12为本实用新型实施例呈圆柱体壳体结构的固定套结构示意图。

图标：100-被测零部件；101-基圆；102-基准面；1-校准件；2-测量台；3-检测表；4-凹槽；5-测量头；6-卡槽；7-卡接块；8-通孔；9-轴套；10-支撑底座；11-螺孔；12-固定套；13-螺纹件。

具体实施方式

为使本实用新型实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本实用新型实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。

因此，以下对在附图中提供的本实用新型的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本实用新型的范围，而是仅仅表示本实用新型的选定实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。

在本实用新型实施例的描述中，需要说明的是，若出现术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，或者是该实用新型产品使用时惯常摆放的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。

在本实用新型实施例的描述中，“多个”代表至少2个。

在本实用新型实施例的描述中，还需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，若出现术语“设置”、“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。

实施例1

请参照图1-图10。

本实用新型提供一种用于检测锥体基圆101到基准面102距离的检具，包括测量组件和校准件1，测量组件包括测量台2和检测表3；测量台2的顶部开设有凹槽4，凹槽4的开口直径与被测零部件100的基圆101直径相同；检测表3具有测量头5，测量头5延伸出测量台2的顶部，测量头5用于与被测零部件100的基准面102和校准件1抵触。

在本实施例中，以测量图1所示的被测零部件100为例：该被测零部件100的端部具有圆台结构，虚线处为被测零部件100的基圆101位置，基圆101的直径为66.16mm，本次测量所管控的尺寸为基圆101到基准面102之间的距离，该距离的标准距离为7.88mm。

测量台2为圆柱体结构，基于图2所示，测量台2的顶部开设有凹槽4，凹槽4开口边沿的尺寸与基圆101的大小尺寸相同即66.16mm，被测零部件100放置在凹槽4处时，其端部与凹槽4的底部不会接触，从而保证基圆101正好卡在凹槽4的开口处；检测表3采用常见的千分表，检测表3倒置安装在测量台2上，检测表3的测量头5延伸出测量台2的顶部，校准件1采用长方体量块组合而成。测量过程：步骤一，校准。基于图2所示，将量块组合为呈倒置的“L”形的校准件1，并放置在测量台2的顶部，校准件1朝向测量台2的侧壁即为校准壁，校准壁到测量台2顶部的距离与标准距离相同，即7.88mm；将测量头5与校准壁抵触，此时，检测表3具有一定读数；将检测表3的读数清零。步骤二，测量。基于图3所示，将校准件1从测量台2上取下，并将被测零部件100的圆台部位置于凹槽4内，因被测零部件100基圆101尺寸与凹槽4的开口尺寸相同，被测零部件100的基圆101位置刚好卡在凹槽4的开口处，此时，检测头与基准面102相抵触；检测人员读取并记录检测表3的读数。步骤三，查看读数是否在公差范围内，若读数位于公差范围内，则零部件上基圆101到基准面102的距离符合标准。该检具仅通过校准件1、测量台2和检测表3即可完成检测工作，制作成本低，且该检具对测量环境要求不高，无需专门设置恒温实验室进行测量，对于小型加工单位的性价比较高；同时，该检具检测时间短，将被测零部件100放置在校准后的测量台2上，检测表3的读数即为标准距离与被测零部件100上基圆101到基准面102之间距离的偏差，解决了大批量产品检测所需时间长的问题；此外，该检具便于携带，可以随时随地进行检测，解决了现场产品的质量及时管控的问题。

在上述实施例外的其它实施例中，基于图4所示，检测表3采用常见的百分表，测量台2的侧壁开设有呈“T”形卡槽6，校准件1顶部为定制的呈倒“L”形的结构，校准件1的底部具有与卡槽6匹配的呈“T”形的卡接块7。测量过程：步骤一，校准。校准件1通过T形卡接块7安装在测量台2的顶部，校准件1朝向测量台2的侧壁即为校准壁；校准壁到测量台2顶部的距离与标准距离相同，即7.88mm；将测量头5与校准壁抵触，此时，检测表3具有一定读数；将检测表3的读数清零。后续步骤与上述步骤二和上述步骤三相同。

进一步的，测量台2的顶部开设有通孔8，检测表3安装于通孔8。

在本实施例中，基于图1所示，通孔8的大小与检测表3相匹配，检测头延伸出通孔8的顶部，检测表3安装在通孔8处，通孔8的侧壁对检测表3有一个限位和导向作用，防止因检测表3晃动或因检测表3安装偏斜导致的测量结果不准确的情况发生。

在上述实施例外的其它实施例中，基于图5所示，检测表3倒置粘接在测量台2的侧壁。

在上述实施例外的其它实施例中，检测表3的侧壁具有磁铁，测量台2采用铁制成，检测表3倒置磁吸在测量台2的边沿。

进一步的，检测表3活动连接于通孔8。

在本实施例中，基于图6所示，检测表3包括轴套9，测量头5滑动延伸出轴套9，轴套9的外侧壁与通孔8螺纹连接。详细的，检测表3为常见的千分表，千分表的轴套9外侧壁开设有外螺纹，通孔8内开设有内螺纹，检测表3螺纹连接于通孔8。因不同规格的零部件其基圆101到基准面102的标准距离不同，通过调整轴套9旋合进通孔8的深度来调整测量头5延伸出测量台2顶部的距离，使同一套设备适用于测量多种标准距离不同的零部件，增加了检具的适用范围。

进一步的，检测表3的数量为多个。

在本实施例中，基于图7所示，检测表3的数量为两个，测量台2上开设有两个通孔8，两个检测表3对称设置在凹槽4的两侧。个检测表3能够同时从多个检测点测量零部件上基圆101到基准面102的距离，相对于仅测量一个位置的数据，能够增加测量精度。

在上述实施例外的其它实施例中，检测表3的数量为四个，测量台2上开设有四个通孔8，四个通孔8环绕凹槽4均匀设置，四个检测表3分别设置在四个通孔8内。

在上述实施例外的其它实施例中，基于图8所示，测量台2上通孔8的数量多余检测表3的数量。详细的，测量台2上环绕凹槽4均匀分布有密集开设的通孔8，检测表3的数量为两个。通孔8数量多余检测表3的数量，检测表3可以根据被测零部件100的实际情况设置在不的通孔8中，从而扩大检具的适用范围。

在上述实施例外的其它实施例中，基于图5所示，检测表3的数量为四个，检测表3倒置粘接在测量台2的侧壁。

进一步的，凹槽4的侧壁与被测零部件100的侧壁贴合。

在本实施例中，基于图3所示，在被测零部件100圆台结构部分上，圆台结构的母线与轴线之间的夹角为6.5度；凹槽4为圆台状腔体结构，凹槽4的母线与轴线之间的夹角同样为6.5度。此时，被测零部件100放置在测量台2上，其侧壁与凹槽4的侧壁贴合，从而保证被测零部件100不会倾斜，其基圆101能够与凹槽4的开口重合，从而保证测量的精度。

在上述实施例外的其它实施例中，基于图9所示，凹槽4为圆锥体腔体结构，被测零部件100圆台结构的侧壁与凹槽4的侧壁贴合。

在上述实施例外的其它实施例中，基于图10所示，凹槽4的顶部为圆台状结构，底部为圆柱体腔体结构，被测零部件100圆台结构的侧壁与凹槽4圆台状的顶部侧壁贴合。

进一步的，测量台2的底部具有支撑底座10，测量台2的边沿延伸出支撑底座10，检测表3置于测量台2延伸出支撑底座10的边沿。

在本实施例中，基于图2所示，支撑底座10与测量台2一体成型加工而成。因检测表3有部分结构位于测量台2的底端，支撑底座10的设置将测量台2抬高，检测表3置于测量台2延伸出支撑底座10的边沿，从而预留出用于容纳检测表3的空间。

实施例2

请参照图11和图12。

本实施例提供一种用于检测锥体基圆101到基准面102距离的检具，其与实施例1结构大致相同，区别在于：

检测表3活动与通孔8活动连接的方式不同。详细的，基于图11所示，测量台2的侧壁开设有螺孔11，螺孔11垂直延伸进通孔8，螺纹件13选用螺钉，螺孔11旋合有螺纹件13；检测表3包括轴套9，轴套9外套设有铜制的呈“C”形的固定套12，螺纹件13的端部与固定套12的外侧壁抵接。轴套9能够沿通孔8的延伸方向活动，测量头5延伸出测量台2顶部的距离固定后，可通过螺纹件13的压紧作用将检测表3固定，即螺钉与固定套12抵触压紧，固定套12变形后将轴套9压紧固定，防止其沿通孔8方向滑动。固定套12的设置能够保护轴套9，防止轴套9因螺纹件13的直接挤压作用产生损伤。

在上述实施例外的其它实施例中，基于图12所示，螺纹件13还可以使用螺杆，固定套12呈圆柱体壳体结构。

综上所述，本实用新型提供一种用于测量锥度基圆101高度的检具，包括测量组件和校准件1，测量组件包括测量台2和检测表3；测量台2的顶部开设有凹槽4，凹槽4的开口直径与被测零部件100的基圆101直径相同；检测表3具有测量头5，测量头5从底部延伸出测量台2的顶部，测量头5用于与被测零部件100的基准面102和校准件1抵触。该检具仅通过校准件1、测量台2和检测表3即可完成检测工作，制作成本低，且该检具对测量环境要求不高，无需专门设置恒温实验室进行测量，对于小型加工单位的性价比较高；同时，该检具检测时间短，将被测零部件100放置在校准后的测量台2上，检测表3的读数即为标准距离与被测零部件100上基圆101到基准面102之间距离的偏差，解决了大批量产品检测所需时间长的问题；此外，该检具便于携带，可以随时随地进行检测，解决了现场产品的质量及时管控的问题。

在实际使用时，将检测表3倒置安装在测量台2上，检测表3的测量头5延伸出测量台2的顶部；选择适合的校准件1，将校准件1置于测量台2，并使测量头5与校准件1抵触，此时，测量头5延伸出测量台2顶部的距离与被测零部件100上基圆101到基准面102的标准距离相同；将检测表3读数清零，将校准件1取下并将被测零部件100置于凹槽4，此时，检测表3的读数即为标准距离与被测零部件100上基圆101到基准面102之间距离的偏差。

以上仅为本实用新型的优选实施例而已，并不用于限制本实用新型，对于本领域的技术人员来说，本实用新型可以有各种更改和变化。凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种用于检测锥体基圆到基准面距离的检具，其特征在于，包括测量组件和校准件，所述测量组件包括测量台和检测表；

所述测量台的顶部开设有凹槽，所述凹槽的开口直径与被测零部件的基圆直径相同；所述检测表具有测量头，所述测量头延伸出所述测量台的顶部，所述测量头用于与所述被测零部件的基准面和所述校准件抵触。

2.根据权利要求1所述的一种用于检测锥体基圆到基准面距离的检具，其特征在于，所述校准件可拆卸置于所述测量台的顶部，所述校准件具有用于与所述测量头抵触的校准壁，所述校准壁到所述测量台顶壁的距离与所述被测零部件上基圆到基准面的标准距离相同。

3.根据权利要求2所述的一种用于检测锥体基圆到基准面距离的检具，其特征在于，所述测量台的顶部开设有通孔，所述检测表安装于所述通孔。

4.根据权利要求3所述的一种用于检测锥体基圆到基准面距离的检具，其特征在于，所述检测表活动连接于所述通孔。

5.根据权利要求4所述的一种用于检测锥体基圆到基准面距离的检具，其特征在于，所述检测表包括轴套，所述测量头滑动延伸出所述轴套，所述轴套的外侧壁与所述通孔螺纹连接。

6.根据权利要求4所述的一种用于检测锥体基圆到基准面距离的检具，其特征在于，所述测量台的侧壁开设有螺孔，所述螺孔延伸进所述通孔，所述螺孔旋合有螺纹件；所述检测表包括轴套，所述轴套外套设有固定套，所述螺纹件的端部与所述固定套的外侧壁抵接。

7.根据权利要求2所述的一种用于检测锥体基圆到基准面距离的检具，其特征在于，所述检测表安装在所述测量台的边缘。

8.根据权利要求1所述的一种用于检测锥体基圆到基准面距离的检具，其特征在于，所述检测表的数量为多个。

9.根据权利要求1所述的一种用于检测锥体基圆到基准面距离的检具，其特征在于，所述凹槽的侧壁与所述被测零部件的侧壁贴合。

10.根据权利要求1所述的一种用于检测锥体基圆到基准面距离的检具，其特征在于，所述测量台的底部具有支撑底座，所述测量台的边沿延伸出所述支撑底座，所述检测表置于所述测量台延伸出所述支撑底座的边沿。

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