CN109405726A - 一种纳米位移电容传感器测试夹持机构 - Google Patents

Abstract

本发明公开了纳米位移电容传感器测试夹持机构，导向柱安装在底座上，压板上开设有通孔，导向柱穿过通孔与压板连接，以使该压板沿导向柱滑动，压板的两端安装有紧固螺钉，压板的中间安装有锁紧螺钉，锁紧螺钉的下端安装有螺钉垫块，用于与纳米位移电容传感器接触，螺钉垫块与底座之间构成支撑空间。本发明的有益效果是导向柱对压板的移动起到导向作用，可以灵活调节并且能够夹持固定位置，适用于测试不同规格的纳米位移电容传感器，压板通过紧固螺钉使压板受力均匀，不会造成纳米位移电容传感器的偏斜，以提高测试精度。底座支撑槽与螺纹垫块的压力锁紧纳米位移传感器，保证其与测试板端面之间的平行度，提高测试夹持机构的测试精确度。

Description

一种纳米位移电容传感器测试夹持机构

技术领域

本发明属于微纳操控与高精度定位技术领域，尤其是涉及一种纳米位移电容传感器测试夹持机构。

背景技术

随着我国制造业的快速发展，超精密运动控制平台在高端制造领域具有基础性的地位，而高精密运动控制平台的设计和研发离不开高精密的测量传感器，其中纳米位移电容传感器在众多的传感器中具有技术含量高、精度高的特点，因此为了设计出更高精度和可靠性的电容传感器，需要通过对新研发的电容传感器各项指标进行测试，从而验证已有设计的好坏，进一步改进设计，提高电容传感器的测量精度。

纳米位移电容传感器由平板式和柱状两种结构形式，其中，平板式电容传感器可以通过螺纹孔连接固定在测试平台上，但是柱状电容传感器不能采用螺纹孔进行连接，目前，市面上出现的测量电容传感器的装置的精度低，针对不同规格的电容传感器测试时，需要多种规格的测试夹紧工装，其测试成本高，使用繁琐。

发明内容

本发明的目的是提供一种结构简单、可快速安装定位、可根据不同规格的电容传感器调节、操作简单、测试成本低、测试精度高、生产效率高的纳米位移电容传感器测试夹持机构。

本发明的技术方案如下：

一种纳米位移电容传感器测试夹持机构，包括用于支撑纳米位移电容传感器的底座、压板和导向柱，所述导向柱安装在所述底座上，所述压板上开设有通孔，所述导向柱穿过通孔与所述压板连接，以使该压板沿导向柱滑动，所述压板的两端安装有紧固螺钉，所述压板的中间安装有锁紧螺钉，所述锁紧螺钉的下端安装有螺钉垫块，用于与纳米位移电容传感器接触，所述螺钉垫块与底座之间构成支撑空间，用于放置所述纳米位移电容传感器。

在上述技术方案中，所述底座的上端开设有支撑槽，用于支撑所述纳米位移电容传感器。

在上述技术方案中，所述支撑槽为V形槽，纳米位移电容传感器的上端与螺钉垫块接触，下端与V形槽的槽面接触，通过上述固定方式能够保证在锁紧过程中对于纳米位移电容传感器与测试板断面之间的平行度，提高测试性能。

在上述技术方案中，所述压板的两端开设有紧固螺纹孔，所述紧固螺钉通过紧固螺纹孔与所述压板连接，用于锁紧压板在导向柱上的位置。

在上述技术方案中，所述通孔与所述紧固螺纹孔连通。

在上述技术方案中，所述压板的中间开设有锁紧螺纹孔，所述锁紧螺钉与锁紧螺纹孔螺纹连接。

在上述技术方案中，所述导向柱的数量为N，N≥2。

在上述技术方案中，N个所述导向柱相互平行。

在上述技术方案中，所述螺纹垫块采用聚四氟乙烯制成，减小锁紧螺钉对于纳米位移电容器外观的损坏。

在上述技术方案中，所述底座采用黄铜制成，减小支撑槽的支撑面对于纳米位移电容器外观的损坏。

本发明具有的优点和积极效果是：

1.导向柱对压板的移动起到导向作用，可以灵活调节并且能够夹持固定位置，适用于测试不同规格的纳米位移电容传感器，压板通过紧固螺钉使压板受力均匀，不会造成纳米位移电容传感器的偏斜，以提高测试精度。

2.底座上的V形槽与螺纹垫块的压力锁紧纳米位移传感器，保证其与测试板端面之间的平行度，提高测试夹持机构的测试精确度。

3.螺纹垫块降低锁紧螺钉对纳米位移电容传感器的损坏，保证纳米位移电容传感器的良好测试状态。

附图说明

图1是本发明的纳米位移电容传感器测试夹持机构的主视图；

图2是本发明的纳米位移电容传感测试夹持机构的侧视图；

图3是图1中A-A的剖面图。

图中：

1、紧固螺钉 2、导向柱 3、压板

4、锁紧螺钉 5、螺钉垫块 6、纳米位移电容传感器

7、底座 8、支撑槽

具体实施方式

以下结合具体实施例对本发明作进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本发明，并不用于限定本发明，决不限制本发明的保护范围。

实施例1

如图1-图3所示，本发明的纳米位移电容传感器测试夹持机构，包括用于支撑纳米位移电容传感器6的底座7、压板3和导向柱2，导向柱2安装在底座7上，压板3上开设有通孔，导向柱2穿过通孔与压板3连接，以使该压板3沿导向柱2滑动，压板的两端开设有紧固螺纹孔，紧固螺钉1通过紧固螺纹孔与压板3连接，用于锁紧压板3在导向柱2上的位置，压板的中间开设有锁紧螺纹孔，锁紧螺钉4与锁紧螺纹孔螺纹连接，在锁紧螺钉4的下端安装有螺钉垫块5，用于与纳米位移电容传感器6接触，螺钉垫块5与底座7之间构成支撑空间，用于放置纳米位移电容传感器6。底座7的上端开设有V型的支撑槽，用于支撑纳米位移电容传感器6。

在使用测试夹紧机构时，纳米位移电容传感器6放置在底座7的支撑槽内，根据纳米位移电容传感器6的规格尺寸，调节压板3在导向柱2滑动至适宜位置，通过紧固螺钉1锁紧压板3固定位置，调节锁紧螺钉4的位置，以使锁紧螺钉4下端安装的螺钉垫块5与纳米位移电容传感器6的上端施加向下的点压力，在锁紧过程中，更好地保证纳米位移电容传感器6的M面和测试板的N面之间的平行度，提高测试夹持机构的测试精确度。

实施例2

在实施例1的基础上，导向柱2的数量为两个，且两个导向柱2相互平行。

进一步，螺纹垫块5采用聚四氟乙烯制成，减小锁紧螺钉4对纳米位移电容传感器6的损坏。

进一步，底座7采用黄铜制成，降低底座7的V型支撑槽的支撑面对于纳米位移电容传感器6的损伤。

为了易于说明，实施例中使用了诸如“上”、“下”、“左”、“右”等空间相对术语，用于说明图中示出的一个元件或特征相对于另一个元件或特征的关系。应该理解的是，除了图中示出的方位之外，空间术语意在于包括装置在使用或操作中的不同方位。例如，如果图中的装置被倒置，被叙述为位于其他元件或特征“下”的元件将定位在其他元件或特征“上”。因此，示例性术语“下”可以包含上和下方位两者。装置可以以其他方式定位(旋转 90度或位于其他方位)，这里所用的空间相对说明可相应地解释。

而且，诸如“第一”和“第二”等之类的关系术语仅仅用来将一个与另一个具有相同名称的部件区分开来，而不一定要求或者暗示这些部件之间存在任何这种实际的关系或者顺序。

以上对本发明的一个实施例进行了详细说明，但所述内容仅为本发明的较佳实施例，不能被认为用于限定本发明的实施范围。凡依本发明申请范围所作的等同变化与改进等，均应仍归属于本发明的专利涵盖范围之内。

Claims (10)

1.一种纳米位移电容传感器测试夹持机构，其特征在于：包括用于支撑纳米位移电容传感器(6)的底座(7)、压板(3)和导向柱(2)，所述导向柱(2)安装在所述底座(7)上，所述压板(3)上开设有通孔，所述导向柱(3)穿过通孔与所述压板(3)连接，以使该压板(3)沿导向柱(3)滑动，所述压板(3)的两端安装有紧固螺钉(1)，所述压板(3)的中间安装有锁紧螺钉(4)，所述锁紧螺钉(4)的下端安装有螺钉垫块(5)，用于与纳米位移电容传感器(6)接触，所述螺钉垫块(5)与底座(7)之间构成支撑空间，用于放置所述纳米位移电容传感器(6)。

2.根据权利要求1所述的纳米位移电容传感器测试夹持机构，其特征在于：所述底座(7)的上端开设有支撑槽(8)，用于支撑所述纳米位移电容传感器(6)。

3.根据权利要求2所述的纳米位移电容传感器测试夹持机构，其特征在于：所述支撑槽(8)为V形槽。

4.根据权利要求3所述的纳米位移电容传感器测试夹持机构，其特征在于：所述压板(3)的两端开设有紧固螺纹孔，所述紧固螺钉(1)通过紧固螺纹孔与所述压板(3)连接，用于锁紧压板(3)在导向柱(2)上的位置。

5.根据权利要求4所述的纳米位移电容传感器测试夹持机构，其特征在于：所述通孔与所述紧固螺纹孔连通。

6.根据权利要求5所述的纳米位移电容传感器测试夹持机构，其特征在于：所述压板(3)的中间开设有锁紧螺纹孔，所述锁紧螺钉(4)与锁紧螺纹孔螺纹连接。

7.根据权利要求1-6中任意一项所述的纳米位移电容传感器测试夹持机构，其特征在于：所述导向柱(2)的数量为N，N≥2。

8.根据权利要求7所述的纳米位移电容传感器测试夹持机构，其特征在于：N个所述导向柱(2)相互平行。

9.根据权利要求8所述的纳米位移电容传感器测试夹持机构，其特征在于：所述螺纹垫块(5)采用聚四氟乙烯制成。

10.根据权利要求9所述的纳米位移电容传感器测试夹持机构，其特征在于：所述底座(7)采用黄铜制成。