CN111257788B - 一种电源的动态测试方法、系统、设备以及介质 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种电源的动态测试方法,包括以下步骤:设置扫频参数;利用所述扫频参数计算电流不发生畸变的频点临界值,并根据所述扫频参数进行扫频以得到扫频结果;获取所述扫频结果中的worst case电压值对应的实际频点,并判断所述实际频点和频点临界值大小;响应于所述实际频点大于频点临界值,将所述worst case电压值从所述扫频结果中剔除。本发明还公开了一种系统、计算机设备以及可读存储介质。本发明提出的方案通过对扫频结果进行分析,将扫频结果中不准确的数据剔除,进而得到准确测试结果,提高测试准确程度及测试效率。
Description
技术领域
本发明涉及测试领域,具体涉及一种电源的动态测试方法、系统、设备以及存储介质。
背景技术
目前针对CPU电源模块进行测试,通常会根据CPU平台选择相应的测试治具,还需搭配配套的支架以及interposer板。interposer板起到模拟CPU在位的作用。将interposer板放在待测主板CPU位置,使用支架进行固定后将测试治具安装好。
在检查无误后,按照上电顺序要求进行依次上电,操作测试软件,根据不同测试项的具体测试要求,进行动态响应扫频,得到一份Excel格式的扫频结果。扫频结果中,包含各个占空比下不同频点的电压值,数据量很大。测试人员需要筛选出worst case电压值(电压最大值及最小值)对应的频点及占空比,使用软件结合示波器抓取对应频点下电压及电流波形,得到测试结果。
目前的测试流程较为繁琐,而且动态响应测试对基准电压,电流范围,上升时间,扫频范围以及占空比范围都有相应的要求,现有的测试治具在设计上存在缺陷,经常出现扫频结果不合理的情况,扫频结果中得到的worst case电压值对应的频点及占空比,经实际验证并非worst case状况。
究其原因是因为不同占空比下,超过一定频点值后,为保持上升时间不变,加载的电流发生了畸变,此时电流值已经超出测试条件要求。这种情况下,得到的worst case电压值频点及占空比是不准确的。这种对比及验证的过程,会造成测试需要更长的时间,降低了测试效率。
发明内容
有鉴于此,为了克服上述问题的至少一个方面,本发明实施例提出一种电源的动态测试方法,包括以下步骤:
设置扫频参数;
利用所述扫频参数计算电流不发生畸变的频点临界值,并根据所述扫频参数进行扫频以得到扫频结果;
获取所述扫频结果中的worst case电压值对应的实际频点,并判断所述实际频点和频点临界值大小;
响应于所述实际频点大于频点临界值,将所述worst case电压值从所述扫频结果中剔除。
在一些实施例中,设置扫频参数,进一步包括:
设置电流斜率、基准电压、电流范围、占空比增加比例以及扫频范围;
在一些实施例中,利用所述扫频参数计算电流发生畸变的频点临界值,进一步包括:
利用每一个占空比、所述电流斜率以及所述电流范围分别计算所述每一个占空比对应的电流不发生畸变的频点临界值。
在一些实施例中,获取所述扫频结果中的worst case电压值对应的实际频点,并判断所述实际频点和频点临界值大小,进一步包括:
获取最大电压值对应的占空比和实际频点,并判断所述最大电压值对应的占空比所对应的频点临界值和所述最大电压值对应的实际频点的大小;
获取最小电压值对应的占空比和实际频点,并判断所述最小电压值对应的占空比所对应的频点临界值和所述最小电压值对应的实际频点的大小。
在一些实施例中,响应于所述实际频点大于频点临界值,将所述worst case电压值从所述扫频结果中剔除,进一步包括:
将所述电流斜率、所述基准电压、所述电流范围以及所述扫频结果中的worstcase电压值对应的频点临界值和占空比输入到示波器以得到校准worst case电压值;
响应于所述扫频结果中的worst case电压值和所述校准worst case电压值不一致,将所述worst case电压值从所述扫频结果中剔除。
基于同一发明构思,根据本发明的另一个方面,本发明的实施例还提供了一种电源的动态测试系统,包括:
设置模块,所述设置模块配置为设置扫频参数;
执行模块,所述执行模块配置为利用所述扫频参数计算电流不发生畸变的频点临界值,并根据所述扫频参数进行扫频以得到扫频结果;
判断模块,所述判断模块配置为获取所述扫频结果中的worst case电压值对应的实际频点,并判断所述实际频点和频点临界值大小;
响应模块,所述响应模块配置为响应于所述实际频点大于频点临界值,将所述worst case电压值从所述扫频结果中剔除。
在一些实施例中,所述设置模块还配置为:
设置电流斜率、基准电压、电流范围、占空比增加比例以及扫频范围;
在一些实施例中,所述执行模块还配置为:
利用每一个占空比、所述电流斜率以及所述电流范围分别计算所述每一个占空比对应的电流不发生畸变的频点临界值。
基于同一发明构思,根据本发明的另一个方面,本发明的实施例还提供了一种计算机设备,包括:
至少一个处理器;以及
存储器,所述存储器存储有可在所述处理器上运行的计算机程序,其特征在于,所述处理器执行所述程序时执行如上所述的任一种电源的动态测试方法的步骤。
基于同一发明构思,根据本发明的另一个方面,本发明的实施例还提供了一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时执行如上所述的任一种电源的动态测试方法的步骤。
本发明具有以下有益技术效果之一:本发明提出的方案通过对扫频结果进行分析,将扫频结果中不准确的数据剔除,进而得到准确测试结果,提高测试准确程度及测试效率。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的实施例。
图1为本发明的实施例提供的电源的动态测试方法的流程示意图;
图2为本发明的实施例提供的电源的动态测试系统的结构示意图;
图3为本发明的实施例提供的计算机设备的结构示意图;
图4为本发明的实施例提供的计算机可读存储介质的结构示意图。
具体实施方式
为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚明白,以下结合具体实施例,并参照附图,对本发明实施例进一步详细说明。
需要说明的是,本发明实施例中所有使用“第一”和“第二”的表述均是为了区分两个相同名称非相同的实体或者非相同的参量,可见“第一”“第二”仅为了表述的方便,不应理解为对本发明实施例的限定,后续实施例对此不再一一说明。
根据本发明的一个方面,本发明的实施例提出一种电源的动态测试方法,如图1所示,其可以包括步骤:S1,设置扫频参数;S2,利用所述扫频参数计算电流不发生畸变的频点临界值,并根据所述扫频参数进行扫频以得到扫频结果;S3,获取所述扫频结果中的worstcase电压值对应的实际频点,并判断所述实际频点和频点临界值大小;S4,响应于所述实际频点大于频点临界值,将所述worst case电压值从所述扫频结果中剔除。
本发明提出的方案通过对扫频结果进行分析,将扫频结果中不准确的数据剔除,进而得到准确测试结果,提高测试准确程度及测试效率。
在一些实施例中,步骤S1设置扫频参数,进一步包括:
设置电流斜率、基准电压、电流范围、占空比增加比例以及扫频范围;
具体的,当设置好电流斜率以及电流范围后即可以得到上升时间。
在一些实施例中,步骤S2利用所述扫频参数计算电流发生畸变的频点临界值,进一步包括:
利用每一个占空比、所述电流斜率以及所述电流范围分别计算所述每一个占空比对应的电流不发生畸变的频点临界值。
具体的,每一个占空比均对应一个电流不发生畸变的频点临界值,这样当占空比以10%递增时,利用每一个占空比、电流斜率以及所述电流范围可以计算得到9个电流不发生畸变的频点临界值。
在一些实施例中,获取所述扫频结果中的worst case电压值对应的实际频点,并判断所述实际频点和频点临界值大小,进一步包括:
获取最大电压值对应的占空比和实际频点,并判断所述最大电压值对应的占空比所对应的频点临界值和所述最大电压值对应的实际频点的大小;
获取最小电压值对应的占空比和实际频点,并判断所述最小电压值对应的占空比所对应的频点临界值和所述最小电压值对应的实际频点的大小。
具体的,扫频结果中会包含所有的扫频数据,而worst case电压值则为扫频数据中的最大值和最小值。需要说明的是最大值和最小值对应的占空不同,因此需要分别针对各自的占空比所对应的频点临界值进行判断。例如最大值对应的占空比为30%,则需要获取30%对应的频点临界值并与扫频结果中最大值对应的频点进行对比;而最小值对应的占空比为50%,则需要获取50%对应的频点临界值并与扫频结果中最小值对应的频点进行对比。
需要说明的是,在一些实施例中,也可以只根据获取到worst case电压值对应的占空比进行频点临界值的计算。
在一些实施例中,步骤S4响应于所述实际频点大于频点临界值,将所述worstcase电压值从所述扫频结果中剔除中,进一步包括:
将所述电流斜率、所述基准电压、所述电流范围以及所述扫频结果中的worstcase电压值对应的频点临界值和占空比输入到示波器以得到校准worst case电压值;
响应于所述扫频结果中的worst case电压值和所述校准worst case电压值不一致,将所述worst case电压值从所述扫频结果中剔除。
具体的,当根据频点临界值判断扫频结果中的worst case电压值对应的频点不合理后,则可以用示波器进行再次验证,确保测试的准确性。
在一些实施例中,方法还可以包括当将worst case电压值从所述扫频结果中剔除后,可以对下一组最大值和最小值利用相同的判断方法进行合理性的判断,若判断结果合理,则将该组的最大值和最小值作为准确的worst case电压值。
本发明提出的方案通过对扫频结果进行分析,将扫频结果中不准确的数据剔除,进而得到准确测试结果,提高测试准确程度及测试效率。
基于同一发明构思,根据本发明的另一个方面,本发明的实施例还提供了一种电源的动态测试系统400,如图2所示,包括:
设置模块401,所述设置模块401配置为设置扫频参数;
执行模块402,所述执行模块402配置为利用所述扫频参数计算电流不发生畸变的频点临界值,并根据所述扫频参数进行扫频以得到扫频结果;
判断模块403,所述判断模块403配置为获取所述扫频结果中的worst case电压值对应的实际频点,并判断所述实际频点和频点临界值大小;
响应模块404,所述响应模块404配置为响应于所述实际频点大于频点临界值,将所述worst case电压值从所述扫频结果中剔除。
在一些实施例中,所述设置模块401还配置为:
设置电流斜率、基准电压、电流范围、占空比增加比例以及扫频范围;
在一些实施例中,所述执行模块402还配置为:
利用每一个占空比、所述电流斜率以及所述电流范围分别计算所述每一个占空比对应的电流不发生畸变的频点临界值。
基于同一发明构思,根据本发明的另一个方面,如图3所示,本发明的实施例还提供了一种计算机设备501,包括:
至少一个处理器520;以及
存储器510,存储器510存储有可在处理器上运行的计算机程序511,处理器520执行程序时执行如上的任一种电源的动态测试方法的步骤。
基于同一发明构思,根据本发明的另一个方面,如图4所示,本发明的实施例还提供了一种计算机可读存储介质601,计算机可读存储介质601存储有计算机程序指令610,计算机程序指令610被处理器执行时执行如上的任一种电源的动态测试方法的步骤。
最后需要说明的是,本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程,可以通过计算机程序来指令相关硬件来完成,的程序可存储于一计算机可读取存储介质中,该程序在执行时,可包括如上述各方法的实施例的流程。其中,的存储介质可为磁碟、光盘、只读存储记忆体(ROM)或随机存储记忆体(RAM)等。上述计算机程序的实施例,可以达到与之对应的前述任意方法实施例相同或者相类似的效果。
此外,典型地,本发明实施例公开的装置、设备等可为各种电子终端设备,例如手机、个人数字助理(PDA)、平板电脑(PAD)、智能电视等,也可以是大型终端设备,如服务器等,因此本发明实施例公开的保护范围不应限定为某种特定类型的装置、设备。本发明实施例公开的客户端可以是以电子硬件、计算机软件或两者的组合形式应用于上述任意一种电子终端设备中。
此外,根据本发明实施例公开的方法还可以被实现为由CPU执行的计算机程序,该计算机程序可以存储在计算机可读存储介质中。在该计算机程序被CPU执行时,执行本发明实施例公开的方法中限定的上述功能。
此外,上述方法步骤以及系统单元也可以利用控制器以及用于存储使得控制器实现上述步骤或单元功能的计算机程序的计算机可读存储介质实现。
此外,应该明白的是,本文的计算机可读存储介质(例如,存储器)可以是易失性存储器或非易失性存储器,或者可以包括易失性存储器和非易失性存储器两者。作为例子而非限制性的,非易失性存储器可以包括只读存储器(ROM)、可编程ROM(PROM)、电可编程ROM(EPROM)、电可擦写可编程ROM(EEPROM)或快闪存储器。易失性存储器可以包括随机存取存储器(RAM),该RAM可以充当外部高速缓存存储器。作为例子而非限制性的,RAM可以以多种形式获得,比如同步RAM(DRAM)、动态RAM(DRAM)、同步DRAM(SDRAM)、双数据速率SDRAM(DDRSDRAM)、增强SDRAM(ESDRAM)、同步链路DRAM(SLDRAM)、以及直接Rambus RAM(DRRAM)。所公开的方面的存储设备意在包括但不限于这些和其它合适类型的存储器。
本领域技术人员还将明白的是,结合这里的公开所描述的各种示例性逻辑块、模块、电路和算法步骤可以被实现为电子硬件、计算机软件或两者的组合。为了清楚地说明硬件和软件的这种可互换性,已经就各种示意性组件、方块、模块、电路和步骤的功能对其进行了一般性的描述。这种功能是被实现为软件还是被实现为硬件取决于具体应用以及施加给整个系统的设计约束。本领域技术人员可以针对每种具体应用以各种方式来实现的功能,但是这种实现决定不应被解释为导致脱离本发明实施例公开的范围。
结合这里的公开所描述的各种示例性逻辑块、模块和电路可以利用被设计成用于执行这里功能的下列部件来实现或执行:通用处理器、数字信号处理器(DSP)、专用集成电路(ASIC)、现场可编程门阵列(FPGA)或其它可编程逻辑器件、分立门或晶体管逻辑、分立的硬件组件或者这些部件的任何组合。通用处理器可以是微处理器,但是可替换地,处理器可以是任何传统处理器、控制器、微控制器或状态机。处理器也可以被实现为计算设备的组合,例如,DSP和微处理器的组合、多个微处理器、一个或多个微处理器结合DSP和/或任何其它这种配置。
结合这里的公开所描述的方法或算法的步骤可以直接包含在硬件中、由处理器执行的软件模块中或这两者的组合中。软件模块可以驻留在RAM存储器、快闪存储器、ROM存储器、EPROM存储器、EEPROM存储器、寄存器、硬盘、可移动盘、CD-ROM、或本领域已知的任何其它形式的存储介质中。示例性的存储介质被耦合到处理器,使得处理器能够从该存储介质中读取信息或向该存储介质写入信息。在一个替换方案中,存储介质可以与处理器集成在一起。处理器和存储介质可以驻留在ASIC中。ASIC可以驻留在用户终端中。在一个替换方案中,处理器和存储介质可以作为分立组件驻留在用户终端中。
在一个或多个示例性设计中,功能可以在硬件、软件、固件或其任意组合中实现。如果在软件中实现,则可以将功能作为一个或多个指令或代码存储在计算机可读介质上或通过计算机可读介质来传送。计算机可读介质包括计算机存储介质和通信介质,该通信介质包括有助于将计算机程序从一个位置传送到另一个位置的任何介质。存储介质可以是能够被通用或专用计算机访问的任何可用介质。作为例子而非限制性的,该计算机可读介质可以包括RAM、ROM、EEPROM、CD-ROM或其它光盘存储设备、磁盘存储设备或其它磁性存储设备,或者是可以用于携带或存储形式为指令或数据结构的所需程序代码并且能够被通用或专用计算机或者通用或专用处理器访问的任何其它介质。此外,任何连接都可以适当地称为计算机可读介质。例如,如果使用同轴线缆、光纤线缆、双绞线、数字用户线路(DSL)或诸如红外线、无线电和微波的无线技术来从网站、服务器或其它远程源发送软件,则上述同轴线缆、光纤线缆、双绞线、DSL或诸如红外线、无线电和微波的无线技术均包括在介质的定义。如这里所使用的,磁盘和光盘包括压缩盘(CD)、激光盘、光盘、数字多功能盘(DVD)、软盘、蓝光盘,其中磁盘通常磁性地再现数据,而光盘利用激光光学地再现数据。上述内容的组合也应当包括在计算机可读介质的范围内。
以上是本发明公开的示例性实施例,但是应当注意,在不背离权利要求限定的本发明实施例公开的范围的前提下,可以进行多种改变和修改。根据这里描述的公开实施例的方法权利要求的功能、步骤和/或动作不需以任何特定顺序执行。此外,尽管本发明实施例公开的元素可以以个体形式描述或要求,但除非明确限制为单数,也可以理解为多个。
应当理解的是,在本文中使用的,除非上下文清楚地支持例外情况,单数形式“一个”旨在也包括复数形式。还应当理解的是,在本文中使用的“和/或”是指包括一个或者一个以上相关联地列出的项目的任意和所有可能组合。
上述本发明实施例公开实施例序号仅仅为了描述,不代表实施例的优劣。
本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例的全部或部分步骤可以通过硬件来完成,也可以通过程序来指令相关的硬件完成,的程序可以存储于一种计算机可读存储介质中,上述提到的存储介质可以是只读存储器,磁盘或光盘等。
所属领域的普通技术人员应当理解:以上任何实施例的讨论仅为示例性的,并非旨在暗示本发明实施例公开的范围(包括权利要求)被限于这些例子;在本发明实施例的思路下,以上实施例或者不同实施例中的技术特征之间也可以进行组合,并存在如上的本发明实施例的不同方面的许多其它变化,为了简明它们没有在细节中提供。因此,凡在本发明实施例的精神和原则之内,所做的任何省略、修改、等同替换、改进等,均应包含在本发明实施例的保护范围之内。
Claims (7)
1.一种电源的动态测试方法,其特征在于,包括以下步骤:
设置扫频参数;
利用所述扫频参数计算电流不发生畸变的频点临界值,并根据所述扫频参数进行扫频以得到扫频结果;
获取所述扫频结果中的worst case电压值对应的实际频点,并判断所述实际频点和频点临界值大小;
响应于所述实际频点大于频点临界值,将所述worst case电压值从所述扫频结果中剔除;
利用所述扫频参数计算电流发生畸变的频点临界值,进一步包括:
利用每一个占空比、电流斜率以及电流范围分别计算所述每一个占空比对应的电流不发生畸变的频点临界值;
获取所述扫频结果中的worst case电压值对应的实际频点,并判断所述实际频点和频点临界值大小,进一步包括:
获取最大电压值对应的占空比和实际频点,并判断所述最大电压值对应的占空比所对应的频点临界值和所述最大电压值对应的实际频点的大小;
获取最小电压值对应的占空比和实际频点,并判断所述最小电压值对应的占空比所对应的频点临界值和所述最小电压值对应的实际频点的大小。
2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,设置扫频参数,进一步包括:
设置电流斜率、基准电压、电流范围、占空比增加比例以及扫频范围。
3.如权利要求1所述的方法,其特征在于,响应于所述实际频点大于频点临界值,将所述worst case电压值从所述扫频结果中剔除,进一步包括:
将所述电流斜率、基准电压、所述电流范围以及所述扫频结果中的worst case电压值对应的频点临界值和占空比输入到示波器以得到校准worst case电压值;
响应于所述扫频结果中的worst case电压值和所述校准worst case电压值不一致,将所述worst case电压值从所述扫频结果中剔除。
4.一种电源的动态测试系统,其特征在于,包括:
设置模块,所述设置模块配置为设置扫频参数;
执行模块,所述执行模块配置为利用所述扫频参数计算电流不发生畸变的频点临界值,并根据所述扫频参数进行扫频以得到扫频结果;
判断模块,所述判断模块配置为获取所述扫频结果中的worst case电压值对应的实际频点,并判断所述实际频点和频点临界值大小;
响应模块,所述响应模块配置为响应于所述实际频点大于频点临界值,将所述worstcase电压值从所述扫频结果中剔除;
所述执行模块还配置为:
利用每一个占空比、电流斜率以及电流范围分别计算所述每一个占空比对应的电流不发生畸变的频点临界值;
判断模块还配置为:
获取最大电压值对应的占空比和实际频点,并判断所述最大电压值对应的占空比所对应的频点临界值和所述最大电压值对应的实际频点的大小;
获取最小电压值对应的占空比和实际频点,并判断所述最小电压值对应的占空比所对应的频点临界值和所述最小电压值对应的实际频点的大小。
5.如权利要求4所述的系统,其特征在于,所述设置模块还配置为:
设置电流斜率、基准电压、电流范围、占空比增加比例以及扫频范围。
6.一种计算机设备,包括:
至少一个处理器;以及
存储器,所述存储器存储有可在所述处理器上运行的计算机程序,其特征在于,所述处理器执行所述程序时执行如权利要求1-3任意一项所述的方法的步骤。
7.一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质存储有计算机程序,其特征在于,所述计算机程序被处理器执行时执行如权利要求1-3任意一项所述的方法的步骤。
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- 2020-03-08 CN CN202010154627.8A patent/CN111257788B/zh active Active
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